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登錄光學(xué)顯微鏡的案例
共聚焦、光學(xué)顯微鏡與測(cè)量顯微鏡的區(qū)分
4、非破壞性測(cè)量:作為一種光學(xué)技術(shù),共聚焦顯微鏡允許在不接觸或不破壞樣品的情況下進(jìn)行測(cè)量。
5、軟件分析工具:現(xiàn)代共聚焦顯微鏡通常配備有專門的軟件,可以進(jìn)行各種測(cè)量和分析,如距離、體積、形狀和紋理分析。
6、適用于多種材料:共聚焦顯微鏡可以用于測(cè)量各種不同類型的材料,包括金屬、塑料和半導(dǎo)體材料。
共聚焦、光學(xué)顯微鏡與測(cè)量顯微鏡的區(qū)別
“共聚焦顯微鏡”、“測(cè)量顯微鏡”和“光學(xué)顯微鏡”這三個(gè)名稱描述的是顯微鏡技術(shù)及其應(yīng)用的不同方面。
光學(xué)顯微鏡:這是一類利用光學(xué)原理成像的顯微鏡,通過(guò)透鏡系統(tǒng)放大樣品的圖像。光學(xué)顯微鏡是顯微鏡的基礎(chǔ)類別,包括了傳統(tǒng)的明場(chǎng)、暗場(chǎng)、相差顯微鏡等,它們主要依賴于可見(jiàn)光來(lái)進(jìn)行樣品的觀察和成像。
共聚焦顯微鏡:共聚焦顯微鏡是光學(xué)顯微鏡的一個(gè)子類別,它使用一種特殊的成像技術(shù),通過(guò)空間選擇性地只收集樣品焦平面上的光,從而獲得比傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡更高的分辨率和更清晰的圖像。共聚焦顯微鏡能夠進(jìn)行二維和三維成像,是光學(xué)顯微鏡技術(shù)中較為先進(jìn)的一種。
測(cè)量顯微鏡:這是一種用途上的分類,指的是用于精確測(cè)量樣品尺寸、形狀、表面粗糙度等物理特性的顯微鏡。測(cè)量顯微鏡可以是光學(xué)顯微鏡,也可以是電子顯微鏡或其他類型的顯微鏡,關(guān)鍵在于它們配備了用于測(cè)量的工具和功能。共聚焦顯微鏡因其高精度的三維成像能力,常被用作一種高級(jí)的測(cè)量顯微鏡。
展開(kāi) 我國(guó)成功研制高端超分辨光學(xué)顯微鏡
據(jù)新華社報(bào)道,由中國(guó)科學(xué)院蘇州生物醫(yī)學(xué)工程技術(shù)研究所承擔(dān)的國(guó)家重大科研裝備研制項(xiàng)目“超分辨顯微光學(xué)核心部件及系統(tǒng)研制”26日在蘇州高新區(qū)通過(guò)驗(yàn)收,標(biāo)志著我國(guó)已經(jīng)成功研制出高端超分辨光學(xué)顯微鏡。
驗(yàn)收專家組組長(zhǎng)、中科院高能物理所柴之芳院士認(rèn)為,該項(xiàng)目的成功實(shí)施,改善了我國(guó)高端光學(xué)顯微鏡基本依賴進(jìn)口的狀況,對(duì)滿足我國(guó)前沿基礎(chǔ)研究的定制化需求、提升創(chuàng)新能力,以及推動(dòng)我國(guó)光學(xué)顯微鏡行業(yè)轉(zhuǎn)型升級(jí)具有重要意義。
在科學(xué)研究中,高/超分辨光學(xué)顯微鏡發(fā)揮著至關(guān)重要的作用,10納米至100納米尺度的超分辨顯微光學(xué)成像更是取得原創(chuàng)性研究成果的重要手段。超分辨光學(xué)成像(Super-resolution Optical Microscopy)是本世紀(jì)光學(xué)顯微成像領(lǐng)域最重大的突破,打破了光學(xué)顯微鏡的分辨率極限(換言之,超越了光學(xué)顯微鏡的分辨率極限,故被稱為超分辨光學(xué)成像)
歷時(shí)5年攻關(guān),中科院蘇州醫(yī)工所科研人員突破大數(shù)值孔徑物鏡、特種光源、新型納米熒光增強(qiáng)試劑、系統(tǒng)集成與檢測(cè)等關(guān)鍵技術(shù);研制出激光掃描共聚焦顯微鏡、雙光子顯微鏡、受激發(fā)射損耗(STED)超分辨顯微鏡、雙光子-STED顯微鏡等高端光學(xué)顯微鏡整機(jī);建成了高端顯微光學(xué)加工、裝調(diào)、檢測(cè)以及顯微鏡整機(jī)技術(shù)集成工程化平臺(tái)。
