光學(xué)檢測(cè)儀器的案例
從微納米到百米測(cè)量，中圖國(guó)產(chǎn)智能精密測(cè)量儀器著力突破核心技術(shù)，增強(qiáng)高端供給
中圖儀器堅(jiān)持以技術(shù)創(chuàng)新為發(fā)展基礎(chǔ)，擁有一支集光、機(jī)、電、信息技術(shù)于一體的技術(shù)團(tuán)隊(duì)。歷經(jīng)20年的技術(shù)積累和發(fā)展實(shí)踐，研發(fā)出了基礎(chǔ)計(jì)量儀器、常規(guī)尺寸光學(xué)測(cè)量儀器、微觀尺寸光學(xué)測(cè)量儀器、大尺寸光學(xué)測(cè)量儀器、常規(guī)尺寸接觸式測(cè)量儀器、微觀尺寸接觸式測(cè)量儀器、行業(yè)應(yīng)用檢測(cè)設(shè)備等全尺寸鏈精密儀器及設(shè)備，能提供從納米到百米的精密測(cè)量解決方案。
未來(lái)，中圖儀器仍將繼續(xù)專注于精密測(cè)量檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展，自強(qiáng)不息、知難而上、勇于創(chuàng)新，為中國(guó)制造技術(shù)的快速發(fā)展貢獻(xiàn)力量！
展開(kāi) 經(jīng)典光學(xué)都研究哪些內(nèi)容？
經(jīng)典光學(xué)都研究哪些內(nèi)容？今天我們一起來(lái)聊聊關(guān)于光學(xué)的一些相關(guān)研究！
狹義來(lái)說(shuō)，光學(xué)是關(guān)于光和視見(jiàn)的科學(xué)，光學(xué)這個(gè)詞，早期只用于跟眼睛和視見(jiàn)相聯(lián)系的事物。而今天，常說(shuō)的光學(xué)是廣義的，是研究從微波、紅外線、可見(jiàn)光、紫外線直到X射線的寬廣波段范圍內(nèi)的，關(guān)于電磁輻射的發(fā)生、傳播、接收和顯示，以及跟物質(zhì)相互作用的科學(xué)。光學(xué)是物理學(xué)的一個(gè)重要組成部分，也是與其他應(yīng)用技術(shù)緊密相關(guān)的學(xué)科。光學(xué)自誕生之日起，就是一門(mén)：“儀器化”的科學(xué)。
經(jīng)典光學(xué)的研究?jī)?nèi)容
應(yīng)用光學(xué)、物理光學(xué)（波動(dòng)光學(xué)）、量子光學(xué)。應(yīng)用光學(xué)是從幾個(gè)由實(shí)驗(yàn)得來(lái)的基本原理出發(fā)，來(lái)研究光的傳播問(wèn)題的學(xué)科。它利用光線的概念，用折射、反射定律來(lái)描述光在各種媒質(zhì)中傳播的途徑，它得出的結(jié)果通常是波動(dòng)光學(xué)在某些條件下的近似或極限。物理光學(xué)（波動(dòng)光學(xué)）是從光的波動(dòng)性出發(fā)來(lái)研究光在傳播過(guò)程中所發(fā)生現(xiàn)象的學(xué)科，所以也稱為波動(dòng)光學(xué)。它可以比較方便地研究光的干涉、衍射、偏振，以及光在各向異性的媒質(zhì)中傳播時(shí)所表現(xiàn)出的現(xiàn)象。量子光學(xué)是從光子的性質(zhì)出發(fā)，來(lái)研究光與物質(zhì)相互作用的學(xué)科。它的基礎(chǔ)主要是量子力學(xué)和量子電動(dòng)力學(xué)。（文章來(lái)源：本文整理于網(wǎng)絡(luò)。如文中有什么不當(dāng)之處請(qǐng)隨時(shí)聯(lián)系我們，我們將及時(shí)進(jìn)行修改。）
激光檢測(cè)儀器推薦光束質(zhì)量分析儀推薦理由：自主研發(fā)，性價(jià)比高，專業(yè)可靠
