干涉測量技術的案例
激光干涉測量技術在多領域的應用
SJ6000激光干涉儀鑒定測長機
（2）三坐標測量機示值誤差測量：隨著三坐標測量機技術的更新和發展，使用傳統的量塊、球板等已經難以滿足大型三坐標測量機的檢測要求，激光干涉儀測量準確度高，測量范圍大，測量數據豐富，適合測量三坐標各項幾何誤差。
（3）位移傳感器檢定：利用激光干涉儀對位移傳感器檢定成為發展趨勢，其特點是測量精度高、反應速度快、易于數字化測量。
SJ6000激光干涉儀測量傳感器線性精度
3. 航空航天領域
（1）飛機零部件裝配和檢測：在飛機的生產過程中，對飛機零部件的裝配精度要求高。激光干涉測量技術可用于測量飛機機翼、機身等部件的尺寸、形狀和位置精度，確保飛機的安全性能和飛行性能。例如，對飛機發動機葉片的安裝角度和位置進行精確測量，保證發動機的正常運行。
（2）衛星姿態控制和軌道測量：衛星在太空中的姿態控制和軌道測量需要高精度的測量技術。激光干涉測量技術可以用于測量衛星的微小位移和振動，為衛星的姿態控制提供數據支持；同時，也可以用于衛星軌道的精確測量，確保衛星的運行軌道符合設計要求。
展開 激光干涉測量技術在機床領域的應用
激光干涉測量技術助力機床產業邁向新高度。
激光干涉測量技術簡介
激光干涉測量技術是一種高精度的非接觸式測量技術，利用激光干涉原理進行測量。它利用激光干涉現象來實現非接觸式測量，具有高精度、高分辨率、快速測量等優點。激光干涉儀sj6000可以進行多種類型的測量，包括但不限于：
線性測量：激光干涉儀可以精確測量目標物體的長度、寬度、高度等線性尺寸參數，實現高精度的尺寸測量和幾何形狀分析。
垂直度測量：激光干涉儀可以用于測量目標物體的垂直度、平行度等參數，幫助保證工件的幾何形狀和裝配精度。
位移測量：激光干涉儀可以檢測目標物體的微小位移或振動，用于振動分析等應用。
應用于機床領域
在機床領域，激光干涉儀sj6000可以應用于多個場景，利用其高精度測量功能和動態性能分析功能，提高機床設備的加工精度、穩定性和效率，涵蓋了機床調試、動態性能評估、結構優化和加工工藝監測等多個方面：
1、機床加工精度調試：
線性測長和角度測量：激光干涉儀可用于測量機床各軸線性運動的位移和角度，以調試和校準機床的加工精度。
直線度和垂直度測量：用于檢測機床導軌、絲桿等部件的直線度和垂直度，確保機床運動平穩和加工質量。
動態位移、速度和加速度測量：激光干涉儀可實時監測機床各軸的動態位移、速度和加速度，評估機床的動態性能和響應特性。
振動分析：通過分析機床在工作過程中的振動特性，識別和解決機床運行中的振動問題，提高加工質量和效率。
3、機床結構調試與優化：
平行度和平面度測量：用于調試機床各部件之間的平行度和平面度，確保機床結構的穩定性和剛性。
展開 白光干涉儀測量原理及干涉測量技術的應用
在這個對精度要求極高的領域，具備雙重防撞保護功能的白光干涉儀能夠確保測量過程的安全可靠，為航空航天事業的發展提供有力支持。
雙重防撞保護，給精密測量多一份保障
白光干涉儀作為精密測量儀器，其雙重防撞保護功能的重要性不言而喻。在各種復雜的測量環境中，無論是工業生產、科學研究還是其他領域，都可能面臨意外碰撞的風險。而SuperViewW白光干涉儀防撞機械電子傳感器和軟件 ZSTOP 防撞保護功能的雙重保障，能夠有效地保護儀器免受損壞，確保測量結果的準確性和可靠性。這不僅為用戶節省了維修成本和時間，更保證了工作的連續性和高效性，為各個領域的發展提供了堅實的技術支持。
展開 從微納米到百米測量，中圖國產智能精密測量儀器著力突破核心技術，增強高端供給
生產線智能化將是制造業轉型升級的重要發展趨勢，智能檢測技術也將廣泛應用于工業自動化、航天、電子等行業。
