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半導(dǎo)體器件的功率循環(huán)及熱可靠性測(cè)試
第一步:將待測(cè)器件與POWERTESTER連接,輸入相關(guān)參數(shù),校準(zhǔn)K系數(shù)(溫度敏感因子) 第二步:通過(guò)測(cè)試平臺(tái)內(nèi)置的觸摸屏電腦,設(shè)置待測(cè)器件的循環(huán)策略,啟動(dòng)設(shè)備,進(jìn)行全自動(dòng)熱瞬態(tài)及功率循環(huán)測(cè)試 第三步:數(shù)據(jù)分析(支持?jǐn)?shù)據(jù)導(dǎo)出,進(jìn)行結(jié)構(gòu)函數(shù)分析、生成熱模型等)
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