光研科技自主研發(fā)的光束質(zhì)量分析儀是近日光電圈備受關(guān)注的一種光學(xué)檢測(cè)儀器，也是國(guó)內(nèi)少有的自主研發(fā)的優(yōu)秀光學(xué)檢測(cè)儀器。這款產(chǎn)品目前已經(jīng)得到了很多用戶的好評(píng)。
這種光束質(zhì)量分析儀不僅實(shí)用可靠，而且專業(yè)便捷，也可以根據(jù)用戶要求定制，關(guān)鍵是在很多方面可以替代國(guó)外的進(jìn)口產(chǎn)品！
其中“Beamfiler Basic光束質(zhì)量分析儀”是整個(gè)系列的基礎(chǔ)版。也是這個(gè)系列產(chǎn)品的爆款型號(hào)！
展開(kāi) 這些光學(xué)檢測(cè)儀器能夠幫您解決科研等各種難題！
在光學(xué)科研工作中，我們需要各種各樣的光學(xué)硬件進(jìn)行輔助，今天為大家推薦一些比較實(shí)用的工業(yè)激光器，歡迎大家咨詢和使用！
（下面的圖點(diǎn)擊可放大）
OEM工業(yè)CO2激光器
Diamond J-2系列
OEM工業(yè)CO2激光器
Diamond J-3系列
OEM低功率CO2激光器
Diamond C-55系列
OEM工業(yè)CO2激光器
Diamond C-20andC-30系列
OEM低功率CO2激光器
Diamond C-70系列
咨詢及訂購(gòu)方式：
李經(jīng)理：13584002366
助力激光行業(yè)高效發(fā)展！光電圈驚現(xiàn)“高性價(jià)比組合”
為了讓激光行業(yè)能夠高效發(fā)展，擁有好的儀器工具是很重要的！小編近日在光電圈轉(zhuǎn)了轉(zhuǎn)，一不小心發(fā)現(xiàn)了這對(duì)可以助力激光行業(yè)的“性價(jià)比王炸組合”，大家一起來(lái)看看。光束質(zhì)量分析儀推薦理由：自主研發(fā)，性價(jià)比高，專業(yè)可靠
光研科技自主研發(fā)的光束質(zhì)量分析儀是近日光電圈備受關(guān)注的一種光學(xué)檢測(cè)儀器，也是國(guó)內(nèi)少有的自主研發(fā)的優(yōu)秀光學(xué)檢測(cè)儀器。這款產(chǎn)品目前已經(jīng)得到了很多用戶的好評(píng)。
這種光束質(zhì)量分析儀不僅實(shí)用可靠，而且專業(yè)便捷，也可以根據(jù)用戶要求定制，關(guān)鍵是在很多方面可以替代國(guó)外的進(jìn)口產(chǎn)品！
其中“Beamfiler Basic光束質(zhì)量分析儀”是整個(gè)系列的基礎(chǔ)版。也是這個(gè)系列產(chǎn)品的爆款型號(hào)！它不僅價(jià)格實(shí)惠，關(guān)鍵是能夠幫助大家解決很多實(shí)用的問(wèn)題，比如實(shí)驗(yàn)室里面的鏡頭參數(shù)檢測(cè)測(cè)試，一些設(shè)備的透射光斑監(jiān)測(cè)等等。外形尺寸：性能特點(diǎn)：本產(chǎn)品像素大小3.45μm光斑檢測(cè)直徑范圍34.5μm~7mm標(biāo)配磁吸衰減，方便操作，可選更高功率衰減配置，功率范圍可達(dá)1000W支持手動(dòng)和自動(dòng)實(shí)時(shí)曝光及增益調(diào)節(jié)高性價(jià)比，可代替進(jìn)口激光光束質(zhì)量分析儀，實(shí)現(xiàn)激光光斑檢測(cè)及測(cè)試應(yīng)用典型應(yīng)用：需要對(duì)激光光斑形狀進(jìn)行檢測(cè)得場(chǎng)合，如激光生產(chǎn)，維護(hù)以及激光應(yīng)用；光學(xué)器件質(zhì)量檢查；激光腔鏡調(diào)整；外光路準(zhǔn)直；光纖對(duì)準(zhǔn)耦合分析等。產(chǎn)品參數(shù)：激光功率計(jì)推薦理由：性價(jià)比高，使用方便，應(yīng)用廣泛
