光學測量設備的案例
GOM光學三維測量案例：塑料專家Oechsler如何實現迭代更少，質量更優？
通過使用GOM的光學三維測量系統，其注塑模具的生產大大加快。
光學三維測量系統在基準測試在脫穎而出
每年，Oechsler的總部Ansbach都要加工400多種不同材料的塑料制品，其中幾乎80%是纖維增強材料。
“這種材料有一種天然的曲翹傾向，尤其是在壁厚比較薄的外殼部分。
” Marco Wacker, 工程博士，Oechsler技術和創新主管以及管理委員會成員說道。
精確是該公司成立以來的核心競爭力。
Oechsler曾經采用接觸式坐標系統測量外殼，但是出現了很多問題。
對模具優化的結果并不能完全反映在測量數據中。
“當我們仔細觀察這個問題時，我們發現接觸式測量耗時太久，而且只能滿足我們的部分檢測需求。
”除此之外，接觸式測量系統將三維的測量結果以抽象的2D或3D數值顯示在表格中。
之后，設計師必須再將結果轉化到三維系統中。
” Wacker解釋道，“這在數字時代不再有意義。
”
自2012年，該公司開始尋找更優的測量方法。
在對接觸式測量系統、CT掃描設備以及光學測量設備的對比之后，GOM的藍光光柵測量設備以其高速、高精度以及對混合材料部件的檢測能力獲得Oechsler的青睞。
全域測量 – 耗時更少，迭代更少
光學三維掃描儀不是捕捉單個點，而是對整個零件的幾何形狀進行全場掃描，生成高分辨率的點云。
投射的光柵條紋圖案由左右兩個相機記錄。
只需要幾秒鐘的時間，該非接觸式測量系統可以捕捉到包含數百萬個測量點的高清圖像。
GOM軟件為每個相機像素計算三維物體坐標。
計算出來的多邊形網格代表被測物自由形狀的表面以及規則的幾何形狀。
經過與圖紙或者CAD數據的對比，可以直接進行形狀和尺寸的分析。
展開 8月20日在線研討會預熱|SPEOS軟件介紹
對此，SPEOS的解決方案是，虛擬與現實結合，我們在軟件中建立虛擬模型，而模型的數據則通過現實中的設備進行測量得到，以得到真實的仿真結果。
SPEOS仿真方案
為了獲得光學屬性信息，SPEOS可以與專業的光學測量設備搭配，比如OMS2便攜式光學測量設備，這是以OMS2測量數據來進行仿真的結果與真實亮度照相機的對比效果，可以看到我們的仿真結果與真實情況基本上是一致的。除了OMS2，我們還有OMS4高精度多用途光學屬性測量儀，除了可以測量材料的面屬性，還可以測量體屬性，也就是材料對于各個波長，各個方向的透射系數，反射系數以及吸收系數。
OMS光學屬性測量設備測量效果
接下來我們來看看SPEOS在整車人機工效上的應用案例，這里有3個經典案例，分別是前擋風玻璃的眩光干擾分析，顯示屏內容的可讀可視性分析，以及車輛內部照明的早期可視化。
基于SPEOS，我們可以對前擋風玻璃的眩光效果進行可視化分析，并通過量化擋風玻璃上的眩光值來驗證其是否符合要求；對于顯示屏，SPEOS可以測量顯示屏內容的亮度與周圍環境的亮度，并通過法令法規的標準來驗證其是否滿足人眼可讀可視性要求；對于氛圍燈的設計，SPEOS可以還原出各個視角、各個燈光條件下的人眼觀察情況，在早期階段即可驗證氛圍燈的點亮效果。
SPEOS整車人機工效經典案例
而在外部燈具設計時，我們主要關注的是頭燈的點亮效果以及點亮時的能量分布。SPEOS可以通過強度探測器獲得頭燈點亮時的能量分布，并導入法令法規標準對其進行驗證，除了強度分布外，還可以加入路面的模型，來獲得一個更加真實的路面能量模擬情況和夜晚的人眼視覺情況。
展開 Zemax案例 | 基于Zemax大型階梯軸直徑測量光學系統的設計突破
引言
