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Zemax光學設計技術教程:如何使用Jones Matrix表面
一般的情況下,OpticStudio可以對大多
數
的鍍膜或雙折射材料進行完整的分析。但有
時
因為分類
數
據
報告(Prescription data)不夠齊全,在進行模擬
時
會需要簡化後的模型。舉例而言,當我們無法得到真實的鍍膜資訊
時
,OpticStudio中的理想(IDEAL)和表定(TABLE)鍍膜設定就可以派上用場。相似的,Jones Matrix可以在缺乏實際模型的情況下,用來表示偏振元件。
2425
w**elab86_Swsp
??? 3年前
帖子
Ansys Zemax光學設計軟件技術教程:眼科鏡片設計
本文介紹了眼科鏡片的設計原理,並討論了鏡片、眼睛和視覺環境中對鏡片設計十分關鍵的參
數
,其中包括了常見鏡片材料(涵蓋了玻璃和聚合物)的玻璃目錄。本文不包括漸進式鏡片設計,儘管漸進式鏡片
時
常根
據
一般的鏡片曲率原則進行設計,但這些基礎的原則多以消除近視為目的,無法為特殊用途的鏡片設計提供太多的幫助。
2212
w**elab86_Swsp
??? 3年前
帖子
Moldex3D模流分析之Tokyo Seiki公司使用模流大幅減少試模次數
對癥下藥,增加產品強度:流動平衡與結合線問題改良流動平衡目的是避免成品後所發生變形的主要改善方案,尤其針對精密性產品,在分析過程中常以流動平衡指
數
來作為比較
數
據
。
2210
Moldex3D 中國
??? 3年前
帖子
ZEMAX軟件技術應用專題:如何在OpticStudio中設計DOE透鏡或超穎透鏡
設計人員需要根
據
具體情況決定其系統的策略。許多設計過程需要兩種不同的光學理論/算法來分別處理光束在自由空間和微結構中的傳播,而其他一些過程僅使用純光線追跡來達到目標。由於模擬技術發展迅速,因此本文可能沒有涵蓋所有可用方法。如果用戶提供新訊息或有任何要求,請隨
時
與我們聯繫,我們可以相應地更新本文。
2188
w**elab86_Swsp
??? 3年前
帖子
ZEMAX軟件技術應用專題:在 OpticStudio 中模擬高階雷射光束
這個庫是免費提供的,可以從 http://www.netlib.org/clapack/.4 下載From the beam waist and semi focal separation, a dimensionless ellipticity parameter may be calculated:根
據
束腰和半焦距,可以計算出無因次橢圓率參
數
:如 Bandres 和 Gutiérrez-Vega
2057
w**elab86_Swsp
??? 3年前
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ZEMAX軟件技術應用專題:在薄膜計算中Ray以及Field系數是什麼?
某個角度的一道入射平面波會在下面兩個介面中反覆交錯無
數
次:空氣到膜層介面以及膜層到基板介面。在每一次的交錯中,就相應產生一道穿透以及一道反射光場,最後這些光場會在同調的假設下相加。經過一番如魔術般建設性以及破壞性干涉後,最後的結果可以用巨觀的反射以及穿透係
數
來表示。入射光的電場並非用單一個點來描述,相對的,我們會假設該電場比多重光束干涉發生的區
域
更大許多。
1939
w**elab86_Swsp
??? 3年前
帖子
ZEMAX軟件技術應用專題:用於
數
位元投影光學中均勻照明的陣列透鏡 (蒼蠅眼)
提供的範例,選擇了 Lenslet Array 1 物件, 它由矩形體陣列組成,每個矩形體的前表面為平面,後表面為使用者自訂
數
目的重複曲面。後表面可以是平面、球面、圓錐面、多項式非球面或環形表面。這使得陣列中透鏡元件表面形狀的定義和優化具有了極大的靈活性。下圖顯示了透鏡陣列1物體,它是由7 x 5個矩形透鏡組成的透鏡陣列,每個矩形透鏡都可以看作一個球面透鏡的矩形區
域
。
2001
w**elab86_Swsp
??? 3年前
帖子
ZEMAX軟件技術應用專題:利用Kogelnik方法模擬體積全像光柵的繞射效率
對於薄的全像,其他繞射階
數
的效率可能不為零,如-1 -2 +2 -3 +3 ...。這些額外階
數
不在耦合波理論的考慮中。 多重光柵 (multiplex): 全像中只能同
時
存在一組光柵。Kogelnik的方法不允許多於一個光柵重疊在一個區
域
。 雙折射材料: 全像的材料被認為是均向性的。不允許使用雙折射材料。
2122
w**elab86_Swsp
??? 3年前
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ZEMAX軟件技術應用專題:如何為光學相干斷層掃描系統建模
深度掃描也稱為軸向掃描或A掃描,它根
據
反射到樣品中的距離來測量反射光的強度。 儘管它在OCT系統的類型之間有所不同,但深度掃描通常由參考鏡執行,以使樣品返回的光對應於樣品和參考之間的特定光程差(OPD)。 透過以x或y方向旋轉掃描鏡來執行橫向,橫向或b掃描,從而在整個樣品區
域
上平移探測光束。我們從商用OCT系統中獲取目標規格。 軸向分辨率完全來自光源特性,應在5μm的
數
量級上。
2221
w**elab86_Swsp
??? 3年前
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