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(a) 表面反射光柵 (b) 體積全像光柵 圖1(b)所示的VHG是通過(guò)在感光材料薄膜上曝光兩個(gè)或多個(gè)光束來(lái)製造。然後將薄膜進(jìn)行化學(xué)或熱顯影：這就是光柵。光柵上的表面是光滑的，但光柵內(nèi)部的折射率是正弦調(diào)變的。為了對(duì)VHG進(jìn)行建模，需要使用高效的Kogelnik理論或嚴(yán)格耦合波分析（RCWA）等算法。

後表面可以是平面、球面、圓錐面、多項(xiàng)式非球面或環(huán)形表面。這使得陣列中透鏡元件表面形狀的定義和優(yōu)化具有了極大的靈活性。下圖顯示了透鏡陣列1物體，它是由7 x 5個(gè)矩形透鏡組成的透鏡陣列，每個(gè)矩形透鏡都可以看作一個(gè)球面透鏡的矩形區(qū)域。其它可以用於該應(yīng)用程式的物體包括透鏡陣列2物件和六邊形透鏡陣列(Hexagonal Lenslet Array)物件。

代表性的OCT系統(tǒng)如下所示。 光束應(yīng)均勻地分成兩臂，其中一個(gè)在樣品體積上會(huì)聚，以最小化給定掃描的照射面積。 光源應(yīng)為一束準(zhǔn)直的寬帶光束；大帶寬意味著低相干性和高精度定位產(chǎn)生相干性的深度。深度掃描也稱為軸向掃描或A掃描，它根據(jù)反射到樣品中的距離來(lái)測(cè)量反射光的強(qiáng)度。

許多設(shè)計(jì)過(guò)程需要兩種不同的光學(xué)理論/算法來(lái)分別處理光束在自由空間和微結(jié)構(gòu)中的傳播，而其他一些過(guò)程僅使用純光線追跡來(lái)達(dá)到目標(biāo)。由於模擬技術(shù)發(fā)展迅速，因此本文可能沒(méi)有涵蓋所有可用方法。如果用戶提供新訊息或有任何要求，請(qǐng)隨時(shí)與我們聯(lián)繫，我們可以相應(yīng)地更新本文。

上，最好是分散到幾個(gè)node上以pressure的方式等效施加</p><p>2.在容易出現(xiàn)大變形的地方將網(wǎng)格refine</p><p>3.使用全積分元素=&amp;gt;全積分元素沒(méi)有Hourglassing問(wèn)題，但計(jì)算速度慢且還有其他問(wèn)題，是最不建議的作法</p><p>1 采用全積分單元</p><p>2 使用均勻網(wǎng)格，避免采用單點(diǎn)集中載荷)</p><p>3 全局增加模型的彈性剛度</p><p>全積分單元比減縮積分單元更容易出現(xiàn)負(fù)體積

此文件夾的位置顯示在文件選項(xiàng)中..項(xiàng)目偏好...文件夾：Ince-Gaussian 模態(tài)對(duì)於具有橢圓對(duì)稱增益孔徑的雷射腔設(shè)計(jì)，近軸波動(dòng)方程的適當(dāng)解由 Ince-Gaussian 模態(tài)提供。這些模態(tài)的電場(chǎng)分佈可以寫(xiě)成 Ince 多項(xiàng)式。 Miguel A. Bandres 和 Julio C.

此鏡片的屈光率為-3.00D，並能在距透鏡40公分處匯聚光線，形成適宜的閱讀距離。鏡片的基本曲線則是+28D。任何嘗試控制畸變的設(shè)計(jì)都將產(chǎn)生十分陡峭的基本曲線。因此很明顯的，對(duì)於一個(gè)已知屈光率的鏡片，在不參考任何配戴者或使用環(huán)境等相關(guān)條件的情況下，我們無(wú)法製造出擁有最佳成像品質(zhì)的光學(xué)設(shè)計(jì)。

探測(cè)器檢視器(Detector Viewer)可以顯示探測(cè)器上輻射特性的測(cè)量結(jié)果，但它不顯示從雷射雷達(dá)光源返回到雷射雷達(dá)探測(cè)器的光線經(jīng)過(guò)的距離。這就是ZOS-API派上用場(chǎng)的時(shí)候！自訂分析可以顯示探測(cè)器到物體的距離資料，從而反映飛行時(shí)間的資訊。使用光線資料庫(kù)檢視器讀取ZRD檔光線的路徑長(zhǎng)度可以在ZRD檔中讀取，這些檔是光線資料庫(kù)檔。

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