應(yīng)力誤差分析的案例
顯式有限元-神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)框架及神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)預(yù)測(cè)應(yīng)力誤差分析
最后，我們檢查了神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)嵌入到FEM后，積分點(diǎn)上的預(yù)測(cè)誤差的出現(xiàn)和傳播的過(guò)程，如下圖所示。在雙軸壓縮模擬中，右下角的誤差出現(xiàn)后處于波動(dòng)的狀態(tài)，沒(méi)有急劇增長(zhǎng)。但是在擋土墻和條形基礎(chǔ)的模擬中，誤差出現(xiàn)后逐漸累計(jì)并且擴(kuò)散。誤差值越來(lái)越大，并且誤差逐漸傳播到其他鄰近積分點(diǎn)上。這種誤差的累積和擴(kuò)散極有可能導(dǎo)致輸入超出神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)本構(gòu)的訓(xùn)練范圍，最終導(dǎo)致計(jì)算失敗。
SYNOPSYS 光學(xué)設(shè)計(jì)軟件---元件時(shí)鐘楔角誤差的公差分析 案例和像質(zhì)誤差的 AI 分析
概述
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ASY查看傾斜數(shù)據(jù)
MC PLOT預(yù)估公差Monte-Carlo分析
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選擇Dbook工作目錄
初始透鏡
點(diǎn)擊， 打開(kāi)C28M1，點(diǎn)擊
此 MACro 將鏡頭輸出并將副本存儲(chǔ)在透鏡庫(kù)位置 5，然后創(chuàng)建一個(gè) BTOL 公差分析
準(zhǔn)備Monte-Carlo分析
在Command Window中輸入LM MCFILE
MCFILE是調(diào)整MACro，是Monte-Carlo分析的一部分
點(diǎn)擊點(diǎn)擊 運(yùn)行MCFIlE
點(diǎn)擊 打開(kāi)C28M2.MAC，點(diǎn)擊
所有透鏡都有楔角
在Command Window中輸入GET 5
在C28M2中注釋掉TEST，更改SAMPLES 1為SAMPLES 100
點(diǎn)擊 運(yùn)行C28M2
元件現(xiàn)在都有楔角誤差，因此 PAD 顯示不能像以前那樣為透鏡著色。
圖像質(zhì)量直方圖
本例探索 SYNOPSYS 的一個(gè)強(qiáng)大功能：它可以進(jìn)行參數(shù)研究，顯示兩個(gè)變量對(duì)第三個(gè)變量的影響。 本例研究了第2個(gè)面和第3個(gè)面曲率變化對(duì)評(píng)價(jià)函數(shù)的影響。
MC PLOT
ASY查看傾斜數(shù)據(jù)
在C28M2中取消注釋TEST，并在TEST前加入命令WEDGES CLOCK，點(diǎn)擊 運(yùn)行C28M2
在Command Window中輸入ASY
增加伽馬傾斜變量
更改MCFILE.MAC為
PANTVY 14 TH
Custom form:
--------------------------------------------------------------
PANTVY 14 TH
VY 5 GPG !
展開(kāi) SYNOPSYS 光學(xué)設(shè)計(jì)軟件課程二十四：帶楔塊誤差的校驗(yàn)和圖像誤差的 AI 分析的公差實(shí)例
課程二十四：帶楔塊誤差的校驗(yàn)和圖像誤差的 AI 分析的公差實(shí)例
本課程將介紹前面討論的一些功能，并添加一些功能強(qiáng)大的新選項(xiàng)。在這里，我們將使用 BTOL 來(lái)計(jì)算八片式透鏡的公差，然后查看通過(guò)校驗(yàn)單元格中的元件來(lái)補(bǔ)償楔形誤差的情況下的像質(zhì)統(tǒng)計(jì)。最后，我們將在重新對(duì)焦鏡頭和校驗(yàn)元件之后，檢查一組 100 個(gè)鏡頭的橫向色差的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，這些鏡頭受公差限制。
這是一個(gè) MACro，它將創(chuàng)建公差預(yù)算：
FETCH X33 ! 拿出開(kāi)始的鏡頭
BTOL 90 ! 要求達(dá)到90%的置信度
TPR ALL ! 所有的表面都與試驗(yàn)板相匹配。.