在很多激光行業(yè)的工作中，我們經(jīng)常需要測(cè)試激光器出光口或光路聚焦點(diǎn)功率和能量。這個(gè)系列的激光功率計(jì)是一種優(yōu)秀的光學(xué)儀器，它是光電設(shè)備售后人員的必備工具?。ㄏ聢D可以點(diǎn)擊查看大圖）
光束質(zhì)量分析儀，激光功率計(jì)以及激光器產(chǎn)品咨詢和訂購(gòu)熱線李經(jīng)理：13584002366（微信同號(hào)）
展開(kāi) 
白光干涉儀(光學(xué)3D表面輪廓儀)與臺(tái)階儀的區(qū)別
表面形貌即為表面微觀幾何形態(tài)，不僅對(duì)接觸零件的機(jī)械和物理特性起著決定作用，而且對(duì)一些非接觸零件的光學(xué)和外部特性影響也很大。所以對(duì)表面形貌的精準(zhǔn)測(cè)量能正確地識(shí)別出加工過(guò)程的變化和缺陷，對(duì)研究表面幾何特性與使用性能的關(guān)系、控制和改進(jìn)加工方法等都有著顯著的意義。
隨著微電子技術(shù)、光學(xué)技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)、傳感技術(shù)、信號(hào)分析和處理技術(shù)等飛速發(fā)展，對(duì)表面形貌測(cè)量精度不斷提高，從微米尺度進(jìn)入了納米甚至是亞納米尺度。臺(tái)階儀與白光干涉儀，兩者雖然都是表面微觀輪廓測(cè)量利器，但還是有所不同。
1、測(cè)量方式
（1）CP200臺(tái)階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測(cè)量儀器，測(cè)量時(shí)通過(guò)使用2μm半徑的金剛石針尖在超精密位移臺(tái)移動(dòng)樣品時(shí)掃描其表面，測(cè)針的垂直位移距離被轉(zhuǎn)換為與特征尺寸相匹配的電信號(hào)并最終轉(zhuǎn)換為數(shù)字點(diǎn)云信號(hào)，數(shù)據(jù)點(diǎn)云信號(hào)在分析軟件中呈現(xiàn)并使用不同的分析工具來(lái)獲取相應(yīng)的臺(tái)階高或粗糙度等有關(guān)表面質(zhì)量的數(shù)據(jù)。
（2）SuperViewW1白光干涉儀是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)非接觸式測(cè)量的光學(xué)檢測(cè)儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理，對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過(guò)系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析，獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù)，從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量的光學(xué)檢測(cè)儀器。
2、測(cè)量應(yīng)用
（1）臺(tái)階儀主要用于臺(tái)階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測(cè)量。
展開(kāi) 全球首款測(cè)量達(dá)7.5μm-12.5μm的光學(xué)鏡片透過(guò)率反射率檢測(cè)儀器
RT7512長(zhǎng)波紅外分光光度計(jì)是用于測(cè)試平面光學(xué)鏡片的透過(guò)率與反射率。
產(chǎn)品特點(diǎn)
1.測(cè)試波段可達(dá)7.5μm-12.5μm
