相襯成像的案例
X射線成像系統：Kirkpatrick-Baez鏡和單光柵干涉儀
在如醫療成像和工業檢查等廣泛的應用中，X射線成像是一種有價值的工具。在VirtualLab Fusion中，我們已經成功地實現了幾個著名的X射線成像系統，它們可以用來探索所討論裝置的成像特性，或用來說明特殊的X射線成像原理。在本通訊中，我們展示了兩個X射線成像實驗：(1)使用Kirkpatrick-Baez鏡創建納米級X射線成像點；(2)用單光柵干涉儀說明相襯X射線成像原理。
X射線束的掠入射聚焦鏡
Kirkpatrick-Baez 鏡將掠入射X射線場聚焦到一個納米級的點上。本用例展示了Kirkpatrick-Baez鏡的分析設計過程和焦點區域的衍射圖樣。
用于X射線成像的單光柵干涉儀
在用于X射線的單光柵干涉儀中采用了三種類型的光柵(僅通過相位傳輸建模)，并對所選光柵的自成像進行了研究。
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在如醫療成像和工業檢查等廣泛的應用中，X射線成像是一種有價值的工具。在VirtualLab Fusion中，我們已經成功地實現了幾個著名的X射線成像系統，它們可以用來探索所討論裝置的成像特性，或用來說明特殊的X射線成像原理。在本通訊中，我們展示了兩個X射線成像實驗：(1)使用Kirkpatrick-Baez鏡創建納米級X射線成像點；(2)用單光柵干涉儀說明相襯X射線成像原理。
X射線束的掠入射聚焦鏡
Kirkpatrick-Baez 鏡將掠入射X射線場聚焦到一個納米級的點上。本用例展示了Kirkpatrick-Baez鏡的分析設計過程和焦點區域的衍射圖樣。
用于X射線成像的單光柵干涉儀
在用于X射線的單光柵干涉儀中采用了三種類型的光柵(僅通過相位傳輸建模)，并對所選光柵的自成像進行了研究。
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在如醫療成像和工業檢查等廣泛的應用中，X射線成像是一種有價值的工具。在VirtualLab Fusion中，我們已經成功地實現了幾個著名的X射線成像系統，它們可以用來探索所討論裝置的成像特性，或用來說明特殊的X射線成像原理。在本通訊中，我們展示了兩個X射線成像實驗：(1)使用Kirkpatrick-Baez鏡創建納米級X射線成像點；(2)用單光柵干涉儀說明相襯X射線成像原理。
X射線束的掠入射聚焦鏡
Kirkpatrick-Baez 鏡將掠入射X射線場聚焦到一個納米級的點上。本用例展示了Kirkpatrick-Baez鏡的分析設計過程和焦點區域的衍射圖樣。
用于X射線成像的單光柵干涉儀
在用于X射線的單光柵干涉儀中采用了三種類型的光柵(僅通過相位傳輸建模)，并對所選光柵的自成像進行了研究。
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展開 《Science》：新記錄！千分之一納米精度，超高分辨率電鏡圖像
電子顯微鏡的像差校正光學的進步，大大提高了成像系統的質量，將空間分辨率提高到50 pm以下的水平。然而，在實際樣品中，只有在非常有利的條件下才能達到這個極限分辨率。一個主要的障礙是，由于束流電子與原子靜電勢之間的強庫侖相互作用，在比單層厚的樣品中不可避免地會發生多次電子散射。多次散射改變了樣品中的光束形狀，導致探測器平面上復雜的強度分布。當成像的樣品厚度超過幾十個原子時，會出現非線性甚至非單調的對比度依賴，這阻礙了利用相襯成像直接測定樣品結構。定量結構圖像解譯，通常依賴于密集的圖像模擬和建模。直接檢索樣品電位，需要解決非線性，多重散射的反問題。人們已經通過不同的方法進行了改進，其中大多數是基于布洛赫波理論，通過對晶體樣品的不同布拉格光束相移。不幸的是，由于需要確定大量未知的結構因素，這些方法在具有大單胞或非周期結構的一般樣本中，變得極為困難。
疊層成像，是另一種相位檢索方法，最早可追溯到Hoppe在20世紀60年代的工作。現代的、堅固的裝置，使用多重強度測量——通常是通過掃描擴展樣本的一個小探針，來收集一系列衍射圖案。先驗知識，不需要對樣本結構進行周期性或對稱性約束。該方法，已廣泛應用于可見光成像和X射線成像領域。直到最近，在電子顯微鏡中，電子疊層成像，一直受到樣品厚度和探測器性能的限制。
二維(2D)材料和直接電子探測器的發展，引起了更廣泛的新興趣。對于薄樣品，如2D材料，電子疊層成像技術，已經實現了2.5倍透鏡衍射極限的成像分辨率，達到了39 pm的阿貝分辨率。
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