2023年2月23日，工業和信息化部、國家發展和改革委員會等七個部門聯合發布《智能檢測裝備產業發展行動計劃(2023-2025年)》中提到，“智能檢測裝備作為智能制造的核心裝備，是“工業六基”的重要組成和產業基礎高級化的重要領域，對支撐制造強國、質量強國和數字中國建設具有重要意義。”針對我國智能檢測裝備產業仍存在技術基礎薄弱、創新能力不強、高端供給不足等問題，中圖儀器堅持以技術創新為發展基礎，集光、機、電、信息技術于一體的技術團隊，勇于創新，著力突破從微納米到百米測量的核心技術，堅持高質量出品，增強高端供給，打造質量強國。
從微納米到百米測量，中圖智能精密測量儀器著力突破核心技術，增強高端供給
1、融合創新檢測技術、新型制造工藝與前沿科技領域基礎理論，研發生產一批前沿智能精密測量檢測裝備。
納米級精密測量儀器
VT6000共聚焦顯微鏡
共聚焦顯微鏡用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的光學檢測儀器。它是以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析，并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數，從而實現器件表面形貌3D測量。
SuperViewW1白光干涉儀
光干涉儀用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的光學檢測儀器。
展開 
曲面測量工具|白光干涉儀五軸全自動測量發動機葉片
所以對于葉片的型面和幾何尺寸檢測也是非常重要的，但是就葉片的形狀來說常規測量方法很難進行測量。
白光干涉儀作為一款超高精度的光學3D輪廓儀，一直在超精密加工領域有著廣泛的應用，在大部分的應用場景中，都是采用標準的白光干涉儀機型測量平面類型零件的表面粗糙度，而在一些特殊行業及領域，針對一些有著曲面特征的零部件，如何解決其形狀不規則裝夾不便、測量點分布不在同一個面、單次測量效率低的問題，成為了一個難題。
針對葉片類曲面零部件，白光干涉儀能夠在空間范圍內實現曲面全自動測量功能，能夠解決上述多個測量難題。
白光干涉儀特點：
1）可在測量軟件中直接加載生成零部件的3D模型；
2）根據3D模型可在零部件不同曲面上選擇多個測量點位并生成模板；
3）軟件能夠快速完成上述多個點位的自動測量并直接獲取分析數據；
中圖儀器白光干涉儀測量發動機葉片大空間自由曲面
展開 [NEWSLETTER] 干涉測量中的衍射效應
光學干涉測量--基于從光與自身的相互作用中提取信息的實驗測量技術，主要通過相干重疊場之間的相對相位差所產生的強度調制--應用于從顯微鏡到天文學等許多不同領域。雖然其中許多應用可以在忽略衍射效應的情況下進行足夠精確的建模，但在某些情況下，例如當系統中存在尖銳邊緣或狹窄孔徑時，需要選擇能夠考慮衍射演變的模型。
VirtualLab Fusion 在單一平臺上提供了靈活的可交互建模技術，可幫助您在仿真中實現適當的精度與速度平衡：僅在必要時才考慮衍射效應。作為演示示例，下面是對干涉測量系統中矩形物體樣品的分析。該示例包括是否考慮衍射影響的結果對比。在干涉測量方面，我們還展示了光學相干斷層掃描（OCT）的工作原理，OCT是最重要的醫學成像形式之一。
由尖銳邊緣引起的干涉儀衍射研究
T本用例展示了干涉測量應用中的衍射效應。為此，我們研究了一個具有矩形高度結構的樣品在邁克爾遜干涉儀中引起的衍射。
光學相干斷層掃描的工作原理
使用低相干性氙燈光源，建立一個邁克爾遜干涉儀來演示光學相干斷層掃描（OCT）的工作原理。
展開 用于光學測量的菲索干涉儀
摘要