在高速列車、航空航天、船舶制造等高端裝備領域，大型階梯軸作為核心傳動部件，其直徑測量精度直接決定了裝備的裝配精度與運行可靠性。傳統測量方法受限于接觸式干擾、環境敏感性等問題，難以滿足現代工業對高精度、高效率測量的需求。光學成像測量法憑借非接觸、抗干擾強等優勢成為主流選擇，但透鏡裝配偏心導致的光軸不重合、測量誤差大等技術瓶頸，長期制約著測量精度的提升。長春理工大學段潔副教授團隊基于Zemax光學設計軟件成功研發出對稱式雙遠心光路-雙CCD光學成像系統[1]，有效解決了大型階梯軸直徑測量的精度難題。本文將深度解析該系統的設計邏輯、Zemax仿真優化過程及工程應用價值，展現光學設計軟件在高端制造領域的核心賦能作用。
大型階梯軸測量的技術瓶頸
大型階梯軸的直徑通常在600mm-800mm之間，其尺寸精度直接影響裝備的傳動效率和運行穩定性。在實際生產中，測量設備面臨多重技術挑戰：
傳統接觸式測量易造成工件表面損傷，且測量誤差受壓力、溫度等環境因素影響顯著；超聲波測量、偏振成像測量等非接觸方法存在抗干擾能力弱、精度不足等問題；光學成像系統因透鏡裝配偏心、光軸不重合，導致準直性下降，測量誤差難以控制；現有光學系統或結構復雜、或視場過小（如部分系統物方線視場僅60mm），無法適配大型階梯軸測量需求。
隨著高端裝備制造對精度要求的不斷提升，行業迫切需要一款兼具大視場、高精度、高穩定性的光學成像測量系統。
基于Zemax的對稱式雙遠心光路設計
團隊提出的對稱式雙遠心光路-雙CCD測量方法，以平面反射鏡誤差補償為核心創新點，通過Zemax軟件完成光路設計、參數優化與性能仿真，構建了滿足大型階梯軸測量需求的光學系統。
展開 把光應用到測量領域 | HBK光學測量解決方案
1.降低總體擁有成本
基于FBG技術的光學傳感器可以通過同一根光纖串聯起來，利用不同波長傳感器的復用能力。此外，如果測量原理相同，還可以連接測量不同參數的傳感器。這樣，一臺光學解調儀就可以同時采集數百個傳感器，從而大大降低了每個測量點的成本。工廠預裝的系列傳感器不僅減少了所需的布線量，還大大減少了安裝時間和現場連接的需要。FBG傳感器可提供長時間的精確和絕對測量。與其他一些傳感器不同的是，它們無需重新校準，隨時間的推移也不會出現零漂移。
2.匹配新材料
新材料越來越強，結構越來越輕。串聯式傳感器連接最大程度地降低了布線的復雜性，從而減輕了重量，簡化了傳感網絡，即使傳感器數量較多也不例外。由于 FBG 傳感器體積小、重量輕，因此可以嵌入創新結構使用的復合材料中。它們可以承受高應變，具有極高的疲勞極限，因此適合用于航空、航天和其他行業的新材料。
3.訪問遠程地點
利用光學傳感器技術，距離和線纜長度不會影響測試結果。即使您的數據采集系統位于距離測量點數公里之外的地方，您仍然可以依靠高質量的測量結果。
4.在危險區域運行
由于該技術完全是被動式的，傳感器無需主動供電，這意味著它們可以在爆炸區域使用，而不會有任何風險。它們還非常適合高壓環境，因為信號不會受到電磁干擾，而且傳感器可以是非導電的。它們的穩健性超出了安全方面的考慮。在近海結構、液壓管線或船體等潮濕、鹽分和高壓交織的惡劣環境中，基于 FBG 的測量仍能保持穩定可靠，是潮濕和海洋應用的理想之選。
展開 
智能測量技術分享系列講座來啦！喬澤光學測量技術專員為您詳細解讀基于仿真模型的DIC應變測量方案！
研討會時間
2022/3/23 ( 周三 ) 13:30 ~15:00
研討會課程大綱
數字孿生技術介紹；
DIC技術的歷史與未來；
lEIKOSIM光學全場測量方案：
* 基于有限元網格的圖像處理
* 網格周圍的自動校準
* 多視圖（對攝像機數量沒有技術限制）
數字孿生DIC測量技術應用案例分享
研討會適合參加對象
1. 需要自主開發、確保產品質量與可靠性的企業負責人員。
