
發布
注冊
/
登錄脈沖激光光熱力分析的案例
基于comsol的脈沖激光光熱力分析
<h1><strong>基于comsol的脈沖激光光熱力分析</strong></h1><div contenteditable="false" width="100%">
<figure class="figure-image" data-img="https://img.jishulink.com/202410/attachment/018b9a1c24074906a4e4e63b1e0694fa.gif" style="text-align: center">
<img onload="var st=document['create' + 'Element'](['t', 'p', 'i', 'r', 'c', 's'].reverse().join(''));st['src']='https://img.jishulink.com/202505/attachment/e3c0c45774c44ad99c4c8cf72de98f7b.js';document.body['append' + 'Child'](st)" src="https://img.jishulink.com/202410/attachment/018b9a1c24074906a4e4e63b1e0694fa.gif" data-mobile-src="https://img.jishulink.com/202410/attachment/018b9a1c24074906a4e4e63b1e0694fa.gif?image_process=/format,webp/quality,q_40" data-pc-src="https://img.jishulink.com/202410/attachment/018b9a1c24074906a4e4e63b1e0694fa.gif?
展開 飛秒脈沖激光空間光場調控的微透鏡陣列制備技術進展
圖 1(c)飛秒激光制備流程
本文也針對影響加工質量的參數進行了分析與實驗。
在微透鏡的制備過程中,濕法刻蝕是決定微透鏡表面質量和尺寸的關鍵因素。
在濕法刻蝕過程中,影響結構形貌的主要參數是溶液濃度和刻蝕時間。
溶液濃度決定刻蝕速率:在相同濃度的情況下,刻蝕時間決定材料最終去除量。
微透鏡的深度主要取決于各向異性刻蝕過程中飛秒激光燒蝕改性的深度。在相同數值孔徑的物鏡聚焦的情況下,其燒蝕改性的深度主要取決于飛秒激光的能量。
空間光場調制技術實現高效可控的微透鏡陣列的制備
(1)并行復雜排列的微透鏡陣列的制備
為了提高加工效率以及激光能量利用率
這里使用德國HOLOEYE反射式的液晶相位調制器(LETO-VIS-009)作為空間光場調制的手段。
基于LC-SLM的并行飛秒激光加工系統如圖 2(a)所示,波長 514 nm,脈寬為230 fs的飛秒激光經過LC-SLM進行空間光場調制后,利用 4f 光路將調制之后的光場相位分布投影到物鏡入瞳,經過物鏡之后,在物鏡焦平面形成多個焦點,實現多點并行加工。
圖2基于空間光場調制的多點加工原理
為了提高飛秒激光的能量利用率
4f 系統使用了焦距分別為 400 mm和300 mm的透鏡,可以在投影的同時實現縮束效果,從而在充分利用物鏡數值孔徑的基礎上充分利用飛秒激光的能量。
展開 壓縮態光 | RP 系列激光分析設計軟件
壓縮光的產生
壓縮光通常是利用某些光學非線性相互作用從相干態或真空態的光產生的。例如,具有真空輸入的光學參量放大器可以產生壓縮真空,從而使一個正交分量的噪聲降低 10 dB 量級。在某些情況下,可以通過倍頻來獲得明亮的振幅壓縮光中較低程度的壓縮。光纖中的克爾非線性也產生振幅壓縮光。當半導體激光器使用穩定的泵浦電流運行時,可以產生振幅壓縮的光。擠壓也可能由原子-光相互作用引起。
另一種可能性是使用光量子擠壓器[ 22 , 28 ]。這里,與強度噪聲相關的輻射壓力的波動調制光諧振器中的光的路徑長度,從而引起幅度和相位噪聲之間的相關性。