斐索干涉儀是工業中常見的光學計量設備，它們通常用于光學表面質量的高精度測試。 借助VirtualLab Fusion中的非順序追跡，我們構建了一個菲索干涉儀，并利用它測試了不同的光學表面，例如圓柱形和球形。 可以看出，產生的干涉條紋對表面輪廓具有敏感性。
建模任務
傾斜平面下的觀測條紋
圓柱面下的觀測條紋
球面下的觀測條紋
VirtualLab Fusion 視窗
VirtualLab Fusion 流程
設置入射場
- 基本光源模型[教程視頻]
定義元件的位置和方向
- LPD II: 位置和方向[教程視頻]
正確設置通道的非序列追跡
- 非序列追跡的通道設置[用戶案例]
VirtualLab Fusion 技術
文件信息
展開 最佳使用案例NO.1–干涉測量
用于光學測量的Fizeau 干涉儀
在第一份“最佳”時事通訊中，我們關注的是Fizeau和Mach-Zehnder干涉儀。
基于物理光學的VirtualLab Fusion是用于復雜系統建模的統一平臺，并具有非常人性化的用戶界面。
在VirtualLab Fusion中所實現的快速物理光學技術為著名的干涉儀的快速仿真提供了強有力的工具，從而使我們能夠研究干涉圖樣中的相干和色散效應。
在VirtualLab Fusion中，我們構建了一套Mach-Zehnder干涉儀，并展示了元件的傾斜和移動如何影響干涉圖案。
展開 [NEWSLETTER] 使用干涉儀的光學測量
光學計量學是精確測量的重要技術。例如，它經常被用于表面測試，因此在質量控制中發揮著重要作用。VirtualLab Fusion可以幫助您對各種類型干涉儀進行建模，并將不同的光學表面和系統部件、甚至是傾斜和位移等對準錯誤都包含在模擬中。我們以兩個廣泛使用的干涉儀--Mach-Zehnder型和Fizeau型為例進行演示。
Mach-Zehnder干涉儀
我們在VirtualLab Fusion中建立了一個Mach-Zehnder干涉儀，并演示了元件的傾斜和位移是如何影響干涉條紋的。
用于光學檢測的Fizeau干涉儀
在非序列場追跡技術的幫助下，建立了一個Fizeau干涉儀，并顯示了幾個不同測試面的干涉條紋。
可發送信息了解更多詳情: support@infotek.com.cn / support@infocrops.com
展開 用于光學測量的菲索干涉儀
斐索干涉儀是工業中常見的光學計量設備，它們通常用于光學表面質量的高精度測試。 借助VirtualLab Fusion中的非順序追跡，我們構建了一個菲索干涉儀，并利用它測試了不同的光學表面，例如圓柱形和球形。 可以看出，產生的干涉條紋對表面輪廓具有敏感性。
摘要
[NEWSLETTER] 干涉測量中的衍射效應
光學干涉測量--基于從光與自身的相互作用中提取信息的實驗測量技術，主要通過相干重疊場之間的相對相位差所產生的強度調制--應用于從顯微鏡到天文學等許多不同領域。雖然其中許多應用可以在忽略衍射效應的情況下進行足夠精確的建模，但在某些情況下，例如當系統中存在尖銳邊緣或狹窄孔徑時，需要選擇能夠考慮衍射演變的模型。
VirtualLab Fusion 在單一平臺上提供了靈活的可交互建模技術，可幫助您在仿真中實現適當的精度與速度平衡：僅在必要時才考慮衍射效應。作為演示示例，下面是對干涉測量系統中矩形物體樣品的分析。該示例包括是否考慮衍射影響的結果對比。在干涉測量方面，我們還展示了光學相干斷層掃描（OCT）的工作原理，OCT是最重要的醫學成像形式之一。
由尖銳邊緣引起的干涉儀衍射研究
T本用例展示了干涉測量應用中的衍射效應。為此，我們研究了一個具有矩形高度結構的樣品在邁克爾遜干涉儀中引起的衍射。
光學相干斷層掃描的工作原理
