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Ansys Zemax光學設計軟件技術教程:眼科鏡片設計
在像差方面,彗差會隨視場角的變化而
線
性
增加,而像散則是呈二次方增加。但人眼系統具有相對較小的光瞳尺寸,因此在此類系統的設計上,一般會認為球差和彗差並不十分重要。同理,其餘的像差在此也可先行忽略。隨著自由曲面製程技術的演
進
,光學設計者得以摒除許多以往的限制條件。同時,OpticStudio具有優越的運算能力,可以
進
行
規模較大的系統和更多影像參
數
的模
擬
。
2212
w**elab86_Swsp
??? 3年前
帖子
ZEMAX軟件技術應用專題:利用Kogelnik方法模
擬
體積全像光柵的繞射效率
考慮繞射效率使用戶能夠
進
行
圖像模
擬
和綜
合
優化等高級分析。表面反射光柵與體積全像光柵的比較在介紹這個模型之前,我們先簡單解釋一下表面反射光柵(SRG)和體積全像光柵(VHG)的區別。這兩種光柵在光學系統中的作用幾乎是一樣的,但在製造和模
擬
方面卻有很大的不同。 圖 1.
2122
w**elab86_Swsp
??? 3年前
帖子
ZEMAX軟件技術應用專題:如何在OpticStudio中設計DOE透鏡或超穎透鏡
1.3 參
數
化 DOE 矢高 -> 利用 FFT/Huygens PSF 光
線
追跡除了使用相位輪廓來表示DOE之外,還可以直接在序列模式下對詳細的矢高
進
行
建模,並使用傳統的光
線
追跡引擎設計DOE並
進
行
FFT和Huygens PSF之類的分析。此方法僅在DOE的特徵尺寸不太接近波長尺度(矢量繞射效果很強)時才有效。因此,該方法不適用於超穎透鏡。
2188
w**elab86_Swsp
??? 3年前
帖子
Zemax光學設計技術教程:如何使用Jones Matrix表面
簡介偏振態分析(polarization analysis)可以作為一般光
線
追跡的
進
階功能。在模
擬
的過程中,會將入射光因為元件表面鍍膜、反射和吸收而造成的能量損耗納入考量。一般的情況下,OpticStudio可以對大多
數
的鍍膜或雙折射材料
進
行
完整的分析。但有時因為分類
數
據報告(Prescription data)不夠齊全,在
進
行
模
擬
時會需要簡化後的模型。
2425
w**elab86_Swsp
??? 3年前
帖子
Moldex3D模流分析之Tokyo Seiki公司使用模流大幅減少試模次數
對癥下藥,增加產品強度:流動平衡與結
合
線
問題改良流動平衡目的是避免成品後所發生變形的主要改善方案,尤其針對精密
性
產品,在分析過程中常以流動平衡指
數
來作為比較
數
據。
2210
Moldex3D 中國
??? 3年前
帖子
ZEMAX軟件技術應用專題:在 OpticStudio 中模
擬
高階雷射光束
此類模式可以在 OpticStudio 中使用 POP 設置對話框中的內置“高斯腰”光束定義
進
行
建模:此模式的主要輸入是 X 和 Y 中束腰以及 X 和 Y 中光束的階
數
。以上設置演示瞭如何對 X 和 Y 中具有相同腰尺寸的 (0,0) 模式
進
行
建模,對應於單模高斯光束。
2057
w**elab86_Swsp
??? 3年前
視頻
abaqus Isight參數研究與結構優化
CH01-Isight與功能元件介紹CH02-資料管理與DOE分析?>WORKSHOP01-Gripper
進
行
DOE分析?>WORKSHOP05-Excel元件執
行
DOECH03-Isight優化分析?>WORKSHOP02-Gripper優化分析CH04-Data?matching參
數
擬
合
?>WORKSHOP03-橡膠材料參
數
擬
合
CH05-近似模型Approximation
8586
3
30
abaquser
??? 6年前
帖子
ZEMAX軟件技術應用專題:用於
數
位元投影光學中均勻照明的陣列透鏡 (蒼蠅眼)
單個光學元件的表面形狀可以是球面或變形(垂直和水準子午
線
的光焦度不同)。光焦度通常僅在陣列的一個表面上,而第二個表面通常是平面的。在 OpticStudio 中對此設置
進
行
建模的最簡單方法之一是使用陣列物件 (array object)。提供的範例,選擇了 Lenslet Array 1 物件, 它由矩形體陣列組成,每個矩形體的前表面為平面,後表面為使用者自訂
數
目的重複曲面。
2001
w**elab86_Swsp
??? 3年前
帖子
ZEMAX軟件技術應用專題:在薄膜計算中Ray以及Field系數是什麼?
經過一番如魔術般建設
性
以及破壞
性
干涉後,最後的結果可以用巨觀的反射以及穿透係
數
來表示。入射光的電場並非用單一個點來描述,相對的,我們會假設該電場比多重光束干涉發生的區域更大許多。在Zemax OpticStudio中,我們使用field係
數
來表示這個結果,這些係
數
已經被薄膜膜層的程式驗證過許多次。
1939
w**elab86_Swsp
??? 3年前
帖子
ZEMAX軟件技術應用專題:如何為光學相干斷層掃描系統建模
儘管它在OCT系統的類型之間有所不同,但深度掃描通常由參考鏡執
行
,以使樣品返回的光對應於樣品和參考之間的特定光程差(OPD)。 透過以x或y方向旋轉掃描鏡來執
行
橫向,橫向或b掃描,從而在整個樣品區域上平移探測光束。我們從商用OCT系統中獲取目標規格。 軸向分辨率完全來自光源特性,應在5μm的
數
量級上。 來自樣品處光束半徑的橫向分辨率應為15μm。
2222
w**elab86_Swsp
??? 3年前
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