ansys測量工具的案例
曲面測量工具|白光干涉儀五軸全自動測量發動機葉片
所以對于葉片的型面和幾何尺寸檢測也是非常重要的，但是就葉片的形狀來說常規測量方法很難進行測量。
白光干涉儀作為一款超高精度的光學3D輪廓儀，一直在超精密加工領域有著廣泛的應用，在大部分的應用場景中，都是采用標準的白光干涉儀機型測量平面類型零件的表面粗糙度，而在一些特殊行業及領域，針對一些有著曲面特征的零部件，如何解決其形狀不規則裝夾不便、測量點分布不在同一個面、單次測量效率低的問題，成為了一個難題。
針對葉片類曲面零部件，白光干涉儀能夠在空間范圍內實現曲面全自動測量功能，能夠解決上述多個測量難題。
白光干涉儀特點：
1）可在測量軟件中直接加載生成零部件的3D模型；
2）根據3D模型可在零部件不同曲面上選擇多個測量點位并生成模板；
3）軟件能夠快速完成上述多個點位的自動測量并直接獲取分析數據；
中圖儀器白光干涉儀測量發動機葉片大空間自由曲面
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讀數值b為：b≈0.002 k = 0.002×723mm = 1.446mm
杠桿千分尺既可以進行相對測量，也可以像千分尺那樣用作絕對測量。其分度值有0.001mm和0.002mm兩種。
杠桿千分尺不僅讀數精度較高，而且因弓形架的剛度較大，測量力由小彈簧產生，比普通千分尺的棘輪裝置所產生的測量力穩定，因此，它的實際測量精度也較高。
3、使用注意事項
用杠桿卡規或杠桿千分尺作相對測量前，應按被測工件的尺寸，用量塊調整好零位。
測量時，按動退讓按鈕，讓測量桿面輕輕接觸工件，不可硬卡，以免測量面磨損而影響精度。
測量工件直徑時，應擺動量具，以指針的轉折點讀數為正確測量值。
二、內徑百分尺
內徑百分尺如圖2a所示，其讀數方法與外徑百分尺相同。
內徑百分尺主要用于測量大孔徑，為適應不同孔徑尺寸的測量，可以接上接長桿(如圖2b)。連接時，只須將保護帽5旋去，將接長桿的右端(具有內螺紋)旋在百分尺的左端即可。接長桿可以一個接一個地連接起來，測量范圍最大可達到5000mm。
內徑百分尺與接長桿是成套供應的。
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這樣手感就沒有了，難以比較內卡鉗在零件孔內的松緊程度，并使卡鉗變形而產生測量誤差。
4 卡鉗的適用范圍 卡鉗是一種簡單的量具，由于它具有結構簡單，制造方便、價格低廉、維護和使用方便等特點，廣泛應用于要求不高的零件尺寸的測量和檢驗，尤其是對鍛鑄件毛坯尺寸的測量和檢驗，卡鉗是最合適的測量工具。卡鉗雖然是簡單量具，只要
我們掌握得好，也可獲得較高的測量精度。例如用外卡鉗比較兩
根軸的直徑大小時，就是軸徑相差只有0.01mm，有經驗的老師傅
也能分辨得出。又如用內卡鉗與外徑百分尺聯合測量內孔尺寸時，有經驗的老師傅完全有把握用這種方法測量高精度的內孔。這種內徑測量方法，稱為“內卡搭百分尺”，是利用內卡鉗在外徑百分尺上讀取準確的尺寸。
再去測量零件的內徑；或內卡在孔內調整好與孔接觸的松緊程度，再在外徑百分尺上讀出具體尺寸。這種測量方法，不僅在缺少精密的內徑量具時，是測量內徑的好辦法，而且，對于某零件的內徑，如圖1-9所示的零件，由于它的孔內有軸而使用精密的內徑量具有困難，則應用內卡鉗搭外徑百分尺測量內徑方法，就能解決問題。
三、塞尺
塞尺又稱厚薄規或間隙片。主要用來檢驗機床特別緊固面和緊固面、活塞與氣缸、活塞環槽和活塞環、十字頭滑板和導板、進排氣閥頂端和搖臂、齒輪嚙合間隙等兩個結合面之間的間隙大小。塞尺是由許多層厚薄不一的薄鋼片組成。
