雜散光控制的案例
線上培訓 | ASAP 光學系統(tǒng)雜散光分析與控制，招生中
# 第六期線上精品課 #
隨著前期開展的 ASAP 雜散光課程順利舉辦，武漢墨光迎來了本次第六期線上雜散光精品課，資深光學工程師精心打造，配套教材，線上答疑，實用案例，一一給您講到位，讓您學有所獲。以下就是本次培訓大綱及詳情：
培訓大綱
01. 雜散光術(shù)語
02. 輻射度學基礎(chǔ)
03. 雜散光成因
04. 雜散光影響、雜散光控制
05. 雜散光分析、評價方法、分析軟件對比
06. ASAP 雜散光分析流程、步驟
07. 散光特性、散射模型
08. 消光漆/表面處理
09. 光學表面污染
10. 散射特性測量儀對比、重點區(qū)域采樣
11. 衍射雜散光、PST 分析
12. 鬼像分析、光學設(shè)計中的雜散光控制
13. 遮光罩和擋光環(huán)設(shè)計、自身熱輻射分析
14. 雜散光計算器、擴展面源雜散光分析
15.
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報名咨詢請掃描下方“二維碼”或點擊文末“閱讀原文”即可
往期回顧
線上精品課 |《ASAP光學系統(tǒng)雜散光分析與控制》第四期 招生中
線上精品課 |《ASAP光學系統(tǒng)雜散光分析與控制》第三期 招生中
線上精品課 |《ASAP光學系統(tǒng)雜散光分析與控制》第二期 招生中
5月12日線上精品課《ASAP光學系統(tǒng)雜散光分析與控制》開課（第一期）
注意！！！
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往期回顧
線上精品課 |《ASAP光學系統(tǒng)雜散光分析與控制》第四期 招生中
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5月12日線上精品課《ASAP光學系統(tǒng)雜散光分析與控制》開課（第一期）
注意！！！
線上培訓 | 第14期《 ASAP 光學系統(tǒng)雜散光分析與控制 》 招生中
《 ASAP 光學系統(tǒng)雜散光分析與控制》線上培訓已舉辦多期，完善的課程體系、配套的學習資料，獲得客戶一致好評。
線上精品課 |《ASAP 光學系統(tǒng)雜散光分析與控制》第四期 招生中
雜散光術(shù)語
02. 輻射度學基礎(chǔ)
03. 雜散光成因
04. 雜散光影響、雜散光控制
05. 雜散光分析、評價方法、分析軟件對比
06. ASAP 雜散光分析流程、步驟
07. 散光特性、散射模型
08. 消光漆/表面處理
09. 光學表面污染
10. 散射特性測量儀對比、重點區(qū)域采樣
11. 衍射雜散光、PST 分析
12. 鬼像分析、光學設(shè)計中的雜散光控制
13. 遮光罩和擋光環(huán)設(shè)計、自身熱輻射分析
14. 雜散光計算器、擴展面源雜散光分析
15. 散射特征測試介紹、PST 測試介紹、光陷阱
培訓說明
本培訓為線上直播培訓
培訓內(nèi)容作業(yè)練習跟蹤，老師答疑
培訓結(jié)束后支持1個月錄播回放觀看
1. 培訓方安裝最新正版軟件（僅限培訓期間使用）。
2. 包郵贈送配套教材一本《雜散光抑制設(shè)計與分析》一本。
3. 為保證課程質(zhì)量，課程均采用小班授課模式。
舉辦單位：武漢墨光科技有限公司
培訓日期：2021年5月24日——5月29日（18課時，3課時/天）
培訓費用：1580元/人（不含稅）
團體（三人及以上）報名可以享受八折優(yōu)惠，報名咨詢請掃描下方“二維碼”或點擊文末“閱讀原文”即可
展開 線下培訓 | 第31屆《 ASAP 光學系統(tǒng)雜散光分析與控制 》 招生中
輻射度學基礎(chǔ)
雜散光成因
雜散光影響、雜散光控制
雜散光分析、評價方法、分析軟件對比
ASAP 雜散光分析流程、步驟
練習 1 — 找關(guān)鍵和被照表面
? 第四天
散光特性、散射模型
練習 2 — 散射模型擬合
光學表面污染
散射特性測量儀對比、重點區(qū)域采樣
練習 3 — 重點區(qū)域位置和大小計算
? 第五天
衍射雜散光、PST 分析
練習 4 — PST 分析
鬼像分析、光學設(shè)計中的雜散光控制
練習 5 — 鬼像分析
遮光罩和擋光環(huán)設(shè)計、自身熱輻射分析
雜散光計算器、擴展面源雜散光分析
02