EXACT ALL INDEX ! 假設(shè)收到所有熔體數(shù)據(jù)。
EXACT ALL VNO ! 所以指數(shù)和色散的公差為零.
TOL WAF .18 .32 .18 ! 要求在三個(gè)視場(chǎng)點(diǎn)上的這個(gè)波前方差.
FOCUS REAL ! 聚焦軸上圖像點(diǎn)
ADJUST 14 TH 100 ! 厚度為14（最后一個(gè)空域）的情況下.
PREP MC ! 準(zhǔn)備好蒙特卡洛評(píng)估的輸入數(shù)據(jù).
GO ! 開(kāi)始BTOL.
在 SYNOPSYS? 中打開(kāi)名為 X33.RLE 的文件，我們使用 FETCH 命令將其取出。
運(yùn)行此 MACro 時(shí)，BTO L公差已準(zhǔn)備好并列在探測(cè)器上。現(xiàn)在我們需要使用 MC。
展開(kāi) ANSYS 分析結(jié)果評(píng)估與誤差分析
ANSYS 分析結(jié)果評(píng)估與誤差分析
分析結(jié)果評(píng)價(jià)與誤差分析.part1.rar
分析結(jié)果評(píng)價(jià)與誤差分析.part2.rar
VirtualLab Fusion應(yīng)用：用于分析鏡頭系統(tǒng)成像誤差的工具
因此，對(duì)成像中常用的透鏡系統(tǒng)進(jìn)行性能分析是許多光學(xué)工程師的一項(xiàng)基本任務(wù)。為了幫助光學(xué)工程師完成這項(xiàng)工作，VirtualLab Fusion提供了許多強(qiáng)大的工具。
在這份簡(jiǎn)報(bào)中，我們想特別強(qiáng)調(diào)用于分析場(chǎng)曲和畸變的工具。這兩個(gè)像差源于這樣一個(gè)事實(shí)，即大多數(shù)探測(cè)器是作為平面操作的，而透鏡則是將光線聚焦到一個(gè)曲線上。這些像差可以通過(guò)VirtualLab Fusion提供的易于使用的集成工具進(jìn)行研究，如以下例子所示。
場(chǎng)曲分析器
場(chǎng)曲描述了物鏡（鏡頭）的設(shè)計(jì)焦平面和實(shí)際焦距曲線之間的差異。在這個(gè)用例中，我們介紹了一個(gè)分析這種效應(yīng)的工具。
畸變分析器
本用例介紹了VirtualLab Fusion中的Distortion Analyzer，以球面透鏡為例進(jìn)行說(shuō)明。
展開(kāi) ZEMAX OpticStudio 如何對(duì)中頻誤差進(jìn)行評(píng)估和公差分析
如何對(duì)中頻誤差進(jìn)行評(píng)估和公差分析
概述
本文我們介紹了如何使用周期性空間頻率表面來(lái)建模旋轉(zhuǎn)對(duì)稱曲面的不規(guī)則度(例如由于金剛石車(chē)削而產(chǎn)生的不規(guī)則度)。
具體方法為使用專(zhuān)用的自定義序列模式表面DLL（常規(guī)偶次非球面結(jié)合Zernike項(xiàng)與矢高周期變化得到）建模該中空間頻率表面。我們將使用中頻面周期性不規(guī)則度對(duì)非球面單透鏡和一個(gè)天塞物鏡 (Tessar Objective) 進(jìn)行表面不規(guī)則度的評(píng)估和公差分析
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介紹
對(duì)于表面不規(guī)則度的公差分析是鏡頭設(shè)計(jì)過(guò)程中保證生產(chǎn)加工得到的實(shí)際光學(xué)元件能夠達(dá)到預(yù)期性能的重要環(huán)節(jié)。可能引起光學(xué)性能變化的因素包括但不限于光學(xué)表面的加工誤差、所用模具的加工誤差、注塑造成的不規(guī)則度、光學(xué)元件與傳感器間的校準(zhǔn)誤差、光學(xué)表面的粗糙度誤差以及厚度誤差。
