本文將演示如何在具有制冷型探測(cè)器的紅外系統(tǒng)中分析冷反射效應(yīng)。冷反射圖像是由光學(xué)系統(tǒng)表面反射形成的制冷型探測(cè)器的圖像,當(dāng)(近)對(duì)焦時(shí),在圖像中將產(chǎn)生一個(gè)黑暗的中心斑點(diǎn)。 分析將從使用OpticStudio的鬼像分析生成鬼像文件開始,并收集每個(gè)文件的漸暈和傳輸數(shù)據(jù)。 冷反射積分系數(shù)是根據(jù)用戶輸入的溫度數(shù)據(jù)(外殼、探測(cè)器和環(huán)境)計(jì)算出來(lái)的。