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各家製造商塑膠材料的折射率各有不同，除了因為結構本身的差異之外，各種不同的添加物也會造成影響，例如UV吸收劑、塑化劑、脫模劑。此外，射出成型的流程參數也都有影響。因此，材料供應商以及鏡片製造商通常都會提供精度超過小數點後兩位的折射率資料。然而除了單一波長的折射率以及阿貝數 (Abbe Number) 外，通常就不會有更多相關資料了。

在模擬的過程中，會將入射光因為元件表面鍍膜、反射和吸收而造成的能量損耗納入考量。一般的情況下，OpticStudio可以對大多數的鍍膜或雙折射材料進行完整的分析。但有時因為分類數據報告(Prescription data)不夠齊全，在進行模擬時會需要簡化後的模型。舉例而言，當我們無法得到真實的鍍膜資訊時，OpticStudio中的理想(IDEAL)和表定(TABLE)鍍膜設定就可以派上用場。

某個角度的一道入射平面波會在下面兩個介面中反覆交錯無數次：空氣到膜層介面以及膜層到基板介面。在每一次的交錯中，就相應產生一道穿透以及一道反射光場，最後這些光場會在同調的假設下相加。經過一番如魔術般建設性以及破壞性干涉後，最後的結果可以用巨觀的反射以及穿透係數來表示。入射光的電場並非用單一個點來描述，相對的，我們會假設該電場比多重光束干涉發生的區域更大許多。

將超穎透鏡之後的電場輸出導出為ZBF檔，然後將其進一步導入OpticStudio POP中以評估最終的PSF。但是，當超穎透鏡置於透鏡之間並且入射光束不是平面波前時，設計人員可以使用POP中的平面波開始模擬。光束在POP中傳播到超穎透鏡的前端，並作為ZBF檔導出。然後將ZBF作為光源導入FDTD，並透過超穎透鏡進行傳播。其餘過程與前面討論的相同。

隨著 e 接近 ∞，當由 Ince-Gaussian DLL 計算的特徵值解發散時，就會到達一個點。這種發散行為是計算算法的限制。當達到發散點時，Ince-Gaussian DLL 產生的結果變得不準確。不幸的是，對於唯一的 e 值，這一點不會出現（還依賴於 p、m 和光束極性）。但是，確定何時產生不同的解決方案很簡單。

設計變更的主導權，已大幅度的由傳統式的只做代工向上提升，每一批模具代工至少有一半以上的模具，是由 Tokyo Seiki 主導修改產品設計，例如最近接手的印表機組件的流道不平衡問題，以及某知名國際相機廠牌的產品翹曲改良。對癥下藥，增加產品強度：流動平衡與結合線問題改良流動平衡目的是避免成品後所發生變形的主要改善方案，尤其針對精密性產品，在分析過程中常以流動平衡指數來作為比較數據。

波前的計算當我們說波前時，事實上通常是指波前 “差”，或是光程差，指的是同一件事。OpticStudio預設使用出瞳作為波前差的計算參考。因此，當我們要計算一條光線的OPD時，此光線會從物面出發後一路追跡穿過光學系統，最終到達像面後，在循原方向後退追跡到 “參考球面”。此參考球面的球心是主光線與像面的交點，半徑是主光線與像面交點到主光線與出瞳面的焦點。

如圖，零序方向電流保護I段或II段動作后，先經較短延時t1或t3跳母聯或跳本側開關，以縮小故障影響范圍，若故障量仍在，再經過較長延時t2或t4跳三側開關切除變壓器。III段不帶方向，直接經延時切除變壓器。（2）中性點不接地方式零序電流通過變壓器中性點構成零序回路。但如果所有變壓器中性點都接地，那么接地點的短路電流就分流到了各個變壓器上，這樣會造成零序過流保護靈敏度降低。

但是, 當單相接地的零序電流流過高壓側繞組時，所產生的零序磁勢不能被二次磁勢所平衡，同方向的零序磁通又不能在三柱式鐵心內形成回路，從而使得大量的零序磁通只能經過夾件、油和油箱本體而形成閉合回路，從而在油箱及夾件內引起附加損耗，以致形成局部過熱，使變壓器容量的利用受到限制。

但是, 當單相接地的零序電流流過高壓側繞組時，所產生的零序磁勢不能被二次磁勢所平衡，同方向的零序磁通又不能在三柱式鐵心內形成回路，從而使得大量的零序磁通只能經過夾件、油和油箱本體而形成閉合回路，從而在油箱及夾件內引起附加損耗，以致形成局部過熱，使變壓器容量的利用受到限制。

