振幅調制的案例
OptiSystem應用：用MATLAB組件實現振幅調制
（注意：m文件需與該光路文件存放在同一個文件夾）
圖6.輸入程序路徑
MATLAB中振幅調制主代碼如下：
圖7.MATLAB代碼
對應函數代碼如圖8：
a）AmplitudeModulatorSampled函數
b）AmplitudeModulatorParameterized函數
c）AmplitudeModulatorNoise函數
圖8.MATLAB代碼
三、運行結果
運行結果：
a）振幅調制前
b）振幅調制后
圖9.振幅調制前后對比
OptiSystem：用MATLAB組件實現振幅調制
（注意：m文件需與該光路文件存放在同一個文件夾）
圖6 輸入程序路徑
MATLAB中振幅調制主代碼如下：
圖7 MATLAB代碼
對應函數代碼如圖8：
a）AmplitudeModulatorSampled函數
b）AmplitudeModulatorParameterized函數
c）AmplitudeModulatorNoise函數
圖8 MATLAB代碼
三、運行結果
運行結果：
a）振幅調制前
b）振幅調制后
圖9 振幅調制前后對比
OptiSystem應用：用MATLAB組件實現振幅調制
案例中，我們生成兩束功率為0dBm，頻率分別為192.7THz、191THz的載波，合束之后經過自定義脈沖的調制。我們用MATLAB代碼控制電脈沖對光信號的調制過程，通過在MATLAB組件中導入MATLAB代碼來實現。整體光路圖如圖1，全局參數如圖2：
一、建模目標
案例展示了在OptiSystem中調用MATLAB代碼實現振幅調制。
齒輪故障&軸承故障&旋轉機械故障特征頻率
1.齒輪故障特征頻譜
功率倒頻譜常用于齒輪系統的振動和噪聲分析，它能分離轉軸二次以上諧波調制而引起的大量“邊頻”，容易找出主要調制頻率成分，從而對故障做出準確的診斷。
齒輪常見故障的特征頻譜如圖1所示，其中，GMF表示齒輪嚙合頻率，Fr表示低速齒輪轉頻，Fn表示高速齒輪轉頻。
（a）正常
（b）磨損
（c）不對中
（d）裂紋
（e）偏心
（f）斷齒
圖1 齒輪常見故障特征頻譜圖
2.滾動軸承故障特征
2.1.故障頻率經驗公式
1）內圈故障頻率
2）外圈故障頻率
3）保持架故障頻率
4）滾動體故障頻率
5）外圈與保持架的關系
6）外圈與內圈的關系
其中，fr為轉頻，z為滾動體個數。
2.2.滾動軸承滾動體故障
1）滾動體損傷時，缺陷部位通過內圈或外圈滾道表面時會產生沖擊振動。
2）滾動軸承無徑向間隙時，會產生頻率為n×z×fb的沖擊振動。
3）滾動軸承有徑向間隙時，根據損傷部位與內圈或外圈發生沖擊接觸的位置不同，會發生以保持架旋轉頻率fc進行的振幅調制的情況。
圖2 滾動軸承滾動體故障
2.3.滾動軸承內圈故障
1）內滾道產生損傷時，如剝落、裂紋、點蝕等，若滾動軸承無徑向間隙，會產生頻率為n×z×fi的沖擊振動。
2）通常滾動軸承都有徑向間隙，且為單邊載荷，根據損傷部分與滾動體發生沖擊接觸的位置不同，振動的振幅會發生周期性的變化，及發生振幅調制的情況。
圖3 滾動軸承內圈故障
2.4.滾動軸承外圈故障
1）滾動軸承外圈滾道產生損傷時，在滾動體通過時也會產生沖擊振動。
2）由于損傷的位置與載荷方向的相對位置關系是一定的，所以不存在振幅調制的情況。
展開 
齒輪與齒輪箱振動噪聲機理分析及控制
n 表示嚙合頻率的高階諧波頻率；m 表示以軸頻，fs 為調制頻率的邊帶簇數。
三、齒輪振動噪聲特性
1
調制特性