將這些不規(guī)則度參數(shù)化將有利于公差分析，公差操作數(shù) TEZI 就是一個(gè)很好的例子。TEZI 操作數(shù)使用 Zernike 多項(xiàng)式來(lái)表示不規(guī)則度，一些低頻表面誤差可以用該參數(shù)化公式來(lái)評(píng)價(jià)公差。并且非常高頻的表面誤差將引起光束產(chǎn)生大角度散射，光學(xué)系統(tǒng)中可以將這部分作為能量損耗忽略不計(jì)。然而，介于這兩者之間的中頻表面誤差，參數(shù)化建模就存在一些難度，不僅在于難以使用多項(xiàng)式進(jìn)行表示，而且在于不能作為系統(tǒng)損耗而忽略。
本文我們以以金剛石車(chē)削為例，解釋為什么需要一個(gè)中頻誤差的分析模型。我們定義了一個(gè)表達(dá)式來(lái)建模這種不規(guī)則度，并在示例中使用點(diǎn)列圖和公差分析進(jìn)行展示。最后，說(shuō)明使用這種模型時(shí)應(yīng)注意的限制條件。
展開(kāi) ZEMAX OpticStudio 如何對(duì)中頻誤差進(jìn)行評(píng)估和公差分析
如何對(duì)中頻誤差進(jìn)行評(píng)估和公差分析
概述
(更多ZEMAX技術(shù)文章，請(qǐng)關(guān)注“武漢宇熠”微信公眾號(hào))
本文我們介紹了如何使用周期性空間頻率表面來(lái)建模旋轉(zhuǎn)對(duì)稱曲面的不規(guī)則度(例如由于金剛石車(chē)削而產(chǎn)生的不規(guī)則度)。
具體方法為使用專(zhuān)用的自定義序列模式表面DLL（常規(guī)偶次非球面結(jié)合Zernike項(xiàng)與矢高周期變化得到）建模該中空間頻率表面。我們將使用中頻面周期性不規(guī)則度對(duì)非球面單透鏡和一個(gè)天塞物鏡 (Tessar Objective) 進(jìn)行表面不規(guī)則度的評(píng)估和公差分析。
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提取碼: 7sx5
介紹
對(duì)于表面不規(guī)則度的公差分析是鏡頭設(shè)計(jì)過(guò)程中保證生產(chǎn)加工得到的實(shí)際光學(xué)元件能夠達(dá)到預(yù)期性能的重要環(huán)節(jié)。可能引起光學(xué)性能變化的因素包括但不限于光學(xué)表面的加工誤差、所用模具的加工誤差、注塑造成的不規(guī)則度、光學(xué)元件與傳感器間的校準(zhǔn)誤差、光學(xué)表面的粗糙度誤差以及厚度誤差。
將這些不規(guī)則度參數(shù)化將有利于公差分析，公差操作數(shù) TEZI 就是一個(gè)很好的例子。TEZI 操作數(shù)使用 Zernike 多項(xiàng)式來(lái)表示不規(guī)則度，一些低頻表面誤差可以用該參數(shù)化公式來(lái)評(píng)價(jià)公差。并且非常高頻的表面誤差將引起光束產(chǎn)生大角度散射，光學(xué)系統(tǒng)中可以將這部分作為能量損耗忽略不計(jì)。然而，介于這兩者之間的中頻表面誤差，參數(shù)化建模就存在一些難度，不僅在于難以使用多項(xiàng)式進(jìn)行表示，而且在于不能作為系統(tǒng)損耗而忽略。
本文我們以以金剛石車(chē)削為例，解釋為什么需要一個(gè)中頻誤差的分析模型。我們定義了一個(gè)表達(dá)式來(lái)建模這種不規(guī)則度，并在示例中使用點(diǎn)列圖和公差分析進(jìn)行展示。
展開(kāi) 一次二階矩法誤差分析
