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馬赫曾德干涉儀-Y的三維追跡圖 馬赫曾德干涉儀-Y的探測器結果圖總結OAS 光學軟件憑借直觀的界面操作、精準的光學計算模型與豐富的結果分析功能，為馬赫曾德干涉儀等光學系統的仿真提供了高效工具。無論是基礎光學實驗教學，還是復雜光學設備的研發設計，均可借助該軟件降低實驗成本、縮短研發周期。

總結 馬赫澤德干涉儀的干涉圖樣的計算 1. 仿真以光線追跡對干涉儀的仿真。2. 計算采用幾何場追跡+引擎以計算干涉圖樣。3. 研究不同對齊誤差在干涉圖上的影響，如傾斜和偏移 利用VirtualLab軟件可對馬赫澤德干涉儀生成的干涉圖案進行研究分析。 應用示例詳細內容 系統參數 1.

馬赫曾德爾干涉儀 本案例中，在VirtualLab Fusion中設置了馬赫曾德爾干涉儀， 并演示了樣品組件的傾斜和移動如何影響干涉條紋。

3.研究不同對齊誤差在干涉圖上的影響，如傾斜和偏移 利用VirtualLab軟件可對馬赫澤德干涉儀生成的干涉圖案進行研究分析。 應用示例詳細內容 系統參數 1.仿真任務：馬赫澤德干涉儀 ?通過使用這種干涉儀設置，可測量兩完全相同光束線間的相對相移。 這使得可以對一個樣品元件引起的相移進行研究。

馬赫曾德爾干涉儀 本案例中，在VirtualLab Fusion中設置了馬赫曾德爾干涉儀， 并演示了樣品組件的傾斜和移動如何影響干涉條紋。 帶棱鏡分束器的馬赫曾德爾干涉儀中互補干涉圖案的觀察 本案例研究了理想和實際棱鏡分束器的不同性能。 實驗表明棱鏡引入的附加相移導致了互補的干涉圖案。

摘要 建模任務 干涉測量法是一項用于光學測量的重要技術。它被廣泛應用于表面輪廓、缺陷、機械和熱變形的高精度測量。作為一個典型示例，在非序列場追跡技術的幫助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-澤德干涉儀。

摘要 干涉法是光學測量的重要手段。廣泛用于測量例如，表面輪廓，缺損，高精度機械和熱畸變。作為經典案例，我們在VirtualLab中搭建一個相干激光光源的馬赫-澤德干涉儀，并且演示傾斜和平移光學元件會如何影響干涉圖樣。 模擬任務 結果 結果 文檔信息

摘要 干涉測量法是一項用于光學測量的重要技術。它被廣泛應用于表面輪廓、缺陷、機械和熱變形的高精度測量。作為一個典型示例，在非序列場追跡技術的幫助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-澤德干涉儀。該例證明了光學元件的傾斜和位移對干涉條紋圖的影響。

摘要 干涉測量是一種光學計量的重要技術。 它被廣泛應用于表面輪廓，缺陷，機械和高精度熱變形等領域的測量。 作為一個典型的例程，在非序列場追跡的幫助下，我們在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-曾德爾干涉儀，本案例清楚地展示了光學元件的傾斜和移位對干涉條紋圖案的影響。

摘要 干涉測量是一種光學計量的重要技術。 它被廣泛應用于表面輪廓，缺陷，機械和高精度熱變形等領域的測量。 作為一個典型的例程，在非序列場追跡的幫助下，我們在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-曾德爾干涉儀，本案例清楚地展示了光學元件的傾斜和移位對干涉條紋圖案的影響。

摘要 干涉測量法是光學計量學的重要技術。 它被廣泛用于例如，表面輪廓、缺陷、高精度的機械和熱變形。 作為一個典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列場追跡，構建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。 證明了光學元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。

摘要干涉測量法是光學計量學的重要技術。 它被廣泛用于例如，表面輪廓、缺陷、高精度的機械和熱變形。 作為一個典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列場追跡，構建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。 證明了光學元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。

摘要干涉測量法是光學計量學的重要技術。 它被廣泛用于例如，表面輪廓、缺陷、高精度的機械和熱變形。 作為一個典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列場追跡，構建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。 證明了光學元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。

光學測量＞干涉測量 任務/系統描述 亮點 ? 在光線追跡分析與高速物理光學建模間簡單轉換? 相干效應以及干涉圖案的高速仿真 說明：光源 說明：擴束器 說明：分束器 說明：反射鏡 說明：相位延遲元件 說明：研究對象

摘要 干涉測量法是光學計量學的重要技術。 它被廣泛用于例如，表面輪廓、缺陷、高精度的機械和熱變形。 作為一個典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列場追跡，構建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。證明了光學元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。

光學測量＞干涉測量 任務/系統描述 亮點 ?在光線追跡分析與高速物理光學建模間簡單轉換?相干效應以及干涉圖案的高速仿真 說明：光源 說明：擴束器 說明：分束器 說明：反射鏡 說明：相位延遲元件

馬赫曾德干涉儀-Z案例分析簡介馬赫曾德干涉儀作為經典的分波前干涉裝置，廣泛應用于光學檢測、精密測量、光通信等領域，其核心功能是通過光束分束、反射、合束產生干涉條紋，實現對介質折射率、光路相位差、物體微小形變等物理量的精準測量。

干涉測量法是光學計量學的重要技術。 它被廣泛用于例如，表面輪廓、缺陷、高精度的機械和熱變形。 作為一個典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列場追跡，構建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。

摘要干涉測量法是光學計量學的重要技術。 它被廣泛用于例如，表面輪廓、缺陷、高精度的機械和熱變形。 作為一個典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列場追跡，構建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。 證明了光學元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。

圖3：集成光子器件中的基本結構單元 (a) 定向耦合器， 以及以其為基礎衍生的二級結構單元包括 (b) 馬赫曾德干涉器，(c) 環形諧振器，和 (d) Sagnac 干涉器 圖4：集成馬赫曾德干涉器，分插復用型環形諧振器，以及級聯Sagnac干涉器的幅頻響應對比 圖5：集成一維光子晶體諧振腔，布拉格光柵，以及級聯Sagnac干涉器的幅頻響應對比