光譜測(cè)量技術(shù)的案例
測(cè)量光譜的導(dǎo)入
我們演示了如何將實(shí)驗(yàn)測(cè)量的太陽(yáng)光光譜導(dǎo)入到VirtualLab Fusion中，以及如何使用它來(lái)描述光學(xué)系統(tǒng)中光源的光譜組成。此外，我們還演示了如何使用內(nèi)置的Savitzky-Golay濾波器來(lái)平滑導(dǎo)入測(cè)量數(shù)據(jù)中的潛在噪聲，這可能是在仿真中使用實(shí)驗(yàn)測(cè)量數(shù)據(jù)時(shí)至關(guān)重要的第一步。
將測(cè)量的太陽(yáng)光譜導(dǎo)入VirtualLab Fusion
這個(gè)用例說(shuō)明了如何導(dǎo)入測(cè)量的地外太陽(yáng)光光譜，以及隨后如何在光學(xué)系統(tǒng)中使用該光譜。
Savitzky-Golay濾波函數(shù)
這個(gè)用例演示了Savitzky-Golay濾波器的使用，以平滑所測(cè)量的光譜。
展開(kāi) 測(cè)量光譜的導(dǎo)入
我們演示了如何將實(shí)驗(yàn)測(cè)量的太陽(yáng)光光譜導(dǎo)入到VirtualLab Fusion中，以及如何使用它來(lái)描述光學(xué)系統(tǒng)中光源的光譜組成。此外，我們還演示了如何使用內(nèi)置的Savitzky-Golay濾波器來(lái)平滑導(dǎo)入測(cè)量數(shù)據(jù)中的潛在噪聲，這可能是在仿真中使用實(shí)驗(yàn)測(cè)量數(shù)據(jù)時(shí)至關(guān)重要的第一步。
將測(cè)量的太陽(yáng)光譜導(dǎo)入VirtualLab Fusion
這個(gè)用例說(shuō)明了如何導(dǎo)入測(cè)量的地外太陽(yáng)光光譜，以及隨后如何在光學(xué)系統(tǒng)中使用該光譜。
Savitzky-Golay濾波函數(shù)
這個(gè)用例演示了Savitzky-Golay濾波器的使用，以平滑所測(cè)量的光譜。
展開(kāi) 如何測(cè)量直讀光譜儀的精度
直讀光譜儀在現(xiàn)在社會(huì)中被廣泛應(yīng)用，怎樣測(cè)量精度，以下就是我總結(jié)的關(guān)于直讀光譜儀測(cè)量精度的方法：
測(cè)試方法：挑選典型元素不同濃度范圍的樣品，連續(xù)激發(fā)10個(gè)點(diǎn)，以數(shù)據(jù)的rsd評(píng)價(jià)儀器的精密度。需檢驗(yàn)元素及濃度范圍。
直讀光譜儀，英文名為OES（Optical Emission Spectrometer），即原子發(fā)射光譜儀。二戰(zhàn)后，由于歐洲重建，市場(chǎng)對(duì)鋼鐵檢測(cè)有巨大的需求，1947年貝爾德公司先采用光電倍增管和真空泵技術(shù)，并以此來(lái)檢測(cè)鋼鐵中的非金屬元素。隨后1948年意大利的GNR公司采用了帕刑隴格分光器，大大推進(jìn)了直讀光譜儀的發(fā)展。
1、重復(fù)性
儀器穩(wěn)定后，在儀器工作條件下，連續(xù)激發(fā)10次，測(cè)量某個(gè)低合金鋼標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)gbw01328~gbw01333（或中代表元素的含量，計(jì)算出平均值和相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差即重復(fù)性。
2、穩(wěn)定性的檢定