從誤差方面分析，中心點(diǎn)法存在著由于非正態(tài)分布基本變量按正態(tài)分布對(duì)待引入的誤差，泰勒展開(kāi)點(diǎn)取在遠(yuǎn)離極限狀態(tài)曲面的均值點(diǎn)處引入的誤差，以及非線性函數(shù)線性化引入的誤差。驗(yàn)算點(diǎn)法存在著由于非線性函數(shù)線性化引入的誤差，以及非正態(tài)變量等效正態(tài)化引入的誤差。
有限元分析的誤差產(chǎn)生與降低方法
筆者今天就來(lái)說(shuō)說(shuō)，有限元的誤差來(lái)源和注意事項(xiàng)。
01 幾何模型處理（模型簡(jiǎn)化）
實(shí)際結(jié)構(gòu)的幾何模型難免會(huì)存在小孔，小倒角，小槽等幾何細(xì)節(jié)。在實(shí)際模型中，這些細(xì)節(jié)是存在的，但為了便于有限元分析的網(wǎng)格劃分，需要對(duì)這些細(xì)節(jié)酌情處理，這便是一個(gè)誤差來(lái)源。一般來(lái)說(shuō)，對(duì)于不關(guān)心的幾何細(xì)節(jié)，是要盡量去除的，但又不能影響結(jié)構(gòu)傳力。
02 材料本構(gòu)模型
正確的分析必然基于正確的材料本構(gòu)定義。對(duì)于常用材料，分析者一般會(huì)查詢已有材料參數(shù)輸入到分析軟件中。最客觀的情況，如果我們有該材料同批試件的力學(xué)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，通過(guò)擬合這些實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)可獲得材料參數(shù)。
03 分析類(lèi)型
非線性問(wèn)題當(dāng)線性問(wèn)題處理會(huì)引起很大的誤差。比如大撓度、大轉(zhuǎn)角問(wèn)題沒(méi)考慮幾何非線性等。
04 網(wǎng)格與單元
網(wǎng)格疏密要適宜，不關(guān)心的區(qū)域網(wǎng)格可以疏一點(diǎn)，關(guān)心的區(qū)域，應(yīng)力梯度大的區(qū)域，要適當(dāng)加密網(wǎng)格。網(wǎng)格質(zhì)量也要檢查。選擇單元不同也會(huì)影響分析（高階單元與低階單元，縮減積分與完全積分，體積自鎖與剪切自鎖，非協(xié)調(diào)單元與雜交單元等）
05 邊界條件
現(xiàn)實(shí)中的邊界條件和理論總是有差別的。比如軟件中的固定邊界條件是理想的固定，但現(xiàn)實(shí)中并不存在真正意義上的固定約束。
06 求解計(jì)算
不同的算法有不同的特點(diǎn)和適用范圍。
07 結(jié)果解讀
在有限元分析中，節(jié)點(diǎn)的應(yīng)力應(yīng)變是由單元積分點(diǎn)的應(yīng)力應(yīng)變外推得出。由相鄰單元外推同一個(gè)節(jié)點(diǎn)可能得到不同的應(yīng)力結(jié)果，這就需要選擇應(yīng)力平均方式。
展開(kāi) 沉降監(jiān)測(cè)中的誤差分析及控制方法
儀器誤差
01 儀器校正后的殘余誤差
儀器校正后，還存在I角校正殘余誤差；儀器長(zhǎng)期使用或受震動(dòng)影響，使望遠(yuǎn)鏡視準(zhǔn)軸與水準(zhǔn)管軸不平行，這種誤差屬于系統(tǒng)誤差，誤差大小同儀器與水準(zhǔn)尺的距離成正比。
這種誤差的控制方法是：將儀器盡量安置在前、后視距離相等的地方，這樣就可以消除或減弱此項(xiàng)誤差的影響。
02 水準(zhǔn)尺誤差
由于水準(zhǔn)尺刻劃不準(zhǔn)確，尺長(zhǎng)變化、彎曲等影響，水準(zhǔn)尺必須經(jīng)過(guò)檢驗(yàn)才能使用。
尺的接頭誤差的影響