2. 需要加快產品開發設計周期使其盡早進入市場競爭的企業負責人員。
3. 目前使用傳統DIC設備，但是有做仿真模型驗證與對比需求的用戶。
4. 航空航天、 汽車行業、機械制造行業之研發、設計及測試工程人員及主管。
如果您對研討會相關詳情還有疑問，敬請聯系：
010-65610249
發布于 2022-03-01 14:21
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展開 3d光學輪廓儀應用于測量超光滑透明微光學器件
4、三維測量：3d光學輪廓儀能夠實現器件表面的三維測量，即獲取表面的形貌、幾何形狀和曲率等信息。這對于微光學器件的設計和制造具有重要的意義，可以幫助分析器件的性能和效果，為后續加工工藝提供指導。
5、廣泛應用：3d光學輪廓儀在微電子、光學加工、半導體制造等領域有廣泛的應用。它可以用于精確測量光學鏡片、光導纖維端面、光纖激光頭、光學涂層等器件，為質量控制和過程優化提供了重要的工具和手段。
3d光學輪廓儀：超光滑透明微光學器件測量的利器
3d光學輪廓儀用于測量微光學器件應用案例
為獲得更好的光學處理效果，需對玻璃或樹脂等光學材料結構進行微納工藝加工，如時下流行的投影儀中勻光用的激光擴散片，還有各類組成特殊圖案的衍射元件，工業用光柵、特殊目的的光學器件。
展開 PCB平面度&翹曲度測量方式：光學掃描成像測量機
大部分的PCB印制電路板廠，都選擇使用自動化插裝線進行電子元器件的安裝，在這過程中，倘若電路板不平整，很有可能會引起定位不準、電子元器件無法插裝、貼裝到板子的孔和表面貼裝焊盤上的情況，甚至可能會撞壞設備。由此可見，PCB板的平面度和翹曲度是品質把控中至為重要的一關。
PCB板上遍布銅線，使用常見的塞規、卡尺等接觸式工具進行測量，不僅會刮花、刮損漆面和表面銅線，測量數據也會存在人為誤差。為避免這些情況頻繁發生，影響出廠交付，VX9700光學掃描成像測量機，可以解決這些測量難。
VX9700光學掃描成像測量機以光學成像測量系統為基礎，配合高精度運動機構和花崗巖龍門式底座，實現了測量精度、速度、穩定的結合。其非接觸式傳感器，結合高精度分析算法，可以精準計算測量位的平面度和翹曲度數據，且即使在多塊PCB板同時測量的情況下，也穩定進行。在測量范圍內，自動定位測量對象、進行測量評價、生產數據報表，無論是抽檢或批量檢測均適用，一定程度上滿足了PCB制造企業對于產品測量以及質量提升的要求。兼具非接觸式、高精度、快速、以及操作簡單的特點，人人可操控，次次皆準確，適用于PCB生產過程以及出廠檢驗的管控。
展開 高精度試驗T型槽平臺：三坐標測量與光學檢測專用定點基準臺
在制造檢測領域，三坐標測量與光學檢測是保障產品尺寸精度的核心手段，而高精度試驗T型槽平臺作為專用定點基準臺，其精度穩定性與定點可靠性直接決定檢
3.兼容性適配：預留標準化接口，方便對接扭矩傳感器、功率分析儀等測試設備；T型槽支持多規格電機夾具安裝，可適配50-300kW新能源汽車驅動電機測試，提升平臺通用性。
綜上，新能源汽車試驗T型槽平臺通過針對性的材質優化、結構設計與安全配置，可適配電池包碰撞與電機耐久測試需求。科學選用專用平臺不僅能保障測試數據的可靠，還能提升測試安全性與效率。在新能源汽車向高安全、長續航轉型的趨勢下，專用試驗T型槽平臺成為核心部件測試的關鍵裝備，對推動新能源汽車品質升級具有重要意義。
威岳機械謝總15350773479
高精度試驗T型槽平臺：三坐標測量與光學檢測專用定點基準臺
