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ZEMAX軟件技術應用專題:在薄膜計算中Ray以及Field系數是什麼?
入射光的電
場
並非用單一
個
點來描述,相對的,我們會假設該電
場
比多重光束干涉發生的區域更大許多。在Zemax OpticStudio中,我們使用field係
數
來表示這
個
結果,這些係
數
已經被薄膜膜層的程式驗證過許多次。薄膜理論的慣例是計算平面法向量方向上的相位
變
化,這表示其假設了一
個
虛擬的平面波從薄膜最外層一路傳播到基板。
1939
w**elab86_Swsp
??? 3年前
帖子
Ansys Zemax光學設計軟件技術教程:眼科鏡片設計
上方視
場
角為0°到30°的-3.00D透鏡範例中,在OpticStudio中我們能求得基本曲線為+4.50D。在Layout中我們可以看到一
個
傳統的眼科半月形鏡片,這
個
基本曲線是
個
常見的形狀。然而,這
個
結論是根據我們的設計流程而來的,基於平面入射波、視
場
角與其權重、透鏡與眼睛旋轉中心的距離、一些像差的忽略 (尤其是對畸
變
的忽略),以及其他更多的假設。
2212
w**elab86_Swsp
??? 3年前
帖子
Zemax光學設計技術教程:如何使用Jones Matrix表面
Jones Matrix根據下方的式子改
變
電
場
的Jones向量上式中的A, B, C, D皆為複
數
形式。在鏡頭
數
據編輯器(LDE)和非序列元件編輯器(Non-Sequential components editor),我們可以在Jones Matrix後方的欄位輸入各元素的實
數
及虛
數
部分,以定義不同的Jones Matrix。
2425
w**elab86_Swsp
??? 3年前
帖子
ZEMAX軟件技術應用專題:利用Kogelnik方法模擬體積全像光柵的繞射效率
透射和反射全像的繞射波和穿透波的TE(橫向電
場
)的偏振電
場
可以用以下4
個
公式計算。注意,在這
個
理論中,能量被假設為只在入射波、零階(直射波)和一階繞射波之間交換。若要消除這
個
限制,需要嚴格耦合波分析理論。對於TM(橫向磁
場
)極化,我們可以簡單地將κ替換為κTM,如下所示,仍然使用前面的公式。
2122
w**elab86_Swsp
??? 3年前
帖子
ZEMAX軟件技術應用專題:在 OpticStudio 中模擬高階雷射光束
圖 3 很好地證明了這種轉
變
Bandres 和 Gutiérrez-Vega 的論文:2作者直接提供的另一
個
圖也顯示了這種轉
變
(對於 p = 4):2當 e 接近 0 時,Ince-Gaussian DLL 準確地再現了 Laguerre-Gaussian 模態的結果。
2057
w**elab86_Swsp
??? 3年前
帖子
ZEMAX軟件技術應用專題:如何在OpticStudio中設計DOE透鏡或超穎透鏡
如參考文獻[4]中所述,需要一
個
巨集來掃描不同Z位置的PSF並創建圖。1.4 參
數
化 DOE 矢高-> POP像上述方法一樣,可以透過在OpticStudio中對二進制矢高建模來模擬菲涅耳波帶片。但是,對於這種類型的DOE,光線追跡引擎將無法正常工作。垂直入射到DOE上的光線不會改
變
其方向,因為表面沒有傾斜。但是,垂直入射的光束可以用適當設計的菲涅耳波帶片聚焦。
2188
w**elab86_Swsp
??? 3年前
帖子
ZEMAX軟件技術應用專題:如何使用ZOS-API創建飛行時間用戶分析
LiDAR(光探測和測距)是一種感測器技術,可通過測
量
發射光從周圍物體反射並返回到接收器所需的時間來幫助創建環境的3D
數
字地圖。這種3D映射作為自動駕駛汽車的關鍵使能技術在汽車行業
變
得越來越重要。在汽車行業之外,LiDAR用於移動設備,用於增強現實、測
量
距離以及模糊照片和影片中的背景等功能。
2080
w**elab86_Swsp
??? 3年前
帖子
ZEMAX軟件技術應用專題:智慧型手機鏡頭模組
大多
數
都有多
個
相機單元,這對設計師和製造商提出了挑戰,以滿足嚴格的性能、成本和尺寸要求。在這篇Blog中,我們將討論 Zemax 解決方案如何幫助應對和克服這些挑戰。智慧型手機鏡頭模組用於智慧型手機相機的鏡頭模組非常複雜,每
個
模組都包含多
個
鏡頭元件。追求更好的成像性能,加上需要模組盡可能小以增強手機的美感,需要復雜的設計形式。透鏡的形狀通常是高度非球面的。
2042
w**elab86_Swsp
??? 3年前
帖子
ZEMAX軟件技術應用專題:如何為光學相干斷層掃描系統建模
顏色
變
化對應於返迴光強度的
變
化。 這表明發生了重大
變
化。代表性的OCT系統如下所示。 光束應均勻地分成兩臂,其中一
個
在樣品體積上會聚,以最小化給定掃描的照射面積。 光源應為一束準直的寬帶光束;大帶寬意味著低相干性和高精度定位產生相干性的深度。深度掃描也稱為軸向掃描或A掃描,它根據反射到樣品中的距離來測
量
反射光的強度。
2222
w**elab86_Swsp
??? 3年前
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