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換句話說(shuō)，n1/n << 1，這在大多數(shù)實(shí)際情況下是正確的。一個(gè)參考用的經(jīng)驗(yàn)法則是，對(duì)於反射全像，n1/n之比不應(yīng)大於0.16，對(duì)於透射全像，n1/n之比不應(yīng)大於0.06。[2] 厚度: 假設(shè)全像是厚的。經(jīng)驗(yàn)上，我們是確保以下條件來(lái)保證耦合波理論仍然適用: 多階繞射: 這與厚度的限制相同。對(duì)於厚的全像，輸入光線的能量將只轉(zhuǎn)移到直接穿透的0階波或繞射的+1階波上。

這個(gè)慣例暗示了相位變化在正向入射上為最大，並且隨著入射角變大、相對(duì)應(yīng)餘弦值變小而相位變化也漸漸變小。但光線追跡上，我們是使用不同的方法來(lái)描述的。光線追跡的處理方式是如同上面第一張圖表的。過(guò)程中只有三條光線：入射、穿透以及反射。你可以隨意的放大檢視，永遠(yuǎn)只有三條線。膜層本身不用光線追跡來(lái)處理，而用不同的函數(shù)來(lái)操作。對(duì)於光線追跡，光學(xué)相位的超前或延遲都是沿著光線觀察的。

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