按照塞尺的組別制成一把一把的塞尺，每把塞尺中的每片具有兩個平行的測量平面，且都有厚度標記，以供組合使用。測量時，根據結合面間隙的大小，用一片或數片重迭在一起塞進間隙內。例如用0.03mm的.03～0.04mm之間，所以塞尺也是一種界限量規。塞尺的規格見表1-1。
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在過程控制行業的工廠中，基本上所有的容器均需要進行液位測量，根據介質自身的物理及化學特性、測量的精度及重復性要求等，可以選擇包括雷達液位計、超聲波液位計、電容液位計、靜壓液位計等不同測量原理的液位計完成測量。
與流量測量相似，在生產過程中，工藝工程師往往更注重的是液位計的測量及輸出的高重復性，基于穩定的測量與輸出工藝工程師調整生產配方。應用于過程生產的液位計（一般精度低于3mm），通常采用電流輸出完成與 DCS 或者 PLC的通信。目前，市場上絕大部分外資品牌的液位計均附送 Hart 功能，為日常設備的組態、診斷及維護提供了非常便利的條件。
Fluke754 Hart 過程校驗儀，可以非常方便的與液位計（除計量交接級液位計外，絕大部分液位計為兩線制）對接，在為通信回路提供回路電源的同時通過內置Hart Modem 與流量計以Hart 方式建立通信后，可實現如下功能：
? 基于Hart, 完成 4-20mA 與相應的液位（測量距離）的分配，阻尼時間的設置，輸出方式的選取（線性、均方根等），在完成相關操作的同時完成變送器輸出板卡的通信檢測；
? 按照電流-液位（測量距離）量程設置，通過變送器模擬相應的液位（通常為 0%，50%，100%液位），F754 可以通過 Hart 界面讀取測量電流（4mA, 12mA, 20mA），實現變送器主板及輸出板的電流輸出檢測；
? 診斷過程中如果發現電流輸出偏差過大，在變送器密碼解鎖的情況下，F754 可以在服務端口下完成對變送器的 4mA 及 20mA的輸出校準，并基于此做線性調整。校準結束后，同樣在服務端口下做 4mA,12mA,20mA 的回路檢測，確保校準生效。
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模具廠里面的測量工具，搞懂完的都是高工！
示值誤差是測量儀器本身各種誤差的綜合反映。因此，儀器示值范圍內的不同工作點，示值誤差是不相同的。一般可用適當精度的量塊或其它計量標準器，來檢定測量器具的示值誤差。
三、測量工具的選定
每次測量前，需要根據被測零件的特殊特性選擇測量工具，比如，長、寬、高、深、外徑、段差等可選用卡尺、高度尺、千分尺、深度尺；軸類直徑可選用千分尺、卡尺；孔、槽類可選用塞規、塊規、塞尺；測量零件的直角度選用直角尺；測量R值選用R規；測量配合公差小，精度要求高或要求計算形位公差時可選用三次元、二次元；測量鋼材硬度選用硬度計。
1. 卡尺的應用
卡尺可測量物體的內徑、外徑、長度、寬度、厚度、段差、高度、深度；卡尺是最常用、使用最方便的量具，在加工現場使用頻率最高的量具。
數顯卡尺：分辯力0.01mm，用于配合公差小（精度高）的尺寸測量。
表卡：分辯力0.02mm,用于常規尺寸測量 。
游標卡尺：分辯力0.02mm，用于粗加工測量 。
卡尺使用前需先用干凈的白紙將灰塵與臟污去除（用卡尺外測定面卡住白紙然后自然拉出，重復2-3次即可）
使用卡尺測量時，卡尺的測量面應盡量與被測物體的測量面平行或垂直；
使用深度測量時，如被測物體有R角時，需避開R角但緊靠R角，深度尺與被測高度盡量保持垂直；
卡尺測量圓柱時，需轉動且分段測量取最大值；
因卡尺使用的頻率高，保養工作需要做到最好，每天使用完后需擦拭干凈后放入盒內，使用前需用量塊檢驗卡尺的精度。
