在激光掃描至該點(diǎn)的幾秒鐘內(nèi), 各個(gè)方向的溫度梯度差別非常大。在該點(diǎn)所在平面的垂直方向, 即Y向, 溫度梯度均是正的, 而平面所在X方向和薄壁高Z向的溫度梯度則是有正有負(fù)。這也驗(yàn)證了, 結(jié)構(gòu)不完全對(duì)稱時(shí), 各個(gè)方向的散熱速度不同。所以, 通過(guò)對(duì)溫度梯度的分析, 可以在實(shí)際制件加工后, 對(duì)微觀晶粒的排布方向進(jìn)行對(duì)照分析。且根據(jù)文獻(xiàn)[16]發(fā)現(xiàn)晶粒大致是沿著散熱方向排列的。