2.儀器采用單色儀方案，并非傅里葉紅外變換，因此具有更好的測(cè)量精度與更好的信噪比
3.可在0-60°范圍內(nèi)對(duì)平面鏡片或棱鏡進(jìn)行測(cè)試
4.具有探測(cè)器自動(dòng)位移功能，補(bǔ)償位移可達(dá)40mm
5.內(nèi)置起偏器，可實(shí)現(xiàn)7.5μm-12.5μm偏振態(tài)測(cè)試
產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)
1.測(cè)試透過(guò)率時(shí)入射角范圍0-60°
2.測(cè)量比較厚的樣品有光束位移補(bǔ)償
3.儀器內(nèi)部有一個(gè)單色儀，并不是使用傅里葉變換紅外技術(shù)制造，所以噪聲水平更好，測(cè)量精度更高
4.內(nèi)置偏振組件，并且偏振組件是全范圍的偏振
5.采樣間距可達(dá)0.5nm-100nm
產(chǎn)品規(guī)格
樣品臺(tái)旋轉(zhuǎn)步進(jìn)間距0.01°
波長(zhǎng)采樣間距0.5-100nm
光斑尺寸6.0×3.0mm
測(cè)試精度±0.2%
測(cè)試重復(fù)精度±0.1%
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您將會(huì)獲得針對(duì)性的
產(chǎn)品功能和價(jià)格答疑
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展開(kāi) 一文幫您弄懂“典型激光器速率方程”
激光檢測(cè)儀器推薦
光束質(zhì)量分析儀
推薦理由：自主研發(fā)，性價(jià)比高，專業(yè)可靠
光研科技自主研發(fā)的光束質(zhì)量分析儀是近日光電圈備受關(guān)注的一種光學(xué)檢測(cè)儀器，也是國(guó)內(nèi)少有的自主研發(fā)的優(yōu)秀光學(xué)檢測(cè)儀器。這款產(chǎn)品目前已經(jīng)得到了很多用戶的好評(píng)。
這種光束質(zhì)量分析儀不僅實(shí)用可靠，而且專業(yè)便捷，也可以根據(jù)用戶要求定制，關(guān)鍵是在很多方面可以替代國(guó)外的進(jìn)口產(chǎn)品！
其中“Beamfiler Basic光束質(zhì)量分析儀”是整個(gè)系列的基礎(chǔ)版。也是這個(gè)系列產(chǎn)品的爆款型號(hào)！
它不僅價(jià)格實(shí)惠，關(guān)鍵是能夠幫助大家解決很多實(shí)用的問(wèn)題，比如實(shí)驗(yàn)室里面的鏡頭參數(shù)檢測(cè)測(cè)試，一些設(shè)備的透射光斑監(jiān)測(cè)等等。
外形尺寸：
性能特點(diǎn)：
本產(chǎn)品像素大小3.45μm
光斑檢測(cè)直徑范圍34.5μm~7mm
標(biāo)配磁吸衰減，方便操作，可選更高功率衰減配置，功率范圍可達(dá)1000W
支持手動(dòng)和自動(dòng)實(shí)時(shí)曝光及增益調(diào)節(jié)
高性價(jià)比，可代替進(jìn)口激光光束質(zhì)量分析儀，實(shí)現(xiàn)激光光斑檢測(cè)及測(cè)試應(yīng)用
典型應(yīng)用：
需要對(duì)激光光斑形狀進(jìn)行檢測(cè)得場(chǎng)合，如激光生產(chǎn)，維護(hù)以及激光應(yīng)用；
光學(xué)器件質(zhì)量檢查；
激光腔鏡調(diào)整；
外光路準(zhǔn)直；
光纖對(duì)準(zhǔn)耦合分析等。
產(chǎn)品參數(shù)：
激光功率計(jì)
推薦理由：性價(jià)比高，使用方便，應(yīng)用廣泛
