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創(chuàng)建者:王靖雯 創(chuàng)建時(shí)間:2023-03-07
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許多前照燈專家都使用Ansys Zemax OpticStudio軟件來(lái)優(yōu)化每個(gè)組件和光學(xué)裝配體。該工具的參數(shù)化特性、直觀的用戶界面和快速求解時(shí)間,使用戶可以輕松查看自適應(yīng)系統(tǒng)可能遇到的各種光學(xué)情況。
對(duì)于小圓柱體,定義網(wǎng)格尺寸為 0.25 毫米。將 1000 千克的點(diǎn)質(zhì)量分配到大圓柱體的頂部表面上。 (圖2:關(guān)節(jié)示意圖) 4. 定義分析設(shè)置和邊界條件。開啟大變形并定義一些子步。在垂直方向上定義地球重力,并將小圓柱體向下移動(dòng) 3 毫米。
3.如果你讓AI生成一個(gè)電氣柜,你需要告訴他每一個(gè)零件的尺寸、位置,裝配位置,并且生成幾萬(wàn)行的代碼,然后代碼來(lái)驅(qū)動(dòng)CAD模型,建立模型。如果是這樣,招聘AI應(yīng)用工程師就好了,那么畫圖工程師就可以下崗了,但是你看到周圍哪個(gè)機(jī)械工程師因?yàn)锳I而下崗?產(chǎn)品結(jié)構(gòu)也在不停的更新中,如果同一類型仿真的python代碼生成好了之后,花費(fèi)了很長(zhǎng)時(shí)間調(diào)試能用了,產(chǎn)品又要更新了。
使用Ansys LS-DYNA對(duì)電子產(chǎn)品外殼進(jìn)行跌落測(cè)試仿真,展示了其撞擊剛性地板時(shí)的變形 使用仿真進(jìn)行虛擬跌落測(cè)試時(shí),工程師應(yīng)考慮以下最佳實(shí)踐: 在可能的情況下,使用六面體(hex)單元?jiǎng)?chuàng)建高質(zhì)量、精確的網(wǎng)格,確保厚度方向上分布有足夠的單元,并在需要時(shí)使用高階單元。相對(duì)均勻的單元尺寸也是關(guān)鍵。Ansys產(chǎn)品中有各種網(wǎng)格劃分工具可以幫助完成此過(guò)程。
尺寸控制:插入 Sizing,選擇彈簧所有螺旋線,設(shè)置 Element Size 為 1mm 左右,或者設(shè)置 Division 數(shù)量為 200,保證螺旋路徑上有足夠的分辨率。 第四步:邊界條件與載荷設(shè)置(核心步驟) 固定端約束: 點(diǎn)擊 Static Structural -> Support -> Fixed Support。
在云端,可能的組合非常豐富,使用Ansys Cloud可以輕松地嘗試不同的實(shí)例。您還可以將結(jié)果與現(xiàn)有的FDTD性能基準(zhǔn)測(cè)試進(jìn)行比較。 推薦參閱 有關(guān)高性能計(jì)算、硬件如何影響仿真性能以及如何優(yōu)化AWS實(shí)例的更多信息,請(qǐng)參閱這些帖子。
使用 5mm 的單元尺寸對(duì)模型進(jìn)行網(wǎng)格劃分,然后求解分析。變形和應(yīng)力云圖如圖 4 所示。 圖 4:總變形和應(yīng)力云圖 總結(jié) 本示例展示了無(wú)人機(jī)葉片在壓力載荷下產(chǎn)生的變形和應(yīng)力,可以將其與材料的許用值進(jìn)行校核,以判斷葉片是否能承受該載荷。 【點(diǎn)擊下方查看案例視頻】
工程師還可以利用系統(tǒng)級(jí)光學(xué)設(shè)計(jì)和驗(yàn)證工具,如Ansys Speos CAD集成光學(xué)和照明仿真軟件,來(lái)評(píng)估其他光學(xué)機(jī)械考慮因素。Speos軟件可以評(píng)估機(jī)械組件反射的雜散光、光機(jī)組件阻擋光線,或漸暈效應(yīng)(即光束路徑周邊的飽和度或亮度變暗),其系統(tǒng)級(jí)驗(yàn)證功能,還可以查看探測(cè)器上焦點(diǎn)的質(zhì)量和形狀以及光斑尺寸。 光學(xué)機(jī)械的未來(lái) 近年來(lái),隨著光學(xué)系統(tǒng)在眾多行業(yè)中被廣泛應(yīng)用,光學(xué)機(jī)械也在迅速發(fā)展。
其能夠使用OpticStudio軟件中生成的信息,來(lái)查看復(fù)雜應(yīng)用場(chǎng)景(例如汽車中集成的攝像頭或駕駛艙中的AR顯示系統(tǒng))中光電器件的影響和行為。 Ansys Mechanical結(jié)構(gòu)有限元分析軟件:Mechanical軟件可研究光電器件所用材料的屬性、系統(tǒng)的熱信息以及任何潛在的機(jī)械問(wèn)題。 光電子學(xué)的未來(lái)展望 原始設(shè)備制造商(OEM)正在不斷為各個(gè)行業(yè)開發(fā)更先進(jìn)的新型光電組件。
光線追跡的應(yīng)用領(lǐng)域 光線追跡廣泛應(yīng)用于光學(xué)系統(tǒng)仿真,特別是在系統(tǒng)的尺寸遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于光的波長(zhǎng)時(shí)。這種尺寸差異允許光線追跡將光近似為光線,而忽略其波狀屬性,從而可簡(jiǎn)化計(jì)算,提升仿真的速度和計(jì)算效率。 對(duì)于小于光波長(zhǎng)的系統(tǒng),光線追跡的有效性會(huì)變低,因?yàn)檠苌浜透缮娴炔▌?dòng)現(xiàn)象會(huì)占據(jù)主導(dǎo)地位。在這種情況下,電磁場(chǎng)分析(例如時(shí)域有限差分(FDTD)或嚴(yán)格耦合波分析(RCWA)更為合適,因?yàn)槠鋾?huì)考慮上述影響。