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此鏡片的屈光率為-3.00D，並能在距透鏡40公分處匯聚光線，形成適宜的閱讀距離。鏡片的基本曲線則是+28D。任何嘗試控制畸變的設(shè)計(jì)都將產(chǎn)生十分陡峭的基本曲線。因此很明顯的，對(duì)於一個(gè)已知屈光率的鏡片，在不參考任何配戴者或使用環(huán)境等相關(guān)條件的情況下，我們無(wú)法製造出擁有最佳成像品質(zhì)的光學(xué)設(shè)計(jì)。

或者，參考文獻(xiàn)[3]顯示了如何使用Lumerical FDTD軟體為給定的相位曲線設(shè)計(jì)超穎透鏡。這種方法的缺點(diǎn)是設(shè)計(jì)人員可能無(wú)法檢查整個(gè)系統(tǒng)的性能。例如，沒有辦法考慮所有繞射階數(shù)來(lái)檢查點(diǎn)擴(kuò)展函數(shù)（PSF）。類似地，儘管可以追蹤“非有效”的順序光線，但沒有計(jì)算出繞射效率，因此沒有辦法知道雜散光路中的功率比。

由于這種設(shè)計(jì)旨在實(shí)現(xiàn)緊湊的尺寸，成像系統(tǒng)必須平衡該標(biāo)準(zhǔn)與它對(duì)視場(chǎng)相關(guān)像差的影響，如畸變和場(chǎng)曲。該設(shè)計(jì)采用了類似于 Cooke 三片式透鏡的結(jié)構(gòu)，即在兩個(gè)低折射率的正透鏡之間有一個(gè)高折射率的負(fù)透鏡。所有元件上都具有非球面系數(shù)，允許通過(guò)第一個(gè)透鏡校正球差，而第三個(gè)透鏡可作為場(chǎng)鏡，以改善畸變和場(chǎng)曲的性能。

基于我們目前所搭建的設(shè)計(jì)，打開以上的每一個(gè)分析窗口來(lái)回顧當(dāng)前鏡頭的性能。從以上四個(gè)圖的評(píng)估中可以明顯看出，單透鏡設(shè)計(jì)有大量的像差，包括但不限于球差、彗差、畸變、離焦、場(chǎng)曲和像散。此外，根據(jù)下面點(diǎn)列圖底部的數(shù)據(jù)可以看出，最大視場(chǎng)的GEO半徑和RMS半徑分別為: 1774.42μm和734.581μm。

使用 OpticsBuilder，機(jī)構(gòu)工程師可以創(chuàng)建複雜的透鏡邊緣、安裝特徵和模組外殼，同時(shí)利用 Zemax 光線追跡直接查看這些元件如何影響光學(xué)性能。在這種情況下，鏡頭邊緣可能會(huì)為雜散光提供路徑以污染圖像。 OpticsBuilder 不僅可以在透鏡之間創(chuàng)建擋板，而且還允許設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)了解抑制雜散光源的有效性。

如果要修改默認(rèn)核數(shù)，請(qǐng)參考本人之前的頭條文章《讓Ansys Workbench性能燃燒起來(lái)》。 性能設(shè)置 6.2 Straight Sided Elements直邊單元默認(rèn)為No，改為Yes后網(wǎng)格的曲邊將變?yōu)橹边叄ú皇莿h除中節(jié)點(diǎn)）。對(duì)于流體單元，選項(xiàng)為不可設(shè)置狀態(tài)。

演講主題：卓越算力助力密集型計(jì)算主題簡(jiǎn)介：AMD EPYC處理器采用創(chuàng)新的三維內(nèi)存堆疊技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了前所未有的性能提升，使大規(guī)模計(jì)算流體動(dòng)力學(xué)（CFD）的性能提高了 80%，使顯式有限元分析（FEA）碰撞測(cè)試的性能提高了 50%。使Ansys Cloud 客戶可以更快地解決各種平臺(tái)上的 CAE 仿真，在更短的時(shí)間內(nèi)做出更好的設(shè)計(jì)決策，同時(shí)大大節(jié)省計(jì)算成本。

下一篇文章：Ansys Zemax | 手機(jī)鏡頭設(shè)計(jì) - 第 2 部分：光機(jī)械封裝，介紹了在 Ansys Speos 環(huán)境中編輯光學(xué)元件以及在整合機(jī)械組件后分析系統(tǒng)。

10:25-10:40 芯一代數(shù)據(jù)中心，為仿真和設(shè)計(jì)全面提速 曲大健

該模式確保曲殼彎曲時(shí)，厚度應(yīng)變沿面內(nèi)坐標(biāo)平滑變化，避免因曲率導(dǎo)致的 “剛度異常”。3.EAS 與 ANS 的協(xié)同作用：從理論到數(shù)值的全面驗(yàn)證3.1 補(bǔ)丁測(cè)試：基礎(chǔ)性能的 “試金石” 補(bǔ)丁測(cè)試是驗(yàn)證單元基本性能的標(biāo)準(zhǔn)手段。EAS 與 ANS 的結(jié)合確保單元通過(guò)兩類關(guān)鍵測(cè)試： 膜補(bǔ)丁測(cè)試：驗(yàn)證面內(nèi)應(yīng)變的協(xié)調(diào)性。