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SuperViewW1白光干涉儀粗糙度RMS重復性0.005nm，利用光波干涉原理 將被測表面的形狀誤差以干涉條紋圖形顯示出來，并利用放大倍數高的顯微鏡將這些干涉條紋的微觀部分放大后進行測量，以得出被測表面粗糙度，可以輕松測量曲面粗糙度。

利用光波干涉原理 將被測表面的形狀誤差以干涉條紋圖形顯示出來，并利用放大倍數高的顯微鏡將這些干涉條紋的微觀部分放大后進行測量，以得出被測表面粗糙度，可以輕松測量曲面粗糙度。 白光測量的粗糙度范圍從0.1nm到10μm別。面和線粗糙度測量，可確保0.1nm的測量可靠性，不限制材質和形狀。

1、SJ5720-OPT系列——高精度光學曲面測量 SJ5720-OPT系列高精度光學曲面測量儀能實現對球面及非球面光學元器件表面粗糙度和輪廓的高精度測量和分析。是大曲面測量（光學鏡片、光學精密模具、軸承、人工關節、齒輪、葉片）領域精細粗糙度測量的利器。

2、對于曲面或非均勻材料表面 傳統方法往往受限于測量范圍有限、數據不全面等問題。而激光共聚焦顯微鏡能夠通過掃描技術獲取大面積的表面數據，并實現全面、準確地描述曲面或非均勻材料的粗糙度特征。 3、對于材料限制 激光共聚焦顯微鏡還可應用于多種材料的粗糙度檢測，包括金屬、陶瓷、塑料等材料，具有廣泛的應用前景。

典型應用領域 一體型輪廓儀廣泛應用于精密機械加工、汽車、軸承、機床、模具、精密五金等行業，特別適用于大范圍曲面和異型曲面的測量。如分別對發動機關鍵零部件節溫器內筒、氣門搖臂及凸輪軸進行高精度輪廓參數檢測。

(僅限多重曲面/擠出物件)指定是否沿輸入物件的子面邊界創建網格邊緣。

對于塑料光學元件，可以使用一系列注塑成型選項（包括金剛石車削模具插件）來制作具有特定幾何結構的自由曲面。然后，通過計量和干涉儀技術確定表面粗糙度以及其他表面和光學屬性，以確保透鏡性能良好并具備所需的光學特性。金剛石切割儀器主要的制造難題，在于工藝與設計方法中概述的屬性之間的容差。

白光干涉儀作為一款超高精度的光學3D輪廓儀，一直在超精密加工領域有著廣泛的應用，在大部分的應用場景中，都是采用標準的白光干涉儀機型測量平面類型零件的表面粗糙度，而在一些特殊行業及領域，針對一些有著曲面特征的零部件，如何解決其形狀不規則裝夾不便、測量點分布不在同一個面、單次測量效率低的問題，成為了一個難題。

6、SJ5730粗糙度輪廓測量一體機SJ5730粗糙度輪廓測量一體機具有12mm-24mm的粗糙度輪廓一體式測量范圍，分辨率達到0.1nm，一次掃描即可評價Ra粗糙度參數及微觀輪廓Pt參數，適合測量大曲面上的粗糙度，同時具備專業的軸承輪廓度評價功能，是大曲面測量（軸承、人工關節、精密模具、齒輪、葉片、光學鏡片）領域精細粗糙度測量的利器。

SJ5730具有12mm~24mm的大量程粗糙度測量范圍，測試軸承內外側，是大曲面測量（軸承、人工關節、精密模具、齒輪、葉片、軸承滾子）領域精細粗糙度測量的利器。

可能引起光學性能變化的因素包括但不限于光學表面的加工誤差、所用模具的加工誤差、注塑造成的不規則度、光學元件與傳感器間的校準誤差、光學表面的粗糙度誤差以及厚度誤差。將這些不規則度參數化將有利于公差分析，公差操作數 TEZI 就是一個很好的例子。TEZI 操作數使用 Zernike 多項式來表示不規則度，一些低頻表面誤差可以用該參數化公式來評價公差。

3、粗糙度輪廓儀 SJ57系列粗糙度輪廓儀一體機一次測量同時評定輪廓和粗糙度參數。SJ5730具有12mm~24mm的大量程粗糙度測量范圍，分辨率高達0.1nm，系統殘差小于3nm。納米級大量程粗糙度測量，高精度、高穩定性、高重復性特點，是大曲面測量（軸承、人工關節、精密模具、齒輪、葉片、軸承滾子）領域精細粗糙度測量的利器。

你還將掌握專業工程圖紙的制作，包含視圖投影、剖視圖、尺寸標注、表面粗糙度符號、焊接符號、物料清單（BOM）和零件序號等完整內容。 在課程的最后模塊，你將探索線框與曲面設計工作臺，通過拉伸、旋轉、掃掠、填充、橋接、修剪、縫合及多截面曲面等工具，完成復雜曲面幾何體的創建與修改。

拋丸機 噴丸或拋丸機也可以用來拋光，采用不銹鋼的丸料，通過高速錘打金屬零件的表面，增加表面致密性，達到提高表面光澤度與光亮度的效果。優點是適合中大型零部件，也能處理復雜曲面型腔，缺點是拋光的粗糙度高，只能增加光澤度與光亮度，達不到類鏡面拋光的效果。另外只能應用于金屬材質的產品零件表面拋光。 3.

表2 沖頭加工參數選擇五軸加工程序優化對比 在實際加工生產中，既要考慮加工效率，又要考慮加工后沖頭表面粗糙度。由圖4可看出：行距S的大小，直接關系到加工后曲面上殘留溝紋高度H的大小；高度大，則表面粗糙度大，影響零件加工精度；行距S選得太小，雖然能提高加工精度，但程序太長，機加工時間成倍增加，效率降低。因此，行距S的選擇，應力求做到恰到好處。

而粗糙度是影響光學曲面質量的重要因素之一。為確保光學元件的卓越性能，輪廓儀成為不可或缺的檢測工具。它以其超高精度、全自動化、多功能性和數據分析的特點，實現非球面鏡片的高精度專業檢測，解讀光學曲面的微妙變化。 光學鏡片曲面測量難點 1、幾何復雜性 光學鏡片具有各種各樣的幾何形狀，包括球面、非球面和自由曲面等。

可能引起光學性能變化的因素包括但不限于光學表面的加工誤差、所用模具的加工誤差、注塑造成的不規則度、光學元件與傳感器間的校準誤差、光學表面的粗糙度誤差以及厚度誤差。將這些不規則度參數化將有利于公差分析，公差操作數 TEZI 就是一個很好的例子。TEZI 操作數使用 Zernike 多項式來表示不規則度，一些低頻表面誤差可以用該參數化公式來評價公差。

將重構的A級曲面重新導入AutoForm中進行復算，結果如圖7所示。從圖7可以看出，天窗四角區域的回彈量超過了3 mm，其他區域的回彈量也超過了2 mm。因此，AutoForm迭代補償對于頂蓋這類自由回彈量大的零件準確度較低，適用性差。

該曲面的 K- 相關模型的輸入參數如下所設置： 對于波長300 nm的光在這個表面上的散射，我們可以使用上文提供的公式來計算等效表面粗糙度： 該值可用于計算TIS： 因此，在這種情況下，大約1.6%的入射能量在反射時從表面散射

SuperViewW1白光干涉儀白光干涉儀采用的光學輪廓測量法可以非接觸式測量非平坦樣品，輕松測量出彎曲和其他非平面表面，還可以測出曲面的表面光潔度、紋理和粗糙度等，同時不會像探針是輪廓儀那樣損壞薄膜。