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關注創建者:王靖雯 創建時間:2023-03-07
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如何通過ansys的apdl命令流添加爆破模擬中的邊界條件
如何通過ansys的apdl命令流添加爆破模擬中的邊界條件,僅需要幾行命令流即可實現無反射條件和位移約束條件的添加,無需在lspp中操作
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MPC184單元詳解(1)
1.銷軸模型
MPC184單元描述
MPC184包括使用拉格朗日乘子法實現運動約束的一類常用的多點約束單元。這些單元可以簡單地分為“約束單元”或“連接單元”。 用戶可以在一些需要施加運動約束的場合中使用這些單元。這些約束可以簡單到鉸鏈上的具有相同的位移值,也可以復雜到包括模型的剛性部分,或者在柔性體之間以某一特定方式傳遞運動的運動約束。例如,結構中可能包含一些剛性部件或者通過轉動或滑塊約束連接在一起的運動部件。結構的剛性部分可以使用MPC184的剛性桿或剛性梁單元來模擬,運動部分可以使用MPC184的滑塊,球鉸,銷軸和萬向聯軸器單元模擬。因為這些單元使用拉格朗日乘子法實現,ANSYS能夠輸出約束反力和力矩。
約束單元
如果沒有其它說明,使用這些單元時,三維單元選項(KEYOPT(2) = 0)為默認值。
銷軸鏈接
設置KEYOPT(1) = 6定義二節點銷軸鏈接。銷軸單元的二個節點必須有相同的空間坐標。
MPC184銷軸鏈接單元只有一個基本自由度-繞著軸或銷相對旋轉。單元能夠包括控制特性,如未約束自由度上的擋塊,鎖定器。旋轉邊界條件也可以施加到相對運動分量上。
展開 如何在ANSYS中模擬非線性三維隔震支座 ¥299
最近有很多同學聯系我,問到如何數值模擬三維隔震支座。假期加個班,做個算例分析。
1. 包含的內容
(1)算例模型命令流
(2)三維隔震支座命令流
(3)計算過程excel文件
(4)建筑隔震橡膠支座規范
(5)常用隔震支座的設計參數
2. 進階內容(需另付費,有需要可聯系)
(1)隔震支座在ANSYS中的批量建模方法,預計時間2024年02月
(2)如何在ABAQUS中模擬非線性單位隔震支座(連接器單元),預計時間2024年03月
3. 解決的問題
(1)如何在ANSYS中模擬橡膠隔震支座?
(2)如何確定隔震模型的力學參數與隔震支座設計參數的定量對應關系?
(3)如何模擬隔震支座的非線性特性?
(4)如何驗證隔震支座模擬的正確性?
4. 隔震模型的力學參數與隔震支座設計參數的定量對應關系
我們知道,實際應用中,我們可以采用廠家提供的標準型號的隔震支座,也可以訂制特殊類型的隔震支座,不管采用那種形式,在仿真模擬時,我們都要將設計參數與隔震模型的力學參數對應起來,從而進行力學分析。
ANSYS中并沒有特定的隔震單元,但提供了一系列的彈簧-阻尼器單元,可以通過組合單元模擬隔震支座的力學特性。采用COMBIN14單元模擬隔震支座的豎向剛度,COMBIN14又稱彈簧-阻尼器單元,具有1D、2D和3D的軸向或扭轉能力。軸向彈簧-阻尼器為單軸拉壓行為,每個單元有2個節點,每個節點有3個自由度,即沿著X、Y和Z方向的三個平動或轉動位移。水平方向上,采用COMBIN40單元模擬隔震支座的水平剛度和阻尼,COMBIN40單元將彈簧、滑塊和阻尼器并聯,再用串聯的方式與間隙耦合形成組合體,適用于多種情況的分析。該單元可以引入雙線性強化模型,并考慮粘滯阻尼的影響。詳細參考《ANSYS結構分析單元與應用》。
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概要
OpticStudio中,有兩個用來提升散射模擬效率的工具:Scatter To List以及Importance Sampling。在這篇文章中,我們詳細討論了這兩個工具,并且以一個雜散光分析為例示范了如何使用Importance Sampling。
如何有效的模擬散射
對于絕大多數光學系統進行散射模擬是非常重要的,尤其在雜散光分析中散射模擬更是關鍵所在。Zemax OpticStudio有很多內建散射模型,這些模型支持使用者輸入任何散射分布。在非序列光線追跡中,需要使用非常多的光線射向模擬物件才能精確而適當的模擬散射分布。特別是當觀察目標相對于散射點占據的立體角很小時,這個問題會更加嚴重。最簡單直接的辦法就是增加入射或是散射的光線數量使更多的光線到達要觀察目標。但是追跡更多光線會需要更多的時間,因此模擬散射就變的非常費時。
在OpticStudio中,我們可以使用“Scatter To List”來改進散射模擬效率,此設定強制系統只追跡那些散射到指定物件的光線而忽略其他光線。不過這并不是說光線一定會散射到指定物件上,因此對于大量光線模擬這種方法并不能改善太多。另一個OpticStudio中的“Importance Sampling”設定,則可以大幅地增進散射模擬的效率。這兩個工具都可以在Object Properties的Scatter To標簽中找到。
Importance Sampling原理上與Scatter To List大不相同。如果我們在Importance Sampling中加入一個物件,OpticStudio則會以這個物件為中心畫出一個虛擬的球體,然后所有的散射光將只會往這個球體過去。
展開 繞偏心點旋轉
在前一個例子中,我們展示了如何讓反射鏡面繞著它的頂點轉動,這在模擬檢流計式的掃描振鏡或者類似類型的反射鏡時非常有用。然而當掃描鏡是多邊形幾何體的一部分時,它需要繞著一個距離鏡面頂點一定距離的點轉動。這時我們應該如何設置呢?