儀器開(kāi)機(jī)穩(wěn)定后，激發(fā)某個(gè)低合金鋼標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)gbw01328~gbw01333（或gbw01211~gbw01216）對(duì)被測(cè)元素進(jìn)行測(cè)量。在4小時(shí)內(nèi)，間隔15分鐘以上，重復(fù)6次測(cè)量（期間不再標(biāo)準(zhǔn)化）。計(jì)算出平均值和相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差即穩(wěn)定性。
3、再現(xiàn)性
再現(xiàn)性也就是儀器的穩(wěn)定性，國(guó)標(biāo)規(guī)定須測(cè)試4個(gè)小時(shí)內(nèi)的再現(xiàn)性。其實(shí)儀器的主要的技術(shù)指標(biāo)應(yīng)該是重復(fù)性，或長(zhǎng)期穩(wěn)定性，因?yàn)榘丛韥?lái)講光譜儀只是過(guò)程控制的一款儀器，是以?xún)?nèi)標(biāo)法，用標(biāo)準(zhǔn)樣品制做標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)，來(lái)做參考比對(duì)得出的結(jié)果就是一個(gè)參考值；所以一臺(tái)光譜好不好我認(rèn)為只要是結(jié)果穩(wěn)定，對(duì)于長(zhǎng)期檢測(cè)出的值就是可信的。
展開(kāi) VirtualLab運(yùn)用：將測(cè)量光譜數(shù)據(jù)導(dǎo)入到光源
示例.0040（1.0）
關(guān)鍵字：太陽(yáng)光譜，功率，波長(zhǎng)表，測(cè)量
1. 簡(jiǎn)介
■ 使用實(shí)際的光譜功率分布來(lái)模擬真實(shí)的光源。
■ 這個(gè)示例解釋了如何導(dǎo)入測(cè)量光譜數(shù)據(jù)以在VirtualLab中構(gòu)建一個(gè)光源。
■ 此示例將會(huì)演示在VirtualLab中生成一個(gè)帶有太陽(yáng)光譜的擴(kuò)展光分布（超高斯型的）光源。
2. 光源對(duì)話(huà)框：光譜參數(shù)
如果模擬的光源既不是單色光也不是一個(gè)簡(jiǎn)單的RGB光源，那么功率譜類(lèi)型（the Power Spectrum Type）必須設(shè)置為波長(zhǎng)列表（List of Wavelengths）。
3. 數(shù)據(jù)文件
■ 包含光譜數(shù)據(jù)的文本文件必須在獨(dú)立的列中包含波長(zhǎng)對(duì)[m]和光譜權(quán)重。
■ 權(quán)重可以參考振幅（V/m）或強(qiáng)度（V2/m2）。
■ 而且，文件必須使用特殊的格式。
4. 從文本文件加載數(shù)據(jù)Ⅰ
■ 單擊“Load From File”打開(kāi)一個(gè)文件對(duì)話(huà)框以用于導(dǎo)入ASCII文件。
■ 選擇一個(gè)特定的文本文件加載后，需要確認(rèn)丟棄所有舊表格中的條目。
■ 另一個(gè)對(duì)話(huà)框要求定義光譜權(quán)重參考量。
■ 在當(dāng)前示例文件的情況下，為了讓VirtualLab準(zhǔn)確地讀取數(shù)據(jù)，我們必須選擇“Intensity”（強(qiáng)度）。
5. 從文本文件加載數(shù)據(jù)Ⅱ
■ 選擇一個(gè)特定的文本文件加載后，需要確認(rèn)丟棄所有舊表格中的條目。
■ 另一個(gè)對(duì)話(huà)框要求定義光譜權(quán)重參考量。
■ 在當(dāng)前示例文件的情況下，為了讓VirtualLab準(zhǔn)確地讀取數(shù)據(jù)，我們必須選擇“Intensity”（強(qiáng)度）。
6. 導(dǎo)入的結(jié)果
確認(rèn)導(dǎo)入的數(shù)據(jù)作為強(qiáng)度值以產(chǎn)生光譜值的表格。
7.