據(jù)了解,項(xiàng)目組發(fā)表相關(guān)論文61篇,授權(quán)發(fā)明專利35項(xiàng),已授權(quán)實(shí)用新型專利56項(xiàng),培養(yǎng)了一支集光學(xué)、機(jī)械、電子、計(jì)算機(jī)、軟件、材料等領(lǐng)域的超分辨顯微光學(xué)技術(shù)研發(fā)與工程化開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì),為我國(guó)高端光學(xué)顯微鏡的發(fā)展提供了系統(tǒng)解決方案。中科院蘇州醫(yī)工所所長(zhǎng)唐玉國(guó)介紹,該所研制的超分辨顯微鏡或核心部件已在美國(guó)、德國(guó)、以色列及國(guó)內(nèi)多家研究機(jī)構(gòu)投入使用并取得部分成果。
展開(kāi) 奧林巴斯光學(xué)顯微鏡手動(dòng)顯微鏡系統(tǒng) BX43
奧林巴斯BX43顯微鏡系統(tǒng)是您進(jìn)行高質(zhì)量微觀世界探索的理想伙伴,它將先進(jìn)的光學(xué)技術(shù)與人性化設(shè)計(jì)完美結(jié)合,為用戶提供了一個(gè)既經(jīng)濟(jì)又解決方案。
工業(yè)奧林巴斯光學(xué)顯微鏡BX53M
BX53M不僅繼承了傳統(tǒng)光學(xué)顯微技術(shù)的可靠性,更融合現(xiàn)代數(shù)字成像與智能控制理念,為工業(yè)質(zhì)量管控、失效分析及新材料開(kāi)發(fā)提供精準(zhǔn)、高效且高度可定制的顯微解決方案。

SZ系列奧林巴斯光學(xué)顯微鏡
<p>奧林巴斯SZ系列光學(xué)顯微鏡融合先進(jìn)光學(xué)系統(tǒng)與人性化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),專為工業(yè)檢測(cè)、精密制造及材料分析等場(chǎng)景打造高效視覺(jué)平臺(tái)。該系列以寬變倍比、高數(shù)值孔徑(NA)和卓越成像質(zhì)量為核心優(yōu)勢(shì),支持從宏觀輪廓到微觀細(xì)節(jié)的無(wú)縫連續(xù)觀察,顯著提升圖像精度與操作效率。
奧林巴斯光學(xué)顯微鏡體視顯微鏡
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奧林巴斯體視顯微鏡系列結(jié)合了高質(zhì)量的光學(xué)系統(tǒng)與人性化的設(shè)計(jì),為用戶提供了從宏觀到微觀的平滑觀察體驗(yàn)。無(wú)論是進(jìn)行基礎(chǔ)教育還是高級(jí)研究,奧林巴斯都提供了一系列型號(hào)以滿足不同的需求和預(yù)算。
</div><p><span style="color: rgb(25, 27, 31);">奧林巴斯光學(xué)顯微鏡:</span><a href="https://lifescience.evidentscientific.com.cn/zh/products/" rel="noopener noreferrer" target="_blank">https://lifescience.evidentscientific.com.cn/zh/products/</a></p><div contenteditable="false" width="100%">
高質(zhì)量成像與人體工學(xué)設(shè)計(jì)
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奧林巴斯體視顯微鏡以其寬變倍比和高數(shù)值孔徑(NA)而著稱,能夠在低放大倍率和高放大倍率條件下實(shí)現(xiàn)舒適的觀察和不錯(cuò)的圖像質(zhì)量。其先進(jìn)的光學(xué)器件、改進(jìn)的功能以及各種人體工學(xué)配件確保了在生命科學(xué)和生物學(xué)領(lǐng)域的樣品選擇、解剖和操作更加輕松、舒適。
