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與采用常規光學透鏡的成像系統相比，體全息成像技術僅利用一個厚型體全息圖(或稱為體全息光柵透鏡)作為對物場不同深度層進行選擇成像的衍射元件，可以使得三維物場信息按照光學斷層切片方式逐片地重構成像，不同的斷層切片對應于三維物空間上軸向的不同位置。

與采用常規光學透鏡的成像系統相比，體全息成像技術僅利用一個厚型體全息圖(或稱為體全息光柵透鏡)作為對物場不同深度層進行選擇成像的衍射元件，可以使得三維物場信息按照光學斷層切片方式逐片地重構成像，不同的斷層切片對應于三維物空間上軸向的不同位置。

與采用常規光學透鏡的成像系統相比，體全息成像技術僅利用一個厚型體全息圖(或稱為體全息光柵透鏡)作為對物場不同深度層進行選擇成像的衍射元件，可以使得三維物場信息按照光學斷層切片方式逐片地重構成像，不同的斷層切片對應于三維物空間上軸向的不同位置。

基于光波的疊加原理，軟件對各光束在探測平面上的相位和振幅進行合成，從而精準模擬出多結構干涉所產生的復雜干涉圖樣，為后續的分析提供了直觀且準確的可視化結果。多結構干涉的三維追跡圖多結構干涉的探測器結果圖總結通過 OAS 軟件的模擬，在探測器窗口中清晰呈現出了多結構干涉的圖樣。

與采用常規光學透鏡的成像系統相比，體全息成像技術僅利用一個厚型體全息圖(或稱為體全息光柵透鏡)作為對物場不同深度層進行選擇成像的衍射元件，可以使得三維物場信息按照光學斷層切片方式逐片地重構成像，不同的斷層切片對應于三維物空間上軸向的不同位置。

實際分束器干涉圖樣 實際結構分束器有玻璃板和介質涂層引入了一個??的相移，構建和破壞了干涉圖。

結果組成：1、三維表面結構：粗糙度，波紋度，表面結構，缺陷分析，晶粒分析等；2、二維圖像分析：距離，半徑，斜坡，格子圖，輪廓線等；3、表界面測量：透明表面形貌，薄膜厚度，透明薄膜下的表面；4、薄膜和厚膜的臺階高度測量；5、劃痕形貌，摩擦磨損深度、寬度和體積定量測量；6、微電子表面分析和MEMS表征。 總之，白光干涉儀并非只能測量同質材料。

當使用 1 階展開系數 (N=1) 時，只能在球心極小區域準確重構平面波 隨著階數增大 (N=3, N=5...)，準確重構的區域 (黃色圓圈) 顯著擴大圖1二、如何采集高階聲場信息？球形陣列全解析要實現高階 Ambisonics，首先需要準確采集三維空間聲場信息。球形傳聲器陣列是目前最理想、應用最廣泛的采集方案。

然而，進入到干涉儀中光線的光程差會隨著角度的增大而增大。探測器上生成的干涉圖樣的一些例子如圖2所示。圖2.左：角度范圍為1弧秒的恒星在探測器上的白光干涉圖樣，白光的中心波長為0.55um，半帶寬為0.1um。干涉儀的小孔半徑為1mm，反射鏡距離為50mm。右：增加反射鏡間距到100mm的干涉圖樣，此干涉圖的能見度降低了。

恒星由一個多色光光源模擬，它在一個小的角度范圍內照射干涉儀，這對應于它的角直徑。正常入射在兩個路徑P1和P2之間沒有光程差。然而，進入到干涉儀中光線的光程差會隨著角度的增大而增大。探測器上生成的干涉圖樣的一些例子如圖2所示。 圖2 左：角度范圍為1弧秒的恒星在探測器上的白光干涉圖樣，白光的中心波長為0.55um，半帶寬為0.1um。干涉儀的小孔半徑為1mm，反射鏡距離為50mm。

總結 馬赫澤德干涉儀的干涉圖樣的計算 1. 仿真以光線追跡對干涉儀的仿真。2. 計算采用幾何場追跡+引擎以計算干涉圖樣。3. 研究不同對齊誤差在干涉圖上的影響，如傾斜和偏移 利用VirtualLab軟件可對馬赫澤德干涉儀生成的干涉圖案進行研究分析。 應用示例詳細內容 系統參數 1.