控制方法可以通過(guò)在水準(zhǔn)測(cè)段內(nèi)用同一根尺子，并把測(cè)段站數(shù)目布設(shè)成偶數(shù)站。
尺的零點(diǎn)誤差的影響
控制方法可以通過(guò)在一個(gè)水準(zhǔn)測(cè)段內(nèi)，兩根水準(zhǔn)尺交替輪換使用，即在本測(cè)站用作后視尺，下測(cè)站則用為前視尺，并把測(cè)段站數(shù)目布設(shè)成偶數(shù)，則在高差中相互抵消。標(biāo)尺的零點(diǎn)差可在一水準(zhǔn)段中使測(cè)站為偶數(shù)的方法予以消除。
2.觀測(cè)誤差
01 人員本身
觀測(cè)人員必須熟悉測(cè)量學(xué)的基本理論知識(shí)，熟練掌握水準(zhǔn)儀器的操作規(guī)程，并且針對(duì)不同的工程特點(diǎn)、具體情況能采用不同的觀測(cè)方法和觀測(cè)程序，對(duì)觀測(cè)過(guò)程中出現(xiàn)的問(wèn)題能及時(shí)分析出原因，能正確的運(yùn)用誤差理論進(jìn)行水準(zhǔn)網(wǎng)平差計(jì)算。
由于每個(gè)人使用儀器和讀數(shù)的習(xí)慣不一樣，如果變換觀測(cè)人員，就容易引起儀器操作誤差和讀數(shù)誤差。控制方法：在每次觀測(cè)時(shí)，保證人員固定不動(dòng)，減小觀測(cè)誤差(偶然誤差)，這對(duì)提高沉降觀測(cè)精度也有一定的作用。
展開(kāi) 汽車(chē)用橡膠密封條性能要求，及拉伸強(qiáng)度測(cè)試誤差案例分析
材料制樣、測(cè)試服務(wù)方案
國(guó)高材分析測(cè)試中心可依據(jù)GB、ISO、ASTM等測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，制備標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試樣條，通過(guò)高低溫萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)、高速拉伸試驗(yàn)機(jī)、高速相機(jī)和霍普金森壓桿等設(shè)備，獲取材料仿真模擬所需的彈性模量、泊松比、應(yīng)力-應(yīng)變曲線等數(shù)據(jù)。
服務(wù)流程
了解客戶真實(shí)需求——設(shè)計(jì)制樣方案——制備試樣——交付試樣
指針式萬(wàn)用電表電平測(cè)量原理和誤差分析
電平的電阻修正系數(shù)
當(dāng)指示值為Kp1 =13 dB時(shí)，電平實(shí)際值
5 結(jié)束語(yǔ)
因?yàn)槭褂媒涣麟妷簷n測(cè)量電平，由表頭的基本誤差與電路電阻、整流器等綜合起來(lái)，構(gòu)成了交流電壓檔的基本誤差。由式（8）可知交流電壓檔的基本誤差對(duì)電平測(cè)量誤差有直接影響。電平的誤差曲線是隨著電平的減小而迅速增大，為了盡量減小測(cè)量誤差，故要規(guī)定指針指示的下限值。用戶應(yīng)特別注意。另外，由圖1 可知，電平誤差曲線是呈下降情形，這與電阻誤差曲線[1] 及電感、電容誤差曲線[2] 呈兩端上翹的情形是不相同的。
最后應(yīng)特別指出的是：在萬(wàn)用電表生產(chǎn)廠家的技術(shù)說(shuō)明書(shū)中，給出的誤差是指滿量程時(shí)的相對(duì)誤差，這當(dāng)然是很小的，如5%。而實(shí)際上，應(yīng)該按測(cè)量時(shí)的最大誤差考慮，本文為27.9%。這還僅僅是在測(cè)量方法正確的前提下才能實(shí)現(xiàn)的。
參考文獻(xiàn)：
[1] 呂炳仁, 指針式萬(wàn)用電表電阻測(cè)量電路的誤差分析[J].電子產(chǎn)品世界,2014(10): 67-69.