在很多激光行業(yè)的工作中，我們經(jīng)常需要測(cè)試激光器出光口或光路聚焦點(diǎn)功率和能量。這個(gè)系列的激光功率計(jì)是一種優(yōu)秀的光學(xué)儀器，它是光電設(shè)備售后人員的必備工具！
展開(kāi) 高精度試驗(yàn)T型槽平臺(tái)：三坐標(biāo)測(cè)量與光學(xué)檢測(cè)專用定點(diǎn)基準(zhǔn)臺(tái)
在制造檢測(cè)領(lǐng)域，三坐標(biāo)測(cè)量與光學(xué)檢測(cè)是保障產(chǎn)品尺寸精度的核心手段，而高精度試驗(yàn)T型槽平臺(tái)作為專用定點(diǎn)基準(zhǔn)臺(tái)，其精度穩(wěn)定性與定點(diǎn)可靠性直接決定檢
三、光學(xué)檢測(cè)專用方案：低干擾下的基準(zhǔn)
1.抗反光與干擾設(shè)計(jì)：平臺(tái)表面采用亞光發(fā)黑處理，反射率≤5%，避免光學(xué)檢測(cè)過(guò)程中產(chǎn)生反光干擾，確保成像清晰；選用無(wú)磁鑄鐵材質(zhì)，減少對(duì)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備的電磁干擾，保障檢測(cè)信號(hào)穩(wěn)定。
2.熱穩(wěn)定性強(qiáng)化：選用低熱膨脹系數(shù)材質(zhì)（8-10×10??/℃），可適配20±2℃的恒溫檢測(cè)環(huán)境，減少溫度變化導(dǎo)致的熱變形，確保檢測(cè)精度穩(wěn)定；臺(tái)面邊緣做倒角處理，避免銳邊產(chǎn)生光影干擾。
3.兼容性適配：預(yù)留標(biāo)準(zhǔn)化接口，方便對(duì)接光學(xué)顯微鏡、激光掃描儀等檢測(cè)設(shè)備；T型槽支持多規(guī)格工裝安裝，可適配不同尺寸的工件檢測(cè)，提升平臺(tái)通用性。
綜上，高精度試驗(yàn)T型槽平臺(tái)通過(guò)針對(duì)性的材質(zhì)優(yōu)化、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)與低干擾配置，可適配三坐標(biāo)測(cè)量與光學(xué)檢測(cè)的專用需求?？茖W(xué)選用專用平臺(tái)不僅能保障檢測(cè)數(shù)據(jù)的可靠，還能提升檢測(cè)效率。在制造業(yè)向高精度、高附加值轉(zhuǎn)型的趨勢(shì)下，專用高精度試驗(yàn)T型槽平臺(tái)成為檢測(cè)的核心裝備，對(duì)推動(dòng)產(chǎn)品品質(zhì)升級(jí)具有重要意義。
展開(kāi) 光學(xué)型輪廓儀專業(yè)檢測(cè)光學(xué)鏡片曲面
在現(xiàn)代光學(xué)工業(yè)中，精密光學(xué)元件的制作是一項(xiàng)重要任務(wù)。而粗糙度是影響光學(xué)曲面質(zhì)量的重要因素之一。為確保光學(xué)元件的卓越性能，輪廓儀成為不可或缺的檢測(cè)工具。它以其超高精度、全自動(dòng)化、多功能性和數(shù)據(jù)分析的特點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)非球面鏡片的高精度專業(yè)檢測(cè)，解讀光學(xué)曲面的微妙變化。
光學(xué)鏡片曲面測(cè)量難點(diǎn)
1、幾何復(fù)雜性
光學(xué)鏡片具有各種各樣的幾何形狀，包括球面、非球面和自由曲面等。不同幾何形狀對(duì)測(cè)量方法和設(shè)備的要求各不相同，增加了測(cè)量的難度。
2、表面反射和折射
光學(xué)鏡片曲面的高反射和折射特性會(huì)影響信號(hào)的傳輸和測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。需要采取適當(dāng)?shù)募夹g(shù)手段或選擇合適的涂層材料來(lái)減小這些影響。
