光柵干涉技術的案例
[NEWSLETTER] 單光柵X射線干涉儀
X射線成像技術是基于泰伯效應和光柵自成像。根據N. Morimoto 等人工作，我們選擇了三種典型的相位光柵，并分類利用它們在VirtualLab Fusion 中建模了單光柵干涉儀。通過傅里葉變換設置，我們可以計算其自成像，即相位光柵后面的衍射圖（建模為透射函數），并比較不同類型光柵的結果。
用于X射線成像的單光柵干涉儀
在單個光柵干涉儀中，針對X射線使用三種類型的相位光柵，并對所選光柵的自成像進行研究。
傅里葉變換設置-實例討論
作為VirtualLab Fusion最基本技術之一，傅里葉變換建立了空間域與頻域的聯系。我們在不同實例中討論了傅里葉變換設置，并展示了相應的結果。
了解更多信息請發送信息至: support@infotek.com.cn / support@infocrops.com
展開 [VirtualLab] 用于X光成像的單光柵干涉儀
摘要
X光成像通常基于Talbot效應和光柵的自成像。 遵循N. Morimoto等人的工作，我們選擇了三種類型的相位光柵，分別是交叉型，棋盤形和網格圖案。 在本案例中，光柵被用于單光柵干涉儀中，建模為僅相位透射函數（因為X射線波長遠小于光柵周期），并在VirtualLab Fusion中我們還檢查了其自成像。
建模任務
系統參數來自 N. Morimoto, et al., Opt. Express 23, 29399-29412 (2015)
交叉圖案相位光柵
系統參數來自 N. Morimoto, et al., Opt.
展開 VirtualLab：用于X射線成像的單光柵干涉儀
摘要
X射線成像通常是基于Talbot效應，以及光柵的周期性自成像。按照N. Morimoto等人的工作，我們選擇了三種類型的相位光柵，有十字、棋盤和網狀圖案。這些光柵在一個單一的光柵干涉儀中被采用，被建模為僅有相位的傳輸函數（因為X射線的波長比光柵的最小特征尺寸小得多），并且在VirtualLab Fusion中測試它們的自成像。
建模任務
相位光柵
如果光柵結構的最小特征大于入射光波長的大約五倍，那么產生的相位值就與結構成正比。
在這種情況下，我們通過函數定義的方法來模擬光柵。
在我們的光學設置中，我們使用了一個理想的組件，其中電磁場被乘以僅有相位的傳輸函數，這可以很容易地進行編程。
在VirtualLab Fusion中通過編程靈活定義任意傳輸函數
總結-元件
十字相位光柵
棋盤相位光柵
網格相位光柵
VirtualLab Fusion的工作流程
? 指定或定制傳輸函數
- 如何使用可編程功能及實例 (圓柱形透鏡）[用例］
? 選擇適當的檢測器進行光場的可視化
- 電磁場檢測器 [用例］
? 正確設置傅里葉變換
- 傅里葉變換的設置--在實例中討論 [用例]
VirtualLab Fusion技術
文件信息
更多閱讀
- Talbot效應的建模
- 傅里葉變換的設置--在實例中討論
- 不同孔徑后的衍射圖案
展開 [VirtualLab] 用于X射線成像的單光柵干涉儀
摘要
X射線成像通常是基于Talbot效應，以及光柵的周期性自成像。按照N. Morimoto等人的工作，我們選擇了三種類型的相位光柵，有十字、棋盤和網狀圖案。這些光柵在一個單一的光柵干涉儀中被采用，被建模為僅有相位的傳輸函數（因為X射線的波長比光柵的最小特征尺寸小得多），并且在VirtualLab Fusion中測試它們的自成像。
建模任務
相位光柵
如果光柵結構的最小特征大于入射光波長的大約五倍，那么產生的相位值就與結構成正比。
在這種情況下，我們通過函數定義的方法來模擬光柵。
在我們的光學設置中，我們使用了一個理想的組件，其中電磁場被乘以僅有相位的傳輸函數，這可以很容易地進行編程。
在VirtualLab Fusion中通過編程靈活定義任意傳輸函數
總結-元件
十字相位光柵
棋盤相位光柵
網格相位光柵
VirtualLab Fusion的工作流程