展開 線上培訓 | 第16期《 ASAP 光學系統(tǒng)雜散光分析與控制 》 招生中
ASAP · 雜散光分析與控制 · 線上培訓
ASAP 光學系統(tǒng)分析軟件一直因其強大的功能和超快的運算速度在光學設(shè)計領(lǐng)域擁有眾多使用者。武漢墨光《 ASAP 光學系統(tǒng)雜散光分析與控制》線上培訓已舉辦多期，完善的課程體系、配套的學習資料，獲得客戶一致好評。
培訓預(yù)告 | 第17期《 ASAP 光學系統(tǒng)雜散光分析與控制 》線上培訓火熱報名中
武漢墨光《 ASAP 光學系統(tǒng)雜散光分析與控制》線上培訓已舉辦多期，完善的課程體系、配套的學習資料，獲得大家的一致好評。本次培訓即將于2023年9月18日-20日再次開班，以下為本次培訓具體詳情：
培訓大綱
雜散光術(shù)語;
輻射度學基礎(chǔ);
雜散光成因;
雜散光影響、雜散光控制;
雜散光分析和評價方法;
ASAP雜散光分析流程、步驟;
練習1 找關(guān)鍵和被照表面;
練習2 重點區(qū)域位置和大小計算;
練習3 雜散光PST計算;
光學表面粗糙度、污染和微粒;
光學表面黑化處理;
鬼像分析;
練習4 紅外系統(tǒng)冷反射;
練習5 ZEMAX導(dǎo)入的鬼像分析;
衍射雜散光;
邊緣衍射效應(yīng)的幾何模擬;
紅外系統(tǒng)雜散光-自身熱輻射分析;
練習6 非球面手機鏡頭鬼像分析;
雜散光處理;
遮光罩和擋光環(huán)設(shè)計;
雜散光測量;
散射特征測試介紹、PST測試介紹散光術(shù)語.
培訓說明
?本培訓為線上直播培訓;
?培訓內(nèi)容作業(yè)練習跟蹤，老師答疑;
?培訓支持錄播回放觀看;
?培訓方安裝最新正版軟件（僅限培訓期間使用）;
?為保證課程質(zhì)量，均為小班教學;
?報名培訓即可獲得包郵贈送配套教材《雜散光抑制設(shè)計與分析》一本。
培訓詳情
? 主辦單位：武漢墨光科技有限公司
? 培訓時間：2023年09月18日-20日 (09：00-17：00)
? 培訓費用：按2980元/人的標準進行收費。提供服務(wù)性發(fā)票，項目“培訓費”;
? 報名方式：報名咨詢評論留言即可。
(注：當報名人數(shù)低于最低開課標準，或遇其他不可抗力因素時，武漢墨光科技有限公司將酌情延期或取消課程。)
展開 FRED應(yīng)用：TMT MOBIE成像光譜儀的概念設(shè)計階段雜散光分析
本文以MOBIE為背景，使用FRED軟件對其雜散光部分進行了預(yù)評估。
緒論
寬視場光學光譜儀(MOBIE)是視覺受限的光學光譜儀，它是為第一代Thirty Meter
Telescope (TMT)儀器而設(shè)計的。目前MOBIE儀器處于概念設(shè)計階段。本文記錄了成像模塊配置中雜散光分析的進展。在項目的這一階段雜散光分析的目標是提供預(yù)期的雜散光背景的基線評估。為此，我們完成了四個量的雜散光計算：
? 關(guān)鍵物體的識別
? 預(yù)估雜散光背景
? 離軸抑制特性
? 鬼像的形成
分析基于一個完整的系統(tǒng)模型（盡管簡化過）的端到端光線追跡，包括帽型圓頂、望遠鏡光學器件、支撐結(jié)構(gòu)、MOBIE儀器光學器件和外殼。
圖1.完整的TMT-MOBIE雜散光分析模型
TMT-MOBIE幾何模型
端到端系統(tǒng)模型如圖2所示（隱藏了圓頂壁）。MOBIE儀器的成像模塊配置如圖3所示。一對大氣色散校正（ADC）棱鏡剛好位于視場光闌孔徑的前面。視場光闌是一個彎曲的掩膜，與TMT焦面的曲率相匹配，且傳輸5.4±2.1弧分×±4.8弧分的矩形視場。視場光闌是儀器內(nèi)部主要的雜散光控制機構(gòu)。反射瞄準儀（MC-1）沿著視場光闌。二色分束鏡透射和反射光線到紅色和藍色鏡頭部件中。隨后折疊到折射式照相機裝置中。
展開 成像系統(tǒng)雜散光分析，詳解鏡頭雜散光解決方案新進展
隨著攝像頭在汽車、消費電子、安防、機器視覺等領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，雜散光成為鏡頭模組設(shè)計和使用中的核心問題。在攝像鏡頭形成物體的實像時， 除了成像光線，還有非成像光線，即雜散光。來自鏡片、機械結(jié)構(gòu)、CMOS傳感器的反射光、散射光可能到達像面都會造成雜散光。