[2] 呂炳仁.指針式萬(wàn)用電表電感、電容測(cè)量原理和誤差分析[J].電子產(chǎn)品世界(增刊:2014年精選實(shí)用電子設(shè)計(jì)100例).
展開(kāi) Ansys Zemax光學(xué)設(shè)計(jì)軟件技術(shù)教程：如何對(duì)中頻誤差進(jìn)行評(píng)估和公差分析
我們將使用中頻面周期性不規(guī)則度對(duì)非球面單透鏡和一個(gè)天塞物鏡 (Tessar Objective) 進(jìn)行表面不規(guī)則度的評(píng)估和公差分析。
作者 Katsumoto Ikeda
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簡(jiǎn)介
對(duì)于表面不規(guī)則度的公差分析是鏡頭設(shè)計(jì)過(guò)程中保證生產(chǎn)加工得到的實(shí)際光學(xué)元件能夠達(dá)到預(yù)期性能的重要環(huán)節(jié)。可能引起光學(xué)性能變化的因素包括但不限于光學(xué)表面的加工誤差、所用模具的加工誤差、注塑造成的不規(guī)則度、光學(xué)元件與傳感器間的校準(zhǔn)誤差、光學(xué)表面的粗糙度誤差以及厚度誤差。
將這些不規(guī)則度參數(shù)化將有利于公差分析，公差操作數(shù) TEZI 就是一個(gè)很好的例子。TEZI 操作數(shù)使用 Zernike 多項(xiàng)式來(lái)表示不規(guī)則度，一些低頻表面誤差可以用該參數(shù)化公式來(lái)評(píng)價(jià)公差。并且非常高頻的表面誤差將引起光束產(chǎn)生大角度散射，光學(xué)系統(tǒng)中可以將這部分作為能量損耗忽略不計(jì)。然而，介于這兩者之間的中頻表面誤差，參數(shù)化建模就存在一些難度，不僅在于難以使用多項(xiàng)式進(jìn)行表示，而且在于不能作為系統(tǒng)損耗而忽略。
本文我們以以金剛石車(chē)削為例，解釋為什么需要一個(gè)中頻誤差的分析模型。我們定義了一個(gè)表達(dá)式來(lái)建模這種不規(guī)則度，并在示例中使用點(diǎn)列圖和公差分析進(jìn)行展示。最后，說(shuō)明使用這種模型時(shí)應(yīng)注意的限制條件。
光學(xué)制造
在光學(xué)表面制造時(shí)，通常用表面不規(guī)則度或RMS誤差的形式來(lái)衡量一個(gè)表面與一個(gè)完美標(biāo)準(zhǔn)表面之間的差異。例如，在632.8 nm的He-Ne激光測(cè)試下，一個(gè)成品透鏡或反射鏡的表面不規(guī)則度大概為0.1λRMS。再以定制透鏡為例，如零位檢驗(yàn)中使用的透鏡，表面不規(guī)則度大概為0.01 λRMS。
展開(kāi) ZEMAX光學(xué)設(shè)計(jì)軟件技術(shù)教程專(zhuān)題：如何對(duì)中頻誤差進(jìn)行評(píng)估和公差分析
我們將使用中頻面周期性不規(guī)則度對(duì)非球面單透鏡和一個(gè)天塞物鏡 (Tessar Objective) 進(jìn)行表面不規(guī)則度的評(píng)估和公差分析。
作者 Katsumoto Ikeda
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(*附件中包含的示例文件適用于 OpticStudio 20.1 及以上版本的專(zhuān)業(yè)版或旗艦版軟件中）
