失效物理分析(PoF) 失效物理,即Physics of Failure (PoF)、是電子產(chǎn)品基于模型的量化可靠性評價(jià)方法。該方法基于產(chǎn)品失效的實(shí)際物理過程,通過構(gòu)建相應(yīng)的數(shù)學(xué)模型,達(dá)到對于產(chǎn)品失效的定量化描述和評價(jià)的目的,進(jìn)而輔助完成產(chǎn)品設(shè)計(jì)的優(yōu)化、產(chǎn)品的可靠性增長和保障等的產(chǎn)品研發(fā)目的。
有關(guān)更多信息請參閱用于光線追跡的光線的產(chǎn)生(Generation of Rays for Ray Tracing)。 推薦的建模工作流程 所有的技術(shù)都提供了完整的非序列建模,可以根據(jù)您的需求進(jìn)行配置。您可以一次性構(gòu)建系統(tǒng),并且可以根據(jù)自己的選擇應(yīng)用從序列到非序列的光線光學(xué)或者物理光學(xué)建模。