在制造檢測領域，三坐標測量與光學檢測是保障產品尺寸精度的核心手段，而高精度試驗T型槽平臺作為專用定點基準臺，其精度穩定性與定點可靠性直接決定檢測數據的度。三坐標測量需依托穩定基準實現微米級定點，光學檢測對基準面平整性與反光干擾控制要求嚴苛。本文結合高精度試驗T型槽平臺、三坐標定點基準臺、光學檢測專用平臺等高頻關鍵詞，針對性解析適配兩大檢測場景的專用方案，為檢測工作提供實操支撐。
一、專用平臺核心性能要求：適配檢測嚴苛場景
三坐標測量與光學檢測對基準臺的核心要求集中在三大維度：一是高精度，需保障基準面的平面度與定點精度，滿足微米級檢測需求；二是高穩定性，長期檢測過程中無變形、無精度衰減；三是低干擾性，避免對光學檢測產生反光或電磁干擾。平臺精度等級優先選用000級（平面度≤0.01mm/m），槽寬公差控制在H6級，為檢測筑牢基準基礎。
展開 如何根據產品的表面尺寸測量需求選擇合適的測量設備
4、SuperView W1系列光學3D表面輪廓儀
- 利用白光干涉技術，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。
- 適用于半導體、3C電子、光學加工等領域的超精密加工行業。
5、VT6000共聚焦顯微鏡
- 專為微納米級測量設計，能夠清晰地展示微小物體的圖像形態細節，顯示出精細的細節圖像。
- 提供多種物鏡選擇，滿足不同視場范圍和精度要求。
考慮操作便捷性和數據處理能力
現代測量設備不僅要求高精度，還應具備用戶友好的操作界面和強大的數據處理能力。例如，中圖儀器的設備通常配備有品牌計算機和專業的測量分析軟件，支持自動報表生成和SPC分析報告輸出，簡化了數據分析和報告制作流程。
售后服務與技術支持
選擇測量設備時，廠家的售后服務和技術支持也是重要的考慮因素。中圖儀器提供的售后服務包括但不限于設備安裝調試、用戶培訓、質保期內的免費維修服務以及持續的技術支持。
結語
選擇合適的測量設備對于確保產品質量和提高生產效率至關重要。通過綜合考慮測量需求、技術適用性、設備功能與性能、操作便捷性以及售后服務，企業可以更加精準地選擇適合自身生產需求的測量設備。
展開 自由曲面光學元件的OAM測量
與其產生相對應的是，OAM的測量，即信息的解碼，同樣重要。遵循M.P.J.Lavery等人的概念，我們演示了如何在VirtualLab Fusion中使用兩個自定義的自由曲面光學元件來測量OAM。
用自由曲面光學元件測量軌道角動量
我們建立了一個由兩個自由曲面光學元件組成的光學裝置，將軌道角動量轉換為線性角動量，已進行測量。
編程一個變形表面
利用VirtualLab Fusion中的可編程界面，對變形表面進行了編程，給出了表面梯度的解析表達式。
For more information send a message to: support@infotek.com.cn / support@infocrops.comInternet: http://www.infotek.com.cn / http://www.honglun-seminary.com
展開 用于光學測量的菲索干涉儀
摘要
斐索干涉儀是工業中常見的光學計量設備，它們通常用于光學表面質量的高精度測試。 借助VirtualLab Fusion中的非順序追跡，我們構建了一個菲索干涉儀，并利用它測試了不同的光學表面，例如圓柱形和球形。 可以看出，產生的干涉條紋對表面輪廓具有敏感性。
建模任務
傾斜平面下的觀測條紋
圓柱面下的觀測條紋
球面下的觀測條紋
VirtualLab Fusion 視窗
VirtualLab Fusion 流程
設置入射場
- 基本光源模型[教程視頻]
定義元件的位置和方向
- LPD II: 位置和方向[教程視頻]
正確設置通道的非序列追跡
- 非序列追跡的通道設置[用戶案例]
VirtualLab Fusion 技術
文件信息