使用低相干性氙燈光源，建立一個邁克爾遜干涉儀來演示光學相干斷層掃描（OCT）的工作原理。
展開 
銷-槽間隙干涉測量
銷-槽干涉完整測量項
Note：
Meas J測量統計銷/槽邊界干涉率，如果銷位于槽的斜邊角干涉時（如圖12），該測量失效，該測量只能單純統計延主方向和次方向的超差率。
[VirtualLab] 利用剪切干涉法的準直測量
因此，對準直度的測量也很重要，而剪切干涉法經常被用于此類任務中。 在此示例中，我們演示了如何構建剪切干涉儀并將其用于測量準直。 通過改變光束準直系統(例如該示例中兩個透鏡之間的距離)，我們觀察到了來自剪切干涉儀的干涉條紋。
建模任務
擴展和準直后的波前評估
剪切干涉條紋
剪切干涉條紋
VirtualLab Fusion一瞥
VirtualLab Fusion中的工作流程
?設置輸入高斯場
?基礎光源模型 [教程視頻]
?從ZemaxOpticStudio?導入鏡頭系統
?從Zemax導入光學系統 [用例]
?設置組件的位置和方向
?LPD II：位置和方向 [教程視頻]
?設置組件的非序列通道
?非序列追跡的通道設置 [用例]
?通過參數運行檢查所選參數的影響
?參數運行文檔的使用 [用例]
VirtualLab Fusion技術
文件信息
更多閱覽
- Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration
- Fizeau Interferometer for Optical Testing
展開 [NEWSLETTER] 利用剪切干涉法的準直測量
剪切干涉法是一種測試光束準直質量的簡便方法，我們在VirtualLab Fusion中進行了演示。 干涉儀中的關鍵設備是剪切板，具有高質量的平面，通常具有較小的楔角。 借助VirtualLab Fusion中的通道概念，我們可以輕松地模擬光線與剪切板之間的多種相互作用。
用剪切干涉法進行準直檢驗
我們展示了如何建立剪切干涉儀，來檢驗激光光束準直。 我們觀察到由于改變準直透鏡系統而引起的干涉條紋的變化。
界面和光柵區域的通道配置
通過VirtualLab Fusion中靈活的通道配置，用戶可以輕松控制仿真中任何界面和/或區域的響應。
可發送信息了解更多詳情: support@infotek.com.cn / support@infocrops.com
展開 最佳使用案例NO.1–干涉測量
為了營造今年的節日氣氛，我們決定發布4份特別的新聞通訊展示我們的“2019最佳使用案例” 在VirtualLab Fusion中所實現的快速物理光學技術為著名的干涉儀的快速仿真提供了強有力的工具，從而使我們能夠研究干涉圖樣中的相干和色散效應。 基于物理光學的VirtualLab Fusion是用于復雜系統建模的統一平臺，并具有非常人性化的用戶界面。 在第一份“最佳”時事通訊中，我們關注的是Fizeau和Mach-Zehnder干涉儀。
用于光學測量的Fizeau 干涉儀
利用非序列場追跡技術，模擬了一個Fizeau干涉儀，并得到不同測試表面的干涉圖案。
Mach-Zehnder 干涉儀
在VirtualLab Fusion中，我們構建了一套Mach-Zehnder干涉儀，并展示了元件的傾斜和移動如何影響干涉圖案。
了解更多信息發送信息至：support@infotek.com.cn / support@infocrops.com網站：http://www.infotek.com.cn / http://www.honglun-seminary.com
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