ansys怎么使用函數的案例
ANSYS中可以使用的數學函數
在ANSYS幫助系統中關于*SET命令的注釋下列出了ANSYS中可以使用的數學函數。所有這些數學函數均可以在ANSYS環境中使用，這些數學函數包括：
ABS(X) 求絕對值
ACOS(X) 反余弦
ASIN(X) 反正弦
ATAN(X) 反正切
ATAN2(X,Y) 反正切, ArcTangent of (Y/X) , 可以考慮變量X,Y 的符號
COS(X) 求余弦
COSH(X) 雙曲余弦
EXP(X) 指數函數
GDIS(X,Y) 求以X為均值,Y為標準差的高斯分布,在使用蒙地卡羅法研究隨機荷載和隨機材料參數時,可以用該函數處理計算結果
LOG(X) 自然對數
LOG10(X) 常用對數(以10為基)
MOD(X,Y) 求 X/Y的余數. 如果 Y=0, 函數值為 0
NINT(X) 求最近的整數
RAND(X,Y) 取隨機數,其中X 是下限, Y是上限
SIGN(X,Y) 取 X的絕對值并賦予Y的符號. Y>=0, 函數值為|X|, Y<0, 函數值為-|X|,.
SIN(X) 正弦
SINH(X) 雙曲正弦
SQRT(X) 平方根
TAN(X) 正切
TANH(X) 雙曲正切
展開 Ansys Zemax | 使用點擴散函數的衍射極限成像系統的分辨率
在本文中，我建議使用在 OpticStudio 中計算的點擴散函數 (PSF) 來客觀衡量這些成像系統的分辨率。文中介紹了重疊圖像（探測器）平面上兩個點的 PSF 的兩種方法。第一種方法使用多重結構編輯器，第二種方法使用圖像模擬工具。文中比較了這兩種方法，并討論了它們的優缺點。
簡介
成像系統的性能與其分辨率有關，但分辨率的定義各不相同。在超分辨率顯微鏡中，傅里葉環相關[1]用于評估分辨率。在衍射極限顯微鏡中，分辨率是用瑞利或斯派羅準則估算的[2]。在實踐中，這些系統的分辨率也可以用微粒測量，微粒選擇明顯小于預期分辨率，選定上述標準之一。這些微粒充當形成 PSF 的點發源，其尺寸給出了圖像分辨率的估計值，同樣，該尺寸根據其定義而變化。在本文中，我們使用 OpticStudio 中的 PSF 來更客觀地評估衍射極限成像系統的分辨率。
方法一：多重結構編輯器（相干成像）
顯微鏡設計
在整篇文章中，我使用了基于 TL4X-SAP 物鏡（4X，0.2 NA）和 TTL200 管鏡的顯微鏡設計，如圖1所示。這兩種透鏡都可由 THORLABS 網站以黑盒形式提供。
圖 1 - 由 THORLABS 的黑匣子元件組成的顯微鏡設計。放大倍數為 4X，數值孔徑 (NA) 為0.2。
我們使用“真實圖像高度”定義并指定了在 X 和 Y 半寬為6.656毫米的正方形上具有相等面積的五個視場，對應于物平面中的1.664毫米。視場由像面中具有2048x2048像素和13.312x13.312mm 2 物理尺寸的科學 CMOS (sCMOS) 探測器進行建模。這些探測器通常用于顯微鏡，可以在 Orca-Flash4.0 V3 (Hamamatsu) 或Zyla 4.2 plus (Andor) 等相機產品中找到。
展開 【ANSYS經驗技巧】- 學會使用變量數組函數（轉載）
很多人發帖詢問怎么定義函數，怎么定義數組，如何使用函數，看來這方面對于初學者確是一個難點，為了讓大家了解并利用此功能，本人根據自己的理解作出如下總結：
一．參數介紹
1．參數的概念和類型：
參數是指APDL中的變量與數組。
變量參數有兩種類型：數值型和字符型。
數組參數有三種類型：數值型，字符型，和表，表是一種特殊的數值型數組，允許自動進行線性差值。
在APDL中任何參數都不需要單獨聲明參數（不同于C語言）。數值型參數，無論整形還是實型都按照雙精度進行存儲，被使用但未被賦值的參數程序將默認一個接近0的極小值。字符型參數儲存字符串，賦值方法是將字符創括在一對單引號中（最大長度8個字符）。
2.參數命名規則
1）必須以字母開頭，長度不超過32個字符
2）只能包含字母，數值和下劃線。
3）一般不能以下劃線開頭，以下劃線開頭的參數為系統隱含參數，只用于GUI和宏中。
4）以下劃線結尾的參數用*STATUS命令或組列表顯示，用*DEL刪除。
5）不能使用宏專用的局部參數名：ARG1~ARG9和AR10~AR99.