展開(kāi) 
VirtualLab：利用邁克爾遜干涉儀和傅里葉變換光譜進(jìn)行相干測(cè)量
通過(guò)測(cè)量可移動(dòng)反射鏡在不同位置的干涉圖對(duì)比度，可以得出光源的相干長(zhǎng)度。典型的傅立葉變換光譜學(xué)通常是基于這類(lèi)光學(xué)裝置。
建模任務(wù)
非序列追跡
探測(cè)器附加組件
參數(shù)運(yùn)行
總結(jié)-組件…
橫向干涉條紋–50?nm帶寬
橫向干涉條紋–100?nm帶寬
軸上點(diǎn)的輻射通量測(cè)量
VirtualLab Fusion 技術(shù)
文件信息
更多閱覽
-基于激光的邁克爾遜干涉儀與干涉條紋探測(cè)
-馬赫-曾德?tīng)柛缮鎯x
-用于光學(xué)測(cè)試的斐索干涉儀
利用邁克爾遜干涉儀和傅里葉變換光譜進(jìn)行相干測(cè)量
通過(guò)測(cè)量可移動(dòng)反射鏡在不同位置的干涉圖對(duì)比度，可以得出光源的相干長(zhǎng)度。典型的傅立葉變換光譜學(xué)通常是基于這類(lèi)光學(xué)裝置。
建模任務(wù)
非序列追跡
探測(cè)器附加組件
參數(shù)運(yùn)行
總結(jié)-組件…
橫向干涉條紋–50?nm帶寬
橫向干涉條紋–100?nm帶寬
軸上點(diǎn)的輻射通量測(cè)量
VirtualLab Fusion 技術(shù)
文件信息
利用邁克爾遜干涉儀和傅里葉變換光譜進(jìn)行相干測(cè)量
通過(guò)測(cè)量可移動(dòng)反射鏡在不同位置的干涉圖對(duì)比度，可以得出光源的相干長(zhǎng)度。典型的傅立葉變換光譜學(xué)通常是基于這類(lèi)光學(xué)裝置。
建模任務(wù)
非序列追跡
探測(cè)器附加組件
參數(shù)運(yùn)行
總結(jié)-組件…
橫向干涉條紋–50?nm帶寬
橫向干涉條紋–100?nm帶寬
軸上點(diǎn)的輻射通量測(cè)量
VirtualLab Fusion 技術(shù)
文件信息
[VirtualLab] 利用邁克爾遜干涉儀和傅里葉變換光譜進(jìn)行相干測(cè)量
通過(guò)測(cè)量可移動(dòng)反射鏡在不同位置的干涉圖對(duì)比度，可以得出光源的相干長(zhǎng)度。典型的傅立葉變換光譜學(xué)通常是基于這類(lèi)光學(xué)裝置。
建模任務(wù)
非序列追跡
探測(cè)器附加組件
參數(shù)運(yùn)行
總結(jié)-組件…
橫向干涉條紋–50?nm帶寬
橫向干涉條紋–100?nm帶寬
軸上點(diǎn)的輻射通量測(cè)量
VirtualLab Fusion 技術(shù)
文件信息
更多閱覽
-基于激光的邁克爾遜干涉儀與干涉條紋探測(cè)
-馬赫-曾德?tīng)柛缮鎯x
-用于光學(xué)測(cè)試的斐索干涉儀
高光譜與多光譜技術(shù)：核心區(qū)別與應(yīng)用選擇
important;">高光譜與多光譜技術(shù)是遙感領(lǐng)域的兩大重要技術(shù)，它們?cè)诓ǘ螖?shù)量、光譜分辨率、數(shù)據(jù)處理和應(yīng)用場(chǎng)景上存在顯著差異。本文將系統(tǒng)解析兩者的區(qū)別，并為不同應(yīng)用需求提供選擇建議。</p>
</div><p class="ql-align-justify"><br></p><div contenteditable="false" width="100%" class="ql-align-justify">
<p style="overflow-wrap: anywhere; word-break: normal; overflow-y: auto; max-width: 100%; line-height: 30px; text-wrap: unset !important;">一、高光譜與多光譜的核心區(qū)別</p>
</div><div contenteditable="false" width="100%" class="ql-align-justify">
<p style="overflow-wrap: anywhere; word-break: normal; overflow-y: auto; max-width: 100%; line-height: 30px; text-wrap: unset !important;"><strong style="overflow-wrap: anywhere; word-break: normal; max-width: 100%; text-wrap: unset !important;">1.