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多樣化的應(yīng)用支持
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奧林巴斯體視顯微鏡適用于多種觀察方法,包括明場(chǎng)、傾斜和高級(jí)熒光觀察。
展開(kāi) 浙大:一種全新三維光學(xué)超分辨顯微鏡
近日,浙江大學(xué)光電科學(xué)與工程學(xué)院劉旭教授和匡翠方教授課題組提出了一種新穎的光學(xué)成像技術(shù)——多角度干涉顯微鏡(MAIM),實(shí)現(xiàn)了對(duì)生物體內(nèi)活細(xì)胞的多色、長(zhǎng)時(shí)程、高速和三維超分辨成像,為微管、內(nèi)質(zhì)網(wǎng)、線粒體和細(xì)胞膜等亞細(xì)胞器的生物動(dòng)力學(xué)分析提供了有力的研究工具。這項(xiàng)研究發(fā)表在知名期刊《自然·通訊》上。
研究從諾貝爾獎(jiǎng)開(kāi)始
沈復(fù)在《浮生六記》中曾寫(xiě)道,余憶童稚時(shí),能張目對(duì)日,明察秋毫,見(jiàn)藐小之物必細(xì)察其紋理,故時(shí)有物外之趣。
到了現(xiàn)代社會(huì),要看清楚微觀世界,人們研究出了顯微鏡。
2014年的諾貝爾化學(xué)獎(jiǎng)?lì)C發(fā)給了超分辨熒光顯微技術(shù)的發(fā)明者,這一技術(shù)利用特定的熒光染料實(shí)現(xiàn)光學(xué)的超分辨,突破衍射極限,到達(dá)200納米以下的尺度??茖W(xué)家們可以通過(guò)光學(xué)顯微鏡,看到細(xì)胞的精細(xì)結(jié)構(gòu)。然而,這項(xiàng)技術(shù)也有自己的弊端,比如對(duì)熒光染料有特殊的擦除或者開(kāi)關(guān)效應(yīng)要求,或需要獲取成百上千張?jiān)紙D像以重構(gòu)超分辨圖像,因此成像時(shí)間較長(zhǎng)。短則十幾秒,長(zhǎng)則幾十分鐘才能獲得一張超分辨圖像,對(duì)于捕捉活細(xì)胞的運(yùn)動(dòng)瞬間仍舊困難重重。
與此同時(shí),現(xiàn)有超分辨顯微還有一個(gè)較大的瓶頸是,在大多數(shù)情況下,成像需要很強(qiáng)的激發(fā)光,這對(duì)細(xì)胞,尤其是活細(xì)胞來(lái)說(shuō)很不友好,常常會(huì)將細(xì)胞殺死。而且強(qiáng)光照射也會(huì)導(dǎo)致熒光分子被快速漂白,無(wú)法對(duì)活細(xì)胞進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)程成像。
展開(kāi) 工業(yè)奧林巴斯光學(xué)顯微鏡GX53
GX53倒置顯微鏡專為工業(yè)材料檢測(cè)而設(shè)計(jì),憑借卓越的光學(xué)性能與高度模塊化架構(gòu),顯著提升對(duì)大尺寸、厚截面樣品的觀測(cè)效率與成像質(zhì)量。該系統(tǒng)融合先進(jìn)成像技術(shù)與智能分析軟件,廣泛適用于鋼鐵、汽車、電子等制造領(lǐng)域的精密檢測(cè)任務(wù)。
奧林巴斯光學(xué)顯微鏡:https://industrial.evidentscientific.com.cn/zh/microscope/opt/
產(chǎn)品鏈接:https://industrial.evidentscientific.com.cn/zh/microscope/gx53/
