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登錄ansys焊點失效分析
關注創建者:王靖雯 創建時間:2023-03-08

ansys焊點失效分析的實例教程
焊點的失效一方面來源于生產裝配中的焊接故障,如釬料橋連、虛焊、曼哈頓現象等;另一方面是在服役條件下,當環境溫度變化時,由于元器件與基板材料存在的熱膨脹系數差,在焊點內產生熱應力,應力的周期性變化會造成焊點的疲勞損傷,同時相對于服役環境的溫度,SnPb釬料的熔點較低,隨著時間的延續,產生明顯的粘性行為,導致焊點的變損傷。
△圖2:影響微電子封裝可靠性的主要因素
4、 焊點失效的四種模式:
4.1 熱交變應力破壞失效
? 溫度變化
? 材料蠕變損傷
? 變形與裂紋擴展
4.2 疲勞破壞失效
?由振動載荷引起的高周疲勞失效
4.3 化學因素腐蝕破壞失效
? 水分、氧氣其他離子
? 化學反應腐蝕
? 粘結強度等機械性能降低
4.4 動態機械載荷破壞失效
? 跌落、沖擊和振動
? 開裂、脆裂等損傷
研究內容
△圖3:焊點熱耦合疲勞仿真分析內容
1、基本力學參數的獲取
? 調研焊點、焊腳的材料屬性
? 試驗獲取引腳、錫焊、錫焊界面(金屬化合物)的力學性能參數
? 擬合界面相(金屬化合物)材料的本構關系
2、疲勞數據庫的建立
? 通過疲勞試驗建立材料、界面相的疲勞特性曲線
? 建立單個焊點的有限元分析模型
? 加載循環載荷預測焊點的疲勞壽命與失效位置
? 通過與實驗比較,對有限元分析模型進行驗證
△圖4:不同封裝結構下無鉛SAC305焊點的S-N曲線
3、整機仿真模型
一般而言,在有限元模態分析中,系統的固有頻率會隨著網格密度的增加而降低至一個穩定的收斂值,為了找到合適的網格劃分密度,需要對其進行網格收斂性檢查。振動試驗載荷一般有正弦、窄帶隨機和寬帶隨機三種,PCB邊界條件有四角四點固支,端部四點固支,六點固支,中間四點固支以及中間兩點固支。
3.1 有限元模型建模
△圖5:焊點有限元建模
3.2 組件中各層材料參數設置
考慮到振動過程中焊點發生的一般是彈性形變,無需考慮材料的蠕變參數,各組分材料從上往下依次按照模塑料、封裝基板、Cu焊盤(Cu)、焊球(SAC305)、PCB板(FR-4)賦予。
展開 :焊點可靠性問題是發展球柵陣列(BallGridArray,BGA)技術需解決的關鍵問題。本論文采用立體顯微鏡檢查、x—ray檢查、金相切片分析、SEM、EDX等方法詳細分析了失效BGA焊點的微結構、裂紋情況、金屬間化合物、及空洞對可靠性的影響,得出引起焊點失效的主要原因。在此基礎上,采用ANSYS有限元軟件,模擬分析了熱載荷作用下CBGA焊點的三維應力應變行為。研究了影響焊點(鼓形、柱形)熱應力應變分布的幾個因素(半徑、高度、間距),為在實際焊接過程中,對從焊點形態的角度控制焊點質量提供了理論依據。同時還研究了兩種典型無鉛焊球(Sn95.5/A93.8/Cu0.7,Sn96.5/A93.5)與含鉛焊料(Sn/37Pb)的熱應力應變分布,并對結果作了分析比較。得出Sn95.5/A93.8/Cu0.7焊點的vonmises等效應力應變最大值小于Sn96.5/A93.5焊點與Sn/37Pb焊點,為電子焊料無鉛化材料體系的選擇提供了理論依據
BGA焊點的失效分析及熱應力模擬.pdf
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2. 焊點焊縫疲勞分析
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焊點的失效一方面來源于生產裝配中的焊接故障,如釬料橋連、虛焊、曼哈頓現象等;另一方面是在服役條件下,當環境溫度變化時,由于元器件與基板材料存在的熱膨脹系數差
研究背景
1、什么是微電子封裝技術?
通過一定的連接技術將芯片、半導體元件、板卡和電路板等進行布置,粘結固定來組裝完成整電子產品的過程,包含了從開始制作硅晶圓片到電子產品組裝完成的整個過程。
2、微電子封裝技術發展歷史
1947年,世界上第一只晶體管在美國貝爾實驗室誕生,微電子封裝技術發展不斷進步,主要經歷了四次重大技術變革
1 前言
乘用車驅動橋是整車的關鍵零部件,其性能直接影響整車的安全性、可靠性。驅動橋總成是否滿足產品的設計需要,對整車的性能起到關鍵作用。
橋殼是驅動橋總成上一個單獨的件,它具有支撐汽車載荷的作用,并將載荷傳遞給車輪。作用在后橋車輪的牽引力、制動力和側向力及垂直載荷經后橋傳遞到車架上。若汽車后橋的強度及剛度不能達到要求,則會失效,可能會造成后橋斷裂,或永久變形,不能再繼續使用
:焊點可靠性問題是發展球柵陣列(BallGridArray,BGA)技術需解決的關鍵問題。本論文采用立體顯微鏡檢查、x—ray檢查、金相切片分析、SEM、EDX等方法詳細分析了失效BGA焊點的微結構、裂紋情況、金屬間化合物、及空洞對可靠性的影響,得出引起焊點失效的主要原因。在此基礎上,采用ANSYS有限元軟件,模擬分析了熱載荷作用下CBGA焊點的三維應力應變行為。研究了影響焊點(鼓形、柱形)熱應力應變分布的幾個因素

