模式耦合分析
關注創建者：匿名 創建時間：2026-01-04
模式耦合分析的視頻教程
高斯熱源焊接雙向耦合與單向耦合溫度場、應力場對比分析
利用workbench，對高斯移動熱源焊接進行仿真，探究單向耦合的溫度場、應力場與相同邊界條件下雙向耦合的結果差異。 溫度場對比 應力場對比
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Acusolve+EDEM耦合分析案例：振動篩顆粒分離仿真-耦合離散元EDEM
（課程相關文件見附件） Altair 官方微信平臺 最新、最及時的活動和培訓訊息；全原創干貨技術專題；前沿解決方案分享 欲了解更多信息，歡迎訪問： www.altair.com.cn
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模式耦合分析的實例教程
點擊任務欄左側的Simulation（紅綠燈），選擇XZ截面，并適當調整網格精度，點擊OK，得到仿真結果如圖所示，其中左邊的圖代表SMF中LP01模式和FMF中LP11模式之間的轉換，右圖為轉換過程中的對應的模式變化。
然后分別改變FMF的尺寸設置為8.1μm和8.8μm，分別對應模式LP21和LP02模式下的尺寸，并將監視器監測的模式改為LP21和LP02模式，仿真結果如下?？梢杂^察導LP01模式在相應的尺寸下面分別裝歡成LP21模式和LP01模式。
本案例采用Rsoft軟件，以由SMF和FMF構成的非對稱模式選擇耦合器模型，通過設置波導的有效模式折射率以及波導寬度，動態演示了LP01模式分別與LP11模式，LP21模式和LP02模式之間的耦合過程，并且可以通過設置不同的耦合長度獲得不同的模式占比。
最后，有相關仿真需求歡迎通過公眾號“320科技工作室”與我們聯絡。
展開 向列液晶在物理上被描述為在n和-n方向上具有相同的能量，但在vector模式中具有不同的能量狀態。模擬發生拓撲不連續相變的LC模式時，例如pi-cell，OCB和VA-IPS，應通過tensor模式來執行假設LC單元的n和-n方向是一樣的
（a） Tensor模式
（b）Vector模式
向列液晶在物理上被描述為在n和-n方向上具有相同的能量，但在vector模式中具有不同的能量狀態。模擬發生拓撲不連續相變的LC模式時，例如pi-cell，OCB和VA-IPS，應通過tensor模式來執行假設LC單元的n和-n方向是一樣的
（a）Tensor模式
（b）Vector模式
本文結合功率MOSFET管失效分析圖片不同的形態，論述了功率MOSFET管分別在過電流和過電壓條件下損壞的模式，并說明了產生這樣的損壞形態的原因，也分析了功率MOSFET管在關斷及開通過程中，發生失效形態的差別，從而為失效是在關斷還是在開通過程中發生損壞提供了判斷依據。給出了測試過電流和過電壓的電路圖。同時，也分析了功率MOSFET管在動態老化測試中慢速開通及在電池保護電路應用中慢速關斷時，較長時間工作在線性區時，損壞的形態。最后，結合實際的應用，論述了功率MOSFET通常會產生過電流和過電壓二種混合損壞方式損壞機理和過程。
目前，功率MOSFET管廣泛地應用于開關電源系統及其它的一些功率電子電路中，然而，在實際的應用中，通常，在一些極端的邊界條件下，如系統的輸出短路及過載測試，輸入過電壓測試以及動態的老化測試中，功率MOSFET有時候會發生失效損壞。工程師將損壞的功率MOSFET送到半導體原廠做失效分析后，得到的失效分析報告的結論通常是過電性應力EOS，無法判斷是什么原因導致MOSFET的損壞。
本文將通過功率MOSFET管的工作特性，結合失效分析圖片中不同的損壞形態，系統的分析過電流損壞和過電壓損壞，同時，根據損壞位置不同，分析功率MOSFET管的失效是發生在開通的過程中，還是發生在關斷的過程中，從而為設計工程師提供一些依據，來找到系統設計的一些問題，提高電子系統的可靠性。
展開 頁面上部分顯示的數據源是根據 試模信息 > 基本信息 中所選擇的”參考數據”，內容包含計量終點、VP切換模式和VP切換值等項目。頁面下半部分則是短射試驗紀錄，可以做多次關于短射的紀錄。在上傳圖片之后，用戶可以 預覽、下載、編輯 和 刪除 該圖片。
管理功能 > 試模 > 檢視 > 開始試模／檢視 > 科學試模 > 短射驗證
在 管理功能 > 試模 > 檢視 > 開始試模／檢視 > 科學試模 > 短射驗證 的項目：
1.+ 短射驗證：
點擊此按鈕以新增短射驗證字段。
注意：在點擊‘開始記錄’之后，+ 短射驗證 按鈕才會出現。
2.試驗模板：
在下拉選單中選擇一個模板名稱。用戶可以事先至 系統設定 > 數據定義 > 試模 > 短射驗證紀錄 中設置。若選擇 ” Customize ”，則需自行輸入充填量百分比。
3.計量位置：
