Mastersizer 3000+
關注創建者：匿名 創建時間：2026-01-04
Mastersizer 3000+的實例教程
圖1：Mastersizer可以大量且快速地分析粉末粒徑大小
儀器介紹
以往在獲得顆粒形貌時，僅能使用SEM（掃描式電子顯微鏡）和光學顯微鏡等測量工具，然而，這些方法在測量范圍、操作便捷性和數據處理方面都有一定的限制。近年來，Malvern Panalytical公司推出了兩款粒徑和形貌測量儀器──Mastersizer 3000+和Morphologi 4-ID，接下來將探討這兩款儀器的優勢。
Mastersizer 3000+
使用雷射繞射法測量粒徑大小，其具有以下特點：
測量范圍廣：可量測從奈米到微米級別（10nm~3.5mm，范圍和材料本身有關）的顆粒。
高代表性和重復性： 相比其他方法（例如：篩分法），雷射繞射法提供更具代表性且重復性好的數據。
快速測量： 能給出實時的粒徑分布結果，并且能在短時間內完成完整的粉末分析，如圖1。
Morphologi 4-ID
專門用于顆粒形貌分析，具備以下特點：
高分辨率成像：顯示顆粒形貌特征，包括粒徑、真圓度、伸長率等。
自動化分析： 自動量測、識別、分析、統計和量化顆粒形狀參數，甚至可以自動分散樣品。
多參數測量： 提供全面的顆粒特性數據，同時可以進行特定的參數分類，這有助于優化粉末形貌特性，提高燒結性能和機械性能，如圖2。
圖2：Morgpologi 4-ID，除了形貌分布也可以看到顆粒形狀
總結
在積層制造領域，Mastersizer 3000+和Morphologi 4-ID展示了各自獨特的性能和應用優勢。
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圖2：Morgpologi 4-ID，除了形貌分布也可以看到顆粒形狀
總結
在積層制造領域，Mastersizer 3000+和Morphologi 4-ID展示了各自獨特的性能和應用優勢。
Mastersizer 3000+以其廣泛的測量范圍，從奈米到微米級顆粒都能精確測量，適用于積層制造過程中的粉末質量控制和配方優化，確保最終產品的性能一致性。
