簡(jiǎn)介
在FRED中,列表形式的BSDF數(shù)據(jù)可以使用如下兩種方式。
1.按照FRED可以識(shí)別的數(shù)據(jù)格式直接導(dǎo)入作為散射模型。
2.使用BSDF數(shù)據(jù)擬合工具來(lái)產(chǎn)生合適的函數(shù)模型。
數(shù)據(jù)文件的格式
在FRED中能被識(shí)別的測(cè)試數(shù)據(jù)必須按照如下的規(guī)格形式。數(shù)據(jù)文件的開(kāi)頭包含兩行,
第一行指明提供的數(shù)據(jù)類(lèi)型,第二行是對(duì)數(shù)值做出解釋。開(kāi)頭正確的格式如下:
type bsdf_data
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表面的干涉儀數(shù)據(jù)包含不規(guī)則度的相關(guān)信息,包括旋轉(zhuǎn)對(duì)稱(chēng)不規(guī)則性 (RSI)、用于確定中空間頻率的斜率誤差以及其他表面形狀制造誤差。這些制造誤差取決于在球面或非球面上進(jìn)行的拋光類(lèi)型,可以是傳統(tǒng)的瀝青拋光、高速拋光以及磁流變拋光 (MRF)。由于很難使用 Zernike 項(xiàng)來(lái)模擬所有這些類(lèi)型的表面形狀變化,因此確定表面誤差如何影響整體系統(tǒng)級(jí)性能的最佳方法是在 OpticStudio
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表面的干涉儀數(shù)據(jù)包含不規(guī)則度的相關(guān)信息,包括旋轉(zhuǎn)對(duì)稱(chēng)不規(guī)則性 (RSI)、用于確定中空間頻率的斜率誤差以及其他表面形狀制造誤差。這些制造誤差取決于在球面或非球面上進(jìn)行的拋光類(lèi)型,可以是傳統(tǒng)的瀝青拋光、高速拋光以及磁流變拋光 (MRF)。由于很難使用 Zernike 項(xiàng)來(lái)模擬所有這些類(lèi)型的表面形狀變化,因此確定表面誤差如何影響整體系統(tǒng)級(jí)性能的最佳方法是在 OpticStudio
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建模結(jié)果與測(cè)量數(shù)據(jù)的比較對(duì)于任何光學(xué)元件的設(shè)計(jì)過(guò)程都非常重要。因此,有必要將測(cè)量到的高度剖面(例如微結(jié)構(gòu)的高度剖面)導(dǎo)入建模軟件,以評(píng)估真實(shí)元件的性能。因此,在本文檔中,我們將展示如何使用位圖文件導(dǎo)入高度數(shù)據(jù)。
要對(duì)光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行精確建模,必須使用精確的材料特性。 對(duì)于薄層或更復(fù)雜的材料,實(shí)際折射率可能與文獻(xiàn)中的數(shù)值不同。 因此,需要測(cè)量有關(guān)材料的復(fù)合折射率,并將數(shù)據(jù)導(dǎo)入 VirtualLab Fusion。 本文件介紹了導(dǎo)入復(fù)雜材料數(shù)據(jù)的工作流程。
摘要
通過(guò)向?qū)?dǎo)入
摘要
建模結(jié)果與測(cè)量數(shù)據(jù)的比較對(duì)于任何光學(xué)元件的設(shè)計(jì)過(guò)程都非常重要。因此,有必要將測(cè)量到的高度剖面(例如微結(jié)構(gòu)的高度剖面)導(dǎo)入建模軟件,以評(píng)估真實(shí)元件的性能。因此,在本文檔中,我們將展示如何使用位圖文件導(dǎo)入高度數(shù)據(jù)。
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步驟
摘要
要對(duì)光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行精確建模,必須使用精確的材料特性。 對(duì)于薄層或更復(fù)雜的材料,實(shí)際折射率可能與文獻(xiàn)中的數(shù)值不同。 因此,需要測(cè)量有關(guān)材料的復(fù)合折射率,并將數(shù)據(jù)導(dǎo)入 VirtualLab Fusion。 本文件介紹了導(dǎo)入復(fù)雜材料數(shù)據(jù)的工作流程。
材料數(shù)據(jù)格式
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概要
本文示范了如何輸入表面起伏數(shù)據(jù),以定義Zemax OpticStudio中的網(wǎng)格矢高 (Grid Sag) 類(lèi)型表面,表面起伏數(shù)據(jù)應(yīng)為Z坐標(biāo)軸上的矢高 (Sag)。
正文
表面起伏數(shù)據(jù)格式是這樣定義的:
第一行,由7個(gè)數(shù)字表示。
第1, 2個(gè)數(shù)字,代表x與y方向的數(shù)據(jù)數(shù)量,數(shù)據(jù)類(lèi)型為整數(shù)。
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概要
本文介紹了如何使用極探測(cè)器和導(dǎo)入/導(dǎo)出 IESNA 和 EULUMDAT 光源數(shù)據(jù),以及對(duì) NSDP 優(yōu)化操作數(shù)和 ZPL 數(shù)值函數(shù)進(jìn)行描述。將使用封裝好的 LED 來(lái)演示這些功能
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OpticStudio 有許多內(nèi)置的、用于模擬各種光源發(fā)出光線的空間和角分布的非序列光源類(lèi)型。極探測(cè)器可用于測(cè)量任何光源的輻射強(qiáng)度,包括導(dǎo)入如 IESNA
1.點(diǎn)擊軟件左上角File→Import→Import Text File
2.選擇要導(dǎo)入的文件,點(diǎn)擊打開(kāi)
3.確認(rèn)數(shù)據(jù)沒(méi)有問(wèn)題(顯示綠色為正常數(shù)據(jù),顯示紅色為未識(shí)別的數(shù)據(jù)格式)
4.選擇Data Array和2D Data,點(diǎn)擊Next
5.設(shè)置x和y坐標(biāo)的物理屬性,自由曲面一般為空間坐標(biāo),選擇Length
6.選擇導(dǎo)入數(shù)據(jù)的物理屬性,為L(zhǎng)ength