調制特性在齒輪振動噪聲中廣泛存在。當齒輪存在局部缺陷時，或在輪齒上產生疤痕、蝕坑等缺陷，此時會在頻譜圖上給出一個由周期性脈沖激勵引起的調幅，出現眾多的低頻邊帶。由故障與缺陷而引起振動能量增大，大多數反映在邊帶分量上。如果缺陷向鄰近輪齒擴展會引起更大的、更密集的以嚙合頻率為中心頻率的邊帶（見圖3）。
（a）振動譜
（b）振動譜
（c）噪聲譜
圖3 軸頻對齒輪嚙合頻率的調制
調頻是由某一個純單頻激勵對以嚙合頻率為中心頻率的調制，這將會產生具有等時距（在頻域上某頻率）的邊帶族。
令齒合激勵的振動信號為XNC，受到軸轉頻激勵信號為Xr1和Xr2的調制，若其振動形式以簡諧周期形式描述，則
其中：kNC為嚙合振動頻率，可作載波頻率；k1和k2為調制頻率，因調制特性存在振幅調制與頻率調制。
振幅調制：
令m1，m2為調制因子，它的大小取決于缺陷的狀態，振幅調制y(t)為
其中：A為振幅矢量；k1，k2為調制頻率；kNC為載波頻率；h為初相位。
展開 齒輪與齒輪箱振動噪聲機理分析及控制
令齒合激勵的振動信號為XNC，受到軸轉頻激勵信號為Xr1和Xr2的調制，若其振動形式以簡諧周期形式描述，則
其中：kNC為嚙合振動頻率，可作載波頻率；k1和k2為調制頻率，因調制特性存在振幅調制與頻率調制。
振幅調制：
令m1，m2為調制因子，它的大小取決于缺陷的狀態，振幅調制y(t)為
其中：A為振幅矢量；k1，k2為調制頻率；kNC為載波頻率；h為初相位。
上述的調制作用可以表示為對原嚙合頻率 Asin(kNCt+h) 分量，疊加上兩對振幅0.5m1A和0.5m2A，其頻率相應為kNC±k1和kNC±k2。它是由于調制作用而多出的頻率分量，相當于以嚙合頻率kNC為頻率的量，被稱之為“邊帶簇”。
經振幅調制后，調制后的信號總能量增加了0.5(m1A)2與0.5(m2A)2之和，從而是可以反應出齒輪缺陷的狀態特性。
展開 【虹科案例】固態量子發射器——虹科數字化儀用于控制鉆石色心中的脈沖序列
AWG-5000 允許生成具有高振幅 (>1.5V) 的窄電方波脈沖，控制電光振幅調制器以生成短激光脈沖。
虹科AWG-5000
使用這種機制，可以生成具有接近高斯形狀的光脈沖，顯示出 280ps 的半峰全寬。
此外，AWG-5064 已用于驅動電光相位調制器，以生成高達約 2GHz 的頻率邊帶，從而能夠驅動具有相位穩定激光場的兩個光學躍遷。
高斯光脈沖
AWG-5000 的數字輸出通道允許控制聲光振幅調制器，或者將它們用于生成觸發脈沖以對實驗序列進行定時。
在未來，根據序列中某個讀數的結果對測量協議進行實時控制將是必要的。
虹科測試測量
虹科是在各細分專業技術領域內的資源整合及技術服務落地供應商。在測試測量行業經驗超過17年的高科技公司，虹科與世界知名的測量行業巨頭公司Marvin Test、Pickering Interface, Spectrum等公司合作多年，提供領域內頂尖水平的基于PXI/PXIe/PCI/LXI平臺的多種功能模塊，以及自動化測試軟件平臺和測試系統，通用臺式信號源設備，高速數字化儀測試方案等。事業部目前已經提供覆蓋半導體、3C、汽車行業的超過25個大型和超大型自研系統項目。
展開 267 基于matlab的信號處理GUI人機交互 ￥25.9
基于matlab的信號處理GUI人機交互，利用GUI功能完成包括振幅調制AM（Amplitude Modulation），雙邊帶調幅信號DSB（double sideband），單邊帶信號SSB（single sideband ），調頻FM模擬（Frequency Modulation）調制在內的調制解調過程，輸入波形及濾波參數可調，程序已調通，可直接運行。
VIRTUALLAB FUSION中的光束切趾建模
Karpenko在1994年提出了只有振幅調制的鋸齒光束切趾器。
