射線
關(guān)注創(chuàng)建者：琳泓comsol 創(chuàng)建時間：2020-12-31
射線的視頻教程
Creo/Proe視頻教程-陣列實例-五星射線-一加一學(xué)院
學(xué)creo產(chǎn)品設(shè)計，到一加一學(xué)院 學(xué)習(xí)資料領(lǐng)取，加微信：creo11
免費 5分鐘 64播放
查看
AutoCAD小白入手教程（二）
AutoCAD小白入手教程（二） 課程適用人群：零基礎(chǔ)對CAD感興趣的用戶 內(nèi)容大綱： 1.點樣式、單點和多點繪制、定距等分對象、定數(shù)等分對象、直線的繪制 2.射線、構(gòu)造線、多線、多段線、圓的繪制 3.圓弧、橢圓、圓環(huán)、樣條曲線、矩形、正多邊形的繪制 4.小車座駕主視圖、左視圖、俯視圖 5.繪制機(jī)頂盒左側(cè)零件、7306滾動軸承零件
免費 1小時25分鐘 174播放
查看
射線的實例教程
萬 50萬
射線源壽命 終生 2年 2年 2年
由于X射線測厚儀的故障率高，備件價格和使用本錢高，對維護(hù)要求高，且需要定期更換射線管等實際情況。
射線是一種幾何圖形，大家都知道它是從一個指定點開向一個方向無限延伸的直線，那么在CAD中如何繪制射線呢？
1.啟動迅捷CAD編輯器，想要繪制射線，可以在菜單欄點擊【繪制】--【射線】。
2.在彈出的【射線】菜單中或是根據(jù)命令行中的提示，你可以查看到射線命令的選項：
平分（B）：垂直已知對象或平分已知對象繪制等分射線。
水平（H）：平行當(dāng)前UCS的X軸繪制水平射線。
垂直（V）：平行當(dāng)前UCS的Y軸繪制垂直射線。
角度（A）：指定角度繪制帶有角度的射線。
平行（P）：以指定距離將選取的對象偏移并復(fù)制，使對象副本與原對象平行。
3.選擇你需要繪制的射線內(nèi)容，選擇射線起點、方向，即可完成射線繪制。
根據(jù)以上內(nèi)容就可以完成CAD中的射線繪制，希望可以幫助到大家。
展開 圖1：X射線復(fù)消色差聚焦原理：折射透鏡和菲涅爾波帶片以特定間隔前后放置，色差相互糾正，三種不同的能量/波長的X射線可同時聚焦于點F。
在可見光領(lǐng)域，消色差和復(fù)消色差透鏡存在已有百年之久。而在X射線領(lǐng)域，直到2022年世界上首個消色差透鏡才剛剛問世。本文報道了該研究團(tuán)隊在消色差透鏡的工作基礎(chǔ)上，使用滿足特殊條件的菲涅爾波帶片 (FZP) 和復(fù)合折射透鏡 (CRL)，成功研制的世界上首個X射線復(fù)消色差透鏡系統(tǒng)。實驗顯示，該復(fù)消色差透鏡在7 keV到12 keV的能量范圍內(nèi)表現(xiàn)出良好的消色差效果，相比消色差透鏡，消色差范圍提高了四倍，可以更廣泛地應(yīng)用于折射和衍射透鏡的色差校正。
該研究開發(fā)的復(fù)消色差X射線透鏡系統(tǒng)由兩個相互獨立的光學(xué)元件組成：一個是雙光子聚合3D打印技術(shù)制造的復(fù)合折射透鏡，另一個是通過電子束光刻和金電鍍制造的菲涅爾波帶片，見圖2。
圖2. X射線復(fù)消色差透鏡的組成部分。a）3D打印的發(fā)散型CRL置于250納米厚的氮化硅膜上的光學(xué)顯微鏡圖像；b）復(fù)合折射透鏡和c）45度視角的波帶片的掃描電子顯微鏡圖像；d）復(fù)合折射透鏡（左下角）與火柴棒的對比。
在德國PETRA III同步輻射P06光束線上進(jìn)行的X射線掃描透射顯微成像和疊層成像測量結(jié)果顯示，該透鏡系統(tǒng)在7至12 keV的X射線能量范圍內(nèi)表現(xiàn)出極佳的消色差性能，見圖3。
圖3：Siemens星測試樣品在不同能量X射線束中的掃描透射顯微圖像 (樣品在光軸上位置無變化)。圖中展示了兩個不同的FZP-CRL分離距離d。
相比前述報道的初代X射線消色差透鏡，復(fù)消色差透鏡的有效能量范圍提高了四倍。
展開 來源：嘉峪檢測網(wǎng)、化學(xué)分析計量
X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時,該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生特有的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點。因此,X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法,已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。
