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光學(xué)相干斷層掃描（OCT）是一種斷層成像系統(tǒng)，可以根據(jù)從圖像反射或散射的光生成橫截面或三維圖像。 醫(yī)用組織成像是該系統(tǒng)的最典型應(yīng)用，因?yàn)镺CT安全且具有高分辨率，儘管光可以穿透的深度限制在毫米量級(jí)。OCT測(cè)量系統(tǒng)依賴於邁克森干涉儀 (Michelson interferometer)，使得從參考物反射的光與樣品之間的相干性表明散射光源自樣品中與參考鏡的位置相對(duì)應(yīng)的深度。

與VHG不同，SRG沒有空間變化的折射率。相反，光柵的表面是由周期性的微結(jié)構(gòu)組成的。為了對(duì)SRG進(jìn)行建模，需要採用類似傅里葉模態(tài)法（也叫RCWA）的算法。本文將介紹VHG的工具。關(guān)於SRG的工具，請(qǐng)參見知識(shí)庫文章Simulating diffraction efficiency of surface-relief grating using the RCWA method。

摘要 在干涉儀中，條紋的對(duì)比度可能取決于光源的相干特性。例如，在具有一定帶寬的光源的邁克爾遜干涉儀中，干涉條紋對(duì)比度隨光程差的不同而變化。通過測(cè)量可動(dòng)鏡不同位置的干涉圖對(duì)比度，可以得到光源的相干長度。典型的傅里葉變換光譜通常基于這種類型的光路。

LiDAR（光探測(cè)和測(cè)距）是一種感測(cè)器技術(shù)，可通過測(cè)量發(fā)射光從周圍物體反射並返回到接收器所需的時(shí)間來幫助創(chuàng)建環(huán)境的3D數(shù)字地圖。這種3D映射作為自動(dòng)駕駛汽車的關(guān)鍵使能技術(shù)在汽車行業(yè)變得越來越重要。在汽車行業(yè)之外，LiDAR用於移動(dòng)設(shè)備，用於增強(qiáng)現(xiàn)實(shí)、測(cè)量距離以及模糊照片和影片中的背景等功能。

摘要眾所周知，在干涉儀中，條紋對(duì)比度可能取決于光源的相干性。例如，在配有一定帶寬源的邁克爾遜干涉儀中，干涉條紋對(duì)比度隨著兩臂之間的光程差的增加而減小。通過測(cè)量可移動(dòng)反射鏡在不同位置的干涉圖對(duì)比度，可以得出光源的相干長度。典型的傅立葉變換光譜學(xué)通常是基于這類光學(xué)裝置。

摘要 眾所周知，在干涉儀中，條紋對(duì)比度可能取決于光源的相干性。例如，在配有一定帶寬源的邁克爾遜干涉儀中，干涉條紋對(duì)比度隨著兩臂之間的光程差的增加而減小。通過測(cè)量可移動(dòng)反射鏡在不同位置的干涉圖對(duì)比度，可以得出光源的相干長度。典型的傅立葉變換光譜學(xué)通常是基于這類光學(xué)裝置。

摘要 眾所周知，在干涉儀中，條紋對(duì)比度可能取決于光源的相干性。例如，在配有一定帶寬源的邁克爾遜干涉儀中，干涉條紋對(duì)比度隨著兩臂之間的光程差的增加而減小。通過測(cè)量可移動(dòng)反射鏡在不同位置的干涉圖對(duì)比度，可以得出光源的相干長度。典型的傅立葉變換光譜學(xué)通常是基于這類光學(xué)裝置。

摘要眾所周知，在干涉儀中，條紋對(duì)比度可能取決于光源的相干性。例如，在配有一定帶寬源的邁克爾遜干涉儀中，干涉條紋對(duì)比度隨著兩臂之間的光程差的增加而減小。通過測(cè)量可移動(dòng)反射鏡在不同位置的干涉圖對(duì)比度，可以得出光源的相干長度。典型的傅立葉變換光譜學(xué)通常是基于這類光學(xué)裝置。

Alvarez變焦的一般表示及其與傳統(tǒng)光學(xué)變焦的比較我們的 Alvarez 變焦鏡頭的核心是無焦伽利略系統(tǒng)。第一對(duì)Alvarez鏡組代表伽利略系統(tǒng)的物鏡，而第二對(duì)Alvarez鏡組代表目鏡。要了解更多資訊，您可以在 MyZemax.com 找到以下文章，這些文章將介紹如何在 OpticStudio 中對(duì) Alvarez 變焦鏡頭進(jìn)行建模並查看真實(shí)範(fàn)例！

相干標(biāo)量場(chǎng)分析 新光線合成之后，它們可以通過系統(tǒng)被追跡，而沒有相干光線錯(cuò)誤，所得到的場(chǎng)可以分析。相干光場(chǎng)的能量、相位和波前可以用相干標(biāo)量場(chǎng)分析工具進(jìn)行研究。圖9顯示了具有用紅色框出的可用繪圖選項(xiàng)的標(biāo)量場(chǎng)菜單。它也給出了用于顯示和輸出圖像、縮放數(shù)據(jù)、平滑和修改圖像數(shù)據(jù)、顯示圖像統(tǒng)計(jì)和執(zhí)行一個(gè)傅立葉變換的選項(xiàng)。圖10顯示了在擴(kuò)束器輸出處的場(chǎng)能量、相位和波前。

