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ZEMAX軟件技術應用專題:如何為光學相干斷層掃描系統建模
透過以x或y方向旋轉掃描鏡來執行橫向,橫向或b掃描,從而在整個樣品區域上平移探
測
光束。我們從商用OCT系統中獲取目標規格。 軸向分辨率完全來自光源特性,應在5μm的數
量
級上。 來自樣品處光束
半
徑
的橫向分辨率應為15μm。800 nm範圍內的光將用於避免組織中的高吸收,這會限制穿透。光源規格OCT將干涉
測
量
技術與寬帶近紅外光結合使用。
2221
w**elab86_Swsp
??? 3年前
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