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在光學(xué)成像方面,GX53搭載高穩(wěn)定性白光LED光源,確保長(zhǎng)時(shí)間工作下色溫一致,避免因光源波動(dòng)影響圖像再現(xiàn)性。系統(tǒng)引入波前像差控制與圖像陰影校正算法,有效抑制光學(xué)畸變,實(shí)現(xiàn)高對(duì)比度、細(xì)節(jié)豐富的清晰成像。針對(duì)表面形貌復(fù)雜的工件,其全聚焦圖像合成功能可自動(dòng)采集多個(gè)焦平面數(shù)據(jù),并無(wú)縫融合生成整體清晰的全景視圖。此外,系統(tǒng)支持高動(dòng)態(tài)范圍(HDR)成像,同步保留高亮與暗部區(qū)域細(xì)節(jié),克服傳統(tǒng)單次曝光中信息丟失的問(wèn)題。
設(shè)備配備編碼式物鏡轉(zhuǎn)換器,結(jié)合PRECiV智能圖像分析軟件,實(shí)現(xiàn)從圖像采集、參數(shù)測(cè)量到報(bào)告生成的全流程自動(dòng)化。用戶可快速拼接大視野全景圖像,并利用內(nèi)置工具完成結(jié)構(gòu)識(shí)別、幾何尺寸測(cè)量及數(shù)據(jù)歸檔。軟件界面簡(jiǎn)潔直觀,大幅降低操作門檻,使經(jīng)驗(yàn)較少的技術(shù)人員也能高效執(zhí)行復(fù)雜分析任務(wù)。系統(tǒng)還支持顯微鏡配置參數(shù)一鍵復(fù)位,保障重復(fù)檢測(cè)的一致性與可靠性。
得益于模塊化設(shè)計(jì)理念,GX53可根據(jù)不同產(chǎn)線或檢測(cè)需求靈活選配組件,構(gòu)建定制化解決方案。無(wú)論是日常質(zhì)量控制還是深度材料表征,該平臺(tái)均提供穩(wěn)定、精準(zhǔn)且可擴(kuò)展的技術(shù)支撐。通過(guò)硬件與軟件的深度協(xié)同,GX53不僅優(yōu)化了工業(yè)顯微檢測(cè)流程,更推動(dòng)該領(lǐng)域向高效化、標(biāo)準(zhǔn)化方向持續(xù)演進(jìn)。
展開(kāi) 工業(yè)奧林巴斯光學(xué)顯微鏡BX53-P
奧林巴斯BX53-P偏光顯微鏡專為高精度偏振光觀測(cè)而打造,集成UIS2無(wú)窮遠(yuǎn)校正光學(xué)系統(tǒng)與低應(yīng)力光學(xué)元件,在工業(yè)材料分析領(lǐng)域展現(xiàn)出卓越性能。該系統(tǒng)適用于晶體結(jié)構(gòu)、復(fù)合材料、礦物薄片及其他各向異性樣品的觀察與定量評(píng)估。
奧林巴斯光學(xué)顯微鏡:https://industrial.evidentscientific.com.cn/zh/microscope/opt/
產(chǎn)品鏈接:https://industrial.evidentscientific.com.cn/zh/microscope/bx53-p/
其核心優(yōu)勢(shì)在于高度穩(wěn)定的光學(xué)路徑設(shè)計(jì)。即便在引入檢偏器、補(bǔ)償器或波片等偏振組件時(shí),UIS2架構(gòu)仍能維持成像質(zhì)量無(wú)衰減,并有效消除附加元件引起的放大倍率偏差,從而保障從基礎(chǔ)觀測(cè)到復(fù)雜干涉圖分析的一致性與準(zhǔn)確性。此外,系統(tǒng)兼容BX3系列中間附件及各類工業(yè)相機(jī)與數(shù)字成像設(shè)備,便于無(wú)縫集成至自動(dòng)化檢測(cè)流程中。
BX53-P配備可調(diào)焦Bertrand透鏡,支持明場(chǎng)(orthoscopic)與錐光(conoscopic)模式快速切換,清晰呈現(xiàn)后焦面干涉圖樣。配合視場(chǎng)光闌優(yōu)化,可穩(wěn)定獲取高對(duì)比度錐光圖像,滿足對(duì)晶體取向及雙折射特性的精細(xì)解析需求。
