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膜層本身不用光線追跡來(lái)處理，而用不同的函數(shù)來(lái)操作。對(duì)於光線追跡，光學(xué)相位的超前或延遲都是沿著光線觀察的。Zemax OpticStudio直接追跡光線到基板的位置，忽略中間的膜層及其厚度。膜層被假設(shè)鍍?cè)诨灞砻嬷啊Ｕ_計(jì)算光線的相位需要把電場(chǎng)逆向傳播到薄膜起始的位置，並且修正薄膜的相位計(jì)算方式為沿著光線方向，而不是表面法向量方向。

或者，參考文獻(xiàn)[3]顯示了如何使用Lumerical FDTD軟體為給定的相位曲線設(shè)計(jì)超穎透鏡。這種方法的缺點(diǎn)是設(shè)計(jì)人員可能無(wú)法檢查整個(gè)系統(tǒng)的性能。例如，沒(méi)有辦法考慮所有繞射階數(shù)來(lái)檢查點(diǎn)擴(kuò)展函數(shù)（PSF）。類似地，儘管可以追蹤“非有效”的順序光線，但沒(méi)有計(jì)算出繞射效率，因此沒(méi)有辦法知道雜散光路中的功率比。

此鏡片的屈光率為-3.00D，並能在距透鏡40公分處匯聚光線，形成適宜的閱讀距離。鏡片的基本曲線則是+28D。任何嘗試控制畸變的設(shè)計(jì)都將產(chǎn)生十分陡峭的基本曲線。因此很明顯的，對(duì)於一個(gè)已知屈光率的鏡片，在不參考任何配戴者或使用環(huán)境等相關(guān)條件的情況下，我們無(wú)法製造出擁有最佳成像品質(zhì)的光學(xué)設(shè)計(jì)。

為了考慮厚度變化的影響，我們首先將光柵向量分成兩個(gè)分量，K∥和K⊥，其中K⊥為垂直表面法線，K∥與表面法線平行。如果厚度從t到t'發(fā)生變化，則可以透過(guò)修改K∥計(jì)算出新的光柵向量，如方程式（4）。圖 4. 當(dāng)全像材料收縮時(shí)，厚度從t 減少到 t'。我們現(xiàn)在已經(jīng)介紹了體積全像圖模型的基礎(chǔ)知識(shí)。

但假如在其他情況下，使用具有’偏振使用(Use Polarization)’選項(xiàng)，卻又無(wú)法直接鍵入光線的偏振態(tài)的分析功能時(shí)(像是Huygens PSF)，我們需要透過(guò)System Explorer... Polarization更改全域的偏振態(tài)設(shè)定。

Chong 先生指出：「由於憑傳統(tǒng)經(jīng)驗(yàn)和直覺(jué)的設(shè)計(jì)方式已經(jīng)無(wú)法完全掌握日新月異的產(chǎn)品，因此以嚴(yán)謹(jǐn)?shù)?CAE 分析計(jì)算來(lái)決定模具設(shè)計(jì)品質(zhì)已成為該公司的絕佳競(jìng)爭(zhēng)力和業(yè)務(wù)著力點(diǎn)，模流分析結(jié)果更是有效說(shuō)服客戶修改設(shè)計(jì)的優(yōu)質(zhì)工具。」

該模型從鄭鈞Adam老師的Abaqus線性動(dòng)力&噪音分析詳解(理論及實(shí)作) Abaqus 線性 動(dòng) 力 & 噪音分析詳解 ( 理論及實(shí)作 ) 視頻教程 _ 培訓(xùn)課程 - 技術(shù)鄰 (jishulink.com) 下載獲得。由于卡車(chē)為對(duì)稱模型，所以只用建一半模型，聲音到了對(duì)稱面將全反射，但和結(jié)構(gòu)分析不同，聲學(xué)有限元邊界默認(rèn)全反射，所以在此對(duì)稱面無(wú)需任何額外設(shè)置。

為了考慮厚度變化的影響，我們首先將光柵矢量分成兩個(gè)分量，K∥和K⊥，其中K⊥為垂直表面法線，K∥與表面法線平行。如果厚度從t到t'發(fā)生變化，則可以通過(guò)修改K∥計(jì)算出新的光柵矢量，如方程式（4）。圖 4. 當(dāng)全像材料收縮時(shí)，厚度從t 減少到 t'如何在序列模式下進(jìn)行設(shè)置I在本節(jié)中，我們將介紹如何在序列模式下設(shè)置全息。同時(shí)也討論了需要注意的事項(xiàng)。