? 指定或定制傳輸函數
- 如何使用可編程功能及實例 (圓柱形透鏡）[用例］
? 選擇適當的檢測器進行光場的可視化
- 電磁場檢測器 [用例］
? 正確設置傅里葉變換
- 傅里葉變換的設置--在實例中討論 [用例]
VirtualLab Fusion技術
文件信息
更多閱讀
- Talbot效應的建模
- 傅里葉變換的設置--在實例中討論
- 不同孔徑后的衍射圖案
展開 
用于X射線成像的單光柵干涉儀
摘要
X射線成像通常基于Talbot效應和光柵的自成像。 在N. Morimoto等人的工作之后，我們選擇了三種類型的相位光柵，分別是交叉形，棋盤形和網格形圖案。 本案例中，光柵被用于單光柵干涉儀中，建模為僅相位傳輸函數（因為X射線波長遠小于光柵周期），并在VirtualLab Fusion中檢查了其成像。
建模任務
交叉圖案相位光柵
棋盤圖案相位光柵
網格圖案相位光柵
不同案例之間的比較
走進VirtualLab Fusion
VirtualLab Fusion工作流程
?指定或自定義傳輸功能
–如何使用可編程功能和示例（圓柱透鏡） [用例]
?選擇合適的探測器進行現場可視化
–電磁場探測器 [用例]
?正確設置傅立葉變換
–傅立葉變換設置–實例討論 [用例]
VirtualLab Fusion技術
展開 VirtualLab：用于X射線成像的單光柵干涉儀
摘要
X射線成像通常是基于Talbot效應，以及光柵的周期性自成像。按照N. Morimoto等人的工作，我們選擇了三種類型的相位光柵，有十字、棋盤和網狀圖案。這些光柵在一個單一的光柵干涉儀中被采用，被建模為僅有相位的傳輸函數（因為X射線的波長比光柵的最小特征尺寸小得多），并且在VirtualLab Fusion中測試它們的自成像。
建模任務
相位光柵
如果光柵結構的最小特征大于入射光波長的大約五倍，那么產生的相位值就與結構成正比。
在這種情況下，我們通過函數定義的方法來模擬光柵。
在我們的光學設置中，我們使用了一個理想的組件，其中電磁場被乘以僅有相位的傳輸函數，這可以很容易地進行編程。
在VirtualLab Fusion中通過編程靈活定義任意傳輸函數
總結-元件
十字相位光柵
棋盤相位光柵
網格相位光柵
VirtualLab Fusion的工作流程
? 指定或定制傳輸函數
- 如何使用可編程功能及實例 (圓柱形透鏡）[用例］
? 選擇適當的檢測器進行光場的可視化
- 電磁場檢測器 [用例］
? 正確設置傅里葉變換
- 傅里葉變換的設置--在實例中討論 [用例]
VirtualLab Fusion技術
文件信息
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摘要
X光成像通常基于Talbot效應和光柵的自成像。 遵循N. Morimoto等人的工作，我們選擇了三種類型的相位光柵，分別是交叉型，棋盤形和網格圖案。 在本案例中，光柵被用于單光柵干涉儀中，建模為僅相位透射函數（因為X射線波長遠小于光柵周期），并在VirtualLab Fusion中我們還檢查了其自成像。
建模任務
系統參數來自 N. Morimoto, et al., Opt. Express 23, 29399-29412 (2015)
交叉圖案相位光柵
系統參數來自 N. Morimoto, et al., Opt. Express 23, 29399-29412 (2015)
交叉圖案相位光柵
棋盤圖案相位光柵
網格圖案相位光柵
不同案例對比
走進VirtualLab Fusion
VirtualLab Fusion工作流程
?指定或自定義透射函數?如何使用可編程功能和示例(圓柱透鏡)[用例]?選擇合適的探測器進行光場可視化?電磁場探測器[用例]?設置恰當的傅立葉變換?傅立葉變換設置–實例討論[用例]
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文件信息