光軸沿線x軸旋轉3度后的干涉圖樣從上圖可以看出，傾斜光軸只是相當于平移了干涉圖樣。

然而，進入到干涉儀中光線的光程差會隨著角度的增大而增大。探測器上生成的干涉圖樣的一些例子如圖2所示。圖2.左：角度范圍為1弧秒的恒星在探測器上的白光干涉圖樣，白光的中心波長為0.55um，半帶寬為0.1um。干涉儀的小孔半徑為1mm，反射鏡距離為50mm。右：增加反射鏡間距到100mm的干涉圖樣，此干涉圖的能見度降低了。

光軸沿線x軸旋轉3度后的干涉圖樣從上圖可以看出，傾斜光軸只是相當于平移了干涉圖樣。

白光干涉儀廣泛應用于科學研究和工程實踐各個領域中。它作為一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器，在測量坑的形貌方面扮演著舉足輕重的角色。白光干涉儀怎么測量坑的形貌？它是利用干涉現象，使用白光源照射物體，并將反射光經過干涉儀的分光裝置后形成干涉圖樣。通過觀察干涉圖樣的變化，就可以獲得物體表面形貌的細節信息。如何使用白光干涉儀來測量坑的形貌？

當前使用較多的是非接觸式測量，根據原理不同，可以分為三角形法、結構光法、計算機視覺法、激光干涉法、激光衍射法、CT測量法、MR測量法、超聲波法和層析法。當下以三維激光掃描儀使用最為廣泛，逐漸取代了其他測量方式，它有著采集速度快，易操作，點云數據成型快等優點，通過對零部件進行3D掃描，獲得精度可達0.02mm的完整三維點云數據，如圖1。

加密過程中，讓兩束光干涉疊加得到干涉圖樣，并用膠片或者光刻膠記錄下來，得到一個全息圖；解密時，只使用復雜的隨機圖樣照射前面形成的全息圖就可以獲得物光源信息。圖1是加密過程示意圖，在遠場區兩束光相干涉得到干涉圖樣，對于一個復雜的隨機參考光源，任意選擇一個物光源全息圖樣都會非常的復雜。僅僅依靠全息圖是很難確定物光源的，只有使用同一個隨機光源才能對其恢復，圖2給出了解密過程示意圖。

在本例中一個復雜的隨機圖樣作為參考光源，用來恢復全息圖樣對應的物光源。加密過程中，讓兩束光干涉疊加得到干涉圖樣，并用膠片或者光刻膠記錄下來，得到一個全息圖；解密時，只使用復雜的隨機圖樣照射前面形成的全息圖就可以獲得物光源信息。 系統描述 全息圖能夠通過兩束相干光相干疊加獲得。

概述全息圖能夠通過兩束相干光相干疊加獲得。用其中一束光照射生成的全息圖就可以得到另一束相干光，這樣全息圖就可以用作加密/解密的裝置了。系統描述在本例中一個復雜的隨機圖樣作為參考光源，用來恢復全息圖樣對應的物光源。加密過程中，讓兩束光干涉疊加得到干涉圖樣，并用膠片或者光刻膠記錄下來，得到一個全息圖；解密時，只使用復雜的隨機圖樣照射前面形成的全息圖就可以獲得物光源信息。

5.總結馬赫澤德干涉儀的干涉圖樣的計算 4.仿真以光線追跡對干涉儀的仿真。 5.計算采用幾何場追跡+引擎以計算干涉圖樣。 6.研究不同計算誤差在干涉圖上的影響，如傾斜和偏移 利用VirtualLab軟件可對馬赫澤德干涉儀生成的干涉圖案進行研究分。