我們將展示VirtualLab Fusion模擬這種定制的光闌的能力，這得益于其高度可定制的環境和跨平臺的求解器。通過比較，我們的結果與文獻實驗結果完全一致。
光束切趾中圓鋸齒光闌
光束切趾在高能激光器和光束傳輸系統的設計中起著關鍵作用。由于VirtualLab Fusion高度可定制的環境，鋸齒光束切趾使用傳輸函數建模。
利用空間濾波器“清理”激光束
利用VirtualLab Fusion先進的傳播求解技術，計算了不同形狀光闌的衍射圖樣，并對其衍射特性進行了研究。
VIRTUALLAB FUSION中的光束切趾建模
Karpenko在1994年提出了只有振幅調制的鋸齒光束切趾器。
我們將展示VirtualLab Fusion模擬這種定制的光闌的能力，這得益于其高度可定制的環境和跨平臺的求解器。通過比較，我們的結果與文獻實驗結果完全一致。
光束切趾中圓鋸齒光闌
光束切趾在高能激光器和光束傳輸系統的設計中起著關鍵作用。由于VirtualLab Fusion高度可定制的環境，鋸齒光束切趾使用傳輸函數建模。
利用空間濾波器“清理”激光束
利用VirtualLab Fusion先進的傳播求解技術，計算了不同形狀光闌的衍射圖樣，并對其衍射特性進行了研究。
VirtualLab：用于光束切趾的圓形鋸齒光闌
在高能光學系統中使用純振幅調制的光圈比用沉積技術制造的光圈具有更高的耐久性。
建模任務
使用可編程函數來編程鋸齒形光闌
可編程函數可以用于模擬鋸齒狀光闌。它允許在單個平面上定義一個與位置相關的復值函數，然后將其相乘到輸入的場上。
不帶有光束切趾的光束傳播
當光束在沒有鋸齒光闌的情況下傳輸時，可以觀察到衍射引起的波紋。
帶有光束切趾的光束傳播
鋸齒狀孔徑的引入消除了傳播光束的可見衍射波紋。
結果比較
文獻對比
我們對我們的模擬結果和在一篇研究論文中提出的結果進行了定性的比較。結果表明，兩者都表現出相似的結果，這表明鋸齒形孔徑可以有效地抑制所傳播的激光束的衍射波紋。
參考文獻
Jerome M. Auerbach and Victor P. Karpenko, "Serrated-aperture apodizers for high-energy laser systems," Appl. Opt. 33, 3179-3183 (1994)
展開 
VirtualLab：用于光束切趾的圓形鋸齒光闌
在高能光學系統中使用純振幅調制的光圈比用沉積技術制造的光圈具有更高的耐久性。
建模任務
使用可編程函數來編程鋸齒形光闌
可編程函數可以用于模擬鋸齒狀光闌。它允許在單個平面上定義一個與位置相關的復值函數，然后將其相乘到輸入的場上。
不帶有光束切趾的光束傳播
當光束在沒有鋸齒光闌的情況下傳輸時，可以觀察到衍射引起的波紋。
帶有光束切趾的光束傳播
鋸齒狀孔徑的引入消除了傳播光束的可見衍射波紋。
結果比較
文獻對比
我們對我們的模擬結果和在一篇研究論文中提出的結果進行了定性的比較。結果表明，兩者都表現出相似的結果，這表明鋸齒形孔徑可以有效地抑制所傳播的激光束的衍射波紋。
參考文獻
Jerome M. Auerbach and Victor P. Karpenko, "Serrated-aperture apodizers for high-energy laser systems," Appl. Opt. 33, 3179-3183 (1994)
展開 VirtualLab：用于光束切趾的圓形鋸齒光闌
在高能光學系統中使用純振幅調制的光圈比用沉積技術制造的光圈具有更高的耐久性。
建模任務
使用可編程函數來編程鋸齒形光闌
可編程函數可以用于模擬鋸齒狀光闌。它允許在單個平面上定義一個與位置相關的復值函數，然后將其相乘到輸入的場上。