我們需要把鏡面的旋轉點放在多邊形掃描鏡的中心位置。假設鏡面頂點和多邊形幾何體中心的間距是50mm。在檢流計式掃描振鏡系統的基礎上做如下修改:
這樣修改可以把掃描鏡的旋轉點向遠離鏡面的方向移動50mm。然后,打開掃描鏡的表面屬性 (Surface Properties),在繪圖 (Draw) 選項卡中將鏡面的基底厚度設置為50mm,如下圖所示:
這樣我們可以清楚的看到鏡面的旋轉點位置:
您可以打開示例文件中的Polygon.zmx文件查看當前系統。
小結
模擬掃描鏡分以下幾個步驟:
使用“添加反射鏡”工具,在鏡面的初始位置設置反射鏡
使用“旋轉/偏心元件”工具,設置反射鏡面的掃描角度
將掃描角度設置為一個多重結構參數
根據使用需要,定義多個結構,對鏡面的掃描過程進行采樣
也可以利用優化菜單中的滑塊功能模擬鏡面的掃描運動
如果掃描鏡的旋轉點不在反射鏡表面上,則可使用坐標間斷面的厚度參數來定義旋轉點與鏡面表面的距離
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概述
這篇文章介紹了:
如何在序列模式下使用多重結構創建分光棱鏡
如何在布局圖以及分析/計算窗口中同時追跡透射和反射光線
在考慮偏振及鍍膜的影響下如何計算透射和反射光線的總能量
介紹
在OpticStudio中,分光棱鏡可以在序列或非序列追跡模式下模擬。
在非序列中,光線可以在折射表面上分裂為折射和反射光線。這也是非序列模式最主要的優勢
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本文旨在介紹如何在OpticStudio中模擬K-相關分布散射模型,并用實例分析將該模型與Harvey-Shack (ABg) 散射分布模型進行了比較。
簡介
表面微粗糙度引起的散射通常具有 K-相關模型 (K-correlation model) 的特征。該模型除了在小散射角區域有所不同外,與 Harvey-Shack (ABg) 模型十分相似。
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概述
這篇文章介紹了:
如何設置掃描鏡建模時所需要的坐標間斷面
如何利用多重結構編輯器設置多個掃描角度
如何對檢流計式的掃描鏡建模,其中鏡面繞其頂點旋轉
如何對多邊形幾何體式的掃描鏡建模,其中鏡面繞著一個偏心點旋轉
建立掃描鏡
在本文中我們將介紹如何設置一個光線90°反射的掃描鏡系統,其中反射鏡面以5°掃描角進行旋轉掃描
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概述
這篇文章介紹了什么是雙折射現象、如何在OpticStudio中模擬雙折射 (birefringence)、如何模擬雙晶體的雙折射偏振器以及如何計算偏振器的消光比。
什么是雙折射現象
一般的光學材料都是均勻的各向同性的,也就是說無論光從哪個方向穿過材料,其折射率都保持一致。對于單軸材料來說,例如方解石 (Calcite
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概要
OpticStudio中,有兩個用來提升散射模擬效率的工具:Scatter To List以及Importance Sampling。在這篇文章中,我們詳細討論了這兩個工具,并且以一個雜散光分析為例示范了如何使用Importance Sampling。
如何有效的模擬散射
對于絕大多數光學系統進行散射模擬是非常重要的,尤其在雜散光分析中散射模擬更是關鍵所在
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概述
在使用非序列時,對照明系統進行精確模擬的第一步總是要正確建立光源模型。OpticStudio 提供了多種精確模擬光源的方法。這篇文章介紹了如何在非序列模式下使用徑向光源 (Source Radial), 光源文件 (Source File) 以及通過建立其他復雜幾何體,來對led及其它復雜光源進行建模。
介紹
Zemax 感謝 Radiant
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概要
光學相干層析成像(OCT)系統是斷層成像系統,它通過圖像反射或散射出來的光來獲取被測物體橫截面或三維圖像。本文講述了光學相干層析成像(OCT)系統的設計,并探討了如何使用OpticStudio進行相干模擬。
簡介
光學相干層析成像(OCT)系統是斷層成像系統,它通過圖像反射或散射出來的光來獲取被測物體橫截面或三維圖像。盡管光線在
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概要
這篇文章介紹了如何模擬一個部分反射的表面,該表面會根據指定的散射分布對一部分入射光能量進行散射。本文介紹的示例包含部分吸收以及部分鏡面反射的情況。
簡介
使用 OpticStudio 非序列模式模擬散射和膜層的能力,我們可以模擬一個部分反射(或部分透射)的表面,該表面會根據指定的分布散射入射光能量的一部分。
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本文旨在介紹如何在OpticStudio中模擬K-相關分布散射模型,并用實例分析將該模型與Harvey-Shack (ABg) 散射分布模型進行了比較。
簡介
表面微粗糙度引起的散射通常具有 K-相關模型 (K-correlation model) 的特征。該模型除了在小散射角區域有所不同外,與 Harvey-Shack (ABg) 模型十分相似。
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