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Kogelnik的方法不允許多於一個光柵重疊在一個區域。 雙折射材料: 全像的材料被認為是均向性的。不允許使用雙折射材料。膨脹 / 收縮在本節中，我們將介紹如何考慮全像的膨脹和收縮。在加工時，全像材料可能會改變其厚度。為了考慮厚度變化的影響，我們首先將光柵向量分成兩個分量，K∥和K⊥，其中K⊥為垂直表面法線，K∥與表面法線平行。

光束應均勻地分成兩臂，其中一個在樣品體積上會聚，以最小化給定掃描的照射面積。 光源應為一束準直的寬帶光束；大帶寬意味著低相干性和高精度定位產生相干性的深度。深度掃描也稱為軸向掃描或A掃描，它根據反射到樣品中的距離來測量反射光的強度。 儘管它在OCT系統的類型之間有所不同，但深度掃描通常由參考鏡執行，以使樣品返回的光對應於樣品和參考之間的特定光程差（OPD）。

特征及案例介紹* SPG方法SPG方法是由LS-DYNA開發的真正意義上的無網格法。常規的無網格法需要背景網格來進行積分，在處理破壞時有一定局限性。而SPG法則使用節點積分，是真正意義上的穩定的無網格法。SPG可以十分便捷地與有限元part進行耦合，能夠處理大變形等問題。

</p><p>建一個沙漏控制卡，選4號或6號，附給泡沫單元的part6</p><p>接觸中將soft改為1，將sfs和sfm改為0.1</p><p>&nbsp;</p><p>負體積的原因是由于單元畸變引起的，單元節點編號有一個順序，當變形過大，或者不合理時， 某個或某些節點穿透所屬單元的面，造成負體積。

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