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可以在我們的知識庫文章中找到用於生成閃耀光柵的巨集:如何使用巨集計算繞射光學元件的垂度。或者，參考文獻[3]顯示了如何使用Lumerical FDTD軟體為給定的相位曲線設計超穎透鏡。這種方法的缺點是設計人員可能無法檢查整個系統的性能。例如，沒有辦法考慮所有繞射階數來檢查點擴展函數（PSF）。

深度掃描也稱為軸向掃描或A掃描，它根據反射到樣品中的距離來測量反射光的強度。 儘管它在OCT系統的類型之間有所不同，但深度掃描通常由參考鏡執行，以使樣品返回的光對應於樣品和參考之間的特定光程差（OPD）。 透過以x或y方向旋轉掃描鏡來執行橫向，橫向或b掃描，從而在整個樣品區域上平移探測光束。我們從商用OCT系統中獲取目標規格。 軸向分辨率完全來自光源特性，應在5μm的數量級上。

EMX中對長邊添加激勵的正確方式三種主要電磁場仿真算法比較1）有限元分析（Finite Element Method, FEM）有限元分析法對微分形式的Maxwell方程在頻域進行求解，其求解的未知量是每一個小網格的電場與磁場。有限元分析法一般會對整個求解空間用四面體進行劃分，算法會計算四個格點上的場強，四面體的內部場強分布由四個格點插值得出。

其含義分別為：直線繪制的角度，填充直線族中的一條直線所經過的點的X、Y軸坐標，兩填充直線間的位移量，兩填充直線的垂直間距，dash-n為一條直線的長度參數，可取正負值或為零，取正值表示該長度段為實線，取負值表示該段為留空，取零則畫點。好了，我們可以開始編輯了。

，【文件】選項卡，【臨時圖形文件位置】查到），將其重命名為【.DWG】格式； 最后用打開其他CAD 文件的方法將其打開即可。