繞射光學(xué)元件(DOE)和超表面/超穎透鏡在光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計中越來越受歡迎,其應(yīng)用範(fàn)圍從手機鏡頭到AR / VR耳機,從3D傳感到照明。但是,對於包含 DOE 或超穎透鏡的系統(tǒng)進行模擬和設(shè)計總是很棘手的。沒有通用的方法可以處理所有情況。設(shè)計人員需要根據(jù)具體情況決定其系統(tǒng)的策略。
當(dāng)我們面對元件資訊不完整的情形時,Jones Matrix會是模擬偏極化效應(yīng)(polarization effect)的好幫手。關(guān)於 Jones Matrix在下列的式子中,我們用向量E來表示電場的振幅和偏振態(tài)。此外,E具有{Ex, Ey, Ez}三個複數(shù)型式的分量。而傳播向量k的三個分量{l, m, n}則是電磁波在x, y, z方向上的Cosine分量。
二相較于傳統(tǒng)手段的優(yōu)勢 真三維,全字段數(shù)據(jù)捕獲:提供包含X, Y, Z坐標(biāo)的完整表面空間信息,不僅能測高度、臺階,更能全面評估面形輪廓、波紋度、彎曲變形等,評價參數(shù)更全面、真實。 非接觸、無損傷測量:完全避免了對軟性、易變形、珍貴或高溫部件的物理接觸損傷,拓展了可測對象的范圍。