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ZEMAX軟件技術(shù)應(yīng)用專題:如何為光學(xué)相干斷層掃描系統(tǒng)建模
我們從商用OCT系統(tǒng)中獲取目標規(guī)
格
。 軸向分辨率完全來自光源特性,應(yīng)在5μm的數(shù)量級上。 來自樣品處光束半徑的橫向分辨率應(yīng)為15μm。800 nm範圍內(nèi)的光將用於避免組織中的高吸收,這會限制
穿透
。光源規(guī)
格
OCT將干涉測量技術(shù)與寬帶近紅外光結(jié)合使用。 較寬的帶寬可提供最佳分辨率,而波長選擇可確定樣品材料中的
穿透
深度。
2221
w**elab86_Swsp
??? 3年前
帖子
負體積(節(jié)點速度無限大)解決辦法
本身產(chǎn)生大變形造成自我體積的內(nèi)面跑到外面接著被判讀為負體積,</p><p>控制使element不出現(xiàn)不合理變形的方法就如同dragonwen與ayke所說的幾點,注意使Hourglassing情形減少,有以下幾個方法可以試看看</p><p>1.避免單點loading=&gt;不要將force施在單一node上,最好是分散到幾個node上以pressure的方式等效施加</p><p>2.在容易出現(xiàn)大變形的地方將
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5438
9
不問出處
??? 1年前
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