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關注創建者:匿名 創建時間:2026-03-11

Smart-ROM的實例教程
Smart-ROM用AI重構仿真范式,它不僅僅是一個工具,更是一種全新的工作流程:通過智能學習歷史仿真數據,自動構建高保真降階模型(ROM),將原本需要數小時的物理場分析,壓縮至秒級完成。
接下來,讓我們一起剖析,Smart-ROM如何一步步將“秒級物理場分析”從愿景變為標準工作流程。
一、Smart-ROM降階模型構建
Step1:樣本空間構建
用戶導入仿真數據并定義樣本
圖 仿真數據導入
圖 導入數據查看
Step2:降階模型訓練
用戶選擇AI降階算法和調參模式,支持算法超參自調優與用戶自定義
圖 AI算法超參自定義
Step3:降階模型驗證
對訓練好的降階模型進行驗證,滿足精度要求后進行封裝與導出(exe、dll、FMU)
圖 降階模型精度對比
圖 降階模型驗證
二、Smart-ROM功能特點
? 豐富的數據接口
提供豐富多樣的數據接口,仿真軟件接口包含Fluent、Mechanical、Comsol、Abaqus、Infolytica、Nastran等,試驗數據接口包含csv、txt等。
? 適應不同類型、不同變量的模型降階
支持結構、電磁、流體、熱及多物理場耦合仿真模型的降階,支持線性/非線性、靜態/動態試驗數據降階。
? 豐富的智能降階算法
提供各種類型的智能降階算法,包含克里金插值、徑向基函數、深度神經網絡、優化神經網絡等,對不同體量、不同復雜度的仿真模型具備較好的適應性與泛化能力。
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Smart-ROM用AI重構仿真范式,它不僅僅是一個工具,更是一種全新的工作流程:通過智能學習歷史仿真數據,自動構建高保真降階模型(ROM),將原本需要數小時的物理場分析,壓縮至秒級完成。
接下來,讓我們一起剖析,Smart-ROM如何一步步將“秒級物理場分析”從愿景變為標準工作流程。
?? 授予 TI 的 Gerald Rogers 的專利,用于配置為 NAND 陣列的掩模 ROM,以減少芯片面積和成本。
1978年
?? Eli Harari 發表了“Dielectric Breakdown in Electrically Stressed Thin Films of Thermal SiO2”。
最后介紹Systerel公司是如何使用S3(Systerel Smart Solver)引擎對SCADE進行形式化驗證的。