更多閱覽
- Modeling of the Talbot Effect
- Fourier Transform Settings – Discussion at Examples
- Diffraction Patterns behind Different Apertures
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摘要
X射線成像通常基于Talbot效應和光柵的自成像。 在N. Morimoto等人的工作之后，我們選擇了三種類型的相位光柵，分別是交叉形，棋盤形和網格形圖案。 本案例中，光柵被用于單光柵干涉儀中，建模為僅相位傳輸函數（因為X射線波長遠小于光柵周期），并在VirtualLab Fusion中檢查了其成像。
建模任務
交叉圖案相位光柵
棋盤圖案相位光柵
網格圖案相位光柵
不同案例之間的比較
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VirtualLab Fusion技術
展開 VirtualLab：用于X射線成像的單光柵干涉儀
摘要
X射線成像通常是基于Talbot效應，以及光柵的周期性自成像。按照N. Morimoto等人的工作，我們選擇了三種類型的相位光柵，有十字、棋盤和網狀圖案。這些光柵在一個單一的光柵干涉儀中被采用，被建模為僅有相位的傳輸函數（因為X射線的波長比光柵的最小特征尺寸小得多），并且在VirtualLab Fusion中測試它們的自成像。
建模任務
相位光柵
如果光柵結構的最小特征大于入射光波長的大約五倍，那么產生的相位值就與結構成正比。
在這種情況下，我們通過函數定義的方法來模擬光柵。
在我們的光學設置中，我們使用了一個理想的組件，其中電磁場被乘以僅有相位的傳輸函數，這可以很容易地進行編程。
在VirtualLab Fusion中通過編程靈活定義任意傳輸函數
總結-元件
十字相位光柵
棋盤相位光柵
網格相位光柵
VirtualLab Fusion的工作流程
? 指定或定制傳輸函數
- 如何使用可編程功能及實例 (圓柱形透鏡）[用例］
? 選擇適當的檢測器進行光場的可視化
- 電磁場檢測器 [用例］
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- 不同孔徑后的衍射圖案
展開 X射線成像系統：Kirkpatrick-Baez鏡和單光柵干涉儀
在本通訊中，我們展示了兩個X射線成像實驗：(1)使用Kirkpatrick-Baez鏡創建納米級X射線成像點；(2)用單光柵干涉儀說明相襯X射線成像原理。
X射線束的掠入射聚焦鏡
Kirkpatrick-Baez 鏡將掠入射X射線場聚焦到一個納米級的點上。本用例展示了Kirkpatrick-Baez鏡的分析設計過程和焦點區域的衍射圖樣。
用于X射線成像的單光柵干涉儀
在用于X射線的單光柵干涉儀中采用了三種類型的光柵(僅通過相位傳輸建模)，并對所選光柵的自成像進行了研究。
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展開 X射線成像系統：Kirkpatrick-Baez鏡和單光柵干涉儀
在本通訊中，我們展示了兩個X射線成像實驗：(1)使用Kirkpatrick-Baez鏡創建納米級X射線成像點；(2)用單光柵干涉儀說明相襯X射線成像原理。
X射線束的掠入射聚焦鏡
Kirkpatrick-Baez 鏡將掠入射X射線場聚焦到一個納米級的點上。本用例展示了Kirkpatrick-Baez鏡的分析設計過程和焦點區域的衍射圖樣。
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網址： http://www.infotek.com.cn / http://www.honglun-seminary.com
