ZEMAX軟件技術(shù)應(yīng)用專題：如何為光學(xué)相干斷層掃描系統(tǒng)建模 
軸向分辨率完全來自光源特性，應(yīng)在5μm的數(shù)量級(jí)上。 來自樣品處光束半徑的橫向分辨率應(yīng)為15μm。800 nm範(fàn)圍內(nèi)的光將用於避免組織中的高吸收，這會(huì)限制穿透。光源規(guī)格OCT將干涉測量技術(shù)與寬帶近紅外光結(jié)合使用。 較寬的帶寬可提供最佳分辨率，而波長選擇可確定樣品材料中的穿透深度。
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w**elab86_Swsp ??? 3年前
ZEMAX軟件技術(shù)應(yīng)用專題：利用Kogelnik方法模擬體積全像光柵的繞射效率 
然後，光柵向量可由下式定義:顯影後，當(dāng)全像被重建平面波kp照亮?xí)r，繞射波kd，可透過解方程式確定:其中kp和kd是重建波向量和全像感光材料內(nèi)部的繞射波前（圖2（b））。注意光柵向量K可以從兩個(gè)反向方向選擇。方程式(2)的符號(hào)約定，假設(shè)K的方向選擇滿足K.kp>0。 圖 2.
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w**elab86_Swsp ??? 3年前
Zemax光學(xué)設(shè)計(jì)技術(shù)教程：如何使用Jones Matrix表面 
Jones Matrix根據(jù)下方的式子改變電場的Jones向量上式中的A, B, C, D皆為複數(shù)形式。在鏡頭數(shù)據(jù)編輯器(LDE)和非序列元件編輯器(Non-Sequential components editor)，我們可以在Jones Matrix後方的欄位輸入各元素的實(shí)數(shù)及虛數(shù)部分，以定義不同的Jones Matrix。
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w**elab86_Swsp ??? 3年前
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