6）不能使用*ABBR命令定義的縮寫。
7）不能使用ANSYS表示子（Lable）如TEMP,UX,PRES等等。
展開 Ansys Zemax | 使用點擴散函數的衍射極限成像系統的分辨率
在本文中，我建議使用在 OpticStudio 中計算的點擴散函數 (PSF) 來客觀衡量這些成像系統的分辨率。文中介紹了重疊圖像（探測器）平面上兩個點的 PSF 的兩種方法。第一種方法使用多重結構編輯器，第二種方法使用圖像模擬工具。文中比較了這兩種方法，并討論了它們的優缺點。
簡介
成像系統的性能與其分辨率有關，但分辨率的定義各不相同。在超分辨率顯微鏡中，傅里葉環相關[1]用于評估分辨率。在衍射極限顯微鏡中，分辨率是用瑞利或斯派羅準則估算的[2]。在實踐中，這些系統的分辨率也可以用微粒測量，微粒選擇明顯小于預期分辨率，選定上述標準之一。這些微粒充當形成 PSF 的點發源，其尺寸給出了圖像分辨率的估計值，同樣，該尺寸根據其定義而變化。在本文中，我們使用 OpticStudio 中的 PSF 來更客觀地評估衍射極限成像系統的分辨率。
方法一：多重結構編輯器（相干成像）
顯微鏡設計
在整篇文章中，我使用了基于 TL4X-SAP 物鏡（4X，0.2 NA）和 TTL200 管鏡的顯微鏡設計，如圖1所示。這兩種透鏡都可由 THORLABS 網站以黑盒形式提供。
圖 1 - 由 THORLABS 的黑匣子元件組成的顯微鏡設計。放大倍數為 4X，數值孔徑 (NA) 為0.2。
我們使用“真實圖像高度”定義并指定了在 X 和 Y 半寬為6.656毫米的正方形上具有相等面積的五個視場，對應于物平面中的1.664毫米。視場由像面中具有2048x2048像素和13.312x13.312mm2物理尺寸的科學 CMOS (sCMOS) 探測器進行建模。這些探測器通常用于顯微鏡，可以在 Orca-Flash4.0 V3 (Hamamatsu) 或Zyla 4.2 plus (Andor) 等相機產品中找到。
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一文讀懂怎么使用ANSYS中的遠端力
根據理論力學知識，我們可以使用力的平移定理，將力平移到軸上，使用一個力和一個力矩來等效這個偏移軸線的力，計算出的結果和使用
Remote Force完全一致，讀者可自行嘗試。
Workbench自問世以來，就以操作方便、易上手等優點，博取了大多數CAE工程師的青睞，無奈金無足赤，Workbench雖然優點眾多，也有很多缺點：Workbench就像一個黑匣子，我們輸入參數以后，雖然很容易就得到結果，但ANSYS是怎么處理、怎么計算的，我們很難知道，所以，還是要接受ANSYS經典版本（APDL）的洗禮。正如這個例子，通過Workbench雖然很容易就施加了遠端力，而且繪制了彎矩扭矩圖，但遠端力的作用原理，我們還需要ANSYS經典來進行理解。
為什么叫它“ANSYS經典”，因為經典終究是經典，無法被取代的，才是經典。
展開 ANSYS的熱分析模塊如何選擇使用，太多了，不知道怎么選
以上來源于網絡總結，個人總結起來就一句話：
優化對流散熱用CFD，優化熱傳導用ANSYS Mechanical
怎么解決ANSYS workbench材料工具箱Engineering data 灰色無法使用的問題
看到不少人提問，怎么解決下述問題
其實很簡單，打開engineering data頁面，點擊view 選項里面的 reset workspace即可。
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