XRD原理
X射線同無線電波、可見光、紫外線等一樣,本質(zhì)上都屬于電磁波,只是彼此之間占據(jù)不同的波長范圍而已。X射線的波長較短,大約在10-8～10-10cm之間。X射線分析儀器上通常使用的X射線源是X射線管,這是一種裝有陰陽極的真空封閉管（見圖1）,在管子兩極間加上高電壓,陰極就會發(fā)射出高速電子流撞擊金屬陽極靶,從而產(chǎn)生X射線。當(dāng)X射線照射到晶體物質(zhì)上,由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成,這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級,故由不同原子散射的X射線相互干涉,在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線衍射,衍射線在空間分布的方位和強(qiáng)度,與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)不同的晶體物質(zhì)具有自己獨特的衍射樣,這就是X射線衍射的基本原理。
當(dāng)一個外來電子將K層的一個電子擊出成為自由電子（二次電子），這是原子就處于高能的不穩(wěn)定狀態(tài)，必然自發(fā)地向穩(wěn)態(tài)過渡。此時位于外層較高能量的L層電子可以躍遷到K層。能量差ΔE=EL-EK=hν將以X射線的形式放射出去，其波長λ＝h/ΔE必然是個僅僅取決于原子序數(shù)的常數(shù)。這種由L→K的躍遷產(chǎn)生的X射線我們稱為Kα輻射，同理還有Kβ輻射，Kγ輻射。不過應(yīng)當(dāng)知道離開原子核越遠(yuǎn)的軌道產(chǎn)生躍遷的幾率越小，所以高次輻射的強(qiáng)度也將越來越小。
展開 大家對能夠進(jìn)行樣品的微區(qū)結(jié)構(gòu)與形貌分析的掃描電子顯微鏡（SEM）和透射電子顯微鏡（TEM）都不陌生，而與之相關(guān)的利用特征X射線具有特征能量這一原理設(shè)計的用于成分分析的能量色散X射線譜儀（EDS），因為不常用，所以可能就沒那么熟悉了。而今天，小編就給大家講講，EDS的那些事兒！
一、EDS所用信號：
高速運動的電子束轟擊樣品表面，電子與元素的原子核及外層電子發(fā)生單次或多次彈性與非彈性碰撞，有一些電子被反射出樣品的表面，其余的滲入樣品中，逐漸失去其動能，最后被阻止，并被樣品吸收。在此過程中有99％以上的入射電子能量轉(zhuǎn)變成熱能，只有約1％的入射電子能量從樣品中激發(fā)出各種信號。其中，特征X射線是高能電子激發(fā)原子的內(nèi)層電子，使原子處于不穩(wěn)定態(tài)，從而外層電子填補(bǔ)內(nèi)層空位使原子趨于穩(wěn)定的狀態(tài)，在躍遷的過程中，直接釋放出具有特征能量和波長的一種電磁輻射，即特征X射線。
圖1：高能電子轟擊樣品表面所能產(chǎn)生的各種信號
二、能量色散X射線譜儀（EDS）的結(jié)構(gòu)與工作原理
不同元素發(fā)射出來的特征X射線能量是不相同的，利用特征X射線能量不同而進(jìn)行的元素分析稱為能量色散法。所用譜儀稱為能量色散X射線譜儀（EDS），簡稱能譜儀。
圖2：能譜儀結(jié)構(gòu)及工作原理
X射線能譜儀的主要構(gòu)成單元是Si(Li)半導(dǎo)體檢測器，即鋰漂移硅半導(dǎo)體檢測器和多道脈沖分析器。能量為數(shù)千電子伏特的入射電子束照射到樣品上，激發(fā)出特征X射線，通過Be窗直接照射到Si(Li)半導(dǎo)體檢測器上，使Si原子電離并產(chǎn)生大量電子-空穴對，其數(shù)量與X射線能量成正比。
展開 
射線的最新內(nèi)容
高電壓激發(fā)（如Vanta Max）：部分高端型號配備了55 kV的鎢靶或銀靶X射線管，能夠激發(fā)原子序數(shù)更高的元素，為稀土元素檢測和地質(zhì)勘探提供了必要的激發(fā)能量。
產(chǎn)品分級：從廢鋼回收到地質(zhì)勘探的精準(zhǔn)覆蓋
