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關(guān)注創(chuàng)建者:王靖雯 創(chuàng)建時間:2023-03-08
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電磁仿真第一步:領(lǐng)悟仿真計算的邏輯思維
電磁仿真第一步:領(lǐng)悟仿真計算的邏輯思維 適用人群:從事高低壓輸變電設(shè)備、電機、變壓器、電磁閥、傳感器、電子設(shè)備等相關(guān)行業(yè)工程師,具備一定的電路、電磁場理論基礎(chǔ)、已初步了解Ansys Maxwell軟件操作的人員。
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超透鏡還可以聚焦或過濾特定顏色或波長,從而顯著減少色差。得益于這些優(yōu)勢,超透鏡有望在許多應(yīng)用中替代傳統(tǒng)折射透鏡,包括增強現(xiàn)實眼鏡中的投影系統(tǒng),用于內(nèi)窺鏡的纖薄緊湊型雙向成像/投影透鏡,以及手機和無人機中的成像攝像頭。
Ansys Lumerical FDTD軟件中的超透鏡仿真。
本文原刊登于Ansys.com:《Boost Your Ansys Workflow: 5 Tips for Faster, More Accurate Structural Checks》
編輯整理:邱成宇 | Ansys 高級應(yīng)用工程師
在結(jié)構(gòu)工程中,精度和效率是必須滿足的目標(biāo)。由于項目變得越來越復(fù)雜,能夠在確保符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的同時簡化工作流程,對于取得成功的結(jié)果非常關(guān)鍵。
維度超越:人眼可感知的維度有限(三維+顏色);超構(gòu)表面編碼可同時恢復(fù)光譜、偏振、深度等更多維度的信息,將機器視覺從“三維感知”推向“多維感知”。
可靠性超越:人眼易受疲勞、情緒、病理性問題影響;工程化的相位調(diào)制系統(tǒng),其解碼一致性不受“精神狀態(tài)”影響,適合大規(guī)模工業(yè)部署。
一些評估的參數(shù)包括組件對光的聚焦程度、光源傳輸?shù)綀D像(用于顯示器)中的能量、圖像顏色深度以及光學(xué)組件的對比度質(zhì)量。
從組件的角度來看,從光線追跡中獲得的信息可用于優(yōu)化設(shè)計。
為了避免這種情況,設(shè)計人員可以使用濾光片、透鏡、顏色轉(zhuǎn)換層、散射結(jié)構(gòu)、偏光片和光柵等其他光學(xué)元件來改進顯示器的顏色定義。
小尺寸LED具有更嚴格的公差要求。尺寸變化和未對齊的公差對于小型LED來說變得更加嚴格,尤其是在像素密度增加的情況下。
如果LED邊緣存在原子尺度缺陷和結(jié)構(gòu)不完善,會導(dǎo)致器件內(nèi)部效率下降。
其通過多個傳感器根據(jù)顏色、圖案和位置等線索協(xié)調(diào)信息,以識別環(huán)境中的項目。
其通過多個傳感器根據(jù)顏色、圖案和位置等線索協(xié)調(diào)信息,以識別環(huán)境中的項目。
工程師和設(shè)計人員可通過使用光學(xué)仿真工具(如Ansys Zemax OpticStudio和Ansys Speos)對系統(tǒng)的光學(xué)性能進行仿真,并基于人眼視覺評估最終的照明效果,從而獲得巨大優(yōu)勢。
什么是光線追跡?3個月前
一些評估的參數(shù)包括組件對光的聚焦程度、光源傳輸?shù)綀D像(用于顯示器)中的能量、圖像顏色深度以及光學(xué)組件的對比度質(zhì)量。
從組件的角度來看,從光線追跡中獲得的信息可用于優(yōu)化設(shè)計。
背景介紹
隨著光芯片制造工藝中套刻技術(shù)的發(fā)展和三維波導(dǎo)制造工藝的不斷完善,多層波導(dǎo)的制造工藝需求逐步被滿足,目前越來越多的研究聚焦于高折射率、小截面尺寸的波導(dǎo)。其中 在光通信波段具有透明窗口和低溫度敏感性,且工藝與CMOS高度兼容,其在硅光體系中得到了廣泛的應(yīng)用。