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此方法僅在DOE的特徵尺寸不太接近波長尺度（矢量繞射效果很強）時才有效。因此，該方法不適用於超穎透鏡。參考文獻[4]中討論了一個很好的例子，其中DOE矢高由產生像菲涅耳 (Fresnel)透鏡的閃耀結構的方程式描述。除了功能大小的限制之外，此方法的另一個缺點是設計人員可能仍需要定制一些工具來增強OpticStudio提供的功能。

負折射 是將光彎向“錯誤”方向的一種反直覺的物理現象，最早由俄國物理學家Veselago提出，即當光波跨過界面時，光波的折射與常規折射相反，折射波和入射波位于界面法線同一側。上世紀末，英國物理學家J.Pendry利用超材料首次在實驗上實現了負折射現象。近幾十年來，科學家利用超材料中的負折射效應在亞波長成像和隱身等方面取得了重要進展。

然而，這個結論是根據我們的設計流程而來的，基於平面入射波、視場角與其權重、透鏡與眼睛旋轉中心的距離、一些像差的忽略 (尤其是對畸變的忽略)，以及其他更多的假設。在一般的認知中，以上的方法並不能產生具有“最佳形態”或是“校正曲線”的透鏡，意思是無法製造出能完美修正像差，同時又可配合所有鏡片屈光率的微小基本曲線半徑。可產生最佳成像品質的鏡片設計會根據配戴者和視覺環境的不同而存在極大的差異。

這表明發生了重大變化。代表性的OCT系統如下所示。 光束應均勻地分成兩臂，其中一個在樣品體積上會聚，以最小化給定掃描的照射面積。 光源應為一束準直的寬帶光束；大帶寬意味著低相干性和高精度定位產生相干性的深度。深度掃描也稱為軸向掃描或A掃描，它根據反射到樣品中的距離來測量反射光的強度。

一方面，通過引入超分辨率的受激輻射損耗(STED)技術，在傳統直寫光刻光路中引入一束激光對光敏材料的聚合反應進行抑制，能夠穩定地制造尺度小于100nm的結構，且制造精度和一致性顯著提高。