單個(gè)光學(xué)元件的表面形狀可以是球面或變形（垂直和水準(zhǔn)子午線的光焦度不同）。光焦度通常僅在陣列的一個(gè)表面上，而第二個(gè)表面通常是平面的。在 OpticStudio 中對(duì)此設(shè)置進(jìn)行建模的最簡(jiǎn)單方法之一是使用陣列物件 (array object)。提供的範(fàn)例，選擇了 Lenslet Array 1 物件， 它由矩形體陣列組成，每個(gè)矩形體的前表面為平面，後表面為使用者自訂數(shù)目的重複曲面。

在像差方面，彗差會(huì)隨視場(chǎng)角的變化而線性增加，而像散則是呈二次方增加。但人眼系統(tǒng)具有相對(duì)較小的光瞳尺寸，因此在此類系統(tǒng)的設(shè)計(jì)上，一般會(huì)認(rèn)為球差和彗差並不十分重要。同理，其餘的像差在此也可先行忽略。隨著自由曲面製程技術(shù)的演進(jìn)，光學(xué)設(shè)計(jì)者得以摒除許多以往的限制條件。同時(shí)，OpticStudio具有優(yōu)越的運(yùn)算能力，可以進(jìn)行規(guī)模較大的系統(tǒng)和更多影像參數(shù)的模擬。

此外，通過我們新的探測(cè)器附加組件，用戶可以訪問所有感興趣的物理量，如輻照度或輻射通量。請(qǐng)查看下面的鏈接，找到一個(gè)通過邁克爾遜干涉儀研究多色源的時(shí)間相干長度的例子，以及我們的探測(cè)器附加組件的一些完整文檔。利用邁克爾遜干涉儀和傅里葉變換光譜進(jìn)行相干測(cè)量研究表明，在具有一定帶寬光源的邁克爾遜干涉儀中，當(dāng)光程差變化時(shí)，條紋對(duì)比度會(huì)發(fā)生變化。

在這一環(huán)節(jié)中，我們必須進(jìn)行光線追跡，同時(shí)為了解邁克爾遜干涉儀里所有反射與透射光的光路，需要勾選“Split NSC Rays”O(jiān)CT的測(cè)試原理：使用寬帶低相干性的光源，通過邁克爾遜干涉儀產(chǎn)生干涉信號(hào)，并通過干涉信號(hào)去計(jì)算樣品內(nèi)反射光的具體位置。我們將運(yùn)用自由空間光學(xué)來擺放相關(guān)器件，使用分束器將光線分束，參考鏡放置在參考臂的位置上，樣品模型放置在樣品臂的位置上。

在製造之前，設(shè)計(jì)人員可以使用POP和FDTD來檢查最終的PSF。1.3 參數(shù)化 DOE 矢高 -> 利用 FFT/Huygens PSF 光線追跡除了使用相位輪廓來表示DOE之外，還可以直接在序列模式下對(duì)詳細(xì)的矢高進(jìn)行建模，並使用傳統(tǒng)的光線追跡引擎設(shè)計(jì)DOE並進(jìn)行FFT和Huygens PSF之類的分析。此方法僅在DOE的特徵尺寸不太接近波長尺度（矢量繞射效果很強(qiáng)）時(shí)才有效。

馬赫澤德干涉儀的3D視圖 ? 增加擴(kuò)束器和分束器距離是為了使3D視圖更加清晰(可在光路編輯器中實(shí)現(xiàn))。 應(yīng)用示例詳細(xì)內(nèi)容 仿真&結(jié)果 1. 結(jié)果：利用光線追跡分析 ? 首先，利用光線追跡分析光在光學(xué)系統(tǒng)中的傳播。? 對(duì)于該分析，采用內(nèi)嵌的光線追跡系統(tǒng)分析器。 2.

在這一環(huán)節(jié)中，我們必須進(jìn)行光線追跡，同時(shí)為了解邁克爾遜干涉儀里所有反射與透射光的光路，需要勾選“Split NSC Rays”。 OCT的測(cè)試原理：使用寬帶低相干性的光源，通過邁克爾遜干涉儀產(chǎn)生干涉信號(hào)，并通過干涉信號(hào)去計(jì)算樣品內(nèi)反射光的具體位置。

在這一環(huán)節(jié)中，我們必須進(jìn)行光線追跡，同時(shí)為了解邁克爾遜干涉儀里所有反射與透射光的光路，需要勾選“Split NSC Rays”。 OCT的測(cè)試原理：使用寬帶低相干性的光源，通過邁克爾遜干涉儀產(chǎn)生干涉信號(hào)，并通過干涉信號(hào)去計(jì)算樣品內(nèi)反射光的具體位置。

在這一環(huán)節(jié)中，我們必須進(jìn)行光線追跡，同時(shí)為了解邁克爾遜干涉儀里所有反射與透射光的光路，需要勾選“Split NSC Rays”。 OCT的測(cè)試原理：使用寬帶低相干性的光源，通過邁克爾遜干涉儀產(chǎn)生干涉信號(hào)，并通過干涉信號(hào)去計(jì)算樣品內(nèi)反射光的具體位置。