Evident根據(jù)檢測精度和應(yīng)用深度的不同，將Vanta系列進(jìn)行了精細(xì)化的產(chǎn)品分層，以適應(yīng)不同用戶的預(yù)算與需求。
菲涅爾波帶片可用于不同的波長，因此其在X射線成像、光譜學(xué)、攝影和望遠(yuǎn)鏡等許多應(yīng)用中極具價值。
衍射分束器
衍射分束器是將入射光光束分成多個光束輸出或衍射級次的光柵。每個輸出光束都保留與輸入光束相同的光學(xué)特性。這類器件通常用于激光等設(shè)備中的單色光，并針對特定的波長和衍射角進(jìn)行設(shè)計。
</div><div contenteditable="false" width="100%">Vanta Element-S（升級版）： 針對輕元素進(jìn)行了硬件優(yōu)化（SDD探測器+銀靶X射線管），能精準(zhǔn)區(qū)分303與304不銹鋼等相似合金，有效防止因雜質(zhì)元素超標(biāo)導(dǎo)致的材料失效。
Wabtec（原奧林巴斯科學(xué)部門）推出的Vanta系列手持式X射線熒光（XRF）分析儀，通過將實驗室級的分析能力集成于堅固便攜的手持設(shè)備中，徹底改變了這一現(xiàn)狀。該系列設(shè)備不僅實現(xiàn)了對從鎂（Mg）到鈾（U）全元素范圍的精準(zhǔn)檢測，更憑借其卓越的耐用性和智能化的數(shù)據(jù)處理能力，成為了工業(yè)現(xiàn)場質(zhì)量控制（QC）與材料可靠性鑒別（PMI）的標(biāo)桿工具。
氣動提升閥主要用在哪些場合？1個月前
諾冠專為醫(yī)療領(lǐng)域開發(fā)的微型提升閥，部分型號直徑小于10mm，卻能實現(xiàn)短至5ms的快速啟閉，這種極速響應(yīng)能力，使能夠精準(zhǔn)匹配患者的呼吸節(jié)律，確保治療過程的安全與舒適，此外在樣本處理機(jī)器人中，諾冠提升閥通過精確控制試劑輸送氣路，有效避免了交叉污染，產(chǎn)品通過ISO13485認(rèn)證，支持環(huán)氧乙烷（EtO）或伽馬射線滅菌，完全符合醫(yī)療器械的嚴(yán)苛標(biāo)準(zhǔn)。
技術(shù)原理
工業(yè)CT檢測基于X射線穿透原理，通過高能射線穿透被測工件，根據(jù)材料密度、厚度與原子序數(shù)的差異形成射線衰減信號。
探測器采集工件不同角度的二維投影數(shù)據(jù)后，通過 FDK 重建法等核心算法完成三維建模，生成可任意剖切、測量的體素模型，實現(xiàn)工件內(nèi)部結(jié)構(gòu)的 1:1 可視化還原。
2.
隨后，利用X射線熒光光譜儀（XRF）對化鎳金鍍層厚度進(jìn)行了精準(zhǔn)測量。
金層厚度：0.015～0.022 μm
鎳層厚度：3.43～3.65 μm
初步判定： 整體鍍層厚度均偏薄，這可能為后續(xù)的氧化失效埋下了隱患。
2.
醫(yī)療自動化設(shè)備：安全與可靠的守護(hù)
在呼吸機(jī)、麻醉機(jī)、體外診斷（IVD）設(shè)備等醫(yī)療儀器中，氣動系統(tǒng)必須滿足嚴(yán)格的生物兼容性與可靠性標(biāo)準(zhǔn)，諾冠專為醫(yī)療領(lǐng)域開發(fā)的微型提升閥，體積小巧（部分型號直徑小于10mm），通過ISO13485認(rèn)證，支持環(huán)氧乙烷（EtO）或伽馬射線滅菌。
這個使用用例展示了…
均勻性檢測器
均勻性檢測器的編輯對話框
探測器功能：相干參數(shù)
探測器功能：光瞳參數(shù)
探測器功能：光瞳位置
基于中心射線的光瞳位置示例
基于光瞳在網(wǎng)格上的位置的光瞳位置的示例
均勻性檢測器輸出
均勻度檢測器圖輸出
均勻性檢測器輸出示例
文件信息
更多閱覽
-
二、醫(yī)療自動化設(shè)備：安全可靠的氣路控制
在呼吸機(jī)、麻醉機(jī)、體外診斷（IVD）設(shè)備等醫(yī)療儀器中，氣動系統(tǒng)需滿足嚴(yán)格的生物兼容性與可靠性標(biāo)準(zhǔn)，諾冠專為醫(yī)療領(lǐng)域開發(fā)的微型提升閥，不僅體積小巧（部分型號直徑小于10mm），還通過ISO 13485認(rèn)證，支持環(huán)氧乙烷（EtO）或伽馬射線滅菌，快速啟閉特性（響應(yīng)時間可短至5ms）能精準(zhǔn)匹配患者呼吸節(jié)律，保障治療安全，此外在樣本處理機(jī)器人中，提升閥用于控制試劑輸送氣路