2. 千分尺的應用
千分尺使用前需先用干凈的白紙將灰塵與臟污去除（用千分尺測量接觸面與螺桿面卡住白紙然后自然拉出，重復2-3次即可），然后扭動旋鈕，測量接觸面與螺桿面快接觸時，改用微調，當兩面完全接觸后調零，即可進行測量。
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測量力
在接觸式測量過程中，測量器具測頭與被測量面間的接觸壓力。測量力太大會引起彈性變形，測量力太小會影響接觸的穩定性。
5. 示值誤差
測量儀器的示值與被測量的真值之差。示值誤差是測量儀器本身各種誤差的綜合反映。因此，儀器示值范圍內的不同工作點，示值誤差是不相同的。一般可用適當精度的量塊或其它計量標準器，來檢定測量器具的示值誤差。
三、測量工具的選定
每次測量前，需要根據被測零件的特殊特性選擇測量工具，比如，長、寬、高、深、外徑、段差等可選用卡尺、高度尺、千分尺、深度尺；軸類直徑可選用千分尺、卡尺；孔、槽類可選用塞規、塊規、塞尺；測量零件的直角度選用直角尺；測量R值選用R規；測量配合公差小，精度要求高或要求計算形位公差時可選用三次元、二次元；測量鋼材硬度選用硬度計。
1. 卡尺的應用
卡尺可測量物體的內徑、外徑、長度、寬度、厚度、段差、高度、深度；卡尺是最常用、使用最方便的量具，在加工現場使用頻率最高的量具。
數顯卡尺：分辯力0.01mm，用于配合公差小（精度高）的尺寸測量。
表卡：分辯力0.02mm,用于常規尺寸測量 。
游標卡尺：分辯力0.02mm，用于粗加工測量 。
展開 SOLIDWORKS測量工具的高級應用 | 產品探索
SOLIDWORKS測量工具的高級應用 | 產品探索
在產品設計過程中，工程師需要不斷地確認某些特征的尺寸、位置等信息，而SOLIDWORKS測量工具就是可以測量這些信息的專業工具，靈活的使用測量工具可以大大提高設計效率。
SOLIDWORKS測量工具可以在草圖、3D 模型、裝配體或工程圖中測量距離、角度和半徑，還要測量直線、點、曲面和平面的大小和它們之間的大小。測量工具支持測量圓弧的位置設定、設置單位及精度、顯示XYZ測量、點對點測量、雙單位顯示測量值，測量工具還支持歷史記錄以及創建傳感器。
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展開 SOLIDWORKS測量工具的高級應用 | 操作視頻
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在產品設計過程中，工程師需要不斷地確認某些特征的尺寸、位置等信息，而SOLIDWORKS測量工具就是可以測量這些信息的專業工具，靈活的使用測量工具可以大大提高設計效率。
SOLIDWORKS測量工具可以在草圖、3D 模型、裝配體或工程圖中測量距離、角度和半徑，還要測量直線、點、曲面和平面的大小和它們之間的大小。測量工具支持測量圓弧的位置設定、設置單位及精度、顯示XYZ測量、點對點測量、雙單位顯示測量值，測量工具還支持歷史記錄以及創建傳感器。
關于測量對象的選擇：
1.如果想消除所選中的項目，只需要在圖形區域中再次單擊該項目。
2.如果想消除所有選中的項目，只需單擊圖形區域中的空白處。
3.如要想暫時關閉測量功能，只需要右鍵單擊圖形區域，然后選取選擇。
4.如要想再次打開測量功能，只需要在測量對話框中單擊。
其他關于“SOLIDWORKS測量工具的高級應用”的詳細介紹詳見如下視頻
SOLIDWORKS測量
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展開 【專業知識】常用的機械測量工具竟然這么多？你知道幾個?
