熱管理解決方案 | 電子可靠性——多熱算過熱?
電源工程師如今可以使用比以往更強(qiáng)大的熱仿真工具,有限元分析和計(jì)算流體動(dòng)力學(xué)甚至能夠?yàn)榉浅?fù)雜的熱管理解決方案提供高精度的預(yù)測。
然而,這些新功能卻未解決最關(guān)鍵的問題:多熱算過熱?
電源是所有電子設(shè)備的核心。它通常需要在相對緊湊的空間中通過低成本來提供高功率和高電壓,為了滿足這些需求,電源設(shè)計(jì)人員必須充分發(fā)揮創(chuàng)意與技能。
但是創(chuàng)意需要依靠豐富的專業(yè)知識,電源設(shè)計(jì)尤為如此。為了解決電源噪聲、時(shí)序和效率要求,這全都離不開專業(yè)技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)。遺憾的是,熱管理解決方案的反饋回路并非總是這樣直接。雖然令人驚嘆的強(qiáng)大熱工具可以非常準(zhǔn)確地預(yù)測結(jié)溫、殼溫和環(huán)境溫度的分布情況,但是與了解具體的溫度相比,想要確定合適的溫度通常是一件更加困難的事情。
面臨風(fēng)險(xiǎn)的組件
降額方法一直是一種值得商榷的做法,但它在老式電子產(chǎn)品中有一定的合理性。因?yàn)橐话愎虘B(tài)機(jī)制通常需要幾十年甚至數(shù)百年,才會(huì)逐漸出現(xiàn)性能劣化、進(jìn)而導(dǎo)致大量故障。降額策略更多關(guān)注的是功能(參數(shù)漂移等),其次才考慮可靠性。如今,可靠性問題已變得日益顯著,由于需要在更緊湊的空間內(nèi)容納更多功能,如此精細(xì)的結(jié)構(gòu)導(dǎo)致在幾年內(nèi)或者甚至幾個(gè)月內(nèi)就會(huì)發(fā)生性能劣化,即便設(shè)計(jì)人員遵守了傳統(tǒng)的降額方法也是如此。
在電源設(shè)計(jì)中,與溫度循環(huán)和可靠性有關(guān)的最受關(guān)注的組件技術(shù)包括:
磁性(變壓器/扼流圈)通特性
光耦元件/發(fā)光二極管(LED)網(wǎng)絡(luò)接入相關(guān)問題
電容器(電解/陶瓷/薄膜)
集成電路
焊點(diǎn)
磁性元件(變壓器/扼流圈)
我們首先探討變壓器和扼流圈等磁性元件,是因?yàn)樵谠O(shè)計(jì)審核和組件應(yīng)力分析階段出現(xiàn)溫度問題時(shí),通常不考慮這類組件技術(shù)。因?yàn)樽儔浩饕话阋彩嵌ㄖ粕a(chǎn),許多變壓器甚至沒有提供溫度額定值。那么,如何判斷磁性元件發(fā)生過熱情況?
發(fā)光二極管/光耦元件
發(fā)光二極管(LED)一般在電源中用作指示燈或光耦技術(shù)的發(fā)光器件。LED的自然使用壽命會(huì)隨著磨損而結(jié)束。有源區(qū)內(nèi)部的缺陷會(huì)刺激成核和位錯(cuò)增長,這尤其會(huì)受到溫度和電流的影響。
電解電容器
電解電容器是設(shè)計(jì)人員在溫度影響方面最需要關(guān)心的組件。眾所周知,作為唯一一種依靠液體才能正常工作的電子組件,電解電容器由于液體電解質(zhì)逐漸蒸發(fā)而具有有限的使用壽命。電解質(zhì)的喪失會(huì)導(dǎo)致電容逐漸減小,等效串聯(lián)電阻(ESR)增大。基于此,除了電壓、電流(紋波)、溫度等標(biāo)準(zhǔn)的元件額定值以外,所有電解電容器制造商也都提供了額定的使用壽命。
陶瓷電容器
為滿足電源設(shè)計(jì)人員對更高性能的期望,陶瓷電容器制造商已經(jīng)大幅提高了給定封裝尺寸(0402、0603等)的電容量。這種電容器技術(shù)的改進(jìn)需要增加介電層數(shù)量(>300),同時(shí)減少介電層厚度1(參見圖14)。但是,額定電壓無法跟上陶瓷電容器介電層的厚度減少速度,造成介電層上的電場顯著增強(qiáng)。
薄膜電容器
薄膜電容器可能因兩種故障機(jī)制而發(fā)生故障,每一種都對溫度敏感:首先是部分放電(也被稱為電暈)。這是薄膜電容器的自愈機(jī)制,然而過高的水平可能破壞大面積的聚酯介電層,導(dǎo)致所測的電容值下降。部分放電通常在低于額定電壓的電壓下開始出現(xiàn)(參見下面的幾種275V薄膜電容器),但隨著施加電壓的降低,這種情況會(huì)顯著減少。
IC損耗
由于設(shè)計(jì)中采用的復(fù)雜集成電路可能在使用壽命期間發(fā)生損耗,或者甚至出現(xiàn)故障,因此有必要了解使用條件和環(huán)境條件對這些組件的影響。主要問題是亞微米工藝技術(shù)會(huì)導(dǎo)致器件在使用壽命內(nèi)發(fā)生損耗,這個(gè)時(shí)間要遠(yuǎn)早于最初預(yù)計(jì)出現(xiàn)損耗的時(shí)間。
焊點(diǎn)
焊點(diǎn),也被稱為互聯(lián),可用于提供電子組件(無源、分立和集成)、基板或電路板之間的電氣、熱和機(jī)械連接。焊點(diǎn)包含一級連接(芯片到基板)或二級連接(組件封裝到印刷電路板)。
尋找熱管理解決方案
雖然上述問題顯而易見,但由于缺乏有效的工具,電源設(shè)計(jì)人員一直難以解決這些問題。正如前文所討論的,大多數(shù)工具要么重點(diǎn)放在預(yù)測溫度(而非其影響)上,要么過于簡單,比如降額或MTBF,它們不能真正反映溫度導(dǎo)致的風(fēng)險(xiǎn)。
更可行的方法是使用可靠性物理分析,通過經(jīng)過驗(yàn)證的算法并綜合使用環(huán)境、材料和架構(gòu)信息,預(yù)測性能劣化行為,開展權(quán)衡分析,從而準(zhǔn)確地指導(dǎo)并預(yù)測電源性能。Ansys推出的Sherlock Automated Design Analysis?軟件,有助于填補(bǔ)設(shè)計(jì)工具功能上的空白。
Ansys Sherlock使用故障物理(PoF)方法幫助電源工程師更清楚地了解何時(shí)發(fā)生過熱。它將標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)信息(ODB、Gerber、網(wǎng)表等)與綜合性嵌入式數(shù)據(jù)庫相結(jié)合,以提供開展這些復(fù)雜計(jì)算所需的輸入信息,簡化的軟件架構(gòu)可確保在幾分鐘內(nèi)完成數(shù)千次計(jì)算并顯示結(jié)果。最重要的是,設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)現(xiàn)在能在遠(yuǎn)早于制造任何原型之前開展這類分析。
來源于:ANSYS
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