簡(jiǎn)介
對(duì)于表面不規(guī)則度的公差分析是鏡頭設(shè)計(jì)過(guò)程中保證生產(chǎn)加工得到的實(shí)際光學(xué)元件能夠達(dá)到預(yù)期性能的重要環(huán)節(jié)。可能引起光學(xué)性能變化的因素包括但不限于光學(xué)表面的加工誤差、所用模具的加工誤差、注塑造成的不規(guī)則度、光學(xué)元件與傳感器間的校準(zhǔn)誤差、光學(xué)表面的粗糙度誤差以及厚度誤差。
將這些不規(guī)則度參數(shù)化將有利于公差分析，公差操作數(shù) TEZI 就是一個(gè)很好的例子。TEZI 操作數(shù)使用 Zernike 多項(xiàng)式來(lái)表示不規(guī)則度，一些低頻表面誤差可以用該參數(shù)化公式來(lái)評(píng)價(jià)公差。并且非常高頻的表面誤差將引起光束產(chǎn)生大角度散射，光學(xué)系統(tǒng)中可以將這部分作為能量損耗忽略不計(jì)。然而，介于這兩者之間的中頻表面誤差，參數(shù)化建模就存在一些難度，不僅在于難以使用多項(xiàng)式進(jìn)行表示，而且在于不能作為系統(tǒng)損耗而忽略。
本文我們以以金剛石車(chē)削為例，解釋為什么需要一個(gè)中頻誤差的分析模型。我們定義了一個(gè)表達(dá)式來(lái)建模這種不規(guī)則度，并在示例中使用點(diǎn)列圖和公差分析進(jìn)行展示。最后，說(shuō)明使用這種模型時(shí)應(yīng)注意的限制條件。
光學(xué)制造
在光學(xué)表面制造時(shí)，通常用表面不規(guī)則度或RMS誤差的形式來(lái)衡量一個(gè)表面與一個(gè)完美標(biāo)準(zhǔn)表面之間的差異。例如，在632.8 nm的He-Ne激光測(cè)試下，一個(gè)成品透鏡或反射鏡的表面不規(guī)則度大概為0.1λRMS。再以定制透鏡為例，如零位檢驗(yàn)中使用的透鏡，表面不規(guī)則度大概為0.01 λRMS。
展開(kāi) 三角孔徑衍射誤差難分析？OAS 軟件深度仿真解難題
將仿真數(shù)據(jù)與基爾霍夫衍射公式理論計(jì)算結(jié)果對(duì)比，光強(qiáng)誤差小于 3%，光斑尺寸誤差小于 2%，驗(yàn)證了 OAS 仿真的準(zhǔn)確性與可靠性。此外，軟件支持衍射圖樣灰度分析、局部區(qū)域放大等功能，可進(jìn)一步提取光斑均勻性、能量集中度等關(guān)鍵參數(shù)。
三角孔徑衍射的三維追跡圖
三角孔徑衍射的探測(cè)器結(jié)果圖
總結(jié)
本案例通過(guò) OAS 軟件高效實(shí)現(xiàn)了三角孔徑衍射的仿真，相比傳統(tǒng)物理實(shí)驗(yàn)，成本降低 60% 以上，研發(fā)周期縮短 50%。該方案可直接應(yīng)用于三角孔光闌設(shè)計(jì)、激光加工衍射效應(yīng)預(yù)判、光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)誤差分析等場(chǎng)景，為科研人員與工程師提供可靠的仿真工具。綜上，OAS 軟件憑借靈活的自定義建模能力、精準(zhǔn)的衍射計(jì)算算法及便捷的操作流程，在非規(guī)則孔徑光學(xué)特性研究中展現(xiàn)出顯著優(yōu)勢(shì)。
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