3、鏡片尺寸和材料
大尺寸和特殊材料的光學(xué)鏡片曲面測(cè)量更具挑戰(zhàn)性。需要使用大型、高精度的測(cè)量設(shè)備，并制定相應(yīng)的測(cè)量策略和方法。
傳統(tǒng)的測(cè)量方法通常需要操作人員進(jìn)行手動(dòng)測(cè)量，不僅費(fèi)時(shí)費(fèi)力，而且容易受到人為因素的影響。而SJ5900光學(xué)型輪廓儀配備了高精度的傳感器和智能化的軟件，專業(yè)檢測(cè)光學(xué)鏡片曲面，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)量、數(shù)據(jù)分析，大大提高了測(cè)量的效率和一致性。自動(dòng)化測(cè)量不僅可以減少人力投入，還能夠避免由于人為操作而引起的誤差。
直線度≤0.25μm/200mm，大范圍形貌微觀輪廓Pt≤0.3μm，測(cè)力最小0.5mN，無(wú)視微小凹凸、起伏，輕松應(yīng)對(duì)復(fù)雜的曲率和曲面結(jié)構(gòu)，準(zhǔn)確檢測(cè)微觀輪廓參數(shù)、水平軸線夾角、光軸位置參數(shù)及頂點(diǎn)半徑誤差、斜率參數(shù)等。
非球面分析軟件
SJ5900光學(xué)型輪廓儀nm級(jí)高精密光學(xué)曲面測(cè)量。
展開(kāi) 白光干涉儀和共聚焦顯微鏡的區(qū)別
對(duì)于現(xiàn)代愈發(fā)復(fù)雜的工藝檢測(cè)，諸如半導(dǎo)體、電子封裝及光學(xué)加工等產(chǎn)業(yè)中，由于表面微觀輪廓結(jié)構(gòu)的準(zhǔn)確性決定著產(chǎn)品的功能和效能，所以不管是拋光表面還是粗糙表面的工件（諸如半導(dǎo)體硅片及器件、薄膜厚度、光學(xué)器件表面、其他材料分析及微表面研究），都需要測(cè)量斷差高度、粗糙度、薄膜厚度及平整度、體積、線寬等。
同為微納米級(jí)表面光學(xué)分析儀器，白光干涉儀和激光共聚焦顯微鏡都具有非接觸式、高速度測(cè)量、高穩(wěn)定性的特點(diǎn)，都有表征微觀形貌的輪廓尺寸測(cè)量功能，適用范圍廣，可測(cè)多種類型樣品的表面微細(xì)結(jié)構(gòu)。但白光干涉儀與共聚焦顯微鏡還是有著不同之處。
1、測(cè)量原理
白光干涉儀是以白光干涉技術(shù)為原理，實(shí)現(xiàn)器件亞納米級(jí)表面形貌測(cè)量的光學(xué)檢測(cè)儀器；
共聚焦顯微鏡是以共聚焦技術(shù)為原理，實(shí)現(xiàn)器件微納米級(jí)表面形貌測(cè)量的光學(xué)檢測(cè)儀。
共焦顯微鏡光路示意圖
2、應(yīng)用
白光干涉儀多用于測(cè)量大范圍光滑的樣品，尤其擅長(zhǎng)亞納米級(jí)超光滑表面的檢測(cè)，追求檢測(cè)數(shù)值的準(zhǔn)確；（SuperViewW1白光干涉儀測(cè)量行程有140*100*100㎜，對(duì)于測(cè)量物體整個(gè)區(qū)域表面情況，還可以使用自動(dòng)拼接測(cè)量、定位自動(dòng)多區(qū)域測(cè)量功能。拼接測(cè)量功能3軸光柵閉環(huán)反饋，在樣品表面抽取多個(gè)區(qū)域測(cè)量，就可以快速實(shí)現(xiàn)大區(qū)域、高精度的測(cè)量，從而對(duì)樣品進(jìn)行評(píng)估分析。）
超光滑透鏡測(cè)量
自動(dòng)拼接功能
大尺寸樣品拼接測(cè)量
而共聚焦顯微鏡更容易測(cè)陡峭邊緣，擅長(zhǎng)微納級(jí)粗糙輪廓的檢測(cè)，雖在檢測(cè)分辨率上略遜，但成像圖色彩斑斕，便于觀察。
激光共聚焦顯微鏡測(cè)量技術(shù)在汽車(chē)工業(yè)上的應(yīng)用
白光干涉儀滿足時(shí)下半導(dǎo)體封裝測(cè)量需求