測量力
在接觸式測量過程中，測量器具測頭與被測量面間的接觸壓力。測量力太大會引起彈性變形，測量力太小會影響接觸的穩定性。
5. 示值誤差
測量儀器的示值與被測量的真值之差。示值誤差是測量儀器本身各種誤差的綜合反映。因此，儀器示值范圍內的不同工作點，示值誤差是不相同的。一般可用適當精度的量塊或其它計量標準器，來檢定測量器具的示值誤差。
三、測量工具的選定
每次測量前，需要根據被測零件的特殊特性選擇測量工具，比如，長、寬、高、深、外徑、段差等可選用卡尺、高度尺、千分尺、深度尺；軸類直徑可選用千分尺、卡尺；孔、槽類可選用塞規、塊規、塞尺；測量零件的直角度選用直角尺；測量R值選用R規；測量配合公差小，精度要求高或要求計算形位公差時可選用三次元、二次元；測量鋼材硬度選用硬度計。
1. 卡尺的應用
卡尺可測量物體的內徑、外徑、長度、寬度、厚度、段差、高度、深度；卡尺是最常用、使用最方便的量具，在加工現場使用頻率最高的量具。
數顯卡尺：分辯力0.01mm，用于配合公差小（精度高）的尺寸測量。
表卡：分辯力0.02mm,用于常規尺寸測量 。
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展開 激光跟蹤儀：大型結構件測量的重要工具
SpatialMaster空間測量軟件
SM（SpatialMaster）軟件是專為大尺寸三維測量應用分析而配套的計量軟件。這是一個通用性強，可追溯的三維圖形化軟件平臺，用戶可以很容易地分析、放樣、檢查、報表和逆向設計各種配件及工具。
SM軟件通用性強、界面友好，可以同時與最多64臺任意類型的便攜式測量儀器連接并通訊，并且可以快速完成復雜的分析任務。多種自動測量功能，標準自動測量，快速流水線測量，向導點測量，批量點測量，滿足用戶不同應用場景下的自動測量需求，提高測量效率。還可以將數據從多臺儀器中合并，幫助用戶找到方案來提高精度、節省時間、減少廢料，并最終提高生產力。
展開 小型量子精密測量工具：可通過現有制造技術量產！
導讀
近日，美國國家標準與技術研究院（NIST）的科研人員設計出一個芯片，讓激光與微型原子云在其上面進行交互，充當一個小型工具箱，以量子精準度測量重要的物理量，例如長度。
背景
近年來，科學家們對微觀尺度的精密測量日益重視，由此帶動了以量子力學基本原理為基礎的量子精密測量技術的快速發展。量子精密測量是量子信息科學的一個重要方向，旨在利用量子資源和效應實現超越經典方法的測量精度。
創新
近日，美國國家標準與技術研究院（NIST）的科研人員設計出一個芯片，讓激光與微型原子云在其上面進行交互，充當一個小型工具包，以量子精準度測量重要的物理量，例如長度。
（圖片來源：Hummon/NIST）
正如在《Optica》雜志上發表的論文中所描述的，NIST 的原型芯片可用于生成波長780納米的紅外線，作為校準其他儀器的參考長度來說，它已經足夠精準。NIST 芯片封裝了原子云和光柵結構，將光波引導進入小于1平方厘米的面積，它的尺寸差不多是提供相似測量精度的其他小型設備的萬分之一。
NIST 物理學家 Matt Hummon 表示：“相比于其他采用芯片引導光波探測原子的設備，我們的芯片將測量精準度提高了百倍。我們的芯片目前依賴于一個小型外部激光器和光學平臺，但是在未來設計中，我們希望將所有東西都集成到芯片上。”
技術
許多設備都采用光線探測小型蒸汽室中原子的量子狀態。原子對于外部條件高度敏感，因此，它成為了極好的檢測器。這種基于光線與原子蒸汽交互的設備，可用于測量一些物理量，例如：時間、長度、磁場，應用于導航、通信、醫學及其他領域。一般來說，這種設備必須通過手工組裝。
NIST研發的新型芯片使外部激光光線通過新型波導和光柵結構傳輸，擴大光束直徑從而探測約1億個原子，直到它們從一個能級躍遷至另外一個能級。
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巧用千尋位置GNSS軟件|點測量狀態欄與工具欄全解析
眾所周知，點測量是提供點位坐標多種模式測量、測量模式切換、測量數據簡單成圖等多種方式的點位地理信息測量功能。 下面我們來解析在千尋位置GNSS軟件中點測量功能下的各狀態欄和工具欄。
圖 5.1-1
點擊【測量】->【點測量】，如圖5.1-1 所示，上方狀態欄解析如下:
