光學計量學的案例
邁克爾遜干涉儀和光學計量學
自從1887年著名的邁克爾遜-莫雷實驗開始，邁克爾遜干涉儀及其變種在光學研究中發揮著重要作用。如今，人們仍然經常可以找到以邁克爾遜干涉儀形式配置的光學系統，例如相干掃描干涉儀。借助VirtualLab Fusion，尤其是在非序列場追跡的幫助下，我們展示了邁克爾遜白光干涉儀的工作原理，并展示了其如何應用于光學計量學。
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自從1887年著名的邁克爾遜-莫雷實驗開始，邁克爾遜干涉儀及其變種在光學研究中發揮著重要作用。如今，人們仍然經常可以找到以邁克爾遜干涉儀形式配置的光學系統，例如相干掃描干涉儀。借助VirtualLab Fusion，尤其是在非序列場追跡的幫助下，我們展示了邁克爾遜白光干涉儀的工作原理，并展示了其如何應用于光學計量學。
邁克爾遜干涉儀
在充分考慮氙氣燈光源的光譜特性（即有限的相干長度）基礎上建模具有氙氣燈的邁克爾遜干涉儀。
光學層析掃描干涉儀
使用低相干氙氣燈，建立一個邁克爾遜干涉儀，用以精確掃描給定樣品的表面輪廓。
邁克爾遜干涉儀和光學計量學
自從1887年著名的邁克爾遜-莫雷實驗開始，邁克爾遜干涉儀及其變種在光學研究中發揮著重要作用。如今，人們仍然經常可以找到以邁克爾遜干涉儀形式配置的光學系統，例如相干掃描干涉儀。借助VirtualLab Fusion，尤其是在非序列場追跡的幫助下，我們展示了邁克爾遜白光干涉儀的工作原理，并展示了其如何應用于光學計量學。
邁克爾遜干涉儀
在充分考慮氙氣燈光源的光譜特性（即有限的相干長度）基礎上建模具有氙氣燈的邁克爾遜干涉儀。
光學層析掃描干涉儀
使用低相干氙氣燈，建立一個邁克爾遜干涉儀，用以精確掃描給定樣品的表面輪廓。
展開 超表面計量學的光學屬性
光學超表面（MS）是一種新型的平面光學元件，由于其緊湊性、多功能性以及設備集成性的優點，正深刻變革著光學設計領域。本期文章將介紹現有的用于超表面檢測的光學計量技術，包括振幅、偏振、定量相位測量以及疊層成像等 ，最后討論了超表面在光學計量中的應用以及未來的發展趨勢。
引言
過去十年間，平面結構化光學界面（即超表面）發展迅猛。超表面本質上是平面器件，可借助半導體制造工具和設備進行生產，有望實現晶圓級制造以及與光電子系統集成。盡管超表面發展前景廣闊，但實現工業化仍面臨諸多挑戰。其中，確保制造出的超表面達到設計階段預期的光學性能至關重要，且這一要求需在高產量條件下達成，即同一晶圓上生產的數千個器件都要滿足性能標準。半導體行業通過在制造過程中進行多次連續和并行測量來解決類似問題，因此，超表面光學元件的工業化生產也需要適配的先進計量技術，以推動其性能提升，加速系統集成和工業應用進程。此外，當成功制造超表面后，仍需專用光學計量技術來驗證其光學特性，而且，超表面集成到系統和復雜器件中時，也需要測量來保證最終產品符合規格。因此，無論是超表面元件還是完整系統，都需要計量和驗證測試。
超表面原理
超表面是由納米結構元素組成的，這些元素位于分隔兩種介質的界面處。這些納米結構可用于控制透射光和反射光的光學特性。超表面的優勢是通過在納米結構處對入射光產生相移來實現波前控制。傳統的應用包括可以實現光任意角度偏轉的偏轉器、具有聚光功能的超透鏡、可以投影用戶定義的強度分布的全息圖等。而實現相移的方法可以歸結為三種類型：
1） 傳播相位型：該種方法利用高縱橫比的電介質結構充當小波導，通過控制結構的有效折射率，即通過控制圓柱直徑，來控制相同高度柱體透射的相位延時，其示意圖如圖1（a）所示。
2） 諧振相位型：該種方法依賴由米氏共振引起光的激發和散射。其示意圖如圖1（b）所示。
展開 
馬赫-澤德干涉儀
干涉測量法是光學計量學的重要技術。 它被廣泛用于例如，表面輪廓、缺陷、高精度的機械和熱變形。 作為一個典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列場追跡，構建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。 證明了光學元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。
特殊光柵的光譜靈敏度和角靈敏度
由于這些特性，它們常常被應用于光學計量學中。在VirtualLab Fusion中，我們分析了這兩種類型的光柵，特別檢查了他們的光譜靈敏度和角靈敏度。
全息生成的體光柵的嚴格模擬
用傅里葉模態法對全息體光柵進行了分析。給出了光譜和角特性。
諧振波導光柵的嚴格分析
我們在VirtualLab Fusion中的使用傅里葉模態法（FMM/RCWA）對諧振波導光柵進行了嚴格的分析，并演示了如何用聚焦高斯光束檢驗諧振效應。
For more information send a message to: support@infotek.com.cn / support@infocrops.com
Internet: http://www.infotek.com.cn / http://www.honglun-seminary.com
展開 [NEWSLETTER] 特殊光柵的光譜靈敏度和角靈敏度
由于這些特性，它們常常被應用于光學計量學中。在VirtualLab Fusion中，我們分析了這兩種類型的光柵，特別檢查了他們的光譜靈敏度和角靈敏度。
全息生成的體光柵的嚴格模擬
用傅里葉模態法對全息體光柵進行了分析。給出了光譜和角特性。
諧振波導光柵的嚴格分析
我們在VirtualLab Fusion中的使用傅里葉模態法（FMM/RCWA）對諧振波導光柵進行了嚴格的分析，并演示了如何用聚焦高斯光束檢驗諧振效應。
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展開 [NEWSLETTER] 使用干涉儀的光學測量
光學計量學是精確測量的重要技術。例如，它經常被用于表面測試，因此在質量控制中發揮著重要作用。VirtualLab Fusion可以幫助您對各種類型干涉儀進行建模，并將不同的光學表面和系統部件、甚至是傾斜和位移等對準錯誤都包含在模擬中。我們以兩個廣泛使用的干涉儀--Mach-Zehnder型和Fizeau型為例進行演示。
Mach-Zehnder干涉儀
我們在VirtualLab Fusion中建立了一個Mach-Zehnder干涉儀，并演示了元件的傾斜和位移是如何影響干涉條紋的。
用于光學檢測的Fizeau干涉儀
在非序列場追跡技術的幫助下，建立了一個Fizeau干涉儀，并顯示了幾個不同測試面的干涉條紋。