為提升測(cè)量靈活性,系統(tǒng)提供六種補(bǔ)償器選項(xiàng),延遲量程覆蓋0至20λ(約11000 nm)。其中,Berek與Senarmont補(bǔ)償器支持全視場(chǎng)內(nèi)連續(xù)調(diào)節(jié)延遲值,適用于高對(duì)比成像與精確雙折射量化;Brace-Koehler系列則針對(duì)微弱雙折射信號(hào)提供亞納米級(jí)靈敏度。搭配546 nm干涉濾光片使用,可進(jìn)一步提升測(cè)量重復(fù)性與精度。
機(jī)械結(jié)構(gòu)方面,BX53-P搭載高精度旋轉(zhuǎn)載物臺(tái),內(nèi)置45°定位卡位及中心調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu),確保樣品旋轉(zhuǎn)過(guò)程平穩(wěn)精準(zhǔn)。
展開(kāi) BX3奧林巴斯光學(xué)顯微鏡
<p>奧林巴斯BX3系列正置顯微鏡融合先進(jìn)光學(xué)技術(shù)與精密機(jī)械設(shè)計(jì),為高精度微觀觀測(cè)任務(wù)構(gòu)建了穩(wěn)定可靠的平臺(tái)。該系列產(chǎn)品憑借卓越的成像質(zhì)量、靈活的配置組合以及優(yōu)化的人機(jī)工程結(jié)構(gòu),在工業(yè)檢測(cè)與材料分析領(lǐng)域展現(xiàn)出突出性能。</p><p><br></p><p>BX3系列搭載高精度光學(xué)組件,確保圖像具備出色的分辨率與對(duì)比度表現(xiàn)。標(biāo)配真彩色LED照明系統(tǒng)不僅實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)色彩還原,同時(shí)顯著降低熱輻射對(duì)樣品的干擾,保障長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)觀測(cè)下的系統(tǒng)穩(wěn)定性。在操作層面,部分型號(hào)如BX46配備多向可調(diào)觀察筒,支持傾斜、伸縮及升降調(diào)節(jié),有效緩解長(zhǎng)時(shí)間作業(yè)帶來(lái)的疲勞感,并適配不同用戶的操作習(xí)慣。
展開(kāi) 激光共聚焦顯微鏡在材料科學(xué)領(lǐng)域中的優(yōu)點(diǎn)
在材料科學(xué)領(lǐng)域中,激光共聚焦顯微鏡以轉(zhuǎn)盤共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ),結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和3D重建算法,共同組成測(cè)量系統(tǒng)。它可以通過(guò)使用空間針孔來(lái)阻擋散焦光來(lái)提高顯微圖像的光學(xué)分辨率和對(duì)比度。在圖像形成中,捕獲樣品中不同深度的多個(gè)二維圖像可重建三維結(jié)構(gòu)(即光學(xué)切片過(guò)程)。該技術(shù)廣泛用于科學(xué)和工業(yè)界,典型的應(yīng)用是生命科學(xué)、半導(dǎo)體檢查和材料科學(xué)。
作為一種先進(jìn)的光學(xué)顯微鏡技術(shù),激光共聚焦顯微鏡可以揭示材料的微觀結(jié)構(gòu)和特征,推動(dòng)著材料科學(xué)的發(fā)展。
首先,激光共聚焦顯微鏡相比傳統(tǒng)的顯微鏡技術(shù)具有更高的分辨率和深度探測(cè)能力,對(duì)大坡度的產(chǎn)品有更好的成像效果,在滿足精度的情況下使用場(chǎng)景更具有兼容性。VT6000激光共聚焦顯微鏡可以獲得高達(dá)亞納米級(jí)的空間分辨率(高度分辨率0.5nm;寬度分辨率1nm。),能更好地揭示材料的微觀特征和晶體結(jié)構(gòu),使研究人員更容易深入研究材料的微觀結(jié)構(gòu)。
其次,激光共聚焦顯微鏡非接觸式成像測(cè)量方式,不需要與樣品直接接觸,避免了可能對(duì)樣品造成損傷和污染。這使得不管是金屬材料還是納米材料等各種不同類型的材料,激光共聚焦顯微鏡都能進(jìn)行觀察和分析,并且都能得到清晰的3d顯微成像。