上方狀態欄解析：
解狀態：包含有單點解，浮點解，差分解和固定解。
“延遲:9”——表示當前差分延時為 9。
“單點解[0]”——表示當前為單點定位，差分延時為 0。
“(靜，0)”—— “靜”表示在打開傾斜測量的情況下，傳感器的靜止或運動狀態，0 是傾斜角
“H”——HRMS，水平均方根，數值表示當前點平面精度。
“V”——VRMS，豎直均方根，數值表示當前點高程精度。
“27/30”——接收機當前參與解算的衛星顆數和接收到衛星信號的總衛星顆數。
左側工具欄解析:
右側工具欄解析:
圖 5.1-2 圖 5.1-3
圖 5.1-4 圖 5.1-5 圖 5.1-6
圖 5.1-7 圖 5.1-8
總結：本期為大家解析了在點測量功能下的不同狀態欄和工具欄，下期將分享在使用千尋位置GNSS軟件時點測量實際操作時的應用技巧。
掃描下方二維碼或點此查看更多北斗產業相關資訊、產品及解決方案。
展開 Ansys案例研究 | 單軸拉伸試驗應變測量
步驟：
1、打開Ansys Workbench，創建一個“靜態結構”系統。
2、定義拉伸試驗樣品的材料屬性。本例中使用的是結構鋼。
3、導入模型，其外觀類似于圖 1 所示。
圖1 單軸拉伸試驗試樣
4、將材料分配給幾何體。
5、按照圖2所示，在試件上施加適當的約束條件。
圖2 樣品的邊界條件
6、按照圖2所示施加位移。
7、對模型進行網格劃分并運行仿真。繪制等效彈性應變(圖3)。
圖3 等效彈性應變圖
總結：
本案例說明了單軸拉伸試驗樣品中應變的測量方法。
如有疑問歡迎留言或私信！
領先的光子學仿真工具Ansys Lumerical功能詳解：微納光子器件仿真的標準工具
三維CAD環境
CAD環境和可參數化仿真物件有助千快速構建二維或三維模型，自定義任意表面和立體形貌，用戶還可以從標準CAD和IC版圖工具中導入幾何結構。
多系數材料模型
使用多系數材料模型在寬波長范圍內準確描述真實材料的特性，根據測量數據自動生成材料模型，或自行定義函數描述材料特性。高級共型網格技術可以兼容色散材料和高折射率對比的材料，讓用戶可以在使用粗網格時，彷真結果仍具有高準確度。
Ansys Lumerical FDTD的主要應用
CMOS圖像傳感器
OLED和液晶顯示
表面計量
表面等離激元
石墨烯器件
太陽能電池
集成光子器件
超材料、超表面
衍射光學和光子晶體
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Lumerical
Lumerical是Ansys公司開發的用于微納光子器件、芯片及系統的設計仿真軟件，融合了FDTD、EME等求解器，對微納結構及其器件進行設計仿真分析。
展開 領先的光子學仿真工具Ansys Lumerical功能詳解：分析多層膜的優秀仿真工具
Ansys Lumerical是業界領先的光子學仿真工具，其擁有完整的光子學仿真解決方案，支持全套光子 學器件級和系統級仿真。 器件和系統級工具無縫協作，讓設計人員能夠對相互作用的光學、 電氣和熱效應進行建模仿真。
產品之間靈活的互操作性支持將多物理場仿真和光子電路仿真與第三方EDA 工具相結合的各種工作流程， 以幫助優化產品性能、 大限度地降低物理原型制作成本并縮短產品上市時間。
STACK是分析多層膜的最佳仿真工具，和求解麥克斯韋方程相比能迅速仿真如抗反射膜、OLED、VCSEL等組件的光學特性。能精準描述多層膜的波動光學特性，如干涉以及微腔效應，并支持平面波和偶極子光源。STACK支持腳本運算，通過API能和Python或Matlab互操作。
規格概要
· 支持平面波和偶極子
· 支持大面積多層膜設計
· 考慮微腔和干涉效應
STACK的主要應用
· OLED
· VCSEL
· 抗反射膜
．微腔
· 多層薄膜
主要特點
STACK分析求解器
STACK求解器比直接仿真Maxwell方程的速度更快。它適用千薄膜應用的快速原型設計，并且可使用平面波和偶極 子光源照明。求解器考慮干涉和微腔效應。
通過腳本進行互操作
通過Lumerical腳本語言、自動化API以及Python和 MATLABAPI實現互操作性。
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