輸入計量行程值或點擊箭頭以調整值。
4.開始記錄：
數據填寫完成后，點擊 開始記錄 新增包括圖片上傳在內的短射紀錄。
5.刪除：
點擊此按鈕以刪除該短射記錄。
6.編輯短射：
點擊此按鈕上傳圖片及編輯VP位置，并提供刪除圖片功能。點擊提交以儲存設定。
7.新增紀錄：
點擊此按鈕以加入新紀錄，用戶可以輸入VP位置、量測位置百分比，也可以上傳相關圖片。
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模式耦合分析的相關專題、標簽、搜索
模式耦合分析的最新內容
摘要
在我們的上一期技術簡訊中，我們將焦點放在光纖耦合設置的參數優化上，采用快速物理光學建模和設計軟件 VirtualLab Fusion 為您提供的用戶友好型工具，以實現光纖耦合的最大效率，。然而，實踐中良好的光學設計的特征不僅在于可以最大化特定評價函數的參數的最佳組合。另一個關鍵方面是它的穩健性：由于設計過程中假設的條件在現實環境中無法完美滿足，因此合乎邏輯的下一步是分析系統幾何形狀的微小偏差如何影響整體結果
光纖耦合裝置的容差分析16天前
摘要
光纖可以沒有損耗地長距離傳輸光的能力，是使它們成為如此受歡迎元件的特點之一。然而，光纖的耦合效率通常對系統對準極為敏感，尤其是對于纖芯直徑相對較小的單模光纖。這個例子選擇了一個設計良好的光纖耦合透鏡，并根據不同的容差因素來評估耦合效率，例如光纖末端位置的偏移和耦合透鏡的傾斜。
建模任務
導入透鏡文件
光纖耦合效率探測器
參數運行
一 前言
耦合場分析，也稱為多物理場分析，分析不同的物理場的相互作用以解決一個全局性的工程問題。例如，當一個場分析的輸入依賴于從另一個分析的結果，那么分析就會被耦合。耦合方式有：
1.單向耦合---前一個分析的結果作為載荷施加給下一個分析，而下一個分析的結果不會影響前一個場的分析結果；
例如，在熱應力問題中，溫度場會在結構場中引入熱應變，但是結構應變通常不會影響溫度分布
基于ANSYS apdl參數化建模
三維模型
線框模型
自重及預應變下的y方向變形云圖
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銅排通電發熱溫升仿真分析
Maxwell和icepak的耦合溫升仿真分析
Ansys electric desktop中Maxwell和icepak的耦合溫升仿真分析
在電子設備中，熱一般是由電產生的，電流通過導體，由于電阻產生發熱，發出的熱量導致導體溫度升高，而一般導體的電阻率跟溫度成正相關，即導體越熱電阻越大，在電流不變的情況下，發熱功率也會變大，如此循環直到達到平衡
基于AVL EXCITE M與Simulink控制耦合的電機諧波注入NVH分析
前言
在新能源汽車、工業伺服系統等核心應用場景中，電驅系統的高頻嘯叫與低頻轟鳴問題，已成為制約產品 NVH（振動噪聲）性能提升的核心痛點與技術難題。此類噪聲的核心誘因在于電磁力波激勵引發的結構振動及空氣輻射噪聲，傳統采用阻尼敷設、結構拓撲優化等被動降噪手段，不僅存在研發成本高、周期長的局限，還可能犧牲動力總成功率密度與空間布局靈活性
從集成光學到現代顯示技術，在如今各種應用中光波導結構起著重要作用。因此，所有基于光波導的應用中，將光耦合出或耦合入光波導是關注的問題。這些任務通常用衍射光柵實現，因為它們可以使用現代制造技術與光波導集成。在VirtualLab Fusion中，可以使用傅立葉模態法（FMM）嚴格計算耦合效率。例如，我們分析了幾個選定的傾斜光柵，模擬結果與文獻中的結果吻合地很好。
光波導耦合分析4個月前
從集成光學到現代顯示技術，在如今各種應用中光波導結構起著重要作用。因此，所有基于光波導的應用中，將光耦合出或耦合入光波導是關注的問題。這些任務通常用衍射光柵實現，因為它們可以使用現代制造技術與光波導集成。在VirtualLab Fusion中，可以使用傅立葉模態法（FMM）嚴格計算耦合效率。例如，我們分析了幾個選定的傾斜光柵，模擬結果與文獻中的結果吻合地很好。
用于光波導耦合的傾斜光柵的分析4個月前
摘要
因為傾斜光柵在特定衍射級中具有高效率，故通常被用于將光耦合到光學光波導中。 如今，它們經常應用于增強和混合現實應用中。 本案將展示如何使用VirtualLab Fusion對文獻中的某些傾斜光柵的幾何形狀，具體參數如傾斜角度，填充因子和調制深度進行分析。 此外，本案例還研究了不同入射角對衍射效率的影響。
摘要
因為傾斜光柵在特定衍射級中具有高效率，故通常被用于將光耦合到光學光波導中。 如今，它們經常應用于增強和混合現實應用中。 本案將展示如何使用VirtualLab Fusion對文獻中的某些傾斜光柵的幾何形狀，具體參數如傾斜角度，填充因子和調制深度進行分析。 此外，本案例還研究了不同入射角對衍射效率的影響。
