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請注意，因?yàn)楦?em>物體為參數(shù)化形式，所以原生布爾物體也是如此。如果更改父物體中一個(gè)球體的半徑，則原生布爾物體也會(huì)更新。父物體可由任何玻璃、材料組成，但原生布爾物體將忽略父物體的材料，而直接將玻璃材料或梯度折射率添加到原生物體物體上。原生布爾物體的表面屬性繼承自父物體。

此外，SAT格式文件可以平滑且連續(xù)的表示物體，其導(dǎo)入OpticStudio的方法也與導(dǎo)入IGES文件相同。 調(diào)整CAD物體的屬性和參數(shù)您可以在非序列元件編輯器的參數(shù)數(shù)據(jù)表格或物體的屬性窗口中修改和控制已導(dǎo)入CAD物體的屬性和參數(shù)。這些操作適用于上文提到的全部四種CAD文件格式。可修改的屬性和參數(shù)有：材料 (Material)：每個(gè)物體僅能定義一種材料。

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使用由丙烯酸材料制成的矩形體物體建立楔形光波導(dǎo)模型。該物體可以存在不同的端面尺寸和傾斜。請注意，只有傾斜物體才能保持光波導(dǎo)的上表面與X-Z平面平行。由于物體是圍繞光波導(dǎo)輸入面的中心旋轉(zhuǎn)，而不是頂部邊緣，所以Y的位置也需要略做改變。在物體傾斜的前后表面上都設(shè)置拾取 (Pickup) 求解以確保他們與Y-Z平面保持平行。BEF是系統(tǒng)中最復(fù)雜的元件。

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，這個(gè)要在《彈塑性力學(xué)》查看； von mises stresses叫做等效應(yīng)力，與表面壓力完全不是一個(gè)概念，同時(shí)等效應(yīng)力是根據(jù)具體情況而定的，如果第一主應(yīng)力影響最大，那么它幾乎就等于第一主應(yīng)力，如果生物材料中剪切應(yīng)力最大，它就與剪切應(yīng)力近似相等； von Mises stress是計(jì)算物體的畸變能。

相反，光線以它們撞擊各種物體和表面的實(shí)際物理順序進(jìn)行跟蹤，這些物體和表面可能不是按表面或?qū)ο蠖x的順序排列的。射線我反復(fù)擊中同一個(gè)物體，而完全錯(cuò)過其他物體。射線也可以分裂成反射的、折射的或散射的子射線，并且可以同時(shí)追蹤子射線。非序列模式下的主要分析工具是檢測器查看器。它以不同的數(shù)據(jù)格式在探測器上顯示光線跡線結(jié)果，例如相干或不相干輻照度或輻射強(qiáng)度的空間和角度分布。

無論是應(yīng)力還是力，都會(huì)導(dǎo)致物體發(fā)生變形。想象一下，一個(gè)錘子或釘子，就很容易理解應(yīng)力集中的概念。當(dāng)我們具體分析某一物體的變形時(shí)，而不是材料本身時(shí)，就不需要使用應(yīng)變的概念（只需查看變形位移即可）。力決定了物體的（接觸面總的）變形量，應(yīng)力直接決定力作用面上某點(diǎn)的變形量。歡迎留言批評指正。如果本文存在不夠清晰或準(zhǔn)確之處，請您不吝賜教。

(Stress)，應(yīng)力與微面積的乘積即微內(nèi)力或物體由于外因（受力、濕度變化等）而變形時(shí)，在物體內(nèi)各部分之間產(chǎn)生相互作用的內(nèi)力，以抵抗這種外因的作用，并力圖使物體從變形后的位置回復(fù)到變形前的位置。

當(dāng)被激發(fā)的電子撞擊陰極管表面的涂層材料時(shí)，冷陰極熒光燈管發(fā)光。使用“管光源”對此類光源發(fā)射方式而言是非常理想。可以通過交替使用“二極管光源”來模擬一維二極管陣列作為光源。使用由丙烯酸材料制成的矩形體物體建立楔形光波導(dǎo)模型。該物體可以存在不同的端面尺寸和傾斜。請注意，只有傾斜物體才能保持光波導(dǎo)的上表面與X-Z平面平行。

使用由丙烯酸材料制成的矩形體物體建立楔形光波導(dǎo)模型。該物體可以存在不同的端面尺寸和傾斜。請注意，只有傾斜物體才能保持光波導(dǎo)的上表面與X-Z平面平行。由于物體是圍繞光波導(dǎo)輸入面的中心旋轉(zhuǎn)，而不是頂部邊緣，所以Y的位置也需要略做改變。在物體傾斜的前后表面上都設(shè)置拾取 (Pickup) 求解以確保他們與Y-Z平面保持平行。BEF是系統(tǒng)中最復(fù)雜的元件。

您可以選擇任何分析功能，包括 2D 布局圖，用以查看光線如何聚焦在一個(gè)像點(diǎn)上。作為光纖接收輸入端的像面已設(shè)置具有折射率為 1.43 的材料和 1% 的反射率、99% 透射率的AR涂層 COAT I.99。

)，應(yīng)力與微面積的乘積即微內(nèi)力或物體由于外因（受力、濕度變化等）而變形時(shí)，在物體內(nèi)各部分之間產(chǎn)生相互作用的內(nèi)力，以抵抗這種外因的作用，并力圖使物體從變形后的位置回復(fù)到變形前的位置。

您可以選擇任何分析功能，包括 2D 布局圖，用以查看光線如何聚焦在一個(gè)像點(diǎn)上。作為光纖接收輸入端的像面已設(shè)置具有折射率為 1.43 的材料和 1% 的反射率、99% 透射率的AR涂層 COAT I.99。

任何物體作為探測器（‘Object is Detector’）的表面上輻照度都可以在實(shí)體（Shaded）模型中直觀地顯示。 而且體探測器內(nèi)部的吸收通量可以在探測器查看器中進(jìn)行查看。 ZOS-API 作為一種有助于自動(dòng)化運(yùn)行數(shù)據(jù)導(dǎo)出流程的強(qiáng)大工具。

圖1-1 實(shí)際結(jié)構(gòu)在建模邏輯上，腳本通過循環(huán)與參數(shù)變量控制節(jié)點(diǎn)分布，自動(dòng)完成節(jié)點(diǎn)生成、單元連接、截面與材料定義。模型在生成完成后，可直接進(jìn)入求解階段，無需手工建模。用戶僅需修改輸入?yún)?shù)，如矢高（網(wǎng)殼曲率）、環(huán)數(shù)、徑數(shù)、單元類型及材料屬性，即可快速得到不同結(jié)構(gòu)形態(tài)下的分析結(jié)果。

通過使用探測器查看器中的“Coherent Irradiance”(相干輻照度)來分析這兩條光路之間的干涉信號強(qiáng)度。這一步操作可在探測器查看器的“設(shè)置”中完成，之前的探測器查看器曾使用非相干輻照度。在之后的光線追跡將追蹤每條光線的相位，以便分別添加用于相干計(jì)算的復(fù)數(shù)部分。 當(dāng)大量光線進(jìn)入系統(tǒng)時(shí)，可清楚地辨別干涉條紋。