展開(kāi) 利用邁克爾遜干涉儀和傅里葉變換光譜法測(cè)量相干性
通過(guò)測(cè)量可動(dòng)鏡不同位置的干涉圖對(duì)比度，可以得到光源的相干長(zhǎng)度。典型的傅里葉變換光譜通常基于這種類(lèi)型的光路。
建模任務(wù)
橫向干涉條紋——50 nm帶寬
橫向干涉條紋——100 nm帶寬
逐點(diǎn)測(cè)量
VirtualLab概覽
VirtualLab Fusion的工作流程? 設(shè)置入射高斯場(chǎng)- 基本光源模型? 設(shè)置元件的位置和方向- LPD II：位置和方向? 設(shè)置元件的非序列通道- 用于非序列追跡的通道設(shè)置
VirtualLab技術(shù)
文件信息
從微納米到百米測(cè)量，中圖國(guó)產(chǎn)智能精密測(cè)量儀器著力突破核心技術(shù)，增強(qiáng)高端供給
還支持頻閃照明和飛拍功能，可進(jìn)行高速測(cè)量，大幅提升測(cè)量效率；具有可獨(dú)立升降和可更換RGB光源，可適應(yīng)更多復(fù)雜工件表面。創(chuàng)新支持多種測(cè)量新特性、新功能。
Mars Classic三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)
移動(dòng)橋式的三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)結(jié)構(gòu)特點(diǎn)是開(kāi)敞性好，視野開(kāi)闊，上下零件方便，運(yùn)動(dòng)速度快，精度高。配備高精度的導(dǎo)軌、測(cè)頭和控制系統(tǒng)，并結(jié)合計(jì)算機(jī)程序來(lái)自動(dòng)控制檢測(cè)流程，從而計(jì)算輸出測(cè)量結(jié)果，支持測(cè)頭更換架以及影像相機(jī)，同時(shí)支持精密轉(zhuǎn)臺(tái)等，能夠?qū)Ω鞣N零件和部件的尺寸、形狀及相互位置關(guān)系進(jìn)行檢測(cè)，也可以對(duì)軟材質(zhì)或復(fù)雜零件進(jìn)行光學(xué)掃描測(cè)量。可用于機(jī)械制造、汽車(chē)工業(yè)、電子工業(yè)、航空航天工業(yè)以及計(jì)量檢測(cè)等領(lǐng)域，是現(xiàn)代工業(yè)檢測(cè)和質(zhì)量控制的重要檢測(cè)設(shè)備。
3、融合新原理、新材料、新工藝，研制開(kāi)發(fā)一批專(zhuān)用智能精密測(cè)量檢測(cè)裝備。加強(qiáng)新興領(lǐng)域?qū)Ｓ脵z測(cè)裝備研制。
WD4000晶圓幾何形貌測(cè)量系統(tǒng)
WD4000晶圓幾何形貌測(cè)量系統(tǒng)可以在一個(gè)測(cè)量系統(tǒng)中自動(dòng)測(cè)量Wafer厚度、表面粗糙度、微納三維形貌。使用光譜共焦技術(shù)測(cè)量晶圓厚度、TTV、BOW、 WARP等參數(shù)，同時(shí)生成Mapping圖；采用白光干涉測(cè)量技術(shù)對(duì)Wafer表面進(jìn)行非接觸式掃描同時(shí)建立表面3D層析圖像，顯示2D剖面圖和3D立體彩色視圖，高效分析表面的2D、3D參數(shù)。可廣泛應(yīng)用于Wafer制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、顯示面板、MEMS器件等超精密加工行業(yè)。
有圖晶圓關(guān)鍵尺寸及套刻量測(cè)系統(tǒng)
是一款集成高精度平面尺寸檢測(cè)和亞納米級(jí)表面3D形貌測(cè)量的光學(xué)檢測(cè)儀器，同時(shí)滿(mǎn)足大范圍多區(qū)域的高精度全自動(dòng)檢測(cè)，優(yōu)異的重復(fù)性及效率有效減少人為誤差及人員投入。
展開(kāi) 
智能測(cè)量技術(shù)分享系列講座來(lái)啦！喬澤光學(xué)測(cè)量技術(shù)專(zhuān)員為您詳細(xì)解讀基于仿真模型的DIC應(yīng)變測(cè)量方案！