可發送信息了解更多詳情: support@infotek.com.cn / support@infocrops.com
展開 每日案例｜馬赫-澤德干涉儀（有視頻）
摘要
干涉測量法是光學計量學的重要技術。 它被廣泛用于例如，表面輪廓、缺陷、高精度的機械和熱變形。 作為一個典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列場追跡，構建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。證明了光學元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。
建模任務
元件傾斜引起的干涉條紋
元件移動引起的干涉條紋
走進VirtulLab Fusion
VirtualLab Fusion工作流程
?設置入射高斯場
?基本源模型[教程視頻]
?設置組件的位置和方向
??LPD II：位置和方向[教程視頻]
?設置組件的非序列通道
? 非序列追跡的通道設置[用戶案例]
VirtualLab Fusion技術
文件信息
展開 使用干涉儀的光學測量
光學計量學是精確測量的重要技術。例如，它經常被用于表面測試，因此在質量控制中發揮著重要作用。VirtualLab Fusion可以幫助您對各種類型干涉儀進行建模，并將不同的光學表面和系統部件、甚至是傾斜和位移等對準錯誤都包含在模擬中。我們以兩個廣泛使用的干涉儀--Mach-Zehnder型和Fizeau型為例進行演示。
Mach-Zehnder干涉儀
我們在VirtualLab Fusion中建立了一個Mach-Zehnder干涉儀，并演示了元件的傾斜和位移是如何影響干涉條紋的。
用于光學檢測的Fizeau干涉儀
在非序列場追跡技術的幫助下，建立了一個Fizeau干涉儀，并顯示了幾個不同測試面的干涉條紋。
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網站: http://www.infotek.com.cn / http://www.honglun-seminary.com
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摘要
干涉測量法是光學計量學的重要技術。 它被廣泛用于例如，表面輪廓、缺陷、高精度的機械和熱變形。 作為一個典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列場追跡，構建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。 證明了光學元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。
建模任務
元件傾斜引起的干涉條紋
元件移動引起的干涉條紋
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VirtualLab Fusion工作流程
設置入射高斯場
?基本源模型[教程視頻]
設置組件的位置和方向
?LPD II：位置和方向[教程視頻]
設置組件的非序列通道
? 非序列追跡的通道設置[用戶案例]
VirtualLab Fusion技術
文件信息
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馬赫-澤德干涉儀
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干涉測量法是光學計量學的重要技術。 它被廣泛用于例如，表面輪廓、缺陷、高精度的機械和熱變形。 作為一個典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列場追跡，構建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。 證明了光學元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。
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應用用例進一步閱讀 -基于激光的邁克爾遜干涉儀和干涉條紋觀測-用于光學測試的Fizeau干涉儀
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干涉測量法是光學計量學的重要技術。 它被廣泛用于例如，表面輪廓、缺陷、高精度的機械和熱變形。 作為一個典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列場追跡，構建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。 證明了光學元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。
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元件傾斜引起的干涉條紋
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設置組件的非序列通道
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-用于光學測試的Fizeau干涉儀
展開 [VirtualLab] 馬赫-澤德干涉儀
摘要
干涉測量法是光學計量學的重要技術。 它被廣泛用于例如，表面輪廓、缺陷、高精度的機械和熱變形。 作為一個典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列場追跡，構建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。 證明了光學元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。
建模任務
元件傾斜引起的干涉條紋
元件移動引起的干涉條紋
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設置組件的位置和方向
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-用于光學測試的Fizeau干涉儀
展開 光學設計必學！Zemax 成像設計課程 招生中
新年的第一場光學培訓即將開課!