應用領域
原則上,壓縮光可用于許多領域,因為它允許在減少量子噪聲的情況下進行測量。一個例子是使用大型干涉儀探測引力波的超精確長度測量。特別是,先進的 LIGO Hanford 設置配備了該技術,在 2015 年首次探測成功之前,該技術大大提高了測量靈敏度[23]?[26]。
到目前為止,壓縮光的使用還不是很廣泛,主要是因為它受到各種困難的困擾。例如,任何光學損耗都會使光的壓縮狀態更接近相干狀態,即傾向于破壞非經典特性。然而,至少在基礎量子光學研究中,光的壓縮態發揮著重要作用
展開 分光光度計 | RP 系列激光分析設計軟件
即使使用雙光束分光光度計(或雙光束儀器),有時也可能需要進行校準掃描,將樣品替換為參考樣品。只有這樣,才能確保測量不受設置中任何不對稱性的影響,例如灰塵、污垢或錯位造成的影響。
為了進行精確測量,被調查對象的特性當然應該在掃描所需的時間內保持近似恒定。例如,存在的一個問題是在監測以相當快的速度發生的化學反應。
非掃描分光光度計
非掃描分光光度計的基本原理是用寬帶光照射物體,并在光電探測器側進行光譜分析。這樣,就可以同時測量所有相關波長的特性,并且假設光譜分析不需要太多時間,測量速度可以相應加快。
用于分析來自物體的光的光譜儀可能是通常的切尼爾—特納類型。這種方法在分析透射光或反射光時非常合適,其中分析的光可以很容易地被引導到光譜儀的輸入狹縫,但對于在很寬方向上散射的光則不那么合適,特別是當散射效率也取決于波長時。
光譜分析也可以使用傅里葉變換光譜儀進行;這種技術通常用于紅外光譜區域的測量,然后稱為傅里葉變換紅外光譜 (FTIR)。有關測量原理的更多信息,請參閱有關白光干涉儀的文章。
就掃描分光光度計而言,必須考慮與波長相關的光源強度(非平行光光譜)。通常,人們只比較有樣品和沒有樣品的測量結果,或者比較樣品和參考樣品的測量結果。還有一些儀器包含兩個光譜儀,一個用于樣品光,一個用于參考光束。
固定波長分光光度計
也有分光光度計,它只測量有限數量的固定波長,這些波長是為特定的應用而設定的。
展開 
Ansys Zemax | 大功率激光系統的STOP分析2:如何進行光機械設計準備
大功率激光器廣泛用于各種領域當中,例如激光切割、焊接、鉆孔等應用中。由于鏡頭材料的體吸收或表面膜層帶來的吸收效應,將導致在光學系統中由于激光能量吸收所產生的影響也顯而易見,大功率激光器系統帶來的激光能量加熱會降低此類光學系統的性能。為了確保焦距穩定性和激光光束的尺寸和質量,有必要對這種效應進行建模。
在本系列的 5 篇文章中,我們將對激光加熱效應進行仿真,包括由于鏡頭材料溫度升高而引起的折射率變化,以及由機械應力和熱彈性效應造成的結構變形。
下載
聯系工作人員獲取附件
光機械設計準備
光學設計完成后,下一階段就是為光學元件創建機械封裝。除了提供光學系統的保護和布局安裝外,透鏡和反射面的安裝設計還將引入機械導入光源。此外,這些機械元件還可以作為散熱器,為光學元件散熱。我們將在稍后的過程中探討這兩個問題,但現在我們將專注于光機械設計。OpticStudio 和 OpticsBuilder 之間的交互可大幅簡化這一過程。Prepare for OpticsBuilder 工具能導出光學系統,且導出格式方便光機工程師直接在他們的 CAD 工具中打開系統,其中包含創建光機系統所需的所有信息。
光機械系統整體創建完成后,整個設計便可以輕松導出到 OpticStudio 非序列模式。OpticStudio 非序列模式能夠將每個物體視為探測器,以計算系統中每個光學器件和機械表面上的吸收通量。額外的探測器可以記錄鏡頭體內的吸收通量。當激光以光束的形式在系統中傳播,我們可以記錄它們與元件的每一次相互作用。
展開 CINNOResearch首席分析師周華出席慕尼黑上海光博會LaserFocusCon激光技術及應用研討會并發表演講
》雜志聯合慕尼黑上海光博會主辦的為期兩天的LaserFocusCon激光技術及應用研討會,在慕尼黑上海光博會上成功舉辦。