此外,激光共聚焦顯微鏡具有三維成像和實(shí)時(shí)觀察的優(yōu)勢(shì)。它可以構(gòu)建出樣品的三維表面形貌和內(nèi)部結(jié)構(gòu),這對(duì)于分析材料的三維形態(tài)、孔隙結(jié)構(gòu)和顆粒分布等特征十分重要。同時(shí)通過(guò)實(shí)時(shí)觀察樣品的三維成像過(guò)程,能更好的研究材料的動(dòng)態(tài)變化和響應(yīng)。
總的來(lái)說(shuō)激光共聚焦顯微鏡具有高分辨率、非接觸式成像、三維成像和實(shí)時(shí)觀察等優(yōu)點(diǎn),從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)都可以測(cè)量。
展開(kāi) 
金屬科研“神器”:掃描電子顯微鏡原理及應(yīng)用
掃描電子顯微鏡是我們金屬科研工作中應(yīng)用最廣泛的“神器”,可以說(shuō)幾乎伴隨著每一位研究生度過(guò)自己最重要的科研經(jīng)歷,時(shí)?!皭?ài)也掃描”“恨也掃描”,今天就系統(tǒng)地為新老同學(xué)們和需要應(yīng)用掃描的科技工作者介紹一下掃描電鏡的原理及應(yīng)用。
電子顯微鏡利用電子成像,類似于光學(xué)顯微鏡使用可見(jiàn)光成像。由于電子的波長(zhǎng)遠(yuǎn)小于光的波長(zhǎng),所以電子顯微鏡的分辨率要高于光學(xué)顯微鏡的分辨率。
圖1 蔡司SIGMA 500場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope,SEM),簡(jiǎn)稱掃描電鏡,已成為功能強(qiáng)、用途廣的材料表征工具,已廣泛應(yīng)用于材料,冶金,礦物,生物學(xué)等領(lǐng)域,如圖1所示為蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡。
SEM結(jié)構(gòu)及工作原理?
SEM主要組成部分是:
電子光
學(xué)系統(tǒng),
信號(hào)
收集處理系統(tǒng),圖像顯示和記錄系統(tǒng),真空系統(tǒng),電源及控制系統(tǒng)等,如圖2所示。
圖2 SEM工作原理示意圖
它是用細(xì)聚焦的電子束轟擊樣品表面,通過(guò)電子與樣品相互作用產(chǎn)生二次電子、背散射電子等對(duì)樣品表面或斷口形貌進(jìn)行觀察和分析。
圖3 金屬斷口觀察(來(lái)源網(wǎng)絡(luò))
在SEM中,電子束以柵網(wǎng)模式掃描樣品。首先,電子在鏡筒頂部生成電子。當(dāng)電子的熱能超過(guò)了源材料的功函數(shù)時(shí),就會(huì)被釋放出來(lái),然后它們加速向帶有正電荷的陽(yáng)極高速移動(dòng)。整個(gè)電子鏡筒必須處于真空狀態(tài)。
像電子顯微鏡的所有組件一樣,電子也被密封在特殊的真空室中以保護(hù)它不受污染、振動(dòng)和噪音的影響。除了保護(hù)電子不受污染,真空環(huán)境有利于得到高分辨率圖像。
若非真空環(huán)境,鏡筒中可能存在其他原子和分子,它們與電子相互作用,使電子束發(fā)生偏轉(zhuǎn),從而降低圖像質(zhì)量。
展開(kāi) 激光共聚焦顯微鏡測(cè)粗糙度,解讀表面粗糙度的科技利器
激光共聚焦顯微鏡(Laser Scanning Confocal Microscope,簡(jiǎn)稱LSCM)是一種光學(xué)顯微鏡,通過(guò)激光束的聚焦和散射技術(shù),能夠?qū)崿F(xiàn)高分辨率的三維圖像采集和表面測(cè)量。其在科學(xué)研究、工程領(lǐng)域等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用,尤其在測(cè)量表面粗糙度方面具有優(yōu)勢(shì)。