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X射線成像系統：Kirkpatrick-Baez鏡和單光柵干涉儀
在本通訊中，我們展示了兩個X射線成像實驗：(1)使用Kirkpatrick-Baez鏡創建納米級X射線成像點；(2)用單光柵干涉儀說明相襯X射線成像原理。
X射線束的掠入射聚焦鏡
Kirkpatrick-Baez 鏡將掠入射X射線場聚焦到一個納米級的點上。本用例展示了Kirkpatrick-Baez鏡的分析設計過程和焦點區域的衍射圖樣。
用于X射線成像的單光柵干涉儀
在用于X射線的單光柵干涉儀中采用了三種類型的光柵(僅通過相位傳輸建模)，并對所選光柵的自成像進行了研究。
白光干涉儀測量原理及干涉測量技術的應用
而SuperViewW白光干涉儀防撞機械電子傳感器和軟件 ZSTOP 防撞保護功能的雙重保障，能夠有效地保護儀器免受損壞，確保測量結果的準確性和可靠性。這不僅為用戶節省了維修成本和時間，更保證了工作的連續性和高效性，為各個領域的發展提供了堅實的技術支持。
光 · 學堂 | VirtualLab Fusion干涉檢測技術|干涉原理分析及光學系統建模 2026/6/23-24（上海場）
授課時間
2026/6/23（二）-6/24（三）AM 9:00-PM 16:00
授課地點
上海市嘉定區南翔銀翔路819號中暨大廈18樓1805室
課程講師
訊技光電工程團隊及資深顧問
課程費用
3000RMB/1人次
(課程包含課程材料費、開票稅金、午餐費)
課程簡介
縱觀歷史，光學為進行極其精確的測量提供了必要的手段，這是激發科學技術潛力的重要一環。對計量系統的分析不可避免地需要考慮物理光學效應(相干、偏振、干涉、行射等)，以產生現實、充分的結果。VirtualLab Fusion為這種分析提供了必要的工具，利用快速物理光學理論來促進快速仿真。
干涉系統被廣泛地應用于光學測量和光學檢測等領域。對這類系統工作原理的討論必須要結合物理光學的知識，如光的電磁場表示、光的波動性、光場的疊加等。顯微系統也是組成光學測量的一個重要組成部分，課程內容中也涵蓋了高NA系統，微觀與宏觀相結合的完整系統仿真如晶圓檢測系統，摩爾紋系統等。該課程無需軟件基礎。
展開 激光干涉測量技術在機床領域的應用
激光干涉測量技術助力機床產業邁向新高度。
激光干涉測量技術簡介
激光干涉測量技術是一種高精度的非接觸式測量技術，利用激光干涉原理進行測量。它利用激光干涉現象來實現非接觸式測量，具有高精度、高分辨率、快速測量等優點。激光干涉儀sj6000可以進行多種類型的測量，包括但不限于：
線性測量：激光干涉儀可以精確測量目標物體的長度、寬度、高度等線性尺寸參數，實現高精度的尺寸測量和幾何形狀分析。
垂直度測量：激光干涉儀可以用于測量目標物體的垂直度、平行度等參數，幫助保證工件的幾何形狀和裝配精度。
位移測量：激光干涉儀可以檢測目標物體的微小位移或振動，用于振動分析等應用。
應用于機床領域
在機床領域，激光干涉儀sj6000可以應用于多個場景，利用其高精度測量功能和動態性能分析功能，提高機床設備的加工精度、穩定性和效率，涵蓋了機床調試、動態性能評估、結構優化和加工工藝監測等多個方面：
1、機床加工精度調試：
線性測長和角度測量：激光干涉儀可用于測量機床各軸線性運動的位移和角度，以調試和校準機床的加工精度。
直線度和垂直度測量：用于檢測機床導軌、絲桿等部件的直線度和垂直度，確保機床運動平穩和加工質量。
動態位移、速度和加速度測量：激光干涉儀可實時監測機床各軸的動態位移、速度和加速度，評估機床的動態性能和響應特性。
振動分析：通過分析機床在工作過程中的振動特性，識別和解決機床運行中的振動問題，提高加工質量和效率。
3、機床結構調試與優化：
平行度和平面度測量：用于調試機床各部件之間的平行度和平面度，確保機床結構的穩定性和剛性。
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