任何光學系統(tǒng)都會存在雜散光，成像系統(tǒng)雜散光是可見光光學系統(tǒng)中需要重點分析的雜散光來源之一，預(yù)期設(shè)計的光線經(jīng)過折射光學元件的過程中，會有少量的非預(yù)期光線經(jīng)過散射、反射也到達像面，對正常光路成像產(chǎn)生負面影響。因此，在設(shè)計光學系統(tǒng)的過程中為保證系統(tǒng)的正常運行，要盡可能將雜散光降低。
7月11日，Ansys 將推出「成像系統(tǒng)雜散光工作流更新」主題網(wǎng)絡(luò)研討會，介紹Ansys鏡頭雜散光解決方案的新進展，使用Zemax OpticStudio、Speos和Lumerical綜合考量鏡頭和CMOS特性，通過光線追跡、序列檢測等方法分析雜光來源，并對系統(tǒng)進行優(yōu)化。
講師：
馬鎏學 | Ansys 高級應(yīng)用工程師
Ansys 高級應(yīng)用工程師。參與過汽車、航空、電子領(lǐng)域客戶光學方案的咨詢和技術(shù)支持。目前負責Ansys SPEOS技術(shù)工作。
形式：線上
費用：免費
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技術(shù)鄰簡介:
技術(shù)鄰專注于工科技術(shù)社區(qū)，從最早的CAE技術(shù)社區(qū)（中國CAE聯(lián)盟）發(fā)展而來，在CAE領(lǐng)域有20年的教學和咨詢服務(wù)經(jīng)驗。
仿真服務(wù)、光學仿真系列往期免費錄播領(lǐng)取、更多資料，掃碼添加技術(shù)鄰客服詳細咨詢~
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展開 線上精品課——《ASAP光學系統(tǒng)雜散光分析與控制》
對以下課程感興趣的，可以私聊。
ASAP 高級光學系統(tǒng)分析軟件，光學系統(tǒng)雜散光分析與控制第28屆培訓班
ASAP 高級光學系統(tǒng)分析軟件，光學系統(tǒng)雜散光分析與控制第28屆培訓班
光學系統(tǒng)像質(zhì)受雜散光干擾？OAS 光學軟件剖析解難題
庫克三片式案例分析
簡介
在光學系統(tǒng)設(shè)計與優(yōu)化過程中，雜散光的分析與控制是確保系統(tǒng)成像質(zhì)量和性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。庫克三片式鏡頭作為經(jīng)典的光學結(jié)構(gòu)，在眾多光學領(lǐng)域中具有廣泛的應(yīng)用。然而，其復(fù)雜的光學元件組合和光線傳播路徑，使得雜散光的產(chǎn)生難以避免，從而影響系統(tǒng)的成像清晰度和對比度。本案例旨在利用 OAS 光學軟件對庫克三片式鏡頭進行精確的雜散光分析，為優(yōu)化光學系統(tǒng)性能提供科學依據(jù)。
案例設(shè)置與操作
參數(shù)配置
本案例中的庫克三片式鏡頭采用半孔徑為 9mm 的平行光源作為輸入。為模擬真實的光學環(huán)境，選取了三個典型波長，分別為 0.486μm、0.587μm、0.656μm，覆蓋了可見光波段的關(guān)鍵區(qū)域。同時，為了更準確地模擬光線在鏡片表面的反射和透射特性，對三個透鏡均賦予了堆棧膜層。這些膜層通過精確的光學薄膜設(shè)計，能夠有效控制光線的反射和透射比例，是模擬實際光學系統(tǒng)雜散光產(chǎn)生機制的重要參數(shù)。
光線追跡設(shè)置
在本案例中，通過軟件內(nèi)置的光線追跡算法，對從平行光源發(fā)出的光線進行追蹤。軟件可根據(jù)設(shè)定的光學元件參數(shù)和膜層特性，準確計算光線在各個鏡片表面的反射、折射和透射情況，為雜散光分析提供基礎(chǔ)數(shù)據(jù)。
鬼像探測器配置
在本次分析中，對鬼像探測器進行了針對性的光線過濾設(shè)置，將分裂級次大于等于 2 作為過濾條件。這一設(shè)置能夠有效篩選出那些經(jīng)過多次反射和折射，對雜散光產(chǎn)生有重要影響的光線。通過對這些特定光線的追蹤和分析，可清晰識別出系統(tǒng)中潛在的雜散光來源和傳播路徑。
庫克三片式 雜散光分析的三維追跡圖
庫克三片式 雜散光分析的鬼像探測器結(jié)果圖
庫克三片式 雜散光分析的探測器結(jié)果圖
總結(jié)