激光共聚焦顯微鏡的核心技術(shù)是激光束的聚焦和散射。當(dāng)激光束聚焦到樣品表面時(shí),只有聚焦點(diǎn)處的樣品表面才會(huì)發(fā)射回散射光,而其他位置的光則被濾除,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品表面的高分辨率成像。通過(guò)調(diào)節(jié)激光束的焦距和掃描范圍,可以獲取不同深度的三維圖像,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品表面的精確測(cè)量。
在測(cè)量粗糙度方面,激光共聚焦顯微鏡具有以下幾個(gè)優(yōu)勢(shì):
1、高分辨率:激光共聚焦顯微鏡能夠?qū)崿F(xiàn)亞微米級(jí)別的空間分辨率,可以清晰地觀察到樣品表面的微觀結(jié)構(gòu),從而準(zhǔn)確地測(cè)量其粗糙度。
2、三維測(cè)量:與傳統(tǒng)的表面粗糙度測(cè)量方法相比,激光共聚焦顯微鏡可以獲取樣品表面的三維形貌信息,包括高度、形狀等,從而更全面地描述表面的粗糙度特征。
3、非接觸測(cè)量:激光共聚焦顯微鏡的測(cè)量過(guò)程是非接觸的,不會(huì)對(duì)樣品表面造成損傷,適用于對(duì)脆性或敏感樣品的測(cè)量。
4、實(shí)時(shí)成像:激光共聚焦顯微鏡能夠?qū)崿F(xiàn)實(shí)時(shí)成像和在線測(cè)量,使得用戶可以及時(shí)獲取樣品表面的粗糙度信息,并進(jìn)行實(shí)時(shí)分析和調(diào)整。
鐳射槽
光伏
在實(shí)際應(yīng)用中,激光共聚焦顯微鏡廣泛用于材料表面的粗糙度測(cè)量、表面形貌分析、微結(jié)構(gòu)觀察等領(lǐng)域。
展開(kāi) 焊接人不容忽略的知識(shí)之金相組織
;500倍光學(xué)顯微鏡下基本能夠識(shí)別清楚。
Wolfram 語(yǔ)言與計(jì)算型顯微鏡
顯微鏡是四百年前發(fā)明的。但是今天,正如在許多其他領(lǐng)域一樣,與計(jì)算相關(guān)的顯微鏡正在掀起一場(chǎng)革命。我們一直在努力使 Wolfram 語(yǔ)言成為計(jì)算顯微鏡這一新興領(lǐng)域的最終平臺(tái)。
首先是從光學(xué)顯微鏡、X 射線顯微鏡,透射電子顯微鏡(TEM)、共焦激光掃描顯微鏡(CLSM)、雙光子激發(fā)或掃描電子顯微鏡(SEM)等等各種裝置得到圖像。然后進(jìn)行處理來(lái)提升圖像品質(zhì),重建對(duì)象并進(jìn)行測(cè)量、檢測(cè)、識(shí)別和分類。在2017年8月的顯微鏡和微量分析會(huì)議(http://microscopy.org/MandM/2017)上,我們使用蔡司(Zeiss)顯微鏡和ToupTek 數(shù)碼相機(jī),展示了這一流程的各種示例。
圖像采集
使用 Import 將標(biāo)準(zhǔn)圖像文件格式轉(zhuǎn)換為 Wolfram 語(yǔ)言(通過(guò)BioFormatsLink(https://github.com/WolframResearch/BioFormatsLink)可以訪問(wèn)顯微鏡生成的更罕見(jiàn)的文件格式)。更酷的是,您還可以連接到顯微鏡,讓圖像直接進(jìn)入 CurrentImage。
圖像導(dǎo)入后,就可以使用 Wolfram 語(yǔ)言的各種功能大顯身手了。
亮度均衡
通常,顯微鏡獲取的圖像表現(xiàn)出不均勻的照明。不均勻照明問(wèn)題可以通過(guò)根據(jù)已知平面場(chǎng)調(diào)整圖像背景或通過(guò)對(duì)可見(jiàn)背景的照明進(jìn)行建模來(lái)解決。BrightnessEqualize 正可以達(dá)到此目的。
這是顯微鏡下糖晶體的原始圖像:
這是一個(gè)純粹的圖像調(diào)整:
這里是使用經(jīng)驗(yàn)平面場(chǎng)亮度均衡的結(jié)果:
如果平面場(chǎng)圖像不可用,則構(gòu)造一個(gè)。
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