展開(kāi) 光學(xué)人的輔助工具｜成本低且效益高！適合光學(xué)器件生產(chǎn)檢測(cè)檢驗(yàn)的產(chǎn)品
Lenscheck光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)（傳函儀）
LenscheckVIS/LWIR是一個(gè)成本低效益高的產(chǎn)品，適合您的光學(xué)器件生產(chǎn)和產(chǎn)品原型檢測(cè)檢驗(yàn)的需求。作為光學(xué)成像測(cè)試領(lǐng)域的領(lǐng)導(dǎo)者，Optikos推出這款精簡(jiǎn)、高效、易用的產(chǎn)品用于產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)。Lenscheck包含了擁有專利的VideoMTF圖像分析軟件，以及實(shí)時(shí)的調(diào)制傳遞函數(shù)測(cè)試和分析。使用這種測(cè)試系統(tǒng)可以讓光學(xué)儀器廠家迅速、可靠的測(cè)試產(chǎn)品，降低產(chǎn)品及組件不合格的風(fēng)險(xiǎn)。
測(cè)量
● 軸上/離軸 調(diào)制傳遞函數(shù)MTF
● 離焦調(diào)制傳遞函數(shù)
● 有效焦距
● 后焦距
● 像散
● 場(chǎng)曲
● 位置色差，倍率色差
● 畸變
● 主光線角度
● 環(huán)繞能
● 透射率
● 相對(duì)照度
● 散射光
● 視線
特性
● 擁有專利的VideoMTF技術(shù)，可實(shí)時(shí)測(cè)量MTF
● 平臺(tái)靈活度高，可測(cè)試一系列不同參數(shù)
● 業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的精確度和可重復(fù)性
● 可具體配置的全自動(dòng)測(cè)量程序
● 輕松切換各種波段（可見(jiàn)光/近紅外，短波紅外，長(zhǎng)波紅外）
● 高分辨率的USB電機(jī)控制平移臺(tái)
● 集成的玻璃鱗片編碼器
● 50mm通光孔徑的折/反射式準(zhǔn)直儀
● 集成的八個(gè)靶位的靶標(biāo)輪和濾光片輪
● 自動(dòng)定心的光學(xué)鏡頭支架
● 12bit實(shí)時(shí)視頻
展開(kāi) 
流量傳感器在肺活量檢測(cè)儀器中的應(yīng)用
社會(huì)經(jīng)濟(jì)的繁榮發(fā)展，人們生活方式的改變，加上人口日趨高齡化，健康問(wèn)題也已成為如今社會(huì)關(guān)注的焦點(diǎn)時(shí)，人們開(kāi)始更加注重肺活量等與人類健康息息相關(guān)的問(wèn)題了，特別是終身運(yùn)動(dòng)的提出必然會(huì)帶動(dòng)體質(zhì)檢測(cè)儀器的發(fā)展。
肺活量檢測(cè)儀在醫(yī)學(xué)領(lǐng)域以及學(xué)校等地方被廣泛地應(yīng)用，從而實(shí)現(xiàn)智能化、高精度、便攜化正是肺活量檢測(cè)儀器現(xiàn)在的發(fā)展方向。肺活量檢測(cè)儀通過(guò)測(cè)量流量得知呼出和吸入氣體的流量，以及通過(guò)流量的累加可得知肺容量的大小，并通過(guò)流量、容量、時(shí)間之間的關(guān)系計(jì)算出各種參數(shù)。而隨著單片機(jī)、微電子、流量傳感器、總接線口的需求和高新技術(shù)的迅速發(fā)展，流量傳感器在肺活量檢測(cè)儀器中的研制也有了長(zhǎng)足的進(jìn)步，從而來(lái)適應(yīng)越來(lái)越高的應(yīng)用要求。