但是, 當單相接地的零序電流流過高壓側繞組時，所產生的零序磁勢不能被二次磁勢所平衡，同方向的零序磁通又不能在三柱式鐵心內形成回路，從而使得大量的零序磁通只能經過夾件、油和油箱本體而形成閉合回路，從而在油箱及夾件內引起附加損耗，以致形成局部過熱，使變壓器容量的利用受到限制。

對於薄的全像，其他繞射階數的效率可能不為零，如-1 -2 +2 -3 +3 ...。這些額外階數不在耦合波理論的考慮中。 多重光柵 (multiplex): 全像中只能同時存在一組光柵。Kogelnik的方法不允許多於一個光柵重疊在一個區域。 雙折射材料: 全像的材料被認為是均向性的。不允許使用雙折射材料。

但是，當電網發生故障時，只在短時間內通過故障電流，中性點經小電阻接地電網發生單相接地故障時，高靈敏度的零序保護判斷并短時切除故障線路，接地變只在接地故障至故障線路零序保護動作切除故障線路這段時間內起作用，其中性點接地電阻和接地變才會通過IR= （U為系統相電壓，R1為中性點接地電阻)的零序電路.接地電弧不能可靠熄滅，就會產生的后果1.

但水不可於按鍵觸摸盤上形成“水柱”，若如此則如同手按鍵一般，會有 按鍵承認輸出。 6 內建 LDO 及抗電源雜訊的處理程序，對電源漣波的干擾有很好的耐受能力。 7 不使用的按鍵請接地，避免太過靈敏而產生誤動。

造成10kV母線接地告警的接地相不是同一相，A、B、C三相在故障前均出現單相接地，接地相具有隨機性；06:01:25和06:14:45接地電壓幅值比0較大，判斷該種接地信息不應為真正單相接地，而為“虛幻接地”[4]。 表2 L站接地信息表文[5]指出，虛幻接地主要是由電壓互感器飽和程度不同引起的，造成中性點電壓位移（即中性點電壓U0≠0），對外表現為接地現象。

造成10kV母線接地告警的接地相不是同一相，A、B、C三相在故障前均出現單相接地，接地相具有隨機性；06:01:25和06:14:45接地電壓幅值比0較大，判斷該種接地信息不應為真正單相接地，而為“虛幻接地”[4]。 表2 L站接地信息表文[5]指出，虛幻接地主要是由電壓互感器飽和程度不同引起的，造成中性點電壓位移（即中性點電壓U0≠0），對外表現為接地現象。

雷射雷達會將接收到返回信號花費的時長記錄下來，即飛行時間，並將飛行時間轉換為距離。圖元的位置可表明入射光的方向。這兩個值都表明散射光線來自站在離貨車10米遠的紅色行人。OpticStudio實際上測量的不是時間，而是光線路徑長度，也就是物體和探測器之間的距離。

RCD的原理如下： 未發生單相接地故障時，三相電流合并N線電流后的相量和為零。當發生漏電后，某相電流會增加，并且漏電流經過地網返回電源，則N線電流依然與先前一致。于是，零序電流互感器的磁路中會出現磁通，其測量繞組中當然會出現電流，并驅動檢測和控制部件使得前接斷路器執行漏電保護動作。 RCD的動作電流可以在30毫安以下，有效地保護了人身安全。

功能概觀一般而言，塑化螺桿包含塑料輸送段、過渡段，及計量段，如下圖所示。實體塑件會輸送至塑料輸送段。隨著螺桿的動作及從料管加熱，當從塑料輸送段移至計量段時，會傳輸並逐漸熔化塑料。熔化塑件的主要驅動力是在整個塑化製程中塑件的電熱與黏滯加熱。此製程的輸出是螺桿特性與模具特性之間平衡的結果（在螺桿尾端）。

二、零序電流保護和剩余電流保護的比較（一）零序電流：In = Iu + Iv + Iw1. 由上述公式可知零序電流是三相電流的相量和，因此，零序電流保護只可以用在三相回路中，而單相回路繞行。2. 當線路處于正常工作的時候，會產生三相不平衡電流和諧波電流，這些統統會反映在中性線上。只要一出現接地故障，電流會有十分明顯的上升。