不帶有光束切趾的光束傳播
當光束在沒有鋸齒光闌的情況下傳輸時，可以觀察到衍射引起的波紋。
帶有光束切趾的光束傳播
鋸齒狀孔徑的引入消除了傳播光束的可見衍射波紋。
結果比較
文獻對比
我們對我們的模擬結果和在一篇研究論文中提出的結果進行了定性的比較。結果表明，兩者都表現出相似的結果，這表明鋸齒形孔徑可以有效地抑制所傳播的激光束的衍射波紋。
參考文獻
Jerome M. Auerbach and Victor P. Karpenko, "Serrated-aperture apodizers for high-energy laser systems," Appl. Opt. 33, 3179-3183 (1994)
展開 配合無線接收芯片完成高品質無線音頻傳輸的發射芯片-U1T32A
其工作原理主要圍繞?信號調制、上變頻、功率放大和天線輻射?四個關鍵步驟展開。
發射芯片的核心工作流程：
基帶信號輸入?：發射芯片接收來自基帶處理器的數字信息信號（如語音、數據）。這些信號是低頻的基帶信號，無法直接通過天線有效輻射。
調制?：芯片內部的?調制器?將基帶數字信號加載到一個高頻的載波信號上。這個過程稱為調制，常見的調制方式包括ASK（幅移鍵控）、FSK（頻移鍵控）和QAM（正交振幅調制）。調制后的信號稱為中頻（IF）信號，它包含了原始信息，但頻率仍需提升。
功率放大?：經過上變頻的射頻信號功率非常微弱。?功率放大器（PA）? 將此信號放大到足夠的功率水平（手機發射功率通常為1~23dBm），以確保信號能夠有效傳輸到基站或接收設備，并克服路徑損耗。
濾波與天線發射?：放大后的信號通過?帶通濾波器?，濾除調制和放大過程中產生的雜散頻率和噪聲，保證信號的純凈度，避免干擾其他頻段。最后，純凈的、高功率的射頻信號通過?天線開關?切換至發射天線，由天線將電信號轉換為電磁波并輻射到空間中。
由工采網代理的U1T32A是上海山景推出的一款高度集成的UHF無線音頻發射芯片，配合無線接收芯片完成高品質無線音頻傳輸。，單芯片集成度高，性價比好。適用于無線K歌系統、無線音頻傳輸、廣播系統等多種場景；該芯片集成了32位RISC MCU內核與豐富的外設資源，具備優異的射頻性能與音頻處理能力，可實現高品質無線音頻傳輸。
U1T32A將32位RISC MCU內核、高性能UHF射頻發射器、高品質音頻接口以及豐富的電源管理模塊集成于單顆芯片之中，適用于各類需要無線音頻發射的應用場景。
展開 [VirtualLab] 用于光束切趾的圓形鋸齒光闌
在高能光學系統中使用純振幅調制的光圈比用沉積技術制造的光圈具有更高的耐久性。
建模任務
使用可編程函數來編程鋸齒形光闌
可編程函數可以用于模擬鋸齒狀光闌。它允許在單個平面上定義一個與位置相關的復值函數，然后將其相乘到輸入的場上。
不帶有光束切趾的光束傳播
當光束在沒有鋸齒光闌的情況下傳輸時，可以觀察到衍射引起的波紋。
帶有光束切趾的光束傳播
鋸齒狀孔徑的引入消除了傳播光束的可見衍射波紋。
結果比較
文獻對比
我們對我們的模擬結果和在一篇研究論文中提出的結果進行了定性的比較。結果表明，兩者都表現出相似的結果，這表明鋸齒形孔徑可以有效地抑制所傳播的激光束的衍射波紋。
參考文獻
Jerome M. Auerbach and Victor P. Karpenko, "Serrated-aperture apodizers for high-energy laser systems," Appl. Opt. 33, 3179-3183 (1994)
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