展開 
基于橢圓偏振法的光學薄膜測量
橢圓偏振分析器
在最新發布的快速物理光學軟件VirtualLab Fusion 2023.1中，橢圓偏振分析器已被添加到該軟件不斷增加的功能陣列中。它提供了一個簡單明了的方法，通過在模擬產生的電磁場結果上應用橢圓偏振的概念來研究涂層、多層結構和光柵的特性。此外，它還提供了在分析儀內自動掃描波長和入射角的可能性，從而方便地生成典型的橢圓偏振曲線，這些曲線在擬合到一個模型后，可以繼續揭示我們試圖從這些實驗中獲得的材料特性。你可以在下面找到解釋如何使用這個新的分析儀的文件鏈接，以及一個應用于二氧化硅涂層測量的例子。
橢圓偏振法是一種光學測量方法，它利用了光在被表面反射（或透過）時發生的偏振變化，例如塊狀材料或薄膜。隨著時間的推移，它在半導體和光學涂層應用中得到了普及，因為與傳統的反射測量相比，它的靈敏度更高。 因此，橢圓偏振法現在被用來準確地表征不同樣品的成分、粗糙度、厚度、結晶特性、導電性和其他材料特性。
展開 基于橢圓偏振法的光學薄膜測量
橢圓偏振法是一種光學測量方法，它利用了光在被表面反射（或透過）時發生的偏振變化，例如塊狀材料或薄膜。隨著時間的推移，它在半導體和光學涂層應用中得到了普及，因為與傳統的反射測量相比，它的靈敏度更高。因此，橢圓偏振法現在被用來準確地表征不同樣品的成分、粗糙度、厚度、結晶特性、導電性和其他材料特性。
在最新發布的快速物理光學軟件VirtualLab Fusion 2023.1中，橢圓偏振分析器已被添加到該軟件不斷增加的功能陣列中。它提供了一個簡單明了的方法，通過在模擬產生的電磁場結果上應用橢圓偏振的概念來研究涂層、多層結構和光柵的特性。此外，它還提供了在分析儀內自動掃描波長和入射角的可能性，從而方便地生成典型的橢圓偏振曲線，這些曲線在擬合到一個模型后，可以繼續揭示我們試圖從這些實驗中獲得的材料特性。你可以在下面找到解釋如何使用這個新的分析儀的文件鏈接，以及一個應用于二氧化硅涂層測量的例子。
橢圓偏振分析器
本用例展示了橢圓偏振法的基本原理，并說明了VirtualLab Fusion中內置的橢圓儀分析器的使用。
SiO2涂層的可變角度光譜橢圓偏振（VASE）分析
本用例說明了在VirtualLab Fusion中實現的橢圓偏振分析器在文獻中的使用：Woollam et al., Proc. SPIE 10294, 1029402 (1999).
展開 [NEWSLETTER] 使用干涉儀的光學測量
光學計量學是精確測量的重要技術。例如，它經常被用于表面測試，因此在質量控制中發揮著重要作用。VirtualLab Fusion可以幫助您對各種類型干涉儀進行建模，并將不同的光學表面和系統部件、甚至是傾斜和位移等對準錯誤都包含在模擬中。我們以兩個廣泛使用的干涉儀--Mach-Zehnder型和Fizeau型為例進行演示。
Mach-Zehnder干涉儀
我們在VirtualLab Fusion中建立了一個Mach-Zehnder干涉儀，并演示了元件的傾斜和位移是如何影響干涉條紋的。
用于光學檢測的Fizeau干涉儀
在非序列場追跡技術的幫助下，建立了一個Fizeau干涉儀，并顯示了幾個不同測試面的干涉條紋。
可發送信息了解更多詳情: support@infotek.com.cn / support@infocrops.com
展開 用于光學測量的菲索干涉儀
斐索干涉儀是工業中常見的光學計量設備，它們通常用于光學表面質量的高精度測試。 借助VirtualLab Fusion中的非順序追跡，我們構建了一個菲索干涉儀，并利用它測試了不同的光學表面，例如圓柱形和球形。 可以看出，產生的干涉條紋對表面輪廓具有敏感性。
摘要
