FRED數(shù)字化取樣工具不僅可以取樣光源數(shù)據(jù),還可以取樣材料、模型、鍍膜數(shù)據(jù)、散射數(shù)據(jù);2. 在驗證光源的光強度分布或照度分布的時候,不要去追跡光線,在raytrace菜單下選擇Create All Source Rays,然后點擊照度分析或強度分析即可。
總結(jié)1.FRED數(shù)字化取樣工具不僅可以取樣光源數(shù)據(jù),還可以取樣材料、模型、鍍膜數(shù)據(jù)、散射數(shù)據(jù);2.在驗證光源的光強度分布或照度分布的時候,不要去追跡光線,在raytrace菜單下選擇Create All Source Rays,然后點擊照度分析或強度分析即可。
這使得陣列中透鏡元件表面形狀的定義和優(yōu)化具有了極大的靈活性。下圖顯示了透鏡陣列1物體,它是由7 x 5個矩形透鏡組成的透鏡陣列,每個矩形透鏡都可以看作一個球面透鏡的矩形區(qū)域。其它可以用於該應(yīng)用程式的物體包括透鏡陣列2物件和六邊形透鏡陣列(Hexagonal Lenslet Array)物件。
FRED 的3D可視化效果和用戶自定義光路的能力,使得這個問題很容易被發(fā)現(xiàn)。? 一次散射光 當(dāng)雜散光源,比如太陽,直接照射到光學(xué)系統(tǒng)的時候就會產(chǎn)生單次散射光。部分散射光線經(jīng)過光學(xué)系統(tǒng)之后,會照射到焦平面,我們認(rèn)為它散射進了視場。而一旦光線散射進了視場,它就變成了雜散光,要想消除這種雜散光,則不可避免地會伴有漸暈現(xiàn)象。所以遮光罩設(shè)計的基本目的就是不讓光線照射到系統(tǒng)上。