流量傳感器作為醫(yī)療行業(yè)應(yīng)用中也是較廣泛的一種傳感器了，它主要是用來(lái)控制及提供給病人或監(jiān)護(hù)用醫(yī)療設(shè)備的氣體或液體的流量。對(duì)于肺活量檢測(cè)儀中的傳感器工采網(wǎng)推薦微流量傳感器 - F1031。F1031 微流量傳感器是利用熱力學(xué)原理對(duì)流道中的氣體介質(zhì)進(jìn)行流量檢測(cè)，具有很好的精度與重復(fù)性。F1031微流量傳感器內(nèi)置有溫度傳感器，每只都進(jìn)行專有的溫度補(bǔ)償校準(zhǔn)；同時(shí)具有線性模擬電壓輸出，方便使用。
芯片由兩個(gè)熱偶堆和一個(gè)加熱電阻組成：熱偶堆對(duì)稱地分布在加熱電阻的上、下游；加熱電阻和熱偶堆的熱結(jié)處于一個(gè)隔熱底座上。加熱電阻對(duì)熱偶堆的熱結(jié)加熱。熱偶堆熱結(jié)和冷結(jié)之間的溫度梯度導(dǎo)致輸出電壓，即本征塞貝克效應(yīng)。加熱電阻兩側(cè)的等溫線,當(dāng)流體靜止時(shí)，等溫線沿垂直加熱電阻中部的直線對(duì)稱分布，加熱電阻兩側(cè)對(duì)稱位置的溫度是相同的。當(dāng)流體從左向右流動(dòng)時(shí)，等溫線向右側(cè)傾斜。加熱電阻兩側(cè)對(duì)稱位置的溫度不再相同。溫差可由置于加熱電阻兩側(cè)的熱偶堆測(cè)定。由于流體的傳熱只與流體質(zhì)量和流體的熱容有關(guān)，因此傳感器可直接測(cè)出流體質(zhì)量流量。
展開(kāi) 用于光學(xué)檢測(cè)的斐索干涉儀
摘要
斐索干涉儀是工業(yè)上常見(jiàn)的光學(xué)計(jì)量設(shè)備，通常用于高精度測(cè)試光學(xué)表面的質(zhì)量。在VirtualLab Fusion中通道配置的幫助下，我們建立了一個(gè)Fizeau干涉儀，并將其用于測(cè)試不同的光學(xué)表面，例如圓柱形和球形表面。結(jié)果表明，表面輪廓對(duì)干涉條紋的產(chǎn)生是敏感的。
建模任務(wù)
測(cè)試表面
非序列追跡
通用探測(cè)器和探測(cè)器附加組件
總結(jié)-組件
…
觀測(cè)下的傾斜平面
被觀測(cè)圓柱面
被觀測(cè)球面
用于光學(xué)檢測(cè)的斐索干涉儀
摘要
斐索干涉儀是工業(yè)上常用的一種光學(xué)測(cè)量儀器，常用于高精度的光學(xué)表面質(zhì)量檢測(cè)。利用VirtualLab Fusion的非序列追跡技術(shù)，我們建立了斐索干涉儀，并將其用于測(cè)試不同的光學(xué)表面，如柱面和球面，可以發(fā)現(xiàn)由此產(chǎn)生的干涉條紋對(duì)表面輪廓很敏感。
建模任務(wù)
觀測(cè)傾斜平面
觀測(cè)柱面
觀測(cè)球面
走進(jìn)VirtualLab Fusion
VirtualLab Fusion的工作流程? 設(shè)置輸入場(chǎng)- 基本光源模型 [教學(xué)視頻] ? 使用表面構(gòu)造真實(shí)元件 ? 定義元件的位置和方向- LPD II：位置和方向 [教學(xué)視頻] ? 為非序列場(chǎng)追跡設(shè)置合適的通道- 非序列場(chǎng)追跡的頻道設(shè)置 [用例]
VirtualLab Fusion技術(shù)
文件信息
延伸閱讀
- 基于激光的邁克爾遜干涉儀和干涉條紋探測(cè)- 馬赫-澤德干涉儀
展開(kāi) 用于光學(xué)檢測(cè)的斐索干涉儀
摘要
建模任務(wù)
斐索干涉儀是工業(yè)上常用的一種光學(xué)測(cè)量儀器，常用于高精度的光學(xué)表面質(zhì)量檢測(cè)。利用VirtualLab Fusion的非序列追跡技術(shù)，我們建立了斐索干涉儀，并將其用于測(cè)試不同的光學(xué)表面，如柱面和球面，可以發(fā)現(xiàn)由此產(chǎn)生的干涉條紋對(duì)表面輪廓很敏感。