數(shù)字孿生技術(shù)在光測(cè)領(lǐng)域內(nèi)的應(yīng)用有哪些？
基于有限元網(wǎng)格模型的DIC技術(shù)為什么更能促進(jìn)仿真模型改進(jìn)？
創(chuàng)新的立體網(wǎng)格模型DIC全場(chǎng)測(cè)量方案在校準(zhǔn)及數(shù)據(jù)分析方面有怎樣的突破？
這些問(wèn)題敲打著每一個(gè)仿真設(shè)計(jì)人員及光測(cè)力學(xué)領(lǐng)域研究人員的好奇心呀！
在全球各個(gè)行業(yè)火熱進(jìn)行數(shù)字化革命的大形勢(shì)下，制造業(yè)也開(kāi)始了全系列產(chǎn)品的數(shù)字化推進(jìn)，逐步將產(chǎn)品以數(shù)字流的形式進(jìn)行傳輸，國(guó)際簡(jiǎn)稱(chēng)為MBD。MBD概念在本世紀(jì)初被提出，隨著軟硬件技術(shù)的提升以及以半導(dǎo)體為基礎(chǔ)的工業(yè)的進(jìn)步，MBD的進(jìn)階即數(shù)字孿生的概念得到蓬勃發(fā)展。從根本上講，數(shù)字孿生是以數(shù)字化的形式對(duì)某一物理實(shí)體過(guò)去和目前的行為或流程進(jìn)行動(dòng)態(tài)呈現(xiàn)，有助于提升企業(yè)績(jī)效。創(chuàng)建數(shù)字孿生，主要關(guān)注兩大領(lǐng)域：
領(lǐng)域一
設(shè)計(jì)數(shù)字孿生的流程和產(chǎn)品生命周期的信息要求——從資產(chǎn)的設(shè)計(jì)到資產(chǎn)在真實(shí)世界中的現(xiàn)場(chǎng)使用和維護(hù)；
領(lǐng)域二
創(chuàng)建使能技術(shù)，整合真實(shí)資產(chǎn)及其數(shù)字孿生，使測(cè)量數(shù)據(jù)與企業(yè)核心系統(tǒng)中的運(yùn)營(yíng)和交易信息實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)流動(dòng)。
數(shù)字孿生成為未來(lái)工業(yè)發(fā)展的標(biāo)桿，但是測(cè)量和仿真之間的精度問(wèn)題始終制約著其前進(jìn)的步伐! DIC技術(shù)作為該瓶頸的突破口，毋庸置疑地成為數(shù)字孿生技術(shù)發(fā)展的著力點(diǎn)。DIC技術(shù)可以進(jìn)行全場(chǎng)光學(xué)測(cè)量，在被用于數(shù)字孿生技術(shù)的測(cè)量端時(shí)，這一技術(shù)特征優(yōu)勢(shì)顯著。
展開(kāi) 光譜成像技術(shù)如何重塑視覺(jué)邊界？
image_process=/format,webp" data-initial-src="https://img.jishulink.com/202605/attachment/c1dbef625fc04d97a77b94b4fe054cf6.png">
</figure>
</figure><p><br></p><p><strong>（2）濾光片型（根據(jù)窄帶濾波原理）</strong></p><p> 在普通相機(jī)前安裝濾光片，利用濾光片的特性，讓特定波長(zhǎng)范圍內(nèi)的光線(xiàn)通過(guò)，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)不同波長(zhǎng)光線(xiàn)的選擇和測(cè)量。<strong>光學(xué)布局簡(jiǎn)單，價(jià)格相對(duì)較低。但無(wú)法獲取連續(xù)譜段的圖像，存在實(shí)時(shí)性問(wèn)題，且高質(zhì)量高光譜分辨率的濾光片制造難度大且價(jià)格昂貴。</strong>適用于對(duì)光譜分辨率要求不高、成本預(yù)算有限的應(yīng)用場(chǎng)景，如一些簡(jiǎn)單的顏色測(cè)量、多光譜探測(cè)等領(lǐng)域。