以上案例詳細呈現(xiàn)了 OAS 軟件在庫克三片式雜散光分析中的應(yīng)用。
展開 ZEMAX | 雜散光分析——第二篇
因此，如何找出這些非預(yù)期的光線來源，并增添新的元件以吸收或阻擋這些能量，將會是雜散光分析環(huán)節(jié)的重要課題。本文是系列文章的第二篇，將介紹如何使用路徑分析（Path Analysis）功能和篩選字串（filter string）辨別雜散光的路徑。
簡介
我們已在 系列文章的第一篇 （點擊查看）介紹了觀察雜散光的基礎(chǔ)知識。進行雜散光分析時，最終的目標為找出雜散光的來源并嘗試改善。而在這篇文章中，我們會繼續(xù)以同一個示例檔案進行設(shè)計，說明如何辨別雜散光的特定光線路徑，以及如何藉由鏡面鍍膜改善這些非預(yù)期的能量來源。
使用篩選字串辨別雜散光路徑
首先，我們要找出雜散光的來源并試著改善。在下方的結(jié)果圖中，我們可以看到許多非預(yù)期的反射光（鬼影）出現(xiàn)在像面上。為了區(qū)分出這些光線，我們可以使用OpticStudio中的篩選字串功能，如下方綠框內(nèi)所示。
接著，我們試著找出這些光線中在像面（探測器）上能量較強的路徑。我們將會需要重設(shè)光線追跡相對閾值強度（Minimum Relative Ray Intensity），如下圖紅框處所示。該數(shù)值代表了追跡光線與光源光強的比值，透過對該數(shù)值的設(shè)定，我們能夠調(diào)整可被追跡光線的能量最小值。預(yù)設(shè)的閾值強度為1.000E-6，即當光線能量高于光源出射光的1.000E-6時可被追跡。透過這樣的調(diào)整，我們可以簡單的將鬼影光線中能量較低的部份過濾掉，僅保留高能量的鬼影。在稍后的篇幅中，我們將介紹路徑分析功能，可幫助我們較輕易的區(qū)分出能量較強的雜散光路徑。
我們在閾值強度的字段輸入0.005，這將使OpticStudio在進行光線追跡時，忽略光強小于0.005倍原始能量的光線。
展開 Ansys Speos | 進行智能手機鏡頭雜散光分析
本例的目的是研究智能手機Camera系統(tǒng)的雜散光。雜散光是指光向相機傳感器不需要的散光光或鏡面光，是在光學設(shè)計中無意產(chǎn)生的，會降低相機系統(tǒng)的光學性能。
在本例中，光學透鏡系統(tǒng)使用Ansys Zemax OpticStudio (ZOS)進行設(shè)計，并使用新的“Zemax Importer”工具一鍵導(dǎo)入鏡頭系統(tǒng)到Speos中進行系統(tǒng)級雜散光分析。所使用的光學機械參數(shù)和透鏡邊緣可以在CAD平臺上進行設(shè)計，然后在Ansys Speos中進行修改。這個例子主要涵蓋了整個工作流程中的Speos部分，介紹了雜散光分析的概念，并演示了Speos的功能：Zemax Importer工具, light expert (LXP)光線追跡和序列檢測雜散光。
操作流程概述
上圖是使用Ansys工具分析相機系統(tǒng)雜散光的典型工作流程。工作流程可分為四個部分:1. 使用“Zemax Importer”工具導(dǎo)入ZOS鏡頭設(shè)計到Speos。2. 檢測所有可能的關(guān)鍵太陽位置和整個系統(tǒng)的光泄漏。3.相機視場內(nèi)四個外環(huán)境太陽位置的雜散光模擬(可選)。4. 分析雜散光路徑序列，對外環(huán)境太陽位置的雜散光進行抑制。
第一步：使用“Zemax Importer”工具導(dǎo)入OS鏡頭設(shè)計到Speos
使用“Zemax導(dǎo)入工具”導(dǎo)入ZOS鏡頭設(shè)計到Speos。在這里，使用ZOS設(shè)計的高效手機相機鏡頭系統(tǒng)，通過使用Zemax importer工具可以讀取ZOS透鏡數(shù)據(jù)參數(shù)，并根據(jù)它們的數(shù)學表示自動重建每個透鏡，作為基于CAD的Speos透鏡特性幾何數(shù)據(jù)，并訪問所有透鏡參數(shù)。此外，該工具將ZOS材料轉(zhuǎn)換為Speos材料格式，并將光學特性應(yīng)用到透鏡上。該成像過程使用一個照度傳感器。所有幾何圖形的參考點、原點和照度傳感器對應(yīng)于圖像平面的位置。
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