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ZEMAX軟件技術應用專題:如何為光學相干斷層掃描系統建模
光源應為一束準直的寬帶光束;大帶寬意味著低相干性和高精度定位產生相干性的
深度
。
深度
掃描也稱為軸向掃描或A掃描,它根據反射到樣品中的距離來
測
量
反射光的強度。 儘管它在OCT系統的類型之間有所不同,但
深度
掃描通常由參考鏡執行,以使樣品返回的光對應於樣品和參考之間的特定光程差(OPD)。 透過以x或y方向旋轉掃描鏡來執行橫向,橫向或b掃描,從而在整個樣品區域上平移探
測
光束。
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