展開(kāi) 光譜隱身技術(shù)：讓隱身更接近現(xiàn)實(shí)！
價(jià)值
雖然在這種新型設(shè)計(jì)在轉(zhuǎn)變?yōu)楣ㄌ厥降目纱┐麟[身斗篷之前，還需要進(jìn)一步的開(kāi)發(fā)，但是這種經(jīng)過(guò)實(shí)驗(yàn)論證的光譜隱身設(shè)備可用于實(shí)現(xiàn)一系列的安全目標(biāo)。例如，目前的電信系統(tǒng)采用寬頻光波作為數(shù)據(jù)信號(hào)來(lái)傳輸和處理信息，光譜隱身技術(shù)可用于選擇性判定哪些操作作用于光波，而哪些是在特定時(shí)間內(nèi)“隱形”的。這將防止“竊聽(tīng)者”通過(guò)寬頻光線(xiàn)探測(cè)光纖網(wǎng)絡(luò)采集信息。
這種可逆的、用戶(hù)定義的光譜能量再分配的總體概念，也將應(yīng)用于隱身斗篷之外的領(lǐng)域。例如，選擇性的移除并隨后恢復(fù)作為電信數(shù)據(jù)信號(hào)使用的寬頻光波中的顏色，從而使得更多的數(shù)據(jù)通過(guò)給定的鏈路傳輸，在數(shù)據(jù)需求日益增長(zhǎng)的情況下，這將緩解數(shù)據(jù)擁塞。或者，這項(xiàng)技術(shù)也可以盡可能降低目前寬頻電信鏈路中存在的一些關(guān)鍵問(wèn)題，例如重新組織信號(hào)能量頻譜，使它不容易受到色散、非線(xiàn)性現(xiàn)象以及其他損害數(shù)據(jù)信號(hào)的不良效應(yīng)的影響。
研究人員展示的這種光譜隱身技術(shù)，只適用于物體在一個(gè)空間方向上接受光線(xiàn)照射的情況。Aza?a 表示，這一概念有可能經(jīng)過(guò)拓展，達(dá)到讓物體在任何方向的光線(xiàn)照射下都能實(shí)現(xiàn)隱身。團(tuán)隊(duì)計(jì)劃朝著這個(gè)目標(biāo)繼續(xù)開(kāi)展他們的研究。同時(shí)，他們也正致力于推進(jìn)單向光譜隱身技術(shù)在一維光波系統(tǒng)中的實(shí)際應(yīng)用，例如基于光纖的應(yīng)用。
展開(kāi) 【技術(shù)實(shí)測(cè)】國(guó)產(chǎn)光譜儀封神！精度比肩進(jìn)口
各位技術(shù)鄰的同行們，科研、工業(yè)檢測(cè)、環(huán)境監(jiān)測(cè)中，進(jìn)口光譜儀價(jià)高難維護(hù)、傳統(tǒng)設(shè)備數(shù)據(jù)失真、定制周期長(zhǎng)等問(wèn)題，想必大家都遇到過(guò)。
今天給大家安利一款實(shí)測(cè)過(guò)關(guān)的國(guó)產(chǎn)光譜儀，適配科研材料表征、工業(yè)質(zhì)量把控等場(chǎng)景，性?xún)r(jià)比拉滿(mǎn)，核心配置媲美進(jìn)口，徹底解決行業(yè)痛點(diǎn)！
做技術(shù)的都懂，一款好用的光譜儀，能省時(shí)間、省成本、少踩坑，不用再為進(jìn)口設(shè)備價(jià)高、傳統(tǒng)設(shè)備不穩(wěn)發(fā)愁。
這款國(guó)產(chǎn)光譜儀，兼具科研級(jí)精度與工業(yè)級(jí)耐用性，性?xún)r(jià)比突出，適配高校、企業(yè)、檢測(cè)機(jī)構(gòu)等各類(lèi)需求。
感興趣的同行，評(píng)論區(qū)留言【光譜儀+使用場(chǎng)景】，發(fā)送詳細(xì)參數(shù)、實(shí)測(cè)報(bào)告和專(zhuān)屬報(bào)價(jià)，一起交流實(shí)操技巧！
標(biāo)簽：#光譜儀 #材料表征 #工業(yè)檢測(cè) #科研設(shè)備 #國(guó)產(chǎn)儀器 #光譜分析 #環(huán)境監(jiān)測(cè)
有需要留言聯(lián)系
展開(kāi) 