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帖子 Ansys Zemax光學設計軟件技術教程:眼科鏡片設計
在像差方面,彗差會隨視場角的變化而增加,而像散則是呈二次方增加。但人眼系統具有相對較小的光瞳尺寸,因此在此類系統的設計上,一般會認為球差和彗差並不十分重要。同理,其餘的像差在此也可先行忽略。隨著自由曲面製程技術的演,光學設計者得以摒除許多以往的限制條件。同時,OpticStudio具有優越的運算能力,可以規模較大的系統和更多影像參的模
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w**elab86_Swsp ??? 3年前
Ansys Zemax光學設計軟件技術教程:眼科鏡片設計
帖子 ZEMAX軟件技術應用專題:利用Kogelnik方法模體積全像光柵的繞射效率
考慮繞射效率使用戶能夠圖像模和綜優化等高級分析。表面反射光柵與體積全像光柵的比較在介紹這個模型之前,我們先簡單解釋一下表面反射光柵(SRG)和體積全像光柵(VHG)的區別。這兩種光柵在光學系統中的作用幾乎是一樣的,但在製造和模方面卻有很大的不同。 圖 1.
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w**elab86_Swsp ??? 3年前
ZEMAX軟件技術應用專題:利用Kogelnik方法模擬體積全像光柵的繞射效率
帖子 ZEMAX軟件技術應用專題:如何在OpticStudio中設計DOE透鏡或超穎透鏡
1.3 參化 DOE 矢高 -> 利用 FFT/Huygens PSF 光追跡除了使用相位輪廓來表示DOE之外,還可以直接在序列模式下對詳細的矢高建模,並使用傳統的光追跡引擎設計DOE並FFT和Huygens PSF之類的分析。此方法僅在DOE的特徵尺寸不太接近波長尺度(矢量繞射效果很強)時才有效。因此,該方法不適用於超穎透鏡。
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w**elab86_Swsp ??? 3年前
ZEMAX軟件技術應用專題:如何在OpticStudio中設計DOE透鏡或超穎透鏡
帖子 Zemax光學設計技術教程:如何使用Jones Matrix表面
簡介偏振態分析(polarization analysis)可以作為一般光追跡的階功能。在模的過程中,會將入射光因為元件表面鍍膜、反射和吸收而造成的能量損耗納入考量。一般的情況下,OpticStudio可以對大多的鍍膜或雙折射材料完整的分析。但有時因為分類據報告(Prescription data)不夠齊全,在時會需要簡化後的模型。
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w**elab86_Swsp ??? 3年前
Zemax光學設計技術教程:如何使用Jones Matrix表面
帖子 Moldex3D模流分析之Tokyo Seiki公司使用模流大幅減少試模次數
對癥下藥,增加產品強度:流動平衡與結問題改良流動平衡目的是避免成品後所發生變形的主要改善方案,尤其針對精密產品,在分析過程中常以流動平衡指來作為比較據。
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Moldex3D 中國 ??? 3年前
Moldex3D模流分析之Tokyo Seiki公司使用模流大幅減少試模次數
帖子 ZEMAX軟件技術應用專題:在 OpticStudio 中模高階雷射光束
此類模式可以在 OpticStudio 中使用 POP 設置對話框中的內置“高斯腰”光束定義建模:此模式的主要輸入是 X 和 Y 中束腰以及 X 和 Y 中光束的階。以上設置演示瞭如何對 X 和 Y 中具有相同腰尺寸的 (0,0) 模式建模,對應於單模高斯光束。
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w**elab86_Swsp ??? 3年前
ZEMAX軟件技術應用專題:在 OpticStudio 中模擬高階雷射光束
視頻 abaqus Isight參數研究與結構優化
CH01-Isight與功能元件介紹CH02-資料管理與DOE分析?>WORKSHOP01-GripperDOE分析?>WORKSHOP05-Excel元件執DOECH03-Isight優化分析?>WORKSHOP02-Gripper優化分析CH04-Data?matching參?>WORKSHOP03-橡膠材料參CH05-近似模型Approximation
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abaquser ??? 6年前
abaqus Isight參數研究與結構優化
帖子 ZEMAX軟件技術應用專題:用於位元投影光學中均勻照明的陣列透鏡 (蒼蠅眼)
單個光學元件的表面形狀可以是球面或變形(垂直和水準子午的光焦度不同)。光焦度通常僅在陣列的一個表面上,而第二個表面通常是平面的。在 OpticStudio 中對此設置建模的最簡單方法之一是使用陣列物件 (array object)。提供的範例,選擇了 Lenslet Array 1 物件, 它由矩形體陣列組成,每個矩形體的前表面為平面,後表面為使用者自訂目的重複曲面。
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w**elab86_Swsp ??? 3年前
ZEMAX軟件技術應用專題:用於數位元投影光學中均勻照明的陣列透鏡 (蒼蠅眼)
帖子 ZEMAX軟件技術應用專題:在薄膜計算中Ray以及Field系數是什麼?
經過一番如魔術般建設以及破壞干涉後,最後的結果可以用巨觀的反射以及穿透係來表示。入射光的電場並非用單一個點來描述,相對的,我們會假設該電場比多重光束干涉發生的區域更大許多。在Zemax OpticStudio中,我們使用field係來表示這個結果,這些係已經被薄膜膜層的程式驗證過許多次。
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w**elab86_Swsp ??? 3年前
ZEMAX軟件技術應用專題:在薄膜計算中Ray以及Field系數是什麼?
帖子 ZEMAX軟件技術應用專題:如何為光學相干斷層掃描系統建模
儘管它在OCT系統的類型之間有所不同,但深度掃描通常由參考鏡執,以使樣品返回的光對應於樣品和參考之間的特定光程差(OPD)。 透過以x或y方向旋轉掃描鏡來執橫向,橫向或b掃描,從而在整個樣品區域上平移探測光束。我們從商用OCT系統中獲取目標規格。 軸向分辨率完全來自光源特性,應在5μm的量級上。 來自樣品處光束半徑的橫向分辨率應為15μm。
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w**elab86_Swsp ??? 3年前
ZEMAX軟件技